© Jean-François Morin!Nanosciences et nanotechnologies!CHM-4203!
Il existe plusieurs techniques de caractérisation pour l’étude des nanostructures
organiques, inorganiques et de surface. Les principales sont la microscopie à effet tunnel
(STM), la microscopie de force atomique (AFM), la microscopie électronique à transmission
(TEM) et à balayage (SEM). Les analyses se font principalement sur des surfaces
(exclusivement pour STM et AFM).!
Le choix de la technique de caractérisation utilisée dépend des renseignements recherchés
et des limitations expérimentales. Toutes les techniques possèdent des avantages et des
inconvénients.!
D’autres techniques de caractérisation sont très importantes en nanoscience pour
connaître la composition chimique des surfaces. Toutefois, elles ne permettent pas une
caractérisation tridimensionelle directe des nanostructures. Ex.: XPS, LEED, RHEED,
EXAFS, RAIRS, etc.!
2.1 Microscopie à effet tunnel (STM)!
La microscopie à effet tunnel est sans aucun doute l’instrument qui a donné naissance à la
nanoscience moderne.!
Développé en 1981 par Gerd Binnig et Heinrich Rohrer dans les laboratoires de IBM
(Zürich).!
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