
Dégâts à l’ADN occasionnés par les électrons de basse énergie (1-20 eV) dans 
l’air à différents taux d’hygrométrie. 
 
M. Fromm a, O. Boulanouar, C. Mavon a, P. Cloutier b, L. Sanche b  
 a-  Laboratoire de Microanalyses Nucléaires Alain Chambaudet, UMR CEA_E4, 
Université de Franche-Comté 16, route de Gray 25030 BESANCON Cedex, 
France 
 
b-  Département  de  Médecine  Nucléaire  et  Radiobiologie,  Université  de 
Sherbrooke,
 
3001  12e  avenue  Nord,  Fleurimont,  Que,  J1H  5N4  Québec, 
Canada   
  
 
Les électrons de basse énergie, notamment  ceux  dont  l’énergie  est  inférieure  au 
seuil d’ionisation d’une molécule donnée, sont cependant susceptibles de briser cette 
molécule par des mécanismes tels que l’attachement dissociatif. Si les études visant 
à déterminer les sections efficaces pour de  tels  processus  dissociatifs  dans  l’hyper 
vide ont récemment couvert une gamme moléculaire allant du méthane à l’ADN, peu 
de résultats ont pu être obtenus dans un environnement proche de celui d’un noyau 
cellulaire  où  l’ADN  génomique  est  stocké.  Dans  cet  exposé,  nous  montrerons 
comment, à travers une collaboration avec une équipe canadienne, pionnière dans 
l’étude  des  ces  mécanismes,  nous  allons  quantifier  les  dégâts  occasionnées  à  la 
macromolécule  d’ADN,  sous  pression  atmosphérique  et  en  présence  d’eau.  Après 
avoir  rappelé  le  contexte  dans  lequel  s’inscrit  cette  étude,  nous  présenterons  la 
méthode  choisie  pour  générer  une  distribution  d’électrons  de  basses  énergies  et 
comment cette dernière est déterminée. Dans une deuxième partie, la technique de 
préparation des échantillons  d’ADN plasmidique sera présentée et illustrée  par des 
clichés de microscopie à force atomique (AFM). Enfin nous évoquerons la technique 
de relaxation de plasmides choisie pour la quantification des lésions à l’ADN et nous 
montrerons quelles sont les perspectives offertes par ces expériences.