TD 02 / ph 102 d / I1 – ESIEE 2006
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c Loi de Child – Langmuir dans une diode à vide
Deux plaques métalliques planes, de surface S et distantes de d, sont soumises dans le vide à une
d.d.p U. Une des plaques, la cathode, dont le potentiel V0, est pris comme référence, émet des
électrons par effet thermoélectronique. Ces électrons sont captés par l'autre plaque, l'anode,
polarisée positivement: Vanode = U > 0. Le courant volumique est supposé uniforme.
1) Établir, à l'aide du théorème de l'énergie cinétique et de l'équation de Poisson, l'équation
différentielle à laquelle satisfait le potentiel V en fonction de la distance x à la cathode.
2) Trouver la relation I(U) entre l'intensité I et la d.d.p U; on admettra que le champ électrique
est nul pour x = 0.
d Distance de Debye
I. Si la concentration n (n = nombre de porteurs de charge par unité de volume) n'est pas uniforme,
il apparaît un courant de diffusion dont l'expression est donnée par la loi de Fick : Jd= − D grad(n)
où D est le coefficient de diffusion.
1) Ecrire la condition d'équilibre électrique entre les courants de conduction et de diffusion
pour un métal que l'on assimilera à un gaz d'électrons libres, de densité n, de mobilité µ,
évoluant dans un réseau d'ions fixes de concentration n0. On admettra que |n – n0| << n0 ;
2) Déduire (théorème de Gauss) l'équation différentielle, satisfaite par le champ électrique :
2
D
λ
−=∆ E
E où 2
e0
0
Den
D
⋅µ⋅
⋅ε
=λ est la longueur de Debye. N.B. : 9
0
1910 u.SI
4≈⋅
πε .
II. Comme la diffusion s'oppose à l'accumulation de charges électriques sur la surface d'un
conducteur en équilibre, les charges se repartissent sur une certaine épaisseur que l'on se propose
d'évaluer. Pour atteindre cet objectif il faut résoudre l'équation différentielle, établie ci-dessus (loi
de Fick), dans le cas où une surface plane limite le conducteur.
1) En déduire que les charges se répartissent sur une couche d'épaisseur égale à quelques
longueurs de Debye λD.
2) Evaluer λD dans le cas d'un conducteur métallique (Cu) dont le coefficient de diffusion
s'écrit : Fe E
3
2
D⋅µ⋅= . On prendra n0 = 1029 m−3 et EF = 7 eV ;
3) Calculer, pour le métal Cu, τ (la durée de relaxation de la vitesse de dérive ou vitesse de
drift) et la mobilité
e
m
eτ⋅
−=µ en sachant que
2
e
e
ne
m
τ⋅
σ= . A.N. : la conductivité du cuivre
σCu ≈ 0.5·106 Ω−1·m−1 ; la concentration des porteurs dans le cuivre : ne ≈ 0.9·1029 m−3 ; la
masse de l’électron me ≈ 0.9·10−30 u.SI (kg) et la charge de l’électron |e| ≈ 1.6·10−19 u.SI (C).
e Jonction p-n
On réalise une jonction p-n en dopant différemment deux parties d'un matériau semi-conducteur :
l'une de type p contient un excès de trous, l'autre de type n contient un excès d'électrons. La forte
inhomogénéité de la concentration des porteurs qui en résulte donne naissance à un double courant
de diffusion : les trous, majoritaires dans p, diffusent vers n et réciproquement les électrons,
majoritaires dans n, diffusent vers p. Par conséquent p se charge négativement et n positivement, ce
qui crée au niveau de la jonction, un champ électrique interne Ein0 orienté de n vers p (Fig. la). Par
son action sur les porteurs, ce champ limite la diffusion. Un équilibre s'établit alors entre courant de
diffusion et courant de conduction. En électronique, le composant constitué d'une jonction p-n
enfermé dans un boîtier protecteur est appelé une diode à jonction.