Journées Techno '12 - 8 juin
Réalisations instrumentales
2009
● Dimension micrométrique du faisceau RX -microfaisceau-
● Couplage des techniques : µ-diffraction + µ-fluorescence -mesures simultanées-
● Mesures par cartographie -échelle micrométrique-
S. Rouzière, E. Jourdanneau, B. Kasmi, P. Joly, D. Petermann, P-A. Albouy, J. of Applied Crystallography 43 (2010),
pp.1131-1133. « A laboratory X-ray microbeam for combined X-ray diffraction and fluorescence measurements ».
2010
● Dimension millimétrique du faisceau RX -macrofaisceau-
● Couplage des techniques : diffraction + absorption + fluorescence X
-mesures simultanées-
● Mesures par cartographie -échelle millimétrique-
Brevet déposé : "Dispositif de mesure d’un degré de désalignement et procédé d’utilisation dudit dispositif"
Auteurs : P. Launois, D. Petermann, M. Huard, J. Cambedouzou, G. Guillier, Ph. Joly
déposé par le CNRS en décembre 2010 ; demande d'extension internationale : 12/2011