Guide rapide de JMP® 11
Guide rapide de JMP®11
Objet Méthode
Distribution de fréquences Analyse > Distribution (pour les variables catégorielles, ce sont les fréquences qui sont afchées.
Sinon, ce sont les quantiles et les statistiques de résumé.)
Diagramme en barres
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la variable continue sur Y et lavariable
catégorielle sur X > Cliquer sur l’icône Barre
Ou: Graphique > Diagrammes et graphiques
Diagramme en secteurs
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la variable continue sur Y et lavariable
catégorielle sur X > Cliquer sur l’icône Secteur
Ou: Graphique > Diagrammes et graphiques > Options > Diagramme en secteurs
Histogramme
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la variable sur Y ou sur X > Cliquersur
l’icône Histogramme
Ou: Analyse > Distribution
Diagramme en tiges et feuilles Analyse > Distribution; sélectionnez Tiges et feuilles
Nuage de points 2D
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser une variable continue sur Y et uneautre sur X
Ou: Analyse > Ajuster Y en fonction de X (Bivarié)
Ou: Graphique > Courbe superposée
Nuage de points 3D Graphique > Nuage de points 3D
Matrice de graphiques
denuages de points
Graphique > Matrice de graphiques de nuages de points
Ou: Analyse > Méthodes multivariées > Multivarié
Diagramme en treillis Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser une colonne sur Y et une autre sur X;
faireglisser une colonne nominale ou une colonne ordinale sur Ajuster
Diagramme de courbes
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser une variable continue sur Y et uneautre
sur X > Cliquer sur l’icône Ligne
Ou: Graphique > Courbe superposée; sélectionner Connecter sans tenir compte des valeurs
manquantes
Boîte à moustaches –
Un niveau
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la colonne continue sur Y > Cliquersur
l’icône Boîte à moustaches
Ou: Analyse > Distribution
Boîte à moustaches –
Deuxniveaux ou plus
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la colonne continue sur Y et lacolonne
catégorielle sur X > Cliquer sur l’icône Boîte à moustaches
Ou: Analyse > Ajuster Y en fonction de X (choisir une variable Y continue et une variable X
catégorielle); sélectionner Options d’afchage > Boîte à moustaches
Cartographie géospatiale
Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser sur la section Forme de la carte
unecolonne contenant la variable City, County, State ou Country
Ou: Utiliser la latitude et la longitude en tant que X et Y, cliquer au centre avec le bouton droit
etsélectionner Graphique > Fond de carte pour choisir la carte
Représentations graphiques
Les instructions fournies ici présupposent que vous avez ouvert une table de données,
conservé les paramètres par défaut et correctement saisi les variables pertinentes.
Objet Méthode
Statistiques descriptives
Analyse > Distribution; (les statistiques de base s’afchent par défaut; pour en afcher d’autres,
sélectionner Options d’afchage)
ou Tables de données > Résumé – ou Analyse > Mettre en tableau
Test z ou t
avec intervalles de conance
1 échantillon:
Analyse > Distribution; sélectionner Comparaison de la moyenne à une référence
2 échantillons: Analyse > Ajuster Y en fonction de X (variable Y continue et variable X catégorielle
à deux niveaux); sélectionner Test de Student ou Moyennes/Anova/t groupé
Test de Student par paires: Analyse > Grandeurs appariées
Test de proportions (rendre
l’indicateur 0/1 nominal ou
ordinal)
1 proportion: Analyse > Distribution; sélectionner Test de probabilités
2 proportions: Analyse > Ajuster Y en fonction de X
Tableau de contingence –
testdu Khi-deux
Analyse > Ajuster Y en fonction de X (X et Y doivent être de type catégoriel)
Covariance Analyse > Méthodes multivariées > Multivarié; sélectionner Matrice de covariance
Corrélation Analyse > Méthodes multivariées > Multivarié
Ou Analyse > Ajuster Y en fonction de X > Ellipse de densité
Test de normalité/
Qualité de l’ajustement
Analyse > Distribution; sélectionner Ajustement continu > Normal;
sélectionner Ajustement normal > Qualité de l’ajustement
Taille de l’échantillon et
puissance du test
Plans d’expérience > Taille de l’échantillon et puissance du test
JMP®
PRO Bootstrapping Cliquer avec le bouton droit sur un rapport dans une fenêtre de rapport et sélectionner Bootstrap.
Statistiques de base
Probabilité et variables aléatoires
Objet Méthode
Variables de probabilité
Table de données:
1. Sélectionner Colonnes > Nouvelle colonne;
2. Clic droit sur une nouvelle colonne > Formule;
3. Sélectionner Probabilité dans la fenêtre Fonctions;
4. Sélectionner la fonction de probabilité souhaitée.
Remarque: Pour plus d’informations sur les paramètres attendus, consultez la rubrique d’aide relative aux fonctions de probabilité.
Variables aléatoires
Table de données:
1. Sélectionner Colonnes >
Nouvelle colonne;
2. Clic droit sur une nouvelle colonne >
Informations sur la colonne;
3. Cliquer sur la liste déroulante en regard
deInitialiser les données > Aléatoire
ou
Table de données:
1. Sélectionner Colonnes >
Nouvelle colonne;
2. Clic droit sur une nouvelle colonne >
Formule; sélectionner Aléatoire dans
lafenêtre Fonctions;
3. Sélectionner la fonction Aléatoire souhaitée.
Remarque: Pour plus d’informations sur les paramètres attendus, consultez la rubrique d’aide relative à la fonction Aléatoire.
Ajustement des distributions Analyse > Distribution; sélectionner Ajustement continu, puis les distributions souhaitées.
Objet Méthode
Un facteur Analyse > Ajuster Y en fonction de X; sélectionner Moyennes/Anova (Y doit être continu et
Xcatégoriel)
Deux facteurs ou plus Analyse > Modèle linéaire
Blocs aléatoires Analyse > Ajuster Y en fonction de X; inclure une colonne catégorielle dans un rôle Bloc
Méthodes de comparaison
multiples
Analyse > Ajuster Y en fonction de X; sélectionner Moyennes/Anova; sélectionner
Comparer les moyennes
Test des variances égales/inégales Analyse > Ajuster Y en fonction de X; sélectionner Moyennes/Anova; sélectionner
Variances inégales
Analyse de la variance
Objet Méthode
Nuage de points Analyse > Ajuster Y en fonction de X (Bivarié)
Ou Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser une colonne continue sur Y et une autre sur X
Moindres carrés partiels
Un régresseur: Analyse > Ajuster Y continu en fonction de X continu; sélectionner Régression simple
Ou, Cliquer sur l’icône Ligne sous Nuage de points dans le Constructeur de graphiques (voir ci-dessus).
Un ou plusieurs régresseurs: Sélectionnez Analyse > Modèle linéaire.
Régression logistique Un régresseur: Analyse > Ajuster Y catégoriel en fonction de X continu
Un ou plusieurs régresseurs: Analyse > Modèle linéaire
Régression multiple Analyse > Modèle linéaire
Régression pas à pas Analyse > Modèle linéaire > Méthode d’analyse statistique – Sélectionner Pas à pas
Analyse des résidus
Analyse > Modèle linéaire; Exécuter le modèle; sélectionner Diagnostics de lignes
Ou Analyse > Ajuster Y en fonction de X; cliquer sur et choisir un ajustement; cliquer sur dans
lerapport d’ajustement, puis sélectionner «Enregistrer les résidus» ou «Tracer les résidus»
Graphiques des
interactions
Analyse > Modèle linéaire en présence d’interaction; Exécuter le modèle; sélectionner Proleurs
desfacteurs > Graphiques des interactions
Test de Durbin-Watson Analyse > Modèle linéaire; Exécuter le modèle; sélectionner Diagnostics de lignes > Test de Durbin-Watson
Régression
Objet Méthode
Test de la somme des rangs de Wilcoxon Analyse > Ajuster Y en fonction de X; sélectionner Non paramétrique > Test de Wilcoxon
Test exact de Fisher (pour 2x2 tables
uniquement)
Analyse > Ajuster Y catégoriel en fonction de X catégoriel
Test de la somme des signes des rangs
de Wilcoxon
Analyse > Distribution sur X continu; sélectionner Comparaison de la moyenne à une
référence > Cocher la case Test de Wilcoxon (basé sur les rangs)
Test de Kruskal-Wallis Analyse > Ajuster Y continu en fonction de X catégoriel; sélectionner Non paramétrique >
Test de Wilcoxon
p de Spearman Analyse > Méthodes multivariées; sélectionner Corrélations non paramétriques >
p de Spearman
Techniques non paramétriques
Objet Méthode
Graphiques des séries chronologiques Analyse > Modélisation > Série chronologique
Moyennes mobiles Analyse > Modélisation > Série chronologique; sélectionner Modèle de lissage >
Moyenne mobile simple
Lissage exponentiel Analyse > Modélisation > Série chronologique; sélectionner Modèle de lissage
Méthode de Holt-Winter Analyse > Modélisation > Série chronologique; sélectionner Modèle de lissage >
Méthode de Winter
Série chronologique
Objet Méthode
Plans optimaux Plans d’expérience > Plans optimaux
Plans factoriels Plans d’expérience > Plans factoriels complets
Ou: Plans d’expérience > Plans de criblage
Plans de criblage Plans d’expérience > Plans de criblage
Plans pour surfaces de réponse Plans d’expérience > Plans pour surfaces de réponse
D’autres plans sont disponibles dans le menu Plans d’expérience.
Plan d’expériences
Objet Méthode
Régression logistique et multiple Analyse > Modèle linéaire
Classication Analyse > Méthodes multivariées > Cluster
Réseaux de neurones Analyse > Modélisation > Réseaux de neurones
Arbres de décision Analyse > Modélisation > Partition
Analyse factorielle Analyse > Consumer Research > Analyse factorielle
Analyse en composantes principales Analyse > Méthodes multivariées > Composantes principales
Moindres carrés partiels
Analyse > Méthodes multivariées > Moindres carrés partiels
Ou JMP®
PRO Analyse > Modèle linéaire > Méthode d’analyse statistique – Sélectionner «Moindres
carrés partiels»
JMP®
PRO Comparaison de modèles Analyse > Modélisation > Comparaison de modèles
JMP®
PRO Régression généralisée Analyse > Modèle linéaire > Méthode d’analyse statistique – Sélectionner «Régression généralisée»
JMP®
PRO Modèles mixtes Analyse > Modèle linéaire > Méthode d’analyse statistique – Sélectionner «Modèle mixte»
Modélisation et méthodes multivariées
Objet Méthode
Cartes de contrôle
Carte de suivi: *Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de suivi
X-barre/R ou S: *Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > X-barre
Mesures individuelles (IR): *Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > IR
Carte P, NP, C ou U:
*Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > P, NP, C ou U
Carte UWMA: Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > UWMA
Carte EWMA: Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > EWMA
Carte de CUSUM: Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > CUSUM
Carte G:
Analyse > Qualité et procédés > Générateur de carte de contrôle; sélectionner Événement rare
Carte T: Analyse > Qualité et procédés > Générateur de carte de contrôle; sélectionner Événement
rare, choisir Weibull pour les limites sigma
*Création également possible avec le Générateur de carte de contrôle: Analyse > Qualité et procédés > Générateur de carte de contrôle
Pareto Analyse > Qualité et procédés > Pareto
Diagramme d’Ishikawa
(enarête de poisson) Analyse > Qualité et procédés > Diagramme d’Ishikawa
Graphe de variabilité
(cartemultivariée) Analyse > Qualité et procédés > Cartes de variabilité de la mesure/de mesure aux attributs
Capabilité
Analyse > Qualité et procédés > Capabilité
Graphiques supplémentaires dans la même sortie:
Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > IR ou X-barre; cocher la case Capabilité > OK
Analyse des systèmes
de mesure
Analyse > Qualité et procédés > Analyse des systèmes de mesure
Ou: Analyse > Qualité et procédés > Cartes de variabilité de la mesure/de mesure aux attributs
Contrôle de la qualité
jmp.com/fr/academic
Pour obtenir plus d’informations et accéder aux didacticiels, reportez-vous à l’aide JMP disponible sous
Aide > Livres et Aide > Didacticiels. Pour accéder aux guides d’une page, aux vidéos et à d’autres didacticiels,
consultez la bibliothèque des ressources de formation à l’adresse jmp.com/learn.
SAS Institute s.a.s. +33 (0)1 60 62 11 11
JMP est un logiciel de SAS. Pour de plus amples informations sur SAS, visitez sas.com/france.
Pour contacter JMP France, composez le +33 (0)1 60 62 68 44 ou visitez jmp.com/fr.
SAS et tous les autres noms de service ou de produit de SAS Institute Inc. sont des marques ou des marques déposées de SAS Institute
Inc. aux Etats-Unis et dans d’autres pays. ® désigne une marque déposée aux États-Unis. Les autres marques et noms de produit sont
la propriété de leurs sociétés respectives.106204_S119532.0314
1
/
4
100%
