Méthode pour la détermination des éléments d`un système optique

Méthode pour la détermination des éléments d’un
système optique convergent
H. Sentis
To cite this version:
H. Sentis. Méthode pour la détermination des éléments d’un système optique convergent. J.
Phys. Theor. Appl., 1889, 8 (1), pp.283-284. <10.1051/jphystap:018890080028301>. <jpa00238954>
HAL Id: jpa-00238954
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Submitted on 1 Jan 1889
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283
La formule que M. Mascart
que par le facteur
I1 ,
23
et
a
donnée
(’ ~
cela par suite d’une
ne
diffère de celle-ci
erreur
d’impression.
A l’aide de la formule précédente, j’ai comparé la position calculée des bandes à leur position observée. Prenons l’une des expériences de Miller faites sur l’eau ( 2 ) j on avait
d’ où
MÉTHODE
POUR LA
DÉTERMINATION DES ÉLÉMENTS
CONVERGENT;
D’UN
SYSTÈME OPTIQUE
PAR M. H. SENTIS.
Lorsqu’un objet est placé dans le premier plan principal d’un
système optique, l’ilnage est dans le second plan principal ; elle
est droite et égale à l’objet.
L’appareil à employer se conçoit facilement. Sur une règle graduée se placeront :
i° Une sorte de collimateur formé par
extrémité
une
graduation micrométrique
tube portant à
éclairée et à l’autre
un
( 1 ~ NIASCART, Corrlptes rendus des séances de l’Académie des Sciences,
p.
t.
une
une
CYI,
1575.
(’) NIILLER,
Ti,ans.
of
tlze Caulbr. Phil. Soc., t.
VII, p. 2,7.
Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphystap:018890080028301
284
lentille donnant à
une
petite
distance
une
Image
réelle de
cette
graduation
Un support mobile
2°
à
étudier ;
3° Enfin, porté par
une
fils
distance de
sur
un
lequel
pied
à
on
ajustera le système optique
visant à
muni d’un réticule à deux
vernier,
quelques centimètres
et
un
microscope
parallèles.
Visons
nous,
l’image aérienne donnée par le collimateur; assuronsdéplaçant légèrement l’oeil, que cette image est bien
plan du réticule et notons le nombre de traits compris
en
dans le
entre les deux fils que nous pouvons alnener à cacher exactement
deux des traits. Plaçons alors le système optique sur son support.
Réglons-le de manière que la division centrale de la graduation
tombe encore au centre du champ dans la nouvelle imagée puis,
déplaçons-le d’une main pendant que de l’autre nous déplaçons le
microscope de manière à suivre l’image, et arrêtons-nous lorsque
noms aurons entre les deux fils du réticule le mêlne nombre de
traits que tout à l’heure. Le premier plan principal du système se
trouve alors là oû se formait l’ilnage réelle fournie par le collimateur, et la distance d des deux plans principaux est égale au déplacement qu’a subi le microscope. Pour repérer la position des
plans principaux par rapport au système optique, on visera la face
extrème du système, et la distance entre la première et la troisième
position du microscope donne la distance du premier plan principal à l’extrémité visée.
Pour avoir la distance focale, on emploiera le procédé de Silherlnann. On reculera le système optique et le microscope de
manière à retrouver encore une ilnage de même grandeur qui sera
renversée cette fois ; et la distance entre la première et la quatrième
position du micr oscope sera égale à 41 + d ou à .~2013 d selon que
le premier plan principal est en avant ou en arrière du second.
Remarquons que les trois premières visées suffisent, dans certains cas, par exemple pour une mesure d’angle faite au micro-
scope.
,
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