Journal des Sciences INCIDENCE ANGLE EFFECT ON SILICON SOLAR CELL CAPACITANCE UNDER STEADY STATE 1 Hamet Yoro BA, 4Seibou BOUREIMA, 2Khady FAYE, 2Idrissa GAYE, 2Ibrahima TALL, 3Ousmane SOW, 1 Ibrahima LY et 1Grégoire SISSOKO ([email protected]) 1 Département Génie Electromécanique, Ecole Polytechnique de Thiès – SENEGAL Laboratoire des Semi-conducteurs et d'Energie Solaire 2 Département de Physique - Faculté des Sciences et Techniques -UCAD, BP 5005, Dakar, SENEGAL Fax (221) 824 63 18 - Email: 3 Institut Universitaire et Technologique – Université de Thiès - SENEGAL. 4 Ecole des Mines de l’Industrie et de la Geologie (EMIG) –Niamey Niger ; Résumé: Cet article est consacré á l'étude, en régime statique, de l'influence de la variation de l'angle d'incidence d'un éclairement polychromatique sur la capacité de diffusion d'une photopile monofaciale au silicium.. Pour accéder á l'expression de ce paramètre nous avons procédé comme suit: Nous avons tout d'abord résolu l'équation de continuité et déterminé l'expression de la densité des porteurs minoritaires de charges en excès dans la base de la photopile δ(x, θ ,Sf) en fonction de la profondeur de la base x, pour différentes valeurs de l'angle d'incidence θ et de vitesses de recombinaisons á la jonction Emetteur-Base Sf . En suite, á partir δ(x, θ, Sf), l'expression de la phototension est déterminée; Et enfin l'expression de la capacité de diffusion a été déduite de ces différents résultats Mots clés: silicium, éclairement polychromatique, angle d'incidence, capacité de diffusion Abstract: This study investigates the effects of polychromatic illumination incidence angle on silicon solar cell capacitance under steady state. To have access to this parameter we proceeded as follow: We first resolved the continuity equation and determined the expression of minority carrier density δ(x, θ, Sf) as a function of base depth x, incidence angle θ and recombination velocity Sf. Next, from the equation of minority carrier density δ(x, θ, Sf), the expression of photovoltage is determined. And finally the expression of diffusion capacitance is deduced from these deferent results Key words: silicon, polychromatic illumination, incidence angle, diffusion capacitance Introduction L'utilisation optimale des générateurs photovoltaïques nécessite entre autres une bonne connaissance des paramètres phénoménologiques et électriques de la photopile d'une part et d'autre part une maitrise du comportement de ces variables sous l'effet d'autres paramètres comme notamment les conditions d'éclairement. Cet article est consacré á l'étude, en régime statique de l'influence de la variation de l'angle d'incidence d'un éclairement polychromatique sur la capacité de diffusion d'une photopile monofaciale au silicium. Pour accéder á l'expression de ce paramètre nous procédons par les étapes suivantes: Nous allons tout d'abord résoudre l'équation de continuité et déterminer la densité des porteurs minoritaires en excès dans la base de la photopile δ(x, θ, Sf) en fonction de la profondeur de la base x, pour différentes valeurs de l'angle d'incidence θ et de vitesses de recombinaison á la jonction émetteur-base Sf . En suite, á partir de δ(x, θ, Sf), l'expression de la phototension est déterminée; Hameth Yoro BA /J. Sci. Vol. 15, N° 1 (Janvier 2015) 56-64 Page 56 Et enfin l'expression de la capacité de diffusion de la photopile est déduite de ces différents résultats. I Présentation de la photopile La photopile objet de cette étude (figure 1) comprend qutre parties essentielles qui sont l'émetteur (zone n+), la zone de charge d'espace (autour de la jonction), la base (zone p) et une zone surdopée p + (BSF) Dans l'étude qui va suivre, nous avons fait certaines approximations: Nous avons négligé la contribution de l'émetteur à la densité des porteurs de charges (donc au photocourant ainsi qu'à la phototension) car des travaux précédents [1] ont montré que celle-ci était Eclairement incident négligeable par rapport à celle de la base. Emetteur θ Région P+ (BSF) Base (p) θ Contact arrière Grille Jonction Emetteur-Base x=0 x=H Figure 1: Schéma de principe de la photopile monofaciale sous éclairement avec variation de l'angle d'incidence. II Equation de continuité Les porteurs minoritaires de charge générés dans la base de la photopile (dopée de type p) sous l'effet de l'éclairement sont des électrons. La densité de ces porteurs obéit à l'équation de continuité qui traduit la conservation des charges. En tenant compte des phénomènes de génération, de recombinaison, de diffusion et de conduction dans la cellule photovoltaïque l’équation de continuité à une dimension pour les porteurs minoritaires de charges en excès dans la base en fonction de l'angle d'incidence, pour une jonction n+pp+ [2] , en régime statique s’écrit : 2 x x G x , 2 2 D x L (1) où D et L sont respectivement la constante de diffusion et la longueur de diffusion des porteurs minoritaires de charges en excès dans la base, cette dernière étant la distance moyenne parcourue par les porteurs minoritaires avant leur recombinaison. La distance x est mesurée á partir de la jonction émetteur/base (x = 0) jusqu'à la face arrière (x = H = 300 μm); θ est l'angle d'incidence de l'éclairement; δ(x) est la densité des porteurs minoritaires en excès en fonction de la profondeur x dans la base; G(x) est le taux de génération des porteurs minoritaires de charges en excès dans la base, à une distance x de la jonction 3émetteur/base et son expression est donnée par la relation (2); G ( x, ) cos . ai e bi x (2) i 1 Les termes ai et bi sont des coefficients tabulés du rayonnement solaire sous AM=1.5 Hameth Yoro BA /J. Sci. Vol. 15, N° 1 (Janvier 2015) 56-64 Page 57 ai i bi 1 6,13.1020 cm-3.s-1 6630 cm-1 2 0,54.1020 cm-3.s-1 103 cm-1 3 0,0991.1020 cm-3.s-1 130 cm-1 III Densité des porteurs minoritaires en excès en fonction de la profondeur x de la base et de l'angle d'incidence L'équation (1) est une équation différentielle de second ordre dont la solution générale est donnée par l'équation (3) donnant l'expression de la densité des porteurs minoritaires en excès en fonction de la profondeur x de la base et de l'angle d'incidence. 3 X X ( x , ) Ach Bsh cos . L L i 1 avec K .e b i x (3) i a L DL b 1 2 K i i 2 2 2 (4) i Les coefficients A et B sont obtenus en considérant les conditions aux limites: á la jonction, á x = 0 [3] ( x) Sf (0) x x 0 D (5) á la face arrière, á x = H ( x) Sb (H ) x x H D (6) Il vient: bi D S b D e bi H bi D Sf Y L A cos K i . D i 1 X Sf .Y L 3 bi D S b Sf .e bi H bi D Sf X B cos K i . D i 1 X Sf .Y avec L 3 X D H H sinh S b . cosh L L L Y D H H cosh h S b . sinh L L L (7) (8) (9) (10) Sf : Vitesse de recombinaison à la jonction D : Coefficient de diffusion des porteurs minoritaires dans la base. Sb : Vitesse de recombinaison à la face arrière H: Profondeur de la base La vitesse de recombinaison á la jonction Sf fait intervenir deux termes: Hameth Yoro BA /J. Sci. Vol. 15, N° 1 (Janvier 2015) 56-64 Page 58 la vitesse de recombinaison Sf0 caractérisant les pertes dues aux imperfections á la surface et reste valide pour le concept de la vitesse de recombinaison constante [4-13] et Sfch qui est variable en fonction de la charge de la cellule photovoltaïque. Sb est la vitesse de recombinaison á la face arrière (jonction p/p+) L’expression de la densité des porteurs minoritaires en excès δ(x) est ainsi une fonction dépendante de la profondeur x dans la base, de l'angle d'incidence θ, des vitesses de recombinaison à la jonction Sf et en face arrière Sb, de la longueur de diffusion L et du coefficient de diffusion D des porteurs minoritaires. Les figures 2 et 3 présentent les profils de la densité des porteurs de charges en fonction de la profondeur de la base pour différentes valeurs de l'angle d'incidence et respectivement pour de faibles et fortes valeurs de la vitesse de recombinaison á la jonction. 13 510 Densité des porteurs de charges minoritaires en excès (cm-3) = 0° = 20° = 40° = 60° 13 410 13 310 13 210 13 110 0 0 3 510 0.01 0.015 0.02 0.025 0.03 x(cm) Figure 2: Profil de la densité des porteurs de charges minoritaires en excès en fonction de la profondeur de la base pour différentes valeur de l'angle d'incidence θ; Sf=100 cm.s-1; L=0,01 cm; D = 36 cm2.s-1 La figure 2 traduit par le gradient négatif des courbes que les porteurs minoritaires de charges ne traversent pas la jonction. Il y'a un stockage de porteurs au niveau de la jonction pour les faibles valeurs Sf. Au niveau de la figure 3, par contre, les courbes présentent un gradient positif au voisinage immédiat de la jonction, ce qui signifie que les porteurs minoritaires situés á ce niveau traversent la jonction pour participer á la production d'un photocourant. Dans les deux cas la densité des porteurs minoritaires de charges augment quand l'angle d'incidence diminue. Hameth Yoro BA /J. Sci. Vol. 15, N° 1 (Janvier 2015) 56-64 Page 59 Densité des porteurs de charges minoritaires en excès (cm-3) 510 12 410 12 310 12 210 12 110 12 = 0° = 20° = 40° = 60° 0 0 3 510 0.01 0.015 0.02 0.025 0.03 x (cm) Figure 3: Profil de la densité des porteurs de charges minoritaires en excès en fonction de la profondeur de la base x pour différentes valeur de l'angle d'incidence θ; Sf=106 cm.s-1; L=0,01 cm; D = 36 cm2.s-1 IV Phototension Cette partie est consacrée à l'étude des influences de l'angle d'incidence et la vitesse de recombinaison à la jonction sur la phototension. La phototension est donnée, au niveau de la jonction émetteur/ base, d’après la relation de Boltzmann par l’expression (11): V V ph T Nb .ln 2 0 1 ni où VT est la tension thermique en volt; (11) V T K B T (12) q KB est la constante de Boltzmann et a pour valeur 1,3806488.10-23 J.K-1 T est la température absolue en Kelvin; ni la densité intrinsèque en cm-3; Nb le taux de dopage de la base en cm-3; L'expression de la phototension en fonction de la vitesse de recombinaison á la jonction Sf pour différentes valeurs de l'angle d'incidence est donnée par la relation (13) V V ph T 3 Nb b H .ln 2 A cos . K e i 1 i ni i 1 (13) La figure 4 présente le profil de la phototension en fonction de la vitesse de recombinaison pour différentes valeurs de l'angle d'incidence. Les courbes montrent que l'impact de l'angle d'incidence sur la phototension est faible. Hameth Yoro BA /J. Sci. Vol. 15, N° 1 (Janvier 2015) 56-64 Page 60 0.75 0.7 0.65 = 0° = 20° = 40° = 60° 0.6 0.55 0.5 Tension en volts 0.45 0.4 0.35 0.3 0.25 0.2 0.15 0.1 0.05 0 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 Log(Sf) (cm.s-1) Figure 4:Phototension en fonction de la vitesse de recombinaison Sf (cm.s -1) à la jonction pour différentes valeurs de l'angle d'incidence θ; D=36 cm.s-1; H=0.03cm V Capacité de diffusion La capacité de diffusion traduit l'accumulation des charges non recombinées de part et d'autre de la zone de charge d'espace. Son expression est donnée par l'équation (14). C dif x , m , L , q x , m , L. V ph m , L , (14) La figure (5) présente la caractéristique de la capacité de diffusion en fonction de la vitesse de recombinaison á la jonction et de l'angle d'incidence. 5 Capacité de diffusion en F.cm--2 1.210 C( 0 m 0.01 0) C( 0 m 0.01 0.348 ) C( 0 m 0.01 0.696 ) C( 0 m 0.01 1.04 ) = 0° = 20° = 40° = 60° 5 1.08 10 6 9.610 6 8.410 6 7.210 6 610 6 4.810 6 3.610 6 2.410 6 1.210 0 0 0.6 1.2 1.8 2.4 3 3.6 4.2 4.8 5.4 6 m log(Sf) Figure 5: Caractéristiques de la capacité de diffusion en fonction log(Sf) et de θ On note que la capacité de diffusion présente un palier pour les valeurs faibles de la vitesse de recombinaison á la jonction Sf traduisant un stockage de porteurs minoritaires de charges au niveau de la jonction émetteur-base. et commence á décroitre rapidement á partie de Sf=200 cm.s-1 quand Sf augmente. Le graphique montre que la capacité de diffusion augmente quand l'angle diminue. Pour les valeurs élevées de Sf la capacité de diffusion est faible traduisant un déstockage des porteurs de charges au voisinage immédiat de la jonction émetteur-base. Hameth Yoro BA /J. Sci. Vol. 15, N° 1 (Janvier 2015) 56-64 Page 61 La figure 6 présente le profil de la capacité de diffusion pour de faibles valeurs de Sf (Sf < 100 cm.s-1) correspondant á une situation de circuit ouvert de la photopile. Cette figure met bien en évidence l’effet de l’angle d’incidence sur la capacité de diffusion. On voit bien que cette capacité Capacité de diffusion en F.cm--2 diminue quand l’angle d’incidence augmente 1.210 5 1.08 10 5 9.610 6 8.410 7.210 610 Cco () 6 6 6 4.810 6 3.610 6 2.410 6 1.210 6 0 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2 1.4 1.6 θ (radians) Figure 6: Caractéristiques de la capacité de diffusion en fonction de θ ; Sf=10 cms-1 La figure 7 présente le profil de la capacité de diffusion pour les valeurs de Sf élevées (Sf =106 cm.s-1) correspondant á une situation de court-circuit de la photopile. On note que cette capacité est nettement plus faible que celle en situation de circuit ouvert. 8 Capacité de diffusion en F.cm--2 610 Ccc () 8 5.410 8 4.810 8 4.210 8 3.610 8 310 8 2.410 8 1.810 8 1.210 9 610 0 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2 1.4 1.6 θ (radians) Figure 7: Caractéristiques de la capacité de diffusion en fonction de θ ; Sf=106 cms-1 Le logarithme de Cdif en fonction de la tension Vph et de l'angle d'incidence θ est présenté á la figure (6). On note que toutes les courbes sont confondues. Ces courbes sont linéaires et leur ordonnée á l'origine nous permet d'écrire: Log(Cd) = -15,54;c Soit Cd = exp (-15,54) = 1,73 10-7.F.cm-2 C'est la capacité de diffusion liée au dopage de jonction. Elle ne dépend pas de θ. Hameth Yoro BA /J. Sci. Vol. 15, N° 1 (Janvier 2015) 56-64 Page 62 5 6.1 Log(Cdif) 7.2 8.3 9.4 10.5 11.6 12.7 = 0° = 20° = 40° = 60° 13.8 14.9 16 0 0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 0.35 0.4 0.45 0.5 0.55 0.6 0.65 0.7 Vph (V) Figure 6: Logarithme de Cdif en fonction de Vph Conclusion Dans cet article, nous avons étudié, en régime statique, l'influence de l'angle d'incidence d'un éclairement polychromatique sur la capacité de diffusion d'une photopile monofaciale au silicium. Nous avons calculé l'expression de cette capacité en fonction de la vitesse de recombinaison Sf et de l'angle d'incidence θ. Les courbes obtenues montrent que: La capacité de diffusion augmente quand l'angle d'incidence θ diminue. Le logarithme de cette capacité en fonction de la tension Vph est une fonction linéaire et ne dépend pas de l'angle d'incidence θ La valeur de la capacité due au dopage (Capacité de court-circuit) peut être calculée et vaut ici 0,173 μF.cm-2. Hameth Yoro BA /J. Sci. Vol. 15, N° 1 (Janvier 2015) 56-64 Page 63 Références bibliographiques [1] LINDA M. KORCHIER, STUART R. WENHAM, MARCK GROSS, TOM PUZZER, ALISTAIR B. SPROUL: Proc. 2nd conference and Exhibition on Photovoltaic Solar Energy Conversion, (1998), pp. 1539 -1542. [2] JOSE FURLAN and SLAVKO AMON: Solid State Electr. Vol. 28, N° 12 pp. 1241–1243 (1985). [3] B. ECQUER «Physique des convertisseurs photovoltaïques: Energie Solaire Photovoltaïque)J. Ecole d'Eté de l'UNESCO, Paris, 1993. [4] F. I. Barro, A. S. Maiga, A. Wereme et G. Sissoko, “Determination of recombination parameters in the base of a bifacial silicon solar cell under constant multispectral light”, Phys. Chem. News 56, pp.76-84, 2010. [5] T. Flohr et R. Helbig, “Determination of minority-carrier lifetime and surface recombination velocity by Optical-Beam-InducedCurrent measurements at different light wavelengths”, J. Appl. Phys. Vol.66 (7), pp. 3060 – 3065, 1989. [6] S. R. Wenham, M.A. Green, M. E. Watt et R. 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