1
Architectures matérielles, puissance et énergie
Daniel Etiemble
M1 Informatique
2007-2008
Architectures avancées
D. Etiemble
2
Densité de puissance
Watts/cm
2
1
10
100
1000
1.5µ
1.5µ1.5µ
1.5µ 1µ
1µ 0.7µ
0.7µ0.7µ
0.7µ 0.5µ
0.5µ0.5µ
0.5µ 0.35µ
0.35µ0.35µ
0.35µ 0.25µ
0.25µ0.25µ
0.25µ 0.18µ
0.18µ0.18µ
0.18µ 0.13µ
0.13µ0.13µ
0.13µ 0.1µ
0.1µ0.1µ
0.1µ 0.07µ
0.07µ0.07µ
0.07µ
i386
i386
i486
i486
Pentium
Pentium®
®
Pentium
Pentium®
®Pro
Pro
Pentium
Pentium®
®II
II
Pentium
Pentium®
®III
III
Hot plate
Hot plate
Nuclear Reactor
Nuclear
Nuclear Reactor
Reactor
*
*
New Microarchitecture Challenges in the Coming Generations of CM
New Microarchitecture Challenges in the Coming Generations of CMOS Process Technologies
OS Process Technologies
Fred Pollack, Intel Corp. Micro32 conference key note
Fred Pollack, Intel Corp. Micro32 conference key note -
-1999.
1999.
Pentium
Pentium®
®4
4
Rocket
Nozzle
2
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Le spectre d’implémentation
ASIC
Haute performance – dédié à l’application
Non modifiable
– Processeur
Programmable
Non dédié à l’application
Matériel reconfigurable
Bon compromis
Microprocesseur Matériel
Reconfigurable
ASIC
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4
Le conflit énergie/flexibilité
Technologie
[H. de Man, Keynote, DATE‘02;
T. Claasen, ISSCC99]
Opérations/Watt
[MOps/mW]
Processeurs
Circuits/systèmesreconfigurables
ASIC
1
0.1
0.01
0.13µ
Nécessiter d’optimiser
Nécessiter d’optimiser
0.07µ
DSP-ASIPs
µPs
10
0.25µ0.5µ1.0µ
3
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5
Au début (RCA
1962) la grille était
en Aluminium d'où le
nom MOS :
Métal/Oxyde/Semi-
conducteur
Le MOS est
parfaitement
symétrique et on
appelle SOURCE
(d'électrons) le coté
le plus négatif (le
plus positif pour les
PMos)
Le substrat est mis à
la masse (à V
dd
pour
les PMOS)
Source
S
Drain
D
Grille G
S D
substrat (bulk)
Grille
Oxyde
Semiconducteur
(Si O )
2
Silicium dopé
La technologie MOS
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poly
oxyde
poly
oxyde
substrat
oxyde
diffusion
substrat
diffusion
métal (aluminium)
contacts
Un circuit intégré est une superposition de couches, semi-conductrices, conductrices ou isolante
Si O
2
Coupe d’un transistor
4
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Equations (simplifiées) du transistor MOS
n
+
n
+L
(p)
S G D
n
+
n
+
e
W
L
(p)
2
2
Si 0, mode bloqué : 0
Si 0 < , mode linéaire
(2( ) )
2
Si 0 < , mode saturé
( )
2
gs t ds
ds gs t
ds gs t ds ds
gs t ds
ds gs t
V V I
V V V
Cox W
I µ V V V V
L
V V V
Cox W
I µ V V
L
− < =
< −
= − −
− <
= −
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n
p
0 V
I
p
I
n
C
L
Entrée
V
dd
Sortie
0
V
c
V
dd
Entrée
Sortie
T
d
Somme des
capacités parasites
l'inverseur est un générateur de
courant déclenché par le passage du
seuil
T
m
Modélisation du comportement dynamique
L
d c
satn
L
m c
C
T V
I
C
T V
I
=
=
5
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Consommation d’énergie
Quand une capacité est chargée ou déchargée
Une capacité chargée est un 1 logique, déchargée est un 0 logique
Les capacités peuvent être les grilles d’autres transistors ou des fils
(bus et interconnexion longues)
E S
0
01
1
0
0
1
1
E=CV
E=CV
2
2
Consommation d’énergie
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Des effets secondaires comme les courants de fuite et de court-circuits augmentent
avec les technologies modernes
Les fuites augmentent considérablement avec les technologies modernes
IN OUT
1/2
1/2
IN OUT
0
01
1
Fuites
Fuites
(sub
(sub-
-threshold
threshold)
)
Court
Court-
-circuit
circuit
Consommation d’énergie
1 / 30 100%
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