Le life test en contraintes dynamiques

JL MURARO All rights reserved © 2002, Alcatel Space
Le life test en contraintes dynamiques :
Cas des composants RF pour applications spatiales
présenté par JL. MURARO
Qualité Programme Fiabilité
ALCATEL SPACE

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tCONTEXTE
•Spécificités du spatial : approche normative
•Mécanismes de dégradation activés par une contrainte dynamique
tMETHODOLOGIE : Exemple d’une évaluation sous contraintes
dynamiques
•Véhicule de test
•Banc de test
•File de test
•Résultats
SOMMAIRE

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Taux de défaillances λ
Durée de vie utile
(II)
(I)
Défauts de
jeunesse Défauts d'usure
(III)
Temps
Eliminés par le contrôle
de fabrication des circuits
Retour
d'expérience,
Recueil de données
Durée de vie liée à l’usure :
Essais de vieillissement accéléré:
Contraintes électriques (DC)
Contraintes thermiques
ê
Mécanisme de dégradation
graduel
ê
Extrapolation (Black, Arrhénius...)
ê
Estimation de
la durée de vie
liée aux défauts d’usure
RAPPEL SUR LA FIABILITE

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tTEMPERATURE
•LOI D'ARRHENIUS
•MTTF = A exp (Ea/kT)
tDENSITE DE COURANT
•LOI DE BLACK (ELECTROMIGRATION)
• MTTF = A j-2 exp (Ea/kT)
tCHAMP ELECTRIQUE
•MULTIPLICATION DES PORTEURS (phénomène de claquage etc…)
•PAS DE LOI D'ACCELERATION
t...
RAPPEL SUR LA FIABILITE
FACTEURS D'ACCELERATION DES MECANISMES

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tAPPLICATIONS LINEAIRES
•Les mécanismes de dégradation sont connus
•Intégrité de la technologie (diffusion, électromigration…)
–Activation thermique
tAPPLICATIONS NON LINEAIRES
•Mécanisme de dégradation activé par une combinaison
–Du point de repos
–Du signal dynamique
–De l ’adaptation hyperfréquence
–De la température (basse !)
•Pas de loi d’accélération connue à ce jour
CONTEXTE
FIABILITE DES APPLICATIONS NON LINEAIRES