Imager les interférences quantiques dans les semi

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Imager
lesinterrencesquantiques
dansles semi-conducteurs
Article proposé par:
Hermann Sellier ,hermann.sellier@grenoble.cnrs.fr
Institut Néel, UPR 2940, CNRS, Grenoble
BenoîtHackens ,
CERMIN, UniversitéCatholiquedeLouvain-la-Neuve, Belgique
MarcoPala ,marco.pala@minatec.mpg.fr
IMEP, UMR 5130, CNRS/INPG/UJF, Minatec, Grenoble, Institut de Microélectronique, Electromagnétique etPhotonique
Serge Huant ,serge.huant@grenoble.cnrs.fr
Institut Néel, UPR 2940, CNRS, Grenoble
Une nouvelle microscopie àsonde locale aété développée pour étudierlesdispositifssoscopiques semi-
conducteurs dontlesélectronsde conduction sontenfouisàplusieurs dizainesde nanomètres sous lasurface.
Cette microscopie mesure les variationsde conductance pendantqu’une pointe nanométriqueàlaquelle on
appliqueune tension est déplacée au-dessus dudispositif pour modifierlocalementle potentiel électrostatique
comme une grille locale. Cetarticle présente leseffets observésexrimentalement sur desanneaux quantiques,
ainsi que des simulations théoriquesmettanten évidence la correspondance entre lesimagesde conductance et
ladensité détats locale.
escomposants actuelsde lamicro-électroniqueutili-
sentessentiellementlaproprté laplus fondamen-
tale de lélectron pour coderet véhiculerles signaux
nuriques, à savoir sa charge. Plusieurs domainesde
recherche exploitantdautresproprtésdesélectronsont
émercesdernièresannéescomme lélectronique de
spin, basée sur le momentmagnétique intrinsèque de
lélectron1oulélectronique quantique, basée sur lintri-
cation desétats quantiquesdesparticules 2 .
Lesinterrencesquantiques
Une autre proprté intéressante de lélectron, à savoir
sa« phase »,pourraitdonnerlieuàune nouvelle électro-
niquebasée sur la capacité de lélectron,vu comme une
onde, à interreraveclui-même ouavecsescongénères.
Cette proprté quantique,crite par une fonction
donde,vientcompléterlareprésentation corpusculaire
de lélectron par une image ondulatoire. Lorsque lesélec-
trons sontconfinésdansdespetites régionsde lespace,
leur nature ondulatoire est responsable de laquantifica-
tion de leur niveaudénergie etde leur fonction donde,
sous forme d’un ensemble discretdétats propres.Le
spectre discretdesniveaux dénergie danslesatomesest
unbel exemple de quantification desfonctionsdonde
électroniquesàléchelle atomique.
Dansles structurestalliquesou semi-conductrices
de taille nanométrique,lesélectrons sontégalement
confinésdans une ouplusieurs directionsde lespace.
Ceci donne naissanceàdesétats discrets dontlafonction
donde est une figure dinterrenceavecdesudset
des ventresde probabilité de présenceau sensde laca-
nique quantique. Lorsquecesnanostructurespossèdent
un grand nombre délectrons,leurs niveaux dénergie
sontprochesetlesfiguresdinterrences sebrouillent.
Pour obtenirdesdispositifsoùleseffets dinterrences
sontbien visibles,il est donccessaire de réduire forte-
mentladensité électronique en utilisantdes systèmes
bidimensionnelsdanslesquelslesélectronsne peuvent se
déplacerque dans un plan.
Untel système électroniquebidimensionnel existe
naturellementàlasurface de certainstaux lorsqu’ils
sontpréparésetconservés sous ultra-vide. Lorsque des
atomes sontdisposés sur cettesurface de manièreàdéfi-
nir une barrrecirculaire,lesfonctionsdondesdesélec-
tronspiégésàlintérieur de cettecavité formentdes
figuresdinterrencecaractéristiquesdesondesen
milieuconfiné. La réalisation exrimentale de cette
structureàléchelle de quelquesatomesaété obtenue en
1. Spintronique:le spin s’invite en électronique, Imagesde laphysique
2005,p. 192.
2.Lordinateur quantique:un défi pour lesexrimentateurs, Imagesde la
physique2005,p. 111.
L
Imagerlesinterrencesquantiquesdansles semi-conducteurs
50
1993parle groupe de Don Eiglerà IBM en utilisantla
pointe d’un microscope àeffet tunnel (STM pour
Scanning Tunnelling Microscope) à bassetempérature et
sous ultra-vide3 .Cette équipe anotammentassembun
corralcirculairede48atomesde feràlasurface ducuivre.
Lesimagesde ladensité électroniqueàlintérieur de cette
cavité obtenuesen microscopie STM révèlent un ensem-
ble de cerclesconcentriques représentantlesfranges
dinterrencesen sytrie circulaire de lafonction
donde desélectrons(voirfigure1 ). Grâceàlarésolution
en énergie duSTM, chaque étatpropreapuêtre ima
séparémentévitantainsilerecouvrementetle brouillage
desdifférentesfiguresdinterrencecorrespondantàdes
niveaux dénergie différents.
La microscopie pareffet
de grille local
Les surfacesde métaux critesprécédemment sont
trèsdélicatesetdoiventêtre préparées sous ultra-vide.
Heureusementil existe des systèmesélectroniquesbidi-
mensionnelsplus robustes,quisontnaturellementproté-
sdescontaminationsde surface, car situésàlintérieur
d’une multicouche de semi-conducteurs obtenue parépi-
taxie parjets moléculaires.Unautreavantage de ces systè-
mesest le contrôle de ladensité délectronsgrâceau
dopage de lastructure. La fabrication pargravure de petits
dispositifsde taille nanométrique permetalors de réaliser
descavitésdanslesquelleslesfonctionsdonde sontquan-
tifiéesetformentdesfiguresdinterrence qui évoquent
cellesducorralatomiqueréalisé parSTM.Mais une diffé-
rence importantevientde ladensité électroniquesurfa-
cique dansles semi-conducteurs,qui est environ 100 fois
plus faible qu’àlasurface d’un métal. Il en résulteune
plus faible énergie desélectronsde conduction auniveau
de Fermi (lénergie de Fermi EFest proportionnelle àla
densitéàdeux dimensions),etdoncune plus grande lon-
gueur donde quantique (longueur donde de DeBroglie),
produisantainsi desfrangesdinterrencesbeaucoup
plus espacées.Ceci permetd’utiliserdescavitésde plu-
sieurs centainesde nanomètres, aulieude seulement
quelquesdizainesde nanomètresdansle casd’un métal.
Cependantil est cessaire de placerle dispositif semi-
conducteur àune températuresuffisammentbasse pour
que lesélectrons se déplacentde manièrebalistique et
cohérentesur cesgrandesdistances sans subirde colli-
sionsautresquecellesduesaux bordsde la cavité.
La difficulté exrimentale danslétude de cesnano-
structuresépitaxiées vientparadoxalementde laposition
enterrée, à plusieurs dizainesde nanomètres sous lasur-
face,dugazdélectronsbidimensionnel. Certes, celales
protège descontaminationsetconfèreaux électrons une
grande mobilité,maiscelaempêche égalementleur obser-
vation parmicroscopie STM.Cest pour tenterde remédier
à ce problème qu’une nouvelle technique de microscopie a
été imaginée, appelée microscopie pareffetde grille local
(SGM pour Scanning GateMicroscopy). Elle consisteà
mesurerles variationsde conductance du système électro-
nique en présence d’une modification locale dupotentiel
appliquée par une pointe métallique nanométrique placée
justeau-dessus de lasurface etpolarisée avecune faible
tension. La pointebalaie àhauteur constantetoute lasur-
face dudispositif,de manièreàenregistrer une image de
ces variationsde conductance et tenterdobtenirainsiune
cartographie desétats électroniques,en particulierdes
figuresdinterrencescorrespondantaux états propres,
dansle casd’une cavité.
Pouvoirmesurerla conductance implique que la
nanostructuresoitconnectée àdescontacts permettant
dinjecter un faible courantetde mesurerlatension résul-
tante. La cavité ne peut doncpasêtrecomplètementfer-
mée,maiscontientquand même desétats résonnants
discrets dontlesfiguresdinterrencesontbien définies
et ressemblentaux figuresdiscutéesprécédemment.
Notonsque lamicroscopie SGM ne sonde que lesétats à
lénergie de Fermi car seulslesélectrons situésà cette
énergie participentàla conductance linéaire. La valeur de
latension appliquée sur lapointe permeten faitde contrô-
lerlamplitude de laperturbation maisne change pas
lénergie desélectrons.Cependant si lon tientcompte de
linfluence de latempératureTnon nulle,le transport des
électrons se fait sur un intervalle dénergie de quelques
k B Tautour duniveaude Fermi. Pour minimiserlasuper-
position de plusieurs figuresdinterrencesdifférentes,il
est donccessaire de refroidirle système àtrèsbasse
température. Parailleurs il peut existerplusieurs états
résonnants àlamême énergie,etce dautantplus que
lénergie est élevée. Pour une étude détaillée de cesphé-
nomènes,il est doncfavorable de réduire lénergie de
Fermi en diminuantladensité électronique.
Figure 1 – Densité détats électroniquesobtenue parSTM sur uncorral
quantiquecirculaire de 48 atomesde ferpositionnésen cercle sur une
surface de cuivre. Lesoscillations représententlafigure dinterrence de la
fonction donde d’un électron de surface dansla cavité formée parlesato-
mesde fer. (Image originale créée parIBM Corporation).
3.Confinementof Electrons toQuantumCorralson a MetalSurface,
M.F.Crommie etal., Science262,218 (1993).
51
Imagerlesinterrencesquantiquesdansles semi-conducteurs
D’un pointde vue instrumental,un microscope SGM
est un microscope àforceatomique (AFM pour Atomic
ForceMicroscope) placé dans uncryostatàlatempérature
de lhélium liquide (4,2K) etdanslequel on peut appli-
quer unchamp magnétique. La pointe métallisée est pola-
risée àune tension V tip par rapport audispositif donton
mesure parailleurs la conductance. L’utilisation préalable
dumicroscope en mode topographique permetde repérer
laposition de lananostructure dontlasurface est isolante
avecune résolution typique de 20 nm. Les sondes utili-
séespour lamicroscopie SGM sontgénéralementdes
capteurs de forcestandards sous forme de micro-leviers,
dotésd’une pointe pyramidale (voirfigure2b ),etdonton
mesure ladéflexion avecun faisceaulaser.
Imagesobtenues
sur desanneaux quantiques
Il existeune géométrie particulière,en forme
danneau,qui produitdesinterrencesmodifiablesgrâce
àlapplication d’unchamp magnétique. Lorsquecet
anneauest connectéàdescontacts,les variationsdinter-
rencesdesétats situésauniveaude Fermi produisent
desoscillationsde la conductance, appelées« oscillations
de AharonovetBohm ». Cesauteurs ontdémontréthéori-
quementen 1959 que lafonction donde quantique d’une
particule contient unterme de phasesensible aupotentiel
vecteur magnétique etaupotentiel scalaire électrique
V ,etqueceterme de phase peut produire deseffets réels
mesurables,même lorsque leschampsetàlorigine
despotentielsnagissentpasdirectement sur laparticule.
Cette influenceréelle despotentielsaété démontrée expé-
rimentalementdansdesexriencesdinterrenceset,
sormais,lamodulation desinterrencesdansles
anneaux quantiquesen fonction duchamp magnétique
porte le nom « deffetAharonov-Bohm ».
Pour réaliser unanneauqui présentecetype dinterfé-
rences,il est cessaire de choisir un matériaudanslequel
lesondesélectroniquespeuvent se propager sur desdis-
tances suffisammentgrandes sansque leur phasesoit
perturbée. Cette distance, appelée « longueur de cohé-
rence de phase »,dépend notammentdes vibrationsdu
réseaucristallin (phonons)ainsi que desinteractionsentre
lesélectronseux-mêmes.Cette longueur de cohérence est
«relativement» élevée dansles systèmesélectroniques
confinés sous forme d’un planbidimensionnel àlinter-
face entre deux couches semi-conductricesen alliages
GalnAsetAlInAs(voirfigure2a ),matériaux bien connus
dansle domaine de lamicro-électronique haute fréquence.
Elle dépassetypiquement un micron àlatempérature de
lhélium liquide. Enutilisantles techniquesde lithogra-
phie etde gravure misesen œuvre parlamicro-électroni-
que,on peut graverce matériaude manièreà créer un
anneaudontle diatre est inférieur aumicromètre. La
figure2ben présenteune image topographique obtenue en
microscopie AFM.Lanneau(de diatre intérieur
210nm etextérieur 600 nm) est délimité pardes tranchées
creuséesjusqu’àlaprofondeur du système électronique
bidimensionnel,en maintenantdeux constrictionsqui
permettentaux électronsdentreretde sortirde lanneau
pour mesurer sa conductance électrique. A bassetempéra-
ture,lorsque lon mesure la conductance en fonction du
champ magnétiqueappliqué perpendiculairement,on
observe desoscillationsriodiques(voirfigure2c ) qui
constituentlasignature de leffetAharonov-Bohm.
Cesoscillations renseignent sur laprésence dinterfé-
rencesélectroniquesdanslanneau,maisne donnent
aucune information spatiale. Pour voilerle comporte-
mentlocal desondesélectroniques,on utilisealors le
microscope en mode SGM eton enregistre les variations
de la conductance électrique de lanneauen fonction de la
modification locale dupotentiel électrostatique induite
parlapointe dumicroscope. En principe,la conductance
de lanneaudevraitêtre fortementmodifiée lorsque la
Figure2(a)Schémaen coupe de lamulticouche de semi-conducteurs montrantlaposition enterrée ducanalbidimensionnel délectronsobtenupar transfert
de chargesàpartird’un plan de dopant. (b)Schémade principe de lamicroscopie pareffetde grille localavecune représentation 3Dde latopographie dudis-
positif obtenue en mode AFM.La pointe polarisée en tension est balayée au-dessus de lasurface pour perturberlocalementle transport desélectronsde conduc-
tion situésà25 nm sous lasurface. (c)Magnéto-conductance de lanneauquantiqueà4,2K.Lagrandissementmontre lesoscillationsAharonov-Bohm
riodiquesen champ magnétique.
A
O<
B
O<
E
O<
Imagerlesinterrencesquantiquesdansles semi-conducteurs
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pointe dumicroscope setrouveàproximité d’un maxi-
mum dinterrence lié àun étatproprerésonnantde
lanneau.Ons’attend doncàce que latechniqueSGM
permette dimagercesétats résonnants.
La figure3présenteune cartographie SGM des varia-
tionsde conductance électrique( Δ G) observéeslorsque la
pointe dumicroscope se déplaceàproximité de lanneau,
dans un plansituéàune distanceconstante de 50nm
au-dessus du système bidimensionnel délectrons.
Limage SGM présenteun motif assezcomplexe de fran-
gesde conductance,quiapparaissentnon seulementlors-
que lapointese déplaceàlaverticale de lanneau,mais
égalementàproximité de celui-ci,jusqu’àune distance
latérale de plusieurs centainesde nanomètres.Ceci nous
donne une information sur lextension latérale de laper-
turbation de potentiel liée àlapointe. Sur lafigure3 ,on
remarque également une différence damplitude desfran-
gesde conductance entre lescôtésgauche etdroitde
lanneau.Cette différence est liée àlasytrie de
lanneau,qui présenteunbraslégèrementplus étroitque
lautre, ce qui donne lieuàun effetplus marqué de laper-
turbation de lapointesur latransmission desélectrons
lorsqu’elle se déplaceàproximité dubrasétroit.En exami-
nantplus en détail lafigure3 ,on constate que lesfranges
de conductanceadoptent une disposition en cerclescon-
centriqueslorsque lapointese déplaceàlextérieur de
lanneau, alors qu’elles sontplutôt répartiesde manière
radiale àlintérieur de lanneau.La suite de cetarticle
s’attache àexpliquerlorigine de cesdeux typesde franges
de conductance.
Lechamp magnétique est un outil de choixà cetégard,
caril permetdagir sur laphase électronique de manière
contrôlée. Dansle casprésent,laugmentation duchamp
magnétique perpendiculaire provoque le déplacementdes
frangesconcentriquesavecune périodicité en champ
magnétique égale àlariode desoscillationsAharonov-
Bohm danslamagnéto-conductance. Ceci montre que les
frangesconcentriques sontdirectementliéesàleffet
Aharonov-Bohm :lorsque lapointes’approche d’uncôté
de lanneau,le potentiel électrostatique est principale-
mentmodifié dumême côté de lanneau.Cechangement
de potentiel induit unchangementde phase pour les
ondesélectroniquesau sein de cebras, ce qui modifie les
interrencesentre lesondesélectroniques transmisesà
travers lesdeux bras: cest leffetAharonov-Bohm « élec-
trostatique » dûaupotentiel scalaire électrique men-
tionné plus haut.Enconséquence,tous lespoints situés
sur une même frange concentriquecorrespondentàla
même modification de phase électronique;cesontdonc
deslignes« isophases»,qui nous donnent une informa-
tion spatiale locale sur lesperturbationsde phase électro-
niqueau sein desbrasde lanneau.Lechamp magnétique
extérieur,parle déphasage supplémentaire qu’il intro-
duit,provoque le déplacementde cesfranges.
Lévolution en champ magnétique desfranges radiales
observéesaucentre desimagesSGM est beaucoup plus
complexe quecelle desfrangesconcentriques.Pour
comprendre leur origine,il est utile de faireappel àdes
simulationsde ladensité détats locale (local density-of-
statesouLDOS) pour en déterminerles variations spatiales
àlintérieur de lanneau, ainsi qu’àdes simulationsde la
conductance électriqueau travers de lanneau(lestho-
desde ces simulations sontbasées sur le formalisme des
fonctionsde Green). La figure 4amontreunrésultat typi-
que d’une simulation de la LDOS à lénergie de Fermi,
équivalenteàladensité de probabilité électronique
oùΨest lafonction donde électronique. Les
Figure3Image des variationsde conductance de lanneauquantique en
fonction de laposition de lapointe pour une tension de perturbation
V tip =0,3V ,une distance pointe-électronsd tip =50nm,etpour unchamp
B=2T(une variation de conductance importante mais trèsétalée aété
soustraite pour mettre en évidence lesfrangesdinterrence discutéesdans
le texte). La ligne noirecontinue marque laposition de lanneau repérée en
mode AFM.Image 2×2µ m 2 .
Figure 4 – (a)Simulation de ladensité de probabilité électronique
dans unanneauquantique dénergie de Fermi E F= 101 meV.
(b-d) Simulation des variationsde la conductanceG ( x ,y ) de cetanneau sou-
misàune perturbation damplitude eV tip =E F /200 etdextension spatiale
σ= 5,20,et40nm,respectivement.
Ψ2(,, )
xyEF
Ψ2(,, )
xyEF
53
Imagerlesinterrencesquantiquesdansles semi-conducteurs
calculsontété faits sur unanneauidéal en GaInAsde
dimension comparable aux anneaux sur lesquelslesexpé-
riencesontétéréalisées.Le motif quiapparaît sur la
figure 4aest très sensible aux variationsdénergie de Fermi,
etnest doncqu’un exemple. De plus il ne peut pasêtre
directementcomparéaux résultats exrimentaux, caril
nest paspossible de connaître parfaitementlestailsdu
profil de potentiel etla configuration exacte desimpuretés
etdesdéfauts au sein de lanneau réel. Atrèspetite échelle,
desoscillationsconcentriquesde LDOS sont visiblesdans
lanneau sur lafigure 4a .La riodicitéspatiale de ces
oscillationscorrespond àlalongueur donde de Fermi (la
longueur donde desélectronsàlénergie de Fermi,20 nm
dansle casprésent). Aplus grande échelle,la LDOS est
caractérisée parquatre franges radiales trèsmarquées, cor-
respondantàun état résonnantde lanneau.
De manièreanalogueàlexrienceSGM, linfluence
d’une perturbation locale de potentiel sur la conductance
de lanneaupeut êtresimulée en chaque pointde lastruc-
ture. La figure 4bprésenteune telle image SGM simulée,
obtenue pour un potentiel de perturbation dextension laté-
rale très réduite (5 nm). Encomparantlesfigures4aet4b,
on remarque directementquetous lestails visiblesdans
limage de LDOS simulée sont visibleségalementdans
Relation entre perturbation locale de la conductance etdensité locale détats
Encadré
Leffetde laperturbation produite parlapointesur latrans-
mission totale d’unsystème connectéàdeux contacts suppor-
tant unseul mode transverse peut être évalué dansle cadre de
lathéorie du transport de LandaueretBüttiker.Il faut pour cela
négligerleffetdesdiffusionsinélastiques, ce qui est justifié
pour des systèmessoscopiquesà bassetempérature etdans
le régime cohérentdu transport.Un modèle analytiquesimple,
valable dansle régime àunseulcanal quantique de transport,
permetde relierla correction de conductance dueàlaperturba-
tion de lapointeaux grandeurs physiquesdu système. Enutili-
santle formalisme desfonctionsde Green, ce modèle montre
aupremierordre desperturbationsque la correction de con-
ductanceΔ G ( x i ,E F )àlénergie de Fermi E Fdueàune perturba-
tion locale en x iest proportionnelle àlapartie réelle de la
fonction de Green locale retardée , à savoir:
oùUest lénergie potentielle de laperturbation etGla
conductance non perturbée. Comme parailleurs lapartie
imaginaire de lafonction de Green locale est proportionnelle
àladensité locale détats (LDOS):
on trouve que la correction de conductanceΔ Gest liée àla
LDOS par une relation de type Kramers-Kronig, basée sur la
transformée de Hilbert :
oùPsigne lapartie principale de lintégrale etE Flénergie
de Fermi. Ceci est valable dansle régime de laréponse
linéaire qui est respectétantque laperturbation de lapointe
nest pas trop grande par rapport àlénergie de létatpropa-
gatif considéré etqueson extension spatiale nexcède pasla
demi-longueur donde de Fermi du système (environ 10nm
dansles structuresenvisagéesdanscetarticle). Puisque la
transformée de Hilbert est la convolution de la LDOS avec
linverse de lénergie de Fermi,nous pouvons remarquer
qu’elle peut aussi être interprétée comme un filtreagissant
sur lesétats lesplus prochesduniveaude Fermi.
Dansle régime de transmission à canaux multiples,il est
plus délicatdétablir une correspondance directe entreLDOS
etΔ Gparce que lafonction donde totale est terminée par
la contribution de plusieurs modes transversesquiressen-
tentdifféremmentleffetperturbateur de lapointe. Toute-
fois,dansdes structuressoscopiquescomme lesanneaux
quantiques,il est fréquentque la LDOS soitdominée par
quelquesétats seulement, ce qui permetde rétablirla corres-
pondanceLDOS- Δ Gcrite plus haut.Un exemple d’une
telle correspondance est donné sur lafigureE1 ,oùon peut
voir une orbitesemi-classique marquantde son empreinteà
lafoisla LDOS etlimage de conductancecorrespondante.
Δ G
GxEUGE
iFii
RF
(,)[()]
,
=2
Re
ρπ
(,)– [()]
,
xEGE
iFii
RF
=1
Im
Δ G
GxEUPdEEExE
iFFi
(,)(,)=
21
ρ
FigureE1 – (a)Densité détats locale et(b) image de conductancesimu-
léespour unanneauquantique de paratres réalistes(largeur
120 nm,diatre intérieur 280nm etdiatre extérieur 530 nm). Les
orbites semi-classiques sont visiblesdanslesdeux cas.La perturbation
simulantleffetde lapointe est prisesous laforme d’un potentiel àlon-
gue portée :U ( r ) = U 0 /(1 + ( r / σ ) 2 )avecU 0=E F /50( E Fvaut typiquement
100 meVdansnosanneaux quantiques) etσ= 10nm.
1 / 6 100%

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