L’EMBARQUÉ / N°7 / 2014 / 29
Stockage
A P P L I C A T I O N
les blocs de mémoire NAND se
dégradent et s’usent, on doit fixer
une limite haute au nombre d’écri-
tures de chaque emplacement
mémoire. Des algorithmes de « nive-
lage d’usure » doivent aussi être inté-
grés aux contrôleurs NAND pour
assurer une utilisation équitable de
tous les emplacements mémoire.
Pour ceux qui souhaitent réduire le
nombre de composants système et
ne pas se préoccuper d’architecture
contrôleur, les NAND e-MMC offrent
une alternative intéressante, qui
intègre à la fois la puce mémoire
flash et le contrôleur NAND dans un
même module. Ces dispositifs sont
typiquement utilisés dans les cartes
mémoire et les clés USB rapides, et
sont conformes aux normes JEDEC.
Les contrôleurs embarqués exécutent
des opérations de contrôle comme
la correction d’erreurs, le nivelage
d’usure et la gestion des blocs défec-
tueux pour garantir le bon fonction-
nement de la mémoire NAND.
L’un des défis associés à la migration
vers de plus petits éléments de stoc-
kage est le besoin de contrôle ECC
plus complexe, et donc de proces-
seurs hôtes de plus en plus puissants.
Pour des SLC (Single Level Cell, ou
cellule simple niveau) produite en
technologie 43 nm, 1 bit d’ECC par
tranche de 512 octets est nécessaire.
Un chiffre qui monte à 8 bits par
tranche de 512 octets pour des SLC
en 24 nm.
Pour de nombreuses applications
existantes qui utilisent de la mémoire
NAND SLC, comme les produits
industriels, les processeurs de
communication ou les systèmes
automobiles, des ECC à 1 bit sont
implémentés dans le logiciel
hôte sans impact significatif sur
la performance des applications.
Cependant, migrer vers des
mémoires de pointe nécessitant
des ECC à 4, 8, voire 24 bits, aug-
mente sensiblement la charge du
processeur, réduisant ainsi ses
performances. Afin d’éviter cet
écueil, les puces NAND à cor-
rection d’erreurs embarquée sont
désormais préférées. A l’instar
des modèles BENAND de
Toshiba qui soulagent le proces-
seur hôte de la tâche de correc-
tion d’erreurs sans nécessiter de
contrôleur matériel supplémen-
taire. Ces BENAND utilisent la
même interface que les NAND
classiques et offrent ainsi une com-
patibilité avec les mémoires flash
NAND SLC au niveau commandes,
fonctionnement général, condition-
nement et brochage.
Esquisses des mémoires
du futur
Si la technologie existe pour produire
des NAND à cellules élémentaires
encore plus petites, cette diminution
de la taille va à l’encontre de leur
endurance et de leur fiabilité. Pour
surmonter cela, des cellules NAND
capables de stocker plusieurs bits
mémoire ont été développées. Car si
les cellules SLC ne peuvent stocker
que 1 bit par cellule, les MLC (Mul-
ti-Level Cell, ou cellule multini-
veaux), de leur côté, peuvent en stoc-
ker 2, tandis que les TLC (Triple level
Cell, ou cellule triple-niveau) peuvent
stocker 3 bits par cellule. Cependant,
l’endurance à l’écriture et à l’efface-
ment est impactée par de telles
approches. Les SLC peuvent ainsi
supporter environ 100 000 cycles,
contre 5 000 cycles pour les MLC, et
seulement 1 000 cycles pour les TLC.
Aujourd’hui la situation est la sui-
vante : les NAND SLC et MLC sont
désormais utilisées couramment dans
les disques d’entreprise qui doivent
résister à de fréquents cycles d’écri-
ture ou d’effacement tandis que les
NAND MLC et TLC se rencontrent
dans les SSD grand public, là où la
vitesse de lecture et le prix par
gigaoctet sont devenus les facteurs les
plus influents dans les profils d’achat.
Une façon d’éviter ces problèmes
liés à l’augmentation du nombre de
bits par cellule est de considérer de
nouvelles technologies NAND.
Parmi celles-ci, la plus proche de la
phase de production en série est la
NAND 3D. Il s’agit ici d’empiler plu-
sieurs couches de NAND l’une sur
l’autre, afin d’augmenter la capacité
sans devoir rétrécir les dimensions
horizontales.
La mémoire RAM magnétorésistive
(MRAM) est une autre technologie
prometteuse. Il s’agit d’une forme de
mémoire non volatile extrêmement
rapide, offrant une endurance prati-
quement illimitée à l’écriture et à l’ef-
facement. De ce fait, la technologie
MRAM a le potentiel de changer la
manière dont tous les appareils élec-
troniques utilisent la mémoire
flash NAND. Aujourd’hui, on uti-
lise en effet la flash NAND comme
un disque dur : les données sont
copiées au démarrage depuis la
flash NAND vers la DRAM
(mémoire vive dynamique), puis
le code est exécuté à partir de
cette DRAM. Avec la MRAM, plus
besoin de mettre en œuvre cette
approche dite de « shadowing »
(recopie des données de la RAM
vers la DRAM). Les données sont
en effet déjà prêtes dès la mise
sous tension, et la vitesse de lec-
ture est quasiment la même que
celle de la DRAM. Ce qui offre
l’avantage supplémentaire de
nécessiter moins d’endurance de
la flash NAND, qui peut alors ser-
vir à l’archivage des données à
plus long terme. n
Cost
4 x nm 3 x nm 2 x nm
ECC
4 x nm 3 x nm 2 x nm
1 bit
4 bits
8 bits
TENDANCES DES FLASH NAND
On voit ici les avantages de la réduction du coût
des technologies de mémoires avancées par rapport
au surcroît de complexité des codes de correction
d’erreurs.
● Les modèles BENAND de Toshiba soulagent le processeur
hôte de la tâche de correction d’erreurs, sans nécessiter de
contrôleur matériel supplémentaire. Ces mémoires utilisent la
même interface que les NAND classiques et offrent ainsi une
compatibilité ascendante avec les mémoires flash NAND SLC
au niveau commandes, fonctionnement général,
conditionnement et brochage.