Introduction générale
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- Analyse expérimentale et modélisation des défauts électriquement actifs dans
l’empilement de grille, des mécanismes de génération de défauts et de conduction à
travers l’isolant de grille à base de HfO2.
- Etude des variations des divers paramètres de fonctionnement des transistors (tension
de seuil ou de bandes plates, courant de drain, mobilité, ...) en fonction des conditions
de polarisation et de température.
- Etude de la dégradation des propriétés isolantes de l’oxyde de grille.
L’objectif final du travail est la compréhension des phénomènes physiques pouvant influencer
la fiabilité des transistors intégrant un oxyde de grille à base de HfO2. Ce manuscrit s’articule
autour de cinq chapitres.
Dans le premier chapitre, nous présentons les limites de la miniaturisation et les
problématiques engendrées sont abordées. Elles permettent de justifier le remplacement de
l’oxyde SiO2 par un oxyde high-k, ainsi que celui de la grille conventionnelle Si-Poly par une
grille métallique. Un classement des matériaux candidats en fonction des principaux critères
de choix est discuté. En dernier point, nous nous focalisons sur les propriétés de l’oxyde
d’hafnium, alternative au SiO2, et de ses principaux défauts. Ce premier chapitre permet
d’avoir une vision globale sur les principales notions nécessaires à la compréhension du sujet.
Le deuxième chapitre est consacré à la caractérisation et à la modélisation de la
capacité et du courant de grille, dans les dispositifs intégrant un diélectrique à base de HfO2.
Dans ce chapitre, des résultats issus de différentes technologies avancées sont présentés.
L’objectif est de comparer leurs comportements électriques aux technologies SiO2 standard. A
partir de confrontations entre mesures expérimentales et simulations quantiques de la
capacité, un nombre important de paramètres physiques est extrait. Pour une bonne
compréhension du mécanisme de conduction à travers l’empilement de grille bicouche, une
étude détaillée est réalisée à travers diverses techniques de mesures. Les analyses
expérimentales du courant de grille sont également couplées à des simulations de courant I-V.
Le troisième chapitre est entièrement consacré à une étude quantitative des défauts
électriquement actifs dans l’empilement de grille. Nous nous intéresserons particulièrement à
la qualité de l’interface oxyde/canal, à la densité de pièges lents et rapides, ainsi qu’à la
distribution spatiale de ces défauts. Deux méthodes de mesure ont été utilisées, le pompage
de charges et le bruit basse fréquence. On montrera que ces deux méthodes peuvent être
complémentaires. Le pompage de charges permet de sonder la distribution des défauts autour
de l’interface SiO2/HfO2 tandis que la méthode de mesure par bruit basse fréquence étudie la
répartition des défauts à une profondeur beaucoup plus importante dans l’oxyde. Dans notre
cas, cela correspond principalement à la couche HfO2.
Le quatrième chapitre est consacré au phénomène d’instabilité de la tension de seuil,
problème récurrent dans les dispositifs à diélectrique de grille high-k. Nous montrerons que ce