Dégâts à l’ADN occasionnés par les électrons de basse énergie (1-20 eV) dans l’air à différents taux d’hygrométrie. M. Fromm a, O. Boulanouar, C. Mavon a, P. Cloutier b, L. Sanche b a- Laboratoire de Microanalyses Nucléaires Alain Chambaudet, UMR CEA_E4, Université de Franche-Comté 16, route de Gray 25030 BESANCON Cedex, France b- Département de Médecine Nucléaire et Radiobiologie, Université de Sherbrooke, 3001 12e avenue Nord, Fleurimont, Que, J1H 5N4 Québec, Canada Les électrons de basse énergie, notamment ceux dont l’énergie est inférieure au seuil d’ionisation d’une molécule donnée, sont cependant susceptibles de briser cette molécule par des mécanismes tels que l’attachement dissociatif. Si les études visant à déterminer les sections efficaces pour de tels processus dissociatifs dans l’hyper vide ont récemment couvert une gamme moléculaire allant du méthane à l’ADN, peu de résultats ont pu être obtenus dans un environnement proche de celui d’un noyau cellulaire où l’ADN génomique est stocké. Dans cet exposé, nous montrerons comment, à travers une collaboration avec une équipe canadienne, pionnière dans l’étude des ces mécanismes, nous allons quantifier les dégâts occasionnées à la macromolécule d’ADN, sous pression atmosphérique et en présence d’eau. Après avoir rappelé le contexte dans lequel s’inscrit cette étude, nous présenterons la méthode choisie pour générer une distribution d’électrons de basses énergies et comment cette dernière est déterminée. Dans une deuxième partie, la technique de préparation des échantillons d’ADN plasmidique sera présentée et illustrée par des clichés de microscopie à force atomique (AFM). Enfin nous évoquerons la technique de relaxation de plasmides choisie pour la quantification des lésions à l’ADN et nous montrerons quelles sont les perspectives offertes par ces expériences.