poly-6-Technologies silicium Fichier

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3A EMS
Microtechnologie de fabrication silicium
« micromachining »
technologie MEMS
(cours énergie systèmes nomades)
Matthieu Denoual
STMicroelectronic
s
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M. Denoual ENSICAEN
Microtechnologies de fabrication silicium « micromachining »
Pourquoi le silicium ?

Pourquoi le silicium ?



Matériau pas cher (très répandu),
Matériau de très grande qualité cristallographique, reproductible.
Matériau aux propriétés intéressantes :











Module d’Young proche de celui de l’acier,
Plus léger que l’acier, densité proche de celle de l’aluminium,
Limite élastique deux fois plus grande que celle de l’acier,
Pas de déformation plastique,
Déformations élastiques reproductibles, pas d’hystérésis,
Très bonne résistance à la fatigue mécanique (bon vieillissement),
Conductivité thermique ~50% supérieure à celle de l’acier,
Dilatation thermique 1/5ième de celle de l’acier.
excellentes
propriétés
mécaniques
Propriétés piezorésistives (jauges d’extensiométrie), (100 fois plus importantes
que dans les métaux)
Propriétés semiconductrices (intégration IC, capteurs température, optiques).
Technologie de fabrication maîtriser grâce aux technologie semi-conducteur,



Réduction des coûts par procédés collectifs massifs,
Reproductibilité, fiabilité,
Possibilité d’intégration d’électronique.
Technologies silicium pour MEMS,
microsystèmes
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Microtechnologies de fabrication silicium « micromachining »
Pourquoi le silicium ?
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Microtechnologies de fabrication silicium « micromachining »
Plan de Microtechnologie de fabrication
silicium « micromachining »
1. Micro-usinage de surface
2. Micro-usinage de volume
3. Ajout de matière
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Microtechnologies de fabrication silicium « micromachining »
1. Micro-usinage de surface
Empilement de couches «sacrificielles» et de couches «structurelles»
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Microtechnologies de fabrication silicium « micromachining »
Micro-usinage de surface
Définitions :
couche «sacrificielle» : couche de matériau qui est déposée entre des couches
structurelles pour réaliser une séparation et une isolation mécanique. Cette couche
est enlevée durant la phase de dégagement (releasing) pour libérer les couches
structurelles et permettrent aux dispositifs mécaniques de bouger par rapport au
substrat.
couches «structurelles» : couche de matériau qui comporte le dispositif mécanique.
Cette couche est dégageable lorsqu’une couche sacrificielle la sépare du substrat.
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microsystèmes
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Microtechnologies de fabrication silicium « micromachining »
Micro-usinage de surface
Empilement de couches «sacrificielles» et de couches «structurelles»
1. insolation de la couche
sacrificielle
2. développement
4. insolation de la couche
structurelle
5. développement
3. dépôt de la couche
structurelle
6. retrait de la couche
sacrificielle
multi-couches, épaisseur, séparation des couches
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Micro-usinage de surface
Couches structurelles et couches sacrificielles
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Micro-usinage de surface
Exemple : Digital Mirror Display (DMD) de Texas Instrument
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Micro-usinage de surface
surface du DMD de Texas Instrument
motifs du DMD de Texas Instrument
comparés avec une patte de fourmi
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microsystèmes
Carrés de 10 à 15µm de coté.
Jusqu’à 1.3 millions de miroirs.
Micro-usinage de surface à base de polysilicium.
Miroir d’aluminium réfléchissant.
Fabriqué sur une mémoire SRAM CMOS.
Actionnement électrostatique.
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Fonctionnement du DMD
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Fonctionnement du DMD
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Micro-usinage de surface

Exemple : moteur tournant électrostatique

Applications
? démonstration

Principe
Contrôle de tension pour faire tourner un rotor sous l’action de force
électrostatique.
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Micro-usinage de surface
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Micro-usinage de surface
http://mems.sandia.gov/
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Micro-usinage de surface
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Micro-usinage de surface
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2. Micro-usinage de volume
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Micro-usinage de volume
Définition :
Bulk etching : usinage de volume.
Rapport de forme (vertical aspect ratio) : c’est le rapport entre le hauteur d’une
structure perpendiculaire au substrat et la largeur de la dimension minimum du
dispositif.
Ce paramètre permet de caractériser les procédés de gravure profonde ainsi que les
méthode de microfabrication par ajout de matière.
l
h
Ratio = h/l
Exemple : pour une gravure deep-RIE le ratio
peut aller jusqu’à 50 (100µm de hauteur pour 2µm de largeur)
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Micro-usinage de volume
Micro-usinage de volume  retrait de matière
1. gravure humide anisotropique
2. gravure sèche isotropique
3. gravure sèche anisotropique
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Micro-usingae de volume

Gravure humide anisotropique

Vitesse de gravure plus importante dans une direction que dans l’autre.
La vitesse dépend de l’orientation cristalline









Les plans plus denses ( <111> par exemple pour Si) se gravent plus lentement que les plans moins denses (<100> ou
<110>)
La profondeur gravée dépend de la géométrie
Arrêt de la gravure (ou sélective différente) en fonction du dopage
Libération de structures suspendues.
Non contaminant pour Si, donc compatible avec les circuits intégrés.
Masques compatibles: SiO2, Si3N4, Al.
Composition: (CH3)4NOH (20%) + H2O ; Forme OH- pour oxyder Si.
Attention: la formation de bulles d’H2 peut donner des surfaces rugueuses
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Micro-usinage de volume
1. gravure humide anisotropique
performances
vitesse de gravure du Si <100> (um/h)
qualité de gravure
sélectivité <111>/<100>
vitesse de sous-gravure (um/h)
compatibilité CMOS
sélectivité SiO2/Si
sélectivité Si3N4/Si
gravure de l'aluminium
couche d'arrêt de gravure
toxicité
coût
EDP
30 à 65
très bonne
1/20
1.4 à 2.9
oui
1/10000
moyenne
couche dopée bore
élevée
élevé
EDP:
Ethylene diamine pyrocatechol
TMAH:
Tetramethyl Amonium Hydroxyde
KOH:
potasse
KOH
150
très bonne
1/30 à 1/130
0.5 à 2
non
1/100 à 1/400
1/10000
rapide
couche dopée bore
faible
faible
TMAH
40 à 100
moyenne
1/10 à 1/60
0.2 à 1.9
oui
1/100 à 1/1000
1/150 à 1/350
lente
couche dopée bore
faible
moyen
corrosif ET cancérigène!
K+ contaminant pour Si
à éviter en microélectronique
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Micro-usinage de volume
Hotte de chimie utilisée pour la gravure TMAH
Capteur de pression
www.elmos.com
Structure libérée par une gravure TMAH
Membrane suspendue de SiO2
libérée par une gravure TMAH
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Micro-usinage de volume

Gravure sèche anisotropique
gravure sèche profonde ou Deep-RIE :
⇒ association d’une machine et d’un process
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Micro-usinage de volume
Principe du process «BOSCH»
Masque
défini en résine
Gravures
et passivations successives:

Gravure:

Passivation: C4F8
Effet
SF6 + O2
de ‘scalopping’
Couche
de polymère sur les flancs des structures.
Bosch Sensortec
https://www.bosch-sensortec.com
Système RIE
Système ICP
(Reactive Ionic Etching)
(Inductively Coupled Plasma)
plus haute densité de plasma
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Micro-usinage de volume
Exemples de gravure Si profonde
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Micro-usinage de volume
motifs gravés par ICP-RIE
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Micro-usinage de volume
Vitesse de gravure en fonction du rapport
de forme et de la largeur des tranchées
Besoin d’une couche d’arrêt pour un contrôle dimensionnel précis.
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Micro-usinage de volume
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Exemple d’utilisation ICP-SOI
Structure Comb-drive
Applications
 positionnement de tête de lecture disque dur,
laser CDRom

convoyage

capteurs capacitifs (force, accélération)
Principe
actionneur électrostatique, capteur électrostatique,
capacitif
Intérêt du MEMS
dimensions. Intégration dans le silicium.
Structure en peignes interdigités
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Exemple d’utilisation ICP-SOI
Comb-drive sensor
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Exemple d’utilisation ICP-SOI
Comb-drive sensor
Characterizing Fruit Fly Flight Behavior Using a Micro Force Sensor With a New Comb Drive
Configuration, Y. Sun
and B.J. Nelson ETH Suisse
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Micro-usinage de volume
Tableau comparatif des techniques de gravure de volume
gravure humique
anisotropique
gravure sèche
anisotropique
~µm/min
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Comparaison usinage de surface et usinage de volume :
caractéristique
Micro-usinage de surface
Micro-usinage de volume
Matériau de base
Polysilicium
Silicium
Couches particulières
Couches sacrificielles : PSG, SiO2
Couche d’arrêt oxyde, couche
dopées. Couches sacrificielles :
oxyde (wafers SOI)
qqs µm
Petites (grande précision contrôlée
par l’épaisseur des couches
(quelques µm)
qqs 100 µm
Grandes (les cavités font
typiquement plusieurs centaines de
µm)
Process simple face,
Basé sur la sélectivité de gravure,
Gravure isotrope,
Stress résiduel dans les couches
dépendant du dépôt, du dopage et
des recuits.
Process simple ou double face,
Basé sur la sélectivité de gravure,
Gravure anisotrope, (dépendant des
orientation du cristal),
Couche d’arrêt de gravure,
Modelage de contours (patterning).
dimensions
process
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3. Ajout de matière (épitaxie)
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Ajout de matière
Epitaxie : croissance du silicium
Semi-conducteur
THELMA
H2+SiH2Cl2  Si + H2 + 2HCl
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Ajout de matière
2. Epitaxie sélective polysilicium
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Ajout de matière
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Ajout de matière
Actionneur thermique
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Ajout de matière
Actionneur thermique
video actionneur thermique
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Ajout de matière
3. Epitaxie polysilicium
Accéléromètre angulaire ST
L6671 : 2.5rad/sec2 ; 30$
process THELMA
MEMS de l’accéléromètre angulaire ST
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Différence par rapport aux techniques semiconducteurs

Différences entre les technologies de micro-fabrication MEMS (usinage de surface,
de volume, ajout matière) et les technologies de microfabrication semiconducteurs :








Machines utilisées (exemples ICP-RIE)
Process spécifique aux microtechnologies MEMS : XeF2, HF vapeur
Conception intègre des aspects mécaniques, thermiques différents (3D, mouvement).
En pratique : dispositifs plus fragiles, sticking, alignement double face, haut rapports
de formes.
Procédé pas encore entièrement standardisés (MUMPS, THELMA). Moins de recul
que dans le domaine des SC.
Machines faible débit : ICP-RIE.
Problème du packaging.
D’un point de vue marché, production négligeable par rapport à l’industrie SC.
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Différence par rapport aux techniques semiconducteurs
Alignement
double face
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Différence par rapport aux techniques semiconducteurs
Effets négatifs sur l’étalement de la résine des rapports de formes des dispositifs MEMS
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