Référence : Marc Séguin, Physique XXI Volume C Page 5
Note de cours rédigée par : Simon Vézina
Minimum dans un patron de diffraction
Dans un patron de diffraction avec ouverture
rectiligne, un minimum est localisé lorsque la
différence de marche
δ
entre le haut et le bas de la
fente est un multiple de longueur d’onde
excluant
le zéro. Il n’est pas pertinent de positionner les
maximums secondaires en diffraction, car ils sont de
très faible amplitude.
P
1
r
2
y
axe central
C
Minimums de diffraction
Différence de marche Différence de phase
m
m
2
où
1
r
: Distance entre le haut de l’ouverture et le point P (m)
2
r
: Distance entre le bas de l’ouverture et le point P (m)
: Position verticale pour situer le point P mesurée par rapport à l’axe central (m)
: Différence de marche entre le trajet 1 et le trajet 2 (m) (
12
rr −=
δ
)
: Différence de phase entre la source du haut et la source du bas
: Distance entre l’ouverture et l’écran (m)
: Largeur de l’ouverture (m)
: Angle pour localiser le point P (
Ly /tan =
θ
)
: Multiple entier de longueur d’onde (
Zm
, sauf 0
m
)
: Longueur d’onde produite par la source (m)
Approximation dans la diffraction de Fraunhofer
1) Approximation des rayons parallèles
Lorsque la largeur de l’ouverture
a
est beaucoup plus petite que la distance
L
entre
l’ouverture et l’écran (approximation de Frauhofer), nous pouvons approximer le trajet
r
1
et
r
2
comme étant parallèle. La différence de marche
peut être alors évaluée de façon
approximative de la façon suivante :
Approximation : Différence de marche :
La
θδ
sina≈
2) Approximation des petits angles
Lorsque l’angle
θ
est très petit, nous pouvons effectuer l’approximation suivante :
Approximation : Relation trigonométrique :
rad1<<
θ
ou
1tan <<
θ
θθ
sintan ≈