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Résumé
Le travail que nous avons entrepris dans le cadre de cette thèse concerne la mesure de la
température par la technique du rapport d’intensités de fluorescence (communément appelée
Technique RIF) de deux niveaux thermalisés de l’erbium inséré dans des matrices cristalline de
structure cristallographique de type fluorine. Il s’agit des matrices CdF
2
, Cd
1-x
Sr
x
F
2
(x = 0.3) et
CaF
2
. Cette technique repose sur le calcul du rapport des intensités de l'émission verte provenant
des niveaux thermalisés
4
S
3/2
et
2
H
11/2
. L'excitation est réalisée soit directement avec une
radiation rouge d'un laser à colorant Kiton Red ou infrarouge d’une diode laser soit les deux en
même temps. L’excitation simple par une diode laser et doublement par un laser à colorant et une
diode laser font l’originalité de ce travail.
Nous supposons que lors de la double excitation, c’est la diode laser qui permet de
chauffer le cristal et que la luminescence provient de l’excitation par le laser. Nous avons exposé
toute la spectroscopie d’absorption et d’émission des ions erbium surtout celle liée aux niveaux
mis en jeu dans le processus de photoluminescence. Par application de la technique RIF, nous
avons pu mesurer la température par :
- simple excitation par un laser à colorant
- simple excitation par une diode laser infrarouge
- double excitation par les sources lasers
Sur l’ensemble des matrices étudiées, i.e. CdF
2
, Cd
1-x
Sr
x
F
2
(x = 0.3) et CaF
2
. Les résultats
obtenus sont très concordants et permettent de donner des mesures de faible erreur absolue
(~3°C).