Revue ABB 3/2000 41
transistors MOS répartis à la surface du dispositif
. Ces transistors MOS permettent une com-
mande haute impédance du courant qui parcourt
le composant, de sorte que seul un courant de
niveau extrêmement faible doit être fourni à la
gâchette de commande. La bonne tenue aux
tensions et courants élevés est assurée par le
composant vertical du dispositif, à savoir un
transistor bipolaire. L’épaisseur de ce transistor
vertical est suffisante pour résister aux tensions
élevées. L’effet transistor vertical est également
fondamental car il améliore la conductivité du
matériau semi-conducteur et, par conséquent,
réduit la chute de tension dans le dispositif en
phase de conduction.
Les performances de l’IGBT sont directement
liées aux caractéristiques des cellules transistors
MOS en surface, et le succès rencontré par ces
dispositifs est principalement le fait du
développement continu de nouvelles structures
de cellules qui, souvent, mettent en oeuvre des
technologies développées à l’origine pour les cir-
cuits microélectroniques destinés à des marchés
beaucoup plus vastes . La maîtrise parfaite du
procédé de fabrication est cruciale pour garantir
l’uniformité et la reproductibilité des caractéris-
tiques, et donc les performances élevées
et le haut niveau de fiabilité de ces dispositifs.
Même si les années 1980 ont vu des progrès
substantiels dans le développement et la produc-
tion des IGBT pour les faibles tensions (600 à
1200 V), il a fallu attendre le début des années
1990 pour comprendre que le même concept
pouvait également être utilisé pour des tensions
plus élevées [5].
Depuis, ABB a élargi son offre qui inclut des
modules de puissance IGBT pour des tensions
comprises entre 1200 V et 4500 V. Une collabo-
ration étroite avec les clients a permis d’opti-
miser ces produits pour d’importantes applica-
tions .
Avec sa nouvelle gamme d’IGBT 1200 V
basée sur la technologie exclusive SPT (Soft
Punch Through) [6], ABB a encore amélioré les
performances des IGBT . Les transistors MOS
sur la surface des tranches, tout comme l’épais-
seur des tranches de silicium, sont optimisés
pour des performances élevées lorsque l’IGBT
est à l’état passant et pour des pertes très faibles
lors de la commutation du dispositif pour blo-
quer le courant.
Sachant que les pertes des composants de
puissance sont, selon une première approxima-
tion, proportionnelles au carré de l’épaisseur du
dispositif, toute démarche d’optimisation doit
de toute évidence s’attacher à réduire cette
épaisseur. Avec la technologie SPT, ABB a fait
un véritable bond en avant, ramenant l’épais-
seur des IGBT 1200 V à moins de 70% de celle
des dispositifs précédents. De plus, la structure
planaire des cellules, qui contribue à la repro-
ductibilité et aux faibles coûts de fabrication,
confère au nouvel IGBT 1200 V de faibles
pertes à l’état passant, comparables à celles des
IGBT «à tranchées» plus complexes, mais opti-
misés à cet égard. En termes de désamorçage,
8
7
65
100
10
1
0.1
Critical dimension[µm]
20051995198519751965
Thyristor
DRAM
IGBT
64K
1K
1M
4K
4M
16K
16M
256K
256M
64M
6Grâce à l’utilisation de technologies de fabrication développées
pour les circuits intégrés et les mémoires, les niveaux de perfor-
mances des nouveaux semi-conducteurs de puissance évoluent
selon une tendance similaire.
7Les techniques avancées d’intégration des semi-conduc-
teurs sont la clé de la position de leader d’ABB en électronique
de puissance.