I. Introduction à la physique des surfaces.
II. Structure électronique : exemples et modèles.
III. Techniques de mesures.
IV. Microscopie/spectroscopie tunnel et
l’étude des métaux et semiconducteurs.
V. Transitions de phase.
VI. Manipulation d’atomes, molécules
et nanostructures.
Plan du Cours
Techniques de mesures
•A sonde locale : STM,
AFM, PSTM…etc.
•Optique
•Électronique à balayage (MEB) et
par transmission (MET)
5. Microscopie
•Effet josephson•Spectroscopie par perte d’énergie
des e- (EELS)
•Spectroscopie tunnel (TS)
4. Spectroscopie
(électron)
•Photoémission inverse (IPS)•Photoémission PES (UPS, XPS)
•Résolue en angle (ARPES)
•Émission Auger (AES)
3. Méthodes spectroscopiques
(photon-électron)
•Effet Raman
•Effet Kerr
•Ellipsométrie
•Absorption IR et visible
•Absorption X (EXAFS)
2. Méthodes spectroscopiques
(photon)
•Diffraction d’électrons lents LEED
•Rayons X
•Hélium etc…
1. Méthodes de diffraction
Aspects particuliers
Homogénéité ? Microscopies électronique et à sonde locale.
Environnement électronique : Méthodes spectroscopiques optique et électronique
Environnement chimique : XPS, EXAFS, émission Auger
Bandes d’énergie – physique du solide : Photoémission et spectroscopies électroniques
Aspect structural : Microscopies et méthodes de diffraction
A noter : les problèmes de la résolution énergétique,
la résolution spatiale et
la sensibilité à la surface.
1. Photoémission