Emission, détection, propagation, optique des rayons X

2011
SGM
Auteur : ESNOUF Claude
CLYM
Séminaire 3
Emission, détection, propagation,
optique des rayons X

Introduction
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référence :
ESNOUF Claude. Caractérisation microstructurale des matériaux : Analyse par les
rayonnements X et électronique. Lausanne: Presses polytechniques et
universitaires romandes, 2011, 596 p. (METIS Lyon Tech) ISBN : 978-2-88074-884-5.
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Accès aux autres séminaires
1 - Séminaire « Rappels cristallographie 1 »
2 -Séminaire « Rappels cristallographie 2 »
3 -Séminaire « Emission, détection, propagation, optique des rayons X »
4 - Séminaire « Méthode des poudres en DRX »
5 -Séminaire « Méthodes X rasants et mesure des contraintes »
6 -Séminaire « Emission électronique –Conséquence sur la résolution des microscopes »
7 -Séminaire « Diffraction électronique »
8 - Séminaire « Projection stéréographique »
9 -Séminaire « Imagerie CTEM »
10 -Séminaire « HAADF »
11 -Séminaire « HRTEM »
12 -Séminaire « Ptychographie »
13 -Séminaire « EELS »3
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EMISSION, DETECTION,
PROPAGATION, OPTIQUE
des RAYONS X
Claude ESNOUF-CLYM
Ligne de lumière à SOLEIL
Séminaires du CLYM
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Plan
EMISSION X
Bombardement électronique,
Rayonnement synchrotron
Emission naturelle
Autres sources
DETECTION X
Films - Imaging plates - Compteurs - Scintillateurs - Capteurs photosensibles -
Diodes dispersives en énergie
PROPAGATION X
Indice et absorption
Application aux filtres
Réflexion totale
OPTIQUE pour RAYONS X
Optique réfractive
Optique diffractive (lentilles de Fresnel)
Optique réflective
Monochromateurs
Fentes de Soller
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