Mécanismes de base et Effets sur les composants

Schedule

Déroulement de la présentation
•Environnement spatial : R. Ecoffet (CNES)
•Mécanisme de base : D. Peyre (ASTRIUM SAS)
•Moyens de test au sol : F. Bezerra (CNES)
•Assurance radiation SEE : Ph. Calvel (AAS)
•Assurance Radiation TID : R. Mangeret (ASTRIUM SAS)

Introduction
•L ’environnement radiatif naturel peut affecter la fiabilité des systèmes
électroniques
dans l’espace: ions lourds, protons et électrons piégés,
dans l’atmosphère: protons, neutrons
au sol: neutrons
•Quels sont les mécanismes et les différents effets?
•Quels sont les moyens, procédures et méthodes de test?
•Sait-on se protéger des effets singuliers ?
•Sait-on se protéger des effets cumulés ?

•Plan:
Dose cumulée
Effets sur les circuits
Mécanismes
Effets sur les composants MOS / CMOS & Bipolaires
SEP (Single Event Phenomena)
Mécanismes
Effets sur les composants MOS / CMOS et bipolaires
Mécanismes de base et Effets sur les composants

Phénomène physique :
Génération de charges dans les semiconducteurs et isolants
•Mécanismes:
Rayonnement incident (X, ions lourds, protons, électrons, neutrons…)
Photoélectron énergétique
Cascade secondaire
Paires électron-trou
Interaction Nucléaire / Electrostati
q
Ionisation
Thermalisation
¾Coefficient de génération: Nombre de paires créées par unité
de volume par l'absorption d'une dose unité
¾Energie moyenne de création d'une paire: 3,6 eV dans Si