3
B. Etude du phénomène d’interférence en réflexion :
L’intensité en un point M de l’écran s’écrit :
2
23131 CosIIIII où δ représente la
différence de marche entre les faisceaux (1)et
(3 ) : )
2
(cos2
rne ,
2
est introduit par la
réflexion sur la face de sortie (F2) au point P,
réflexion d’un milieu plus réfringent sur un milieu
moins réfringent.
Des rayons incidents ayant le même angle
d’incidence i sur la face d’entrée (F1), produisent la
même figure d’interférence, la source peut être
étendue.
Les franges d’interférences observées dans le plan focal d’une lentille sont par conséquent des
cercles concentriques centrés sur le foyer image de la lentille. On les appelle « franges
d’égales inclinaison » ou « Anneaux d’Haidenger »parce qu’elles correspondent à des rayons
de même inclinaison i sur la lame.
C. Caractéristiques des anneaux d’égales inclinaisons
a) Différence de marche: Ordre d’interférence : 2
1
cos2
rne
P
L’ordre d’interférence est maximal au centre (i = r = 0), P=P0 , il décroît à mesure que
l’on s’éloigne du centre.
Si P0 est entier le centre est brillant
Si P0 est demi-entier le centre est obscur
b) Rayon du Kième anneau d’interférence de même intensité que le centre
L’ordre d’interférence du Kième anneau : Pk=P0-k
2
1
cos
2 kk r
ne
P2
1
2
0
ne
P
2
00 kkk r
ne
PPkkPP
En utilisant la loi de Descartes pour la réfraction et pour les angles faibles: i = nr
e
n
PPfk
e
n
ikk
0
2
k
étant le rayon du kième anneau calculé sur (E) placé dans le plan focal de la lentille L
Cas d’une lame d’air (n=1): e
PPDiD kk
0
* D= Distance écran-Lame
e
PPfif kk
0
* Dans le plan focal d’une lentille (L,f)
n0=1
n0=1
P
F2
F1
n