ESPI

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Méthodes de mesures de champs
Restitution d’un hologramme
Introduction
• Pour l’observateur tout se passe comme si l’objet est présent
Méthodes non
interférométriques
• On a plus besoin de l’objet pour le voir, c’est une image virtuelle
Méthodes
interférométriques
• Possibilité d’observer des images réelles pseudoscopique (relief inversé)
ou orthoscopique par hologramme de l’image réelle pseudoscopique
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
1
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Interférométrie holographique
• Le principe général consiste à superposer des ondes lumineuses dont
une au moins est produite par un hologramme
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
• Grâce à l’holographie on est capable de faire interférer des ondes
lumineuses provenant d’un même objet se déformant au cours du temps
• L’état de surface de l’objet ne doit pas se modifier (ou très peu)
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
2
• Les interférences observées sont caractéristiques des déplacements
micrométriques subis par l’objet
• La mesure des interférences permet de quantifier les déplacements avec
une sensibilité égale à une fraction de micromètre
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Double exposition
• Technique semblable à celle qui permet de réaliser un hologramme
• Deux expositions sont effectuées à l’aide d’un laser pulsé à deux états de
déformation différents (P1-P2)
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
3
• On dispose alors de la somme de 2 hologrammes incohérents entre eux
(instants différents)
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Double exposition
• A la restitution on obtient 2 images cohérentes entre elles grâce à une
même source de lumière cohérente
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
4
• Les images interfèrent, les franges observées caractérisent la déformation
subie par l’objet
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Double exposition
• Observation de franges qui rendent compte de la déformation entre les
états P2 et P1 : ce sont les lignes d’isoamplitude de déplacement
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
5
• Quand on passe d’une frange à l’autre le déplacement varie de 0,3 µm
dans ce cas (laser à rubis)
• La méthode permet de détecter et de mesurer les variations de phase
survenues entre les 2 expositions
• Les variations de phases sont dues à des variations de longueur, d’indice
de réfraction ou de longueur d’onde causées par des contraintes
thermiques et/ou mécaniques ...
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Double exposition
• Équation de base de l’interférométrie :
I  I0 1  m. cos2  1 




I0 : intensité moyenne
m : contraste des franges d’interférence
1 : phase optique de l'onde objet à l'instant t1
2 : phase optique de l'onde objet à l'instant t2
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
6
• La différence de phase subie par l’onde objet entre les 2 expositions de
l’hologramme :
d = (2 - 1) = 2p dD/l
 dD : variation du chemin optique suivi par la lumière, de la source
d'éclairage à l'hologramme, dans le milieu d'indice de réfraction n,
entre les deux expositions
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Double exposition
• La variation de chemin optique dépend uniquement des déplacements ou
des déformations subies par l'objet entre les deux poses.
Méthodes non
interférométriques
dD = (SM2H) - (SM1H) = D.(KO-KE)
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
7
 KO, KE : vecteurs unitaires caractérisant respectivement la direction
d’éclairage et la direction d’observation
 D : le vecteur déplacement d’un point M de la surface de l’objet
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Double exposition
• Les distances SM et MH sont très grandes comparées au module du
vecteur déplacement => D considérablement agrandi sur le schéma
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
8
• On considère que KO et KE ne varient pas (ou très peu) entre deux
expositions
• S = KO-KE : le vecteur sensibilité
• Variation de chemin optique dD=D.S
projection du vecteur déplacement
sur le vecteur sensibilité
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Double exposition
• Les distances SM et MH sont très grandes comparées au module du
vecteur déplacement => D considérablement agrandi sur le schéma
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
9
• On considère que KO et KE ne varient pas (ou très peu) entre deux
expositions
• S = KO-KE : le vecteur sensibilité
• Variation de chemin optique dD=D.S projection du vecteur déplacement
sur le vecteur sensibilité
=> Pour mesurer les trois composantes du déplacement, il faudra adopter
des montages à géométrie bien déterminée.
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Temps réel
• Utilisée en laboratoire, dans un environnement très stable
• Elle consiste à :
 enregistrer l’onde lumineuse diffusée par un objet au repos
 remettre exactement en place l’hologramme dans le montage
holographique d’enregistrement
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
10
• On observe alors à travers l’hologramme :
 l’objet éclairé par le faisceau laser
 l’image holographique de l’objet au repos restituée
• On fait ainsi interférer l’onde diffusée à l’instant t par l’objet réel avec
l’onde diffractée par l’hologramme de l’objet au repos qui sert de
référence
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Temps réel
• Quand l’objet se déforme des franges d’interférences apparaissent
caractéristiques des déformations et suivies en temps réel
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
• Couplé à la stroboscopie => visualisation des modes de vibration de
structures excitées sinusoïdalement et pour la détermination des
fréquences propres
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
11
• La mise en oeuvre de cette méthode est beaucoup plus délicate que celle
de la double exposition
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Intégration temporelle
• Elle est associée à la précédente pour l’analyse vibratoire qui permet de
visualiser la carte des déplacements de l’objet en vibration et les lignes
nodales
• Le principe est d’enregistrer l’hologramme de l’objet en vibration avec un
temps de pose long devant la période de vibration
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
12
• On repère les fréquences propres par interférométrie holographique en
temps réel puis on enregistre les hologrammes par intégration temporelle
à ces fréquences propres
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
13
Intégration temporelle
• Modes de vibration et lignes nodales d’une plaque encastrée
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
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Autres méthodes
Applications
Moyens
14
• Modes de vibration d'une poutre canteliver
Intégration temporelle
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Introduction
• Technique inventée pour pallier les insuffisances de l’holographie dans le
domaine de l’interférométrie en ce qui concerne le milieu d’enregistrement
(support photosensible)
• Contrairement à l’interférométrie holographique, l’interférométrie de
speckle permet l’utilisation de caméras CCD pour visualiser le champ de
déplacements de l’objet diffusant
• Technique adaptée à l’industrie malgré des performances inférieures à
l’interférométrie holographique (résolution spatiale, taille de l’objet …)
Shearographie
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Autres méthodes
Applications
Moyens
15
• Les caméras CCD ont une résolution faible (5µm) comparée à celle des
films photographiques argentiques (fraction de µm)
• L’exploitation de l’information un peu différente de l’holographie, ici on
exploite numériquement directement les franges d’interférence de 2 états
différents de l’objet, alors qu’en holographie on utilise ces ondes
enregistrées sur film photographique pour restituer un système de franges
d’interférence sur l’image 3D de l’objet alors exploitées numériquement (à
noter ESPI=TV Holographie=Holographie numérique)
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
16
Granularité laser
• Un objet diffusant éclairé en lumière cohérente génère un système
d’interférences complexe appelé speckle (moucheture, tache) ou
granularité laser
• Le speckle se manifeste si la surface de l’objet présente un relief
microscopique donnant des variations de chemin optique supérieures à la
longueur d’onde de la lumière
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
17
Granularité laser
• Une surface polie ne donnera pas de speckle
• En un point H situé à une distance D de l’objet on a la superposition
cohérente des ondes provenant des divers éléments de la surface
rugueuse
• La longueur de cohérence de la source laser est plus grande que les
variations de chemin optique
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Granularité laser
• Les déphasages introduits par la rugosité de la surface sont aléatoires ce
qui explique l’allure de la figure de speckle composée de grains
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
18
• La figure de speckle contient des informations multiples sur l’objet : état
de surface, forme, déformation…
• Le problème est de savoir comment décoder l’information
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Granularité laser
• Les déphasages introduits par la rugosité de la surface sont aléatoires ce
qui explique l’allure de la figure de speckle composée de grains
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
• La figure de speckle contient des informations multiples sur l’objet : état
de surface, forme, déformation…
• Le problème est de savoir comment décoder l’information
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
19
• Dans le cas des petits déplacements, il y a invariance locale de la figure
de speckle : une petite portion du speckle se déplace en bloc sans
modifier sa forme de sorte que la connaissance du déplacement local du
speckle permet de remonter au déplacement de la zone correspondante
de l’objet
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Granularité laser
• Les dimensions du grain de speckle dans le plan image de l’objectif
photographique sont : s=1,22 l.D’/ et s=8 l.D’²/²
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
20
• En faisant intervenir le grandissement g=D’/D et la focale f de l’ojectif :
s=1,22 l.(1+g).f/ et s=8 l.(1+g)².f²/²
• La surface de l’objet contribuant à la formation de speckle doit contenir un
nombre suffisant d’éléments diffractants indépendant (rugosité) : cette
surface ou tache de diffraction du système optique rapportée sur l’objet
(rayon=1,22 l.D/) doit être plus grande que la longueur de corrélation
de la rugosité (l’écart-type de la rugosité doit être inférieur à l)
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Granularité laser
• Les dimensions du grain de speckle dans le plan image de l’objectif
photographique sont : s=1,22 l.D’/ et s=8 l.D’²/²
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
21
• En faisant intervenir le grandissement g=D’/D et la focale f de l’ojectif :
s=1,22 l.(1+g).f/ et s=8 l.(1+g)².f²/²
• La surface de l’objet contribuant à la formation de speckle doit contenir un
nombre suffisant d’éléments diffractants indépendant (rugosité) : cette
surface ou tache de diffraction du système optique rapportée sur l’objet
(rayon=1,22 l.D/) doit être plus grande que la longueur de corrélation
de la rugosité (l’écart-type de la rugosité doit être inférieur à l)
• De plus on suppose que le déplacement est inférieur à la longueur s du
grain de speckle
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Mesure des déplacements 2D
• L’objet est éclairé en lumière laser parallèle de façon symétrique
• Si on éclaire l’objet simultanément avec les deux éclairages, les 2 speckle
obtenus indépendamment par les 2 éclairages interfèrent
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
22
• En présence d’un déplacement Dx les deux speckle se décalent de la
même quantité, la différence de chemin optique provoquée par ce
décalage Dx a pour valeur 2 Dx sinq
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
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Autres méthodes
Applications
Moyens
23
Mesure des déplacements 2D
• Il y a maximum de lumière lorsque la phase est égale à un nombre entier
de fois 2p : D = 2p.Dd/l = k.2p soit Dd = k.l ; et un minimum pour un
nombre impair de fois p : D = 2p.Dd/l = 2(k+1).p
• Les franges d’interférences brillantes sont caractérisées par la relation
2Dxsinq=k.l ; ces franges sont les lignes d’égal déplacement dans le
plan dans la direction x
• La condition de fonctionnement de l’interférométrie (déplacement inférieur
au grain de speckle) : g.Dx < 1,22 l.(1+g).f/
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Dédoublement latéral
• Mesure directement les dérivées spatiales des déplacements
• Le principe est de dédoubler l’image de l’objet à l’aide d’un interféromètre
de Michelson ou un biprisme
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
24
• L’interféromètre de Michelson permet le réglage du dédoublement par
orientation du miroir M1
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Dédoublement latéral
• L’objet est éclairé par un faisceau de lumière parallèle provenant de la
source laser S
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
25
• L’observation de l’objet se fait à travers la lame semi-transparente SP1 et
à travers un interféromètre de Michelson
• Le dédoublement de l’image est donné par une légère rotation e du miroir
M1 qui donne un décalage latéral dx de l’image dans la direction x
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Dédoublement latéral
• Les deux images (speckle) interfèrent et donnent un speckle résultant
complexe dans lequel il est difficile de reconnaître les franges dont le pas
est lié à dx
• On va alors comparer le speckle de l’image dédoublée avant et après
déformation de l’objet ; les franges obtenues caractérisent la dérivée par
rapport à x du déplacement hors plan, on obtient des informations directes
sur les déformations de l’objet
Speckle
Shearographie
ESPI
• Le traitement des images est réalisé à l’aide d’une caméra CCD et d’un
logiciel approprié
Autres méthodes
Applications
Moyens
26
• Il faut que l’objet soit suffisamment stable pendant l’acquisition successive
des images avec les phases Fi, non seulement au repos mais aussi
lorsqu’il est déformé
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Dédoublement latéral
• Quantification des résultats
• L’objet est au repos, l’intensité résultant de l’interférence des deux speckle
décalés est :
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
IR = A1²+A2²+2A1A2cos (2-1) = I0[1+m.cosDR]
Holographie
Speckle
avec DR = 2 - 1 différence de phase due au décalage
Shearographie
ESPI
• L’objet est déformé, l’intensité résultant de l’interférence est :
Autres méthodes
I = I0[1+m.cos(DR+D)]
Applications
Moyens
27
avec D = (x+dx,y+dy) - (x,y) différence de phase due au
déplacement de l’objet
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Dédoublement latéral
• Quantification des résultats
• Pour résoudre ces équations (détermination de I0, m et DR (+D) ) on
introduit une phase connue Fi dans le montage grâce au miroir M2 monté
sur un translateur piézoélectrique (F1,F2,F3) comme en interférométrie
holographique
Holographie
Speckle
• Pour l’objet au repos, IR,i = I0[1+m.cos(DR+ Fi)] d’où DR
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
28
• Pour l’objet déformé, Ii = I0[1+m.cos(DR+D+Fi)] d’où DR+D
• Par soustraction des phases calculées on obtient D qui est lié à la pente
de la déformée hors plan de l’objet
Méthodes de mesures de champs
Introduction
ESPI
• Electronic Speckle Pattern Interferometry : interféromètre de Michelson
modifié, l’objet remplace un des miroirs
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
29
• Le laser S éclaire l’objet en lumière parallèle de façon à n’être sensible
qu’aux déplacements hors plan (par exemple); ce type de montage limite
la taille des objets à étudier au diamètre des objectifs L2 et L3
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
30
ESPI
• D différence de phase due au déplacement hors plan dz :
D = 2p D.(KO-KE)/l
• D=Idx+Jdy+Kdz
• KE vecteur unitaire caractérisant la direction d’éclairage
• KO vecteur unitaire caractérisant la direction d’observation
• dx,dy,dz composantes du déplacement suivant les directions orthogonales
I,J,K
• Alors : D = 2p (2dz)/l
Méthodes de mesures de champs
Introduction
ESPI
• Différents modes opératoires sont possibles : double exposition, temps
réel, temps moyenné
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
• En double exposition, on enregistre l’interférogramme de l’objet au repos,
on obtient une intensité numérisée
Photoélasticimétrie
I1 = I0[1+m.cos(-R)]
Holographie
Speckle
Shearographie
• L’objet est déformé, l’enregistrement de l’exposition donne une intensité :
ESPI
I2 = I0[1+m.cos(-R +D)]
Autres méthodes
Applications
Moyens
31
avec D différence de phase due au déplacement de l’objet (cf diapo
précédente)
Méthodes de mesures de champs
ESPI
Méthodes non
interférométriques
• Pour résoudre ces équations (détermination de I0, m et -R (+D) ) on
introduit une phase connue Fi dans le montage grâce au miroir M monté
sur un translateur piézoélectrique (F1,F2,F3)
Méthodes
interférométriques
• Pour l’objet au repos, I1 = I0[1+m.cos(-R + Fi)] d’où -R
Introduction
Photoélasticimétrie
Holographie
• Pour l’objet déformé, I2 = I0[1+m.cos(-R +D+Fi)] d’où -R +D
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
32
• Par soustraction des phases calculées on obtient D qui permet de
calculer les déplacements hors plan
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
33
ESPI
• Le fonctionnement en temps réel ne pose aucun problème pour l’étude de
phénomènes à évolution très lente comme en analyse vibratoire lorsque
l’on étudie des modes de vibration d’objets ; on utilise alors un modulateur
de lumière permettant de réaliser une stroboscopie du phénomène
comme en holographie
• Le fonctionnement en temps moyenné lorsque la période de vibration est
plus petite que 1/25 s, permet d’observer, par intégration temporelle de
l’intensité (aux fréquences de résonance), des figures d’interférences
similaires à celles rencontrées en holographie par intégration temporelle,
notamment les lignes nodales
Méthodes de mesures de champs
Introduction
• La TV-Holographie (ESPI) permet de
mesurer les déplacements 3D
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
34
• Le faisceau lumineux issu du laser S
est séparé en deux parties par la
lame séparatrice SP1; le faisceau
réfléchi sert à former le faisceau
référence; le faisceau transmis est
séparé en deux parties par la lame
SP2 pour former les deux faisceaux
d’éclairage E1 et E2
Mesure des déplacements 3D
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
• L’objet est éclairé en lumière parallèle
de façon symétrique par rapport à la
normale à son plan en son centre
• Un objectif photographique L forme
une image de l’objet sur l’élément
sensible de la caméra CCD
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
35
• Les vecteurs unitaires caractérisant
les directions d’éclairage et la
direction
d’observation
sont
respectivement KE1, KE2 et KO
Mesure des déplacements 3D
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
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Autres méthodes
Applications
Moyens
36
Mesure des déplacements 3D
• On considère un déplacement tridimensionnel D
• Si on utilise le faisceau d’éclairage E1 seul
(+ référence), on obtient les déplacements
hors plan dans la direction K1=KO-KE1
• Si on utilise le faisceau d’éclairage E2 seul
(+ référence), on obtient les déplacements
hors plan dans la direction K2=KO-KE2
• Si on utilise les 2 faisceaux d’éclairage E1 et
E2 (sans référence), on obtient les
déplacements dans le plan dans la direction
K3=K1-K2
• Si on utilise les 2 faisceaux d’éclairage E1 et
E2 (+ référence), on obtient les déplacements
dans le plan dans la direction K3= KO-K1-K2
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
37
Mesure des déplacements 3D
• Par soustraction des cartes de phases E1 et
E2 on obtient les déplacements dans le plan
dans la direction K3=K1-K2
• Par addition des cartes de phases E1 et E2 on
obtient les déplacements hors plan dans la
direction K1+K2
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Mesure des déplacements 3D
• La TV-Holographie (ESPI - Interférométrie de speckle) est une technique
qui permet de mesurer facilement les déplacements 3D et les
déformations dans le plan
• La TV-Holographie (ESPI - Interférométrie de speckle) est moins
performante que l’interférométrie holographique (champ, résolution) et ne
permet pas de restituer le relief des objets
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
• La TV-Holographie (ESPI - Interférométrie de speckle) fonctionne en
temps quasi-réel, c’est un dispositif portable (encombrement faible) et elle
ne nécessite pas de matériaux consommables (CCD)
Autres méthodes
Applications
Moyens
38
• Les techniques de speckle (shearographie et ESPI) ont remplacé les
techniques holographiques en industrie
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
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Autres méthodes
Applications
Moyens
39
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Holographie
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Applications
Moyens
40
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Méthodes
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Moyens
41
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Autres méthodes
Applications
Moyens
42
ESPI
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
43
ESPI
Méthodes de mesures de champs
Introduction
ESPI
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Apparition de franges
Points de même déformation
Holographie
Speckle
Distance entre franges l/2
Shearographie
ESPI
Pas d’information sur la
direction de déformation
Autres méthodes
Pas d’information entre franges
Applications
Moyens
44
Méthodes de mesures de champs
Introduction
ESPI
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
3 inconnues a,b,f
Photoélasticimétrie
Holographie
3 équations avec 3 inconnues
Speckle
Shearographie
ESPI
Faisceau référence modifié
(modification connue D)
et faisceau objet inchangé
Autres méthodes
Applications
Moyens
45
Détermination de la phase à
partir de l’intensité (mod 2p)
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Photoélasticimétrie
Holographie
Speckle
Shearographie
ESPI
Autres méthodes
Applications
Moyens
46
ESPI
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Thermoélasticimétrie
• Beaucoup de pièces mécaniques sont soumises à la fois à des
sollicitations mécaniques et thermiques
• La simulation de tels problèmes peut nécessiter de résoudre à la fois un
problème thermique (détermination du champ de température) et un
problème mécanique (détermination de la contrainte)
• Dans certains cas, il peut arriver que ces deux problèmes soient liés :
quand on chauffe une pièce, elle se dilate et donc se déforme; si la pièce
Thermographie IR
ne peut se déformer librement, on a création de contraintes
Photoélasticimétrie 3D
• Une sollicitation thermique provoque une contrainte ou une déformation
Corrélation 3D
mécanique
Autres méthodes
Corrélation volumique
Applications
Moyens
47
• Au contraire, si l’on déforme fortement un matériau métallique, il
s’échauffe
• Une sollicitation mécanique engendre alors un effet thermique
• On dit que les problèmes de mécanique et de thermique sont couplés et
on parle de couplage thermomécanique
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Thermoélasticimétrie
• Technique de mesure du rayonnement émis, réfléchis ou rétrodiffusés par
les matériaux.
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
• Ce rayonnement indique indirectement les températures et permet de
révéler la présence d’hétérogénéités existant au-delà de la surface visible.
• Grâce à une caméra thermique et son calculateur intégré, le flux de
rayonnement est converti en image visible avec différentes palettes de
Thermographie IR
Photoélasticimétrie 3D couleurs auxquelles sont associées des températures.
Autres méthodes
Corrélation 3D
Corrélation volumique
Applications
Moyens
48
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
Autres méthodes
Thermoélasticimétrie
• Rayonnement thermique : échange de chaleur par voie
électromagnétique. Mode de transfert d’énergie gouvernant la
thermographie infra rouge et la radiométrie photothermique.
• Conduction thermique : échange de chaleur par interactions directes
d’une particule avec ses proches. Mode de transfert d’énergie également
mis en oeuvre en radiométrie photothermique.
Thermographie IR
• Convection thermique : échange de chaleur par mouvement de fluide.
Ce mode est généralement négligeable en thermographie infra rouge et
en radiométrie photothermique.
Photoélasticimétrie 3D
Corrélation 3D
Corrélation volumique
Applications
Moyens
49
Méthodes de mesures de champs
Introduction
Thermoélasticimétrie
• La source principale de rayonnement infrarouge est la chaleur, ou
rayonnement thermique.
Méthodes non
interférométriques
Méthodes
interférométriques
• Tout objet dont la température est supérieure au zéro absolu (-273,15°C
ou 0 °K) émet un rayonnement dans le spectre infrarouge.
Autres méthodes
Thermographie IR
Photoélasticimétrie 3D
Corrélation 3D
Corrélation volumique
Applications
Moyens
50
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