Présentation - Polytechnique Montréal

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Conception et test d’un VCO en anneau par des
méthodes de test numérique (DFT) et analogique
Présenté par :
R. Chebli et M.F. Navong
Cours ELE6306
TESTS DE SYSTÈMES ÉLECTRONIQUES
Automne 2004
École Polytechnique de Montréal
Département de Génie électrique

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Plan de la présentation
I. Introduction
II. Circuit sous test
Conception du VCO en anneau
III. Méthodes de test du VCO en anneau
IV. Test et résultats
V. Conclusion

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Introduction
Un VCO est le module principal utilisé pour créer des horloges
avec une plage fréquentielle qui peuvent aller de quelques Hertz à
plusieurs Gigahertz
Applications : systèmes de télécommunications, les ordinateurs et
réseaux d’ordinateurs, multimédia, biomédicale, et d’autres
applications analogiques et numériques
Son importance nécessite l’utilisation d’une technique de test
fiable et efficace pour la détection des fautes
Dans le cadre de ce projet un VCO en anneau est conçu avec une
large plage fréquentielle pour une application biomédicale
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Avantages : faible surface, faible consommation de
puissance, moins de complexité et faible coût par rapport
aux autres types de VCO
Principe de fonctionnement
Ictr Ictr Ictr
Vctr1
Vctr2
VDD
N
N
fosc 21
ctrl
gosc
I
CV
Introduction (Suite)

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N
m
Vmg
g
RgC )1( 
)1(2 Vmg
m
osc RgNC
g
f
Rv
Cg
Vin Vout Rv Vout
Vin
Cg
1/gm
CIRCUIT SOUS TEST
CONCEPTION DU VCO
Ajouter une résistance
contrôlable à l'entrée de chaque
étage
Augmentation du délai
Fréquence d'oscillation peut être
changée en variant la valeur de la
résistance RV
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