Guide rapide de JMP® 11

publicité
Guide rapide de JMP 11
®
Les instructions fournies ici présupposent que vous avez ouvert une table de données,
conservé les paramètres par défaut et correctement saisi les variables pertinentes.
Représentations graphiques
Objet
Méthode
Distribution de fréquences
Analyse > Distribution (pour les variables catégorielles, ce sont les fréquences qui sont affichées.
Sinon, ce sont les quantiles et les statistiques de résumé.)
Diagramme en barres
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la variable continue sur Y et la variable
catégorielle sur X > Cliquer sur l’icône Barre
Ou : Graphique > Diagrammes et graphiques
Diagramme en secteurs
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la variable continue sur Y et la variable
catégorielle sur X > Cliquer sur l’icône Secteur
Ou : Graphique > Diagrammes et graphiques > Options > Diagramme en secteurs
Histogramme
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la variable sur Y ou sur X > Cliquer sur
l’icône Histogramme
Ou : Analyse > Distribution
Diagramme en tiges et feuilles
Analyse > Distribution ; sélectionnez
Nuage de points 2D
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser une variable continue sur Y et une autre sur X
Ou : Analyse > Ajuster Y en fonction de X (Bivarié)
Ou : Graphique > Courbe superposée
Nuage de points 3D
Graphique > Nuage de points 3D
Matrice de graphiques
de nuages de points
Graphique > Matrice de graphiques de nuages de points
Ou : Analyse > Méthodes multivariées > Multivarié
Diagramme en treillis
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser une colonne sur Y et une autre sur X ;
faire glisser une colonne nominale ou une colonne ordinale sur Ajuster
Diagramme de courbes
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser une variable continue sur Y et une autre
sur X > Cliquer sur l’icône Ligne
Connecter sans tenir compte des valeurs
Ou : Graphique > Courbe superposée ; sélectionner
manquantes
Boîte à moustaches –
Un niveau
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la colonne continue sur Y > Cliquer sur
l’icône Boîte à moustaches
Ou : Analyse > Distribution
Boîte à moustaches –
Deux niveaux ou plus
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la colonne continue sur Y et la colonne
catégorielle sur X > Cliquer sur l’icône Boîte à moustaches
Ou : Analyse > Ajuster Y en fonction de X (choisir une variable Y continue et une variable X
Options d’affichage > Boîte à moustaches
catégorielle) ; sélectionner
Cartographie géospatiale
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser sur la section Forme de la carte
une colonne contenant la variable City, County, State ou Country
Ou : Utiliser la latitude et la longitude en tant que X et Y, cliquer au centre avec le bouton droit
et sélectionner Graphique > Fond de carte pour choisir la carte
Tiges et feuilles
Statistiques de base
Objet
Méthode
Statistiques descriptives
Analyse > Distribution ; (les statistiques de base s’affichent par défaut ; pour en afficher d’autres,
sélectionner
Options d’affichage)
ou Tables de données > Résumé – ou Analyse > Mettre en tableau
Test z ou t
avec intervalles de confiance
1 échantillon :
Analyse > Distribution ; sélectionner
Comparaison de la moyenne à une référence
2 échantillons :
Analyse > Ajuster Y en fonction de X (variable Y continue et variable X catégorielle
à deux niveaux) ; sélectionner
Test de Student ou Moyennes/Anova/t groupé
Test de Student par paires : Analyse > Grandeurs appariées
Test de proportions (rendre
l’indicateur 0/1 nominal ou
ordinal)
1 proportion :
2 proportions :
Tableau de contingence –
test du Khi-deux
Analyse > Ajuster Y en fonction de X (X et Y doivent être de type catégoriel)
Covariance
Analyse > Méthodes multivariées > Multivarié ; sélectionner
Corrélation
Analyse > Méthodes multivariées > Multivarié
Ou Analyse > Ajuster Y en fonction de X > Ellipse de densité
Test de normalité/
Qualité de l’ajustement
Ajustement continu > Normal ;
Analyse > Distribution ; sélectionner
Ajustement normal > Qualité de l’ajustement
sélectionner
Taille de l’échantillon et
puissance du test
Plans d’expérience > Taille de l’échantillon et puissance du test
JMP
Cliquer avec le bouton droit sur un rapport dans une fenêtre de rapport et sélectionner Bootstrap.
®
PRO Bootstrapping
Analyse > Distribution ; sélectionner
Analyse > Ajuster Y en fonction de X
Test de probabilités
Matrice de covariance
Probabilité et variables aléatoires
Objet
Variables de probabilité
Méthode
Table de données :
Colonnes > Nouvelle colonne ;
1. Sélectionner
2. Clic droit sur une nouvelle colonne > Formule ;
3. Sélectionner Probabilité dans la fenêtre Fonctions ;
4. Sélectionner la fonction de probabilité souhaitée.
Remarque : Pour plus d’informations sur les paramètres attendus, consultez la rubrique d’aide relative aux fonctions de probabilité.
Variables aléatoires
Table de données :
1. Sélectionner
Colonnes >
Nouvelle colonne ;
2. Clic droit sur une nouvelle colonne >
Informations sur la colonne ;
3. Cliquer sur la liste déroulante en regard
de Initialiser les données > Aléatoire
ou
Table de données :
1. Sélectionner
Colonnes >
Nouvelle colonne ;
2. Clic droit sur une nouvelle colonne >
Formule ; sélectionner Aléatoire dans
la fenêtre Fonctions ;
3. Sélectionner la fonction Aléatoire souhaitée.
Remarque : Pour plus d’informations sur les paramètres attendus, consultez la rubrique d’aide relative à la fonction Aléatoire.
Ajustement des distributions
Analyse > Distribution ; sélectionner
Ajustement continu, puis les distributions souhaitées.
Analyse de la variance
Objet
Méthode
Un facteur
Analyse > Ajuster Y en fonction de X ; sélectionner
X catégoriel)
Deux facteurs ou plus
Analyse > Modèle linéaire
Blocs aléatoires
Analyse > Ajuster Y en fonction de X ; inclure une colonne catégorielle dans un rôle Bloc
Méthodes de comparaison
multiples
Analyse > Ajuster Y en fonction de X ; sélectionner
Comparer les moyennes
Moyennes/Anova ; sélectionner
Test des variances égales/inégales
Analyse > Ajuster Y en fonction de X ; sélectionner
Variances inégales
Moyennes/Anova ; sélectionner
Moyennes/Anova (Y doit être continu et
Régression
Objet
Méthode
Nuage de points
Analyse > Ajuster Y en fonction de X (Bivarié)
Ou Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser une colonne continue sur Y et une autre sur X
Moindres carrés partiels
Un régresseur : Analyse > Ajuster Y continu en fonction de X continu ; sélectionner
Régression simple
Ou, Cliquer sur l’icône Ligne sous Nuage de points dans le Constructeur de graphiques (voir ci-dessus).
Un ou plusieurs régresseurs : Sélectionnez Analyse > Modèle linéaire.
Régression logistique
Un régresseur : Analyse > Ajuster Y catégoriel en fonction de X continu
Un ou plusieurs régresseurs : Analyse > Modèle linéaire
Régression multiple
Analyse > Modèle linéaire
Régression pas à pas
Analyse > Modèle linéaire > Méthode d’analyse statistique – Sélectionner Pas à pas
Analyse des résidus
Diagnostics de lignes
Analyse > Modèle linéaire ; Exécuter le modèle ; sélectionner
Ou Analyse > Ajuster Y en fonction de X ; cliquer sur
et choisir un ajustement ; cliquer sur
le rapport d’ajustement, puis sélectionner « Enregistrer les résidus » ou « Tracer les résidus »
Graphiques des
interactions
Analyse > Modèle linéaire en présence d’interaction ; Exécuter le modèle ; sélectionner
des facteurs > Graphiques des interactions
Test de Durbin-Watson
Analyse > Modèle linéaire ; Exécuter le modèle ; sélectionner
dans
Profileurs
Diagnostics de lignes > Test de Durbin-Watson
Techniques non paramétriques
Objet
Méthode
Test de la somme des rangs de Wilcoxon Analyse > Ajuster Y en fonction de X ; sélectionner
Non paramétrique > Test de Wilcoxon
Test exact de Fisher (pour 2x2 tables
uniquement)
Analyse > Ajuster Y catégoriel en fonction de X catégoriel
Test de la somme des signes des rangs
de Wilcoxon
Comparaison de la moyenne à une
Analyse > Distribution sur X continu ; sélectionner
référence > Cocher la case Test de Wilcoxon (basé sur les rangs)
Test de Kruskal-Wallis
Analyse > Ajuster Y continu en fonction de X catégoriel ; sélectionner
Test de Wilcoxon
p de Spearman
Analyse > Méthodes multivariées ; sélectionner
p de Spearman
Non paramétrique >
Corrélations non paramétriques >
Série chronologique
Objet
Méthode
Graphiques des séries chronologiques
Analyse > Modélisation > Série chronologique
Moyennes mobiles
Analyse > Modélisation > Série chronologique ; sélectionner
Moyenne mobile simple
Modèle de lissage >
Lissage exponentiel
Analyse > Modélisation > Série chronologique ; sélectionner
Modèle de lissage
Méthode de Holt-Winter
Analyse > Modélisation > Série chronologique ; sélectionner
Méthode de Winter
Modèle de lissage >
Plan d’expériences
Objet
Méthode
Plans optimaux
Plans d’expérience > Plans optimaux
Plans factoriels
Plans d’expérience > Plans factoriels complets
Ou : Plans d’expérience > Plans de criblage
Plans de criblage
Plans d’expérience > Plans de criblage
Plans pour surfaces de réponse
Plans d’expérience > Plans pour surfaces de réponse
D’autres plans sont disponibles dans le menu Plans d’expérience.
Modélisation et méthodes multivariées
Objet
Méthode
Régression logistique et multiple
Analyse > Modèle linéaire
Classification
Analyse > Méthodes multivariées > Cluster
Réseaux de neurones
Analyse > Modélisation > Réseaux de neurones
Arbres de décision
Analyse > Modélisation > Partition
Analyse factorielle
Analyse > Consumer Research > Analyse factorielle
Analyse en composantes principales
Analyse > Méthodes multivariées > Composantes principales
Moindres carrés partiels
Analyse > Méthodes multivariées > Moindres carrés partiels
JMP
Ou PRO Analyse > Modèle linéaire > Méthode d’analyse statistique – Sélectionner « Moindres
carrés partiels »
JMP
PRO Comparaison de modèles
Analyse > Modélisation > Comparaison de modèles
JMP
PRO Régression généralisée
Analyse > Modèle linéaire > Méthode d’analyse statistique – Sélectionner « Régression généralisée »
JMP
Analyse > Modèle linéaire > Méthode d’analyse statistique – Sélectionner « Modèle mixte »
®
®
®
®
PRO Modèles mixtes
Contrôle de la qualité
Objet
Cartes de contrôle
Méthode
Carte de suivi :
*Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de suivi
X-barre/R ou S :
*Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > X-barre
Mesures individuelles (IR) : *Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > IR
Carte P, NP, C ou U :
*Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > P, NP, C ou U
Carte UWMA :
Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > UWMA
Carte EWMA :
Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > EWMA
Carte de CUSUM :
Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > CUSUM
Carte G :
Analyse > Qualité et procédés > Générateur de carte de contrôle ; sélectionner Événement rare
Carte T :
Analyse > Qualité et procédés > Générateur de carte de contrôle ; sélectionner Événement
rare, choisir Weibull pour les limites sigma
*Création également possible avec le Générateur de carte de contrôle : Analyse > Qualité et procédés > Générateur de carte de contrôle
Pareto
Analyse > Qualité et procédés > Pareto
Diagramme d’Ishikawa
(en arête de poisson)
Analyse > Qualité et procédés > Diagramme d’Ishikawa
Graphe de variabilité
(carte multivariée)
Analyse > Qualité et procédés > Cartes de variabilité de la mesure/de mesure aux attributs
Analyse > Qualité et procédés > Capabilité
Capabilité
Graphiques supplémentaires dans la même sortie :
Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > IR ou X-barre ; cocher la case Capabilité > OK
Analyse des systèmes
de mesure
Analyse > Qualité et procédés > Analyse des systèmes de mesure
Ou : Analyse > Qualité et procédés > Cartes de variabilité de la mesure/de mesure aux attributs
jmp.com/fr/academic
Pour obtenir plus d’informations et accéder aux didacticiels, reportez-vous à l’aide JMP disponible sous
Aide > Livres et Aide > Didacticiels. Pour accéder aux guides d’une page, aux vidéos et à d’autres didacticiels,
consultez la bibliothèque des ressources de formation à l’adresse jmp.com/learn.
SAS Institute s.a.s.
+33 (0)1 60 62 11 11
JMP est un logiciel de SAS. Pour de plus amples informations sur SAS, visitez sas.com/france.
Pour contacter JMP France, composez le +33 (0)1 60 62 68 44 ou visitez jmp.com/fr.
SAS et tous les autres noms de service ou de produit de SAS Institute Inc. sont des marques ou des marques déposées de SAS Institute
Inc. aux Etats-Unis et dans d’autres pays. ® désigne une marque déposée aux États-Unis. Les autres marques et noms de produit sont
la propriété de leurs sociétés respectives.106204_S119532.0314
Téléchargement