Etude du comportement de la charge d`espace dans les structures
Etude du comportement de la charge d’espace dans les
structures MOS. Vers une analyse du champ ´electrique
interne par la m´ethode de l’onde thermique.
Olivier Fruchier
To cite this version:
Olivier Fruchier. Etude du comportement de la charge d’espace dans les structures MOS.
Vers une analyse du champ ´electrique interne par la m´ethode de l’onde thermique.. Micro
et nanotechnologies/Micro´electronique. Universit´e Montpellier II - Sciences et Techniques du
Languedoc, 2006. Fran¸cais. <tel-00140084>
HAL Id: tel-00140084
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Submitted on 4 Apr 2007
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Numéro d'Indentification
ACADEMIE DE MONTPELLIER
UNIVERSITE MONTPELLIER II
- SCIENCES ET TECHNIQUES DU LANGUEDOC -
THESE
présentée à l'Université Montpellier II – Sciences et Techniques du Languedoc
pour obtenir le diplôme de DOCTORAT
Spécialité : Electronique, Optronique et Systèmes
Ecole Doctorale : Electronique : "Information, Structures et Systèmes"
Étude du comportement de la charge d’espace
dans les structures MOS :
Vers une analyse du champ électrique interne
par la méthode de l'onde thermique
par
Olivier FRUCHIER
présentée et soutenue publiquement le 1er décembre 2006 devant le Jury composé de :
M. S. AGNEL Maître de Conférences à l’Université de Montpellier II Examinateur
M. J. FESQUET Professeur émérite à l’Université de Montpellier II Président du jury
M. J-L. FRANCESCHI Professeur à l’Université de Toulouse III Rapporteur
M. P. NOTINGHER Maître de Conférences à l’Université de Montpellier II Examinateur
M. J-M. REYNES Ingénieur R&D chez Freescale à Toulouse Examinateur
M. B. ROUSSET Ingénieur de Recherche au LAAS à Toulouse Examinateur
M. G. TOUCHARD Professeur à l’Université de Poitiers Rapporteur
M. A. TOUREILLE Professeur émérite à l’Université de Montpellier II Directeur de Thèse
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