Table des matières
Remerciements -1
Table des matières 1
1 Interconnexions intégrées sur silicium 13
1.1 Propriétés des interconnexions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
1.1.1 Débitetlatence............................ 14
1.1.2 Surface ................................ 14
1.1.3 Flexibilité............................... 15
1.1.4 Services disponibles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
1.1.5 Fiabilité................................ 16
1.1.6 Testabilité............................... 17
1.1.7 Topologie ............................... 17
1.2 Normes d’interface VCI et OCP . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
1.2.1 Norme VCI : Virtual Component Interface ............. 19
1.2.1.1 Caractéristiques générales de VCI . . . . . . . . . . . . 20
1.2.1.2 Hiérarchie dans VCI . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
1.2.2 Norme OCP : Open Core Protocol ................. 22
1.3 Modélisation physique d’un lien d’interconnexion . . . . . . . . . . . . . 22
1.3.1 Modèle lumped ............................ 23
1.3.2 Modèle π3............................... 24
1.4 Bruit dans les interconnexions intégrées . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
1.4.1 Évolution des paramètres technologiques . . . . . . . . . . . . . . 24
1.4.2 Bruits liés à l’alimentation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
1.4.3 Bruits liés au couplage entre fils . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
1.4.3.1 Couplage capacitif . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
1.4.3.2 Couplage inductif . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
1.4.3.3 Combinaison des deux effets . . . . . . . . . . . . . . . 32
1.4.4 Bruits provenant de l’extérieur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
1.4.5 Autres sources de bruit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
1.5 Modélisation de l’apparition des erreurs sur une interconnexion . . . . . 34
1.6 Conclusion................................... 38
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