Guide rapide de JMP 11 ® Les instructions fournies ici présupposent que vous avez ouvert une table de données, conservé les paramètres par défaut et correctement saisi les variables pertinentes. Représentations graphiques Objet Méthode Distribution de fréquences Analyse > Distribution (pour les variables catégorielles, ce sont les fréquences qui sont affichées. Sinon, ce sont les quantiles et les statistiques de résumé.) Diagramme en barres Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la variable continue sur Y et la variable catégorielle sur X > Cliquer sur l’icône Barre Ou : Graphique > Diagrammes et graphiques Diagramme en secteurs Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la variable continue sur Y et la variable catégorielle sur X > Cliquer sur l’icône Secteur Ou : Graphique > Diagrammes et graphiques > Options > Diagramme en secteurs Histogramme Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la variable sur Y ou sur X > Cliquer sur l’icône Histogramme Ou : Analyse > Distribution Diagramme en tiges et feuilles Analyse > Distribution ; sélectionnez Nuage de points 2D Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser une variable continue sur Y et une autre sur X Ou : Analyse > Ajuster Y en fonction de X (Bivarié) Ou : Graphique > Courbe superposée Nuage de points 3D Graphique > Nuage de points 3D Matrice de graphiques de nuages de points Graphique > Matrice de graphiques de nuages de points Ou : Analyse > Méthodes multivariées > Multivarié Diagramme en treillis Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser une colonne sur Y et une autre sur X ; faire glisser une colonne nominale ou une colonne ordinale sur Ajuster Diagramme de courbes Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser une variable continue sur Y et une autre sur X > Cliquer sur l’icône Ligne Connecter sans tenir compte des valeurs Ou : Graphique > Courbe superposée ; sélectionner manquantes Boîte à moustaches – Un niveau Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la colonne continue sur Y > Cliquer sur l’icône Boîte à moustaches Ou : Analyse > Distribution Boîte à moustaches – Deux niveaux ou plus Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser la colonne continue sur Y et la colonne catégorielle sur X > Cliquer sur l’icône Boîte à moustaches Ou : Analyse > Ajuster Y en fonction de X (choisir une variable Y continue et une variable X Options d’affichage > Boîte à moustaches catégorielle) ; sélectionner Cartographie géospatiale Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser sur la section Forme de la carte une colonne contenant la variable City, County, State ou Country Ou : Utiliser la latitude et la longitude en tant que X et Y, cliquer au centre avec le bouton droit et sélectionner Graphique > Fond de carte pour choisir la carte Tiges et feuilles Statistiques de base Objet Méthode Statistiques descriptives Analyse > Distribution ; (les statistiques de base s’affichent par défaut ; pour en afficher d’autres, sélectionner Options d’affichage) ou Tables de données > Résumé – ou Analyse > Mettre en tableau Test z ou t avec intervalles de confiance 1 échantillon : Analyse > Distribution ; sélectionner Comparaison de la moyenne à une référence 2 échantillons : Analyse > Ajuster Y en fonction de X (variable Y continue et variable X catégorielle à deux niveaux) ; sélectionner Test de Student ou Moyennes/Anova/t groupé Test de Student par paires : Analyse > Grandeurs appariées Test de proportions (rendre l’indicateur 0/1 nominal ou ordinal) 1 proportion : 2 proportions : Tableau de contingence – test du Khi-deux Analyse > Ajuster Y en fonction de X (X et Y doivent être de type catégoriel) Covariance Analyse > Méthodes multivariées > Multivarié ; sélectionner Corrélation Analyse > Méthodes multivariées > Multivarié Ou Analyse > Ajuster Y en fonction de X > Ellipse de densité Test de normalité/ Qualité de l’ajustement Ajustement continu > Normal ; Analyse > Distribution ; sélectionner Ajustement normal > Qualité de l’ajustement sélectionner Taille de l’échantillon et puissance du test Plans d’expérience > Taille de l’échantillon et puissance du test JMP Cliquer avec le bouton droit sur un rapport dans une fenêtre de rapport et sélectionner Bootstrap. ® PRO Bootstrapping Analyse > Distribution ; sélectionner Analyse > Ajuster Y en fonction de X Test de probabilités Matrice de covariance Probabilité et variables aléatoires Objet Variables de probabilité Méthode Table de données : Colonnes > Nouvelle colonne ; 1. Sélectionner 2. Clic droit sur une nouvelle colonne > Formule ; 3. Sélectionner Probabilité dans la fenêtre Fonctions ; 4. Sélectionner la fonction de probabilité souhaitée. Remarque : Pour plus d’informations sur les paramètres attendus, consultez la rubrique d’aide relative aux fonctions de probabilité. Variables aléatoires Table de données : 1. Sélectionner Colonnes > Nouvelle colonne ; 2. Clic droit sur une nouvelle colonne > Informations sur la colonne ; 3. Cliquer sur la liste déroulante en regard de Initialiser les données > Aléatoire ou Table de données : 1. Sélectionner Colonnes > Nouvelle colonne ; 2. Clic droit sur une nouvelle colonne > Formule ; sélectionner Aléatoire dans la fenêtre Fonctions ; 3. Sélectionner la fonction Aléatoire souhaitée. Remarque : Pour plus d’informations sur les paramètres attendus, consultez la rubrique d’aide relative à la fonction Aléatoire. Ajustement des distributions Analyse > Distribution ; sélectionner Ajustement continu, puis les distributions souhaitées. Analyse de la variance Objet Méthode Un facteur Analyse > Ajuster Y en fonction de X ; sélectionner X catégoriel) Deux facteurs ou plus Analyse > Modèle linéaire Blocs aléatoires Analyse > Ajuster Y en fonction de X ; inclure une colonne catégorielle dans un rôle Bloc Méthodes de comparaison multiples Analyse > Ajuster Y en fonction de X ; sélectionner Comparer les moyennes Moyennes/Anova ; sélectionner Test des variances égales/inégales Analyse > Ajuster Y en fonction de X ; sélectionner Variances inégales Moyennes/Anova ; sélectionner Moyennes/Anova (Y doit être continu et Régression Objet Méthode Nuage de points Analyse > Ajuster Y en fonction de X (Bivarié) Ou Graphique > Constructeur de graphiques > Faire glisser une colonne continue sur Y et une autre sur X Moindres carrés partiels Un régresseur : Analyse > Ajuster Y continu en fonction de X continu ; sélectionner Régression simple Ou, Cliquer sur l’icône Ligne sous Nuage de points dans le Constructeur de graphiques (voir ci-dessus). Un ou plusieurs régresseurs : Sélectionnez Analyse > Modèle linéaire. Régression logistique Un régresseur : Analyse > Ajuster Y catégoriel en fonction de X continu Un ou plusieurs régresseurs : Analyse > Modèle linéaire Régression multiple Analyse > Modèle linéaire Régression pas à pas Analyse > Modèle linéaire > Méthode d’analyse statistique – Sélectionner Pas à pas Analyse des résidus Diagnostics de lignes Analyse > Modèle linéaire ; Exécuter le modèle ; sélectionner Ou Analyse > Ajuster Y en fonction de X ; cliquer sur et choisir un ajustement ; cliquer sur le rapport d’ajustement, puis sélectionner « Enregistrer les résidus » ou « Tracer les résidus » Graphiques des interactions Analyse > Modèle linéaire en présence d’interaction ; Exécuter le modèle ; sélectionner des facteurs > Graphiques des interactions Test de Durbin-Watson Analyse > Modèle linéaire ; Exécuter le modèle ; sélectionner dans Profileurs Diagnostics de lignes > Test de Durbin-Watson Techniques non paramétriques Objet Méthode Test de la somme des rangs de Wilcoxon Analyse > Ajuster Y en fonction de X ; sélectionner Non paramétrique > Test de Wilcoxon Test exact de Fisher (pour 2x2 tables uniquement) Analyse > Ajuster Y catégoriel en fonction de X catégoriel Test de la somme des signes des rangs de Wilcoxon Comparaison de la moyenne à une Analyse > Distribution sur X continu ; sélectionner référence > Cocher la case Test de Wilcoxon (basé sur les rangs) Test de Kruskal-Wallis Analyse > Ajuster Y continu en fonction de X catégoriel ; sélectionner Test de Wilcoxon p de Spearman Analyse > Méthodes multivariées ; sélectionner p de Spearman Non paramétrique > Corrélations non paramétriques > Série chronologique Objet Méthode Graphiques des séries chronologiques Analyse > Modélisation > Série chronologique Moyennes mobiles Analyse > Modélisation > Série chronologique ; sélectionner Moyenne mobile simple Modèle de lissage > Lissage exponentiel Analyse > Modélisation > Série chronologique ; sélectionner Modèle de lissage Méthode de Holt-Winter Analyse > Modélisation > Série chronologique ; sélectionner Méthode de Winter Modèle de lissage > Plan d’expériences Objet Méthode Plans optimaux Plans d’expérience > Plans optimaux Plans factoriels Plans d’expérience > Plans factoriels complets Ou : Plans d’expérience > Plans de criblage Plans de criblage Plans d’expérience > Plans de criblage Plans pour surfaces de réponse Plans d’expérience > Plans pour surfaces de réponse D’autres plans sont disponibles dans le menu Plans d’expérience. Modélisation et méthodes multivariées Objet Méthode Régression logistique et multiple Analyse > Modèle linéaire Classification Analyse > Méthodes multivariées > Cluster Réseaux de neurones Analyse > Modélisation > Réseaux de neurones Arbres de décision Analyse > Modélisation > Partition Analyse factorielle Analyse > Consumer Research > Analyse factorielle Analyse en composantes principales Analyse > Méthodes multivariées > Composantes principales Moindres carrés partiels Analyse > Méthodes multivariées > Moindres carrés partiels JMP Ou PRO Analyse > Modèle linéaire > Méthode d’analyse statistique – Sélectionner « Moindres carrés partiels » JMP PRO Comparaison de modèles Analyse > Modélisation > Comparaison de modèles JMP PRO Régression généralisée Analyse > Modèle linéaire > Méthode d’analyse statistique – Sélectionner « Régression généralisée » JMP Analyse > Modèle linéaire > Méthode d’analyse statistique – Sélectionner « Modèle mixte » ® ® ® ® PRO Modèles mixtes Contrôle de la qualité Objet Cartes de contrôle Méthode Carte de suivi : *Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de suivi X-barre/R ou S : *Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > X-barre Mesures individuelles (IR) : *Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > IR Carte P, NP, C ou U : *Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > P, NP, C ou U Carte UWMA : Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > UWMA Carte EWMA : Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > EWMA Carte de CUSUM : Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > Carte de contrôle > CUSUM Carte G : Analyse > Qualité et procédés > Générateur de carte de contrôle ; sélectionner Événement rare Carte T : Analyse > Qualité et procédés > Générateur de carte de contrôle ; sélectionner Événement rare, choisir Weibull pour les limites sigma *Création également possible avec le Générateur de carte de contrôle : Analyse > Qualité et procédés > Générateur de carte de contrôle Pareto Analyse > Qualité et procédés > Pareto Diagramme d’Ishikawa (en arête de poisson) Analyse > Qualité et procédés > Diagramme d’Ishikawa Graphe de variabilité (carte multivariée) Analyse > Qualité et procédés > Cartes de variabilité de la mesure/de mesure aux attributs Analyse > Qualité et procédés > Capabilité Capabilité Graphiques supplémentaires dans la même sortie : Analyse > Qualité et procédés > Cartes de contrôle > IR ou X-barre ; cocher la case Capabilité > OK Analyse des systèmes de mesure Analyse > Qualité et procédés > Analyse des systèmes de mesure Ou : Analyse > Qualité et procédés > Cartes de variabilité de la mesure/de mesure aux attributs jmp.com/fr/academic Pour obtenir plus d’informations et accéder aux didacticiels, reportez-vous à l’aide JMP disponible sous Aide > Livres et Aide > Didacticiels. Pour accéder aux guides d’une page, aux vidéos et à d’autres didacticiels, consultez la bibliothèque des ressources de formation à l’adresse jmp.com/learn. SAS Institute s.a.s. +33 (0)1 60 62 11 11 JMP est un logiciel de SAS. Pour de plus amples informations sur SAS, visitez sas.com/france. Pour contacter JMP France, composez le +33 (0)1 60 62 68 44 ou visitez jmp.com/fr. SAS et tous les autres noms de service ou de produit de SAS Institute Inc. sont des marques ou des marques déposées de SAS Institute Inc. aux Etats-Unis et dans d’autres pays. ® désigne une marque déposée aux États-Unis. Les autres marques et noms de produit sont la propriété de leurs sociétés respectives.106204_S119532.0314