Sommaire
Introduction......................................................................9
Chapitre I Etat de l’art : méthodes de caractérisation de
circuits intégrés ..............................................................13
1. Introduction..........................................................................................................14
2. Méthodes de mesures thermiques........................................................................14
2.1 Méthodes optiques .........................................................................................15
2.1.1 Méthodes nécessitant un traitement de surface ......................................15
2.1.2 Méthodes non invasives ..........................................................................18
2.2 Méthodes à sonde locale................................................................................22
2.3 Méthodes à sonde intégrée.............................................................................24
2.3.1 Mesure absolue de température..............................................................24
2.3.2 Mesure différentielle de température......................................................24
2.4 Comparaison des différentes techniques........................................................25
3. Méthodes de mesures thermoélastiques...............................................................26
3.1 Technique de Moiré .......................................................................................26
3.2 Interférométrie face arrière ............................................................................27
3.3 Interférométrie en lumière blanche................................................................29
4. Autres méthodes de caractérisations....................................................................31
4.1 Techniques utilisant l’émission lumineuse ....................................................31
4.1.1 Emission de lumière statique ..................................................................31
4.1.2 Emission de lumière dynamique .............................................................32
4.2 Méthodes utilisant le laser comme source d’excitation .................................33
4.2.1 Effets photoélectriques induits par laser ................................................33
4.2.2 Effets photothermiques induits par laser ................................................34
5. Conclusion ...........................................................................................................35
Chapitre II Interférométrie Ponctuelle.........................37
1. Introduction..........................................................................................................38
2. Interférométrie ponctuelle....................................................................................38
2.1 Introduction à l’interférométrie......................................................................38
2.2 Contenu du signal interférométrique ............................................................40
2.2.1. Contribution de la dilatation thermique ................................................40
2.2.2. Contribution de la lentille thermique.....................................................41
2.2.3. Contribution du coefficient de réflexion ................................................42
2.2.4 Comparaison des différentes contributions ............................................44
2.2.5 Conclusion ..............................................................................................46
2.3 Interféromètre de Michelson stabilisé............................................................47
2.3.1 Principe...................................................................................................47
2.3.2 Montage expérimental ............................................................................50
2.3.3 Résultats..................................................................................................56