Lire la première partie de la thèse Chapitre 4 EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES DE STRUCTURES MAGNÉTIQUES ROBUSTES Sommaire 4.1 4.2 4.3 4.4 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Banc d’essai : Prototypes de coupleurs magnétiques robustes . 4.2.1 Convertisseur multicellulaire parallèle . . . . . . . . . . . 4.2.2 Structure monolithique 6 phases avec insertion d’entrefers 4.2.3 Structure transformateurs séparés "mono-bobine" . . . . . 4.2.4 Asservissement du convertisseur . . . . . . . . . . . . . . 4.2.5 Méthode de mesures du champ magnétique . . . . . . . . Résultats expérimentaux . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4.3.1 Caractérisation des inductances du coupleur . . . . . . . . 4.3.2 Déconnexions de cellule(s) de commutation . . . . . . . . 4.3.3 Remise en conduction de cellules de commutation . . . . 4.3.4 Mesure de rendement . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Conclusion du chapitre . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 124 124 124 124 129 131 136 138 138 142 151 153 155 4.1. INTRODUCTION 4.1 Introduction Dans ce chapitre, nous évaluons d’un point de vue expérimental deux coupleurs magnétiques robustes en régimes déséquilibrés. Le premier est un coupleur monolithique 6 phases en topologie circulaire et le deuxième correspond à des transformateurs séparés utilisant une seule bobine par phase. Profitant d’entrefers "larges", les noyaux seront instrumentés pour la mesure des composantes continues du flux. L’ensemble des éléments (noyaux + culasses) seront également instrumentés pour mesurer les composantes alternatives du flux. Cette instrumentation sera une aide précieuse pour reconstruire la composante totale du champ magnétique circulant dans le coupleur. Ces informations nous permettront d’analyser et de valider le comportement magnétique de ces coupleurs lors d’un régime déséquilibré. Une méthode d’asservissement adaptatif des courants de phases en boucle fermée, capable de prendre en compte plusieurs déconnexions de phases, est présentée dans ce chapitre expérimental. 4.2 4.2.1 Banc d’essai : Prototypes de coupleurs magnétiques robustes Convertisseur multicellulaire parallèle Les essais des coupleurs robustes ont été réalisés sur un convertisseur modulaire à 2x6 phases en parallèle, réalisé antérieurement à notre thèse. Dans notre cas d’étude, nous n’utiliserons qu’un groupe de 6 phases en parallèle puisque nos deux coupleurs sont composés de 6 phases en régime nominal. Le convertisseur est donc composé de six cellules de commutation à base d’IGBT 600V/100A ( IXXN100N60B3H1 IXYS), intégrant une diode en parallèle, le tout assemblé dans un boîtier isolé de type "Isotop". Les fonctionnements onduleur et hacheur réversible en courant sont donc possibles. Le refroidissement de ces modules de puissance s’effectue par convection forcée au moyen d’une plaque à eau. Le bus continu est réalisé par une alimentation continue variable ELEKTRO de 10kW (1000V/30A). La charge est constituée de deux bancs de charges résistifs d’une puissance nominale de 10kW chacun. La figure 4.1 illustre le banc d’essai complet avec ces éléments constitutifs. 4.2.2 Structure monolithique 6 phases avec insertion d’entrefers Design, matériaux choisis, fabrication (usinage, collage, polissage,..) Au vu de la modélisation des coupleurs magnétiques lors d’un fonctionnement nominal et sous un régime déséquilibré, notre choix s’est porté vers la conception d’un coupleur monolithique à 6 phases en topologie échelle fermée avec des entrefers "larges". Nous avons démontré que pour un nombre de phases supérieur à cinq, le volume d’un coupleur monolithique devenait plus compétitif que la solution utilisant des transformateurs séparés. Nous choisissons donc une structure à 6 phases dimensionnée pour un fonctionnement nominal. L’insertion -124- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES Convertisseur parallèle 2 x 6 phases Coupleur monolithique Alimentation continue 10kW (a) Vue d’ensemble du banc d’essai expérimental. Convertisseur parallèle 2 x 6 phases Coupleur monolithique instrumenté Capteur courant Mesure différentielle Capteur courant Mesure fort courant Carte PCB 1mm Capteur effet hall champ DC (b) Gros plan sur le coupleur monolithique instrumenté Figure 4.1 – Vue d’ensemble du banc d’essai expérimental. d’entrefers "larges" permettra de maintenir le fonctionnement suite à des forts déséquilibres ou lors de l’arrêt d’une ou plusieurs cellules de commutation. Pour des raisons de réalisation, la conception de cette topologie nécessite l’utilisation de noyaux standardisés disponibles dans le commerce, permettant d’obtenir une forme parallélépipédique. En effet, il aurait été envisageable mais très difficile et coûteux de concevoir ce coupleur de manière circulaire, puisque le circuit magnétique doit être réalisé sur-mesure. Le principe de réalisation choisi consiste donc à utiliser des ferrites en forme de U pour créer les zones de culasses inférieures et supérieures. Des noyaux en forme de I sont ensuite collés sur la culasse inférieure pour créer des colonnes verticales. La culasse supérieure n’est pas collée et est donc volontairement amovible pour permettre la réalisation d’entrefers calibrés uniformément et réglables. Des capteurs actifs et planaires à effet hall seront logés dans la région des entrefers verticaux pour mesurer le champ magnétique DC circulant dans les noyaux. Nous présenterons dans la suite du chapitre cette méthode de mesure. Une illustration de l’assemblage des noyaux est montrée sur la figure 4.2. Pour des raisons de validation expérimentale, nous utilisons pour ce prototype des culasses dites "tailles hautes", i.e. que la section des noyaux et des culasses sont identiques, contrairement à ce que pourrait être une réalisation industrialisable plus optimisée. -125- 4.2. BANC D’ESSAI : PROTOTYPES DE COUPLEURS MAGNÉTIQUES ROBUSTES Cette solution permet d’utiliser ce coupleur sans saturation lorsque les cellules de commutation sont alimentées de manière régulière. Dans un cas optimal, il aurait été possible de prendre une section de culasse moitié moins importante que les noyaux en considérant une alimentation permutée des cellules de commutation. Entrefer ré siduel collé HN=58mm 152mm PN=28mm LB =3 4 mm LN =3 93mm 0 mm (a) Culasse inférieure formée de deux "U" collés sur laquelle sont placées les six noyaux verticaux de forme "I". (b) Culasse supérieure amovible formée de deux "U" collés, rectifiés puis polis sur la tranche du côté des régions d’entrefers permettant d’ajuster les entrefers. Figure 4.2 – Photo des éléments constituants le coupleur monolithique robuste en échelle fermée à 6 phases. Mise en évidence de la culasse supérieure amovible permettant la création de zones d’entrefers ajustables ( HN =58mm, LB =34mm, Ae =8,4.10−4 m2 ). Selon cette démarche, plusieurs noyaux en forme de U ont donc été sélectionnés. Nous choisissons les facteurs de formes géométriques b, c et d introduits dans le chapitre 2 (b=d=1 et c=0.85) permettant d’avoir une section de noyau carrée et une surface de bobinage optimisée. Ces facteurs de formes nous permettant de déterminer la hauteur des noyaux verticaux et la largeur de bobinages. Ainsi, notre choix s’est porté vers des noyaux en formes de U (U93/76/30) et I (I93/28/30) de la société Epcos en matériau Manganèse Zinc N87 (BSAT =0,49T à 25◦ C et 0,39T à 25◦ C, µR =2200 à 25◦ C, Pf er (25kHz, 200mT,100◦ C)=57kW/m3 ). Plusieurs phases d’usinages, réalisées par Didier Flumian avec une tronçonneuse numérique, ont été ensuite conduites sur la plate-forme d’intégration hybride en électronique de puissance (3DPHI). Les noyaux sont également passés par plusieurs phases de rectification, polissages permettant d’assurer une bonne planéité sur les jonctions noyaux/culasses, et ainsi d’éviter les disparités sur les valeurs des entrefers résiduels. Nous verrons cependant que des écarts sur les composantes continues et alternatives entre les six noyaux persistent même après cette phase de polissage, en présence d’entrefers "fins". Dimensionnement du bobinage, spécifications prévisionnelles Partant de cette géométrie de coupleur, nous utilisons la démarche de détermination des caractéristiques électriques présentée au chapitre 2 dans le but d’extraire les paramètres électriques que le prototype est capable de supporter. La figure 4.3 présente l’évolution de la -126- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES 500 300 Ve(imposée) Tension d'alimentation Ve [V] Iph 200 Ve 300 Partie iso-puissance utile 200 150 100 Iph(max) 100 Courant de phases Iph [A] 250 400 50 Nt(minAC) 0 0 5 10 15 Nt(min)20 Nombre de spires Nt 0 25 30 (a) Figure 4.3 – Aide à la détermination du cahier des charges électriques pour une géométrie imposée. Tension d’alimentation imposée à 400V ( fdec =20kHz, kSAT =0.9, BSAT =0.39T, J=5A/mm2 ) tension d’alimentation Ve et du courant de phase I ph en s’appuyant sur la condition de nonsaturation et sur la condition sur le remplissage de la fenêtre de bobinage lors d’un fonctionnement nominal, sans déséquilibre ni déconnexion de phases. L’insertion d’entrefers permettra de tenir les régimes déséquilibrés sur la base de ce dimensionnement nominal. Le dimensionnement tient compte du cahier des charges suivant : - Fréquence de découpage fdec , 20kHz ; - Taux d’ondulation du courant homopolaire ki =5% ; - Section des noyaux Ae , 8,4.10−4 m2 ; - Hauteur des noyaux HN , 58 mm ; - Largeur de bobinages LB , 34mm. Premièrement, nous pouvons rappeler qu’une même géométrie permet de répondre à des cahier des charges différents à puissance imposée, comme il est visible sur la figure 4.3. Nous choisissons tout de même de nous imposer une tension d’alimentation de 400V. Graphiquement, nous déterminons ainsi le nombre de spires minimal, valeur égale à 18 dans notre cas. Cette valeur permet de satisfaire la condition de non-saturation sur des noyaux. A la fréquence de commutation fixée, dans notre cas 20kHz, le nombre de spires minimal Nt(minAC) tenant compte des effets de fréquence est de 17 (C.f §2.6). Cette valeur minimale, inférieure à celle obtenue par la condition sur la non saturation magnétique, permet de concentrer les lignes de courant AC à p fois la fréquence de découpage sur toute la section du conducteur. Pour Nt =18, il en ressort graphiquement une valeur de 70A par phase, soit 420A pour le courant de sortie Is . Les six bobinages sont conçus à partir de ruban de feuillard en aluminium d’une épaisseur de 500µm. Une valeur optimale de 250µm était prévue par le pré-dimensionnement. Cepen- -127- 4.2. BANC D’ESSAI : PROTOTYPES DE COUPLEURS MAGNÉTIQUES ROBUSTES dant, des délais trop importants d’approvisionnement pour cette épaisseur nous ont contraints à utiliser des rubans d’épaisseur plus standards de 500µm. Ce choix non voulu nous donne une largeur de bobinage a priori plus importante et un espace inter-bobine plus faible, donc une plus faible inductance de fuites. L’aluminium possède une résistivité électrique plus importante que le cuivre (facteur de 1,6) mais une masse volumique plus de trois fois plus faible. Dans ce sens, la masse globale des bobinages sera donc réduite par rapport à des bobinages en cuivre. Ces feuillards d’aluminium sont séparés entre eux par un film de Kapton d’une épaisseur de 70µm, remplissant la fonction d’isolation électrique entres les spires. Des supports de bobinages réalisés sur-mesure en polyamide fritté, d’une épaisseur d’1mm, ont été conçus par un process d’impression multicouche 3D pour faciliter la phase de bobinage. Cette solution permet d’avoir des supports de bobinages amovibles et non solidaires de la partie magnétique. Sachant que les pertes cuivres sont prédominantes dans les coupleurs magnétiques pour ce type de cahier des charges, nous choisissons de disposer les rubans de feuillard de manière verticale pour minimiser le ratio Fr = rAC /rDC à la fréquence de découpage et à six fois la fréquence de découpage. Ce ratio, estimé à partir de formule de Dowell, conditionne directement les pertes cuivre AC HF. Les pertes joules des bobinages peuvent être estimées à partir de la relation suivante : 2 ki2 Is × 1 + Fr . Pj = RDC . p 12 (4.1) Avec Fr étant le ratio entre la résistance AC et la résistance DC. RAC Q.sinh2Q + sin2Q m2 − 1 sinhQ − sinQ Fr = = + 2.Q. . RDC cosh2Q − cos2Q 3 coshQ + cosQ Q est le ratio entre l’épaisseur des conducteurs et l’épaisseur de peau à la fréquence fondamentale et m le nombre de couches ou spires dans notre cas. L’application numérique de (4.1) nous donne : Q=2,16 ; Fr =419 ; RDC =3mΩ ; RAC =1,25Ω ; Pjoules(estim) =96,3W. Pf er(estim) =36W. La figure 4.4 illustre le prototype du coupleur monolithique robuste à 6 phases en échelle fermée. Des flasques ajourées en plexiglas sont utilisées pour brider la culasse supérieure du reste du noyau magnétique tout en permettant le refroidissement intérieur des bobines. En s’appuyant sur les résultats sur le produit des aires du chapitre 2 et de l’annexe A, le tableau 4.1 compare les valeurs théoriques de la masse d’un coupleur monolithique en configuration "taille haute" (section de culasses et de noyaux identiques) et "taille "basse" (section de culasses de valeur moitié à celle des noyaux), et des valeurs mesurées sur le prototype (configuration "taille haute"). Nous remarquons bien que notre estimation théorique est conforme avec le prototype. -128- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES 6 3 2 1 Spire de mesure du flux AC Figure 4.4 – Vue du coupleur monolithique robuste à 6 phases en échelle fermée. Configuration culasse "taille haute". Masse estimée [Kg] avec la relation Kg .p.(Ae .Sb )3/4 Masse mesurée [Kg] Configuration taille "Haute" 5,3 5,5 Configuration taille "Basse" 4,2 4,4 Écart relatif ' 5% Tableau 4.1 – Comparaison des masses théoriques obtenues au chapitre 2 et du coupleur expérimental. 4.2.3 Structure transformateurs séparés "mono-bobine" Le deuxième prototype de coupleur réalisé concerne des transformateurs séparés utilisant une seule bobine par phase. Nous avons démontré dans le chapitre 3 (§3.5) que cette structure était intéressante, d’un point de vue du volume, pour un faible nombre de phases mises en jeu en présence d’une déconnexion de phase. Le confinement du flux de saturation venant de la phase déconnectée et la compacité des bobines rendent cette topologie compétitive face au coupleur monolithique. Nous nous appuyons sur des ferrites en forme de U (U93/76/16) et en forme de I (I93/28/30) pour déterminer le cahier des charges électriques. Nous choisissons d’avoir une section carrée -129- 4.2. BANC D’ESSAI : PROTOTYPES DE COUPLEURS MAGNÉTIQUES ROBUSTES (d = 1) et nous imposons la même tension d’alimentation de 400V que le coupleur monolithique. Il en ressort les caractéristiques suivantes pour le coupleur séparé mono-bobine : - Courant admissible par phase : 80A ; - Nombre de spires : 25 ; - Matériaux : Feuillard en Aluminium ; - Épaisseur des conducteurs : 500µm ; - Isolants : Film de Kapton de 70µm ; - Bobinages verticales des rubans de feuillard ; - Fréquence de découpage fdec , 20kHz ; - Taux d’ondulation du courant homopolaire ki =5% ; - Température maximale de fonctionnement : 100◦ C (Classe B). - Section des noyaux Ae , 2,56.10−4 m2 ; - Matériau Manganèse Zinc N87 de la société EPCOS ; Le prototype final est représenté sur la Figure 4.5. Chaque transformateur élémentaire est séparé par des cales calibrées d’épaisseur d’1mm, et placées à la verticale entre chaque transformateur. Cette valeur est choisie de manière à permettre une séparation magnétique entre les transformateurs, comme nous avons pu le voir dans le chapitre précédent avec des simulations par éléments finis. En effet, de par le confinement du champ de saturation, le coupleur séparé mono-bobine n’a pas besoin d’un entrefer "large" au niveau des noyaux pour maintenir le fonctionnement. Un entrefer "fin" de quelques centaines de micromètres est suffisant pour contenir des déséquilibres résiduels de courant différentiel. Nous utilisons des cales de PCB d’épaisseur de 1mm pour séparer les transformateurs. PCB d’épaisseur 1mm Figure 4.5 – Vue du coupleur séparé mono-bobine robuste à 6 phases. Les cotes finales du prototype sont : - Hauteur des rubans : 40mm ; -130- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES - Hauteur des noyaux, HN : 48mm ; - Largeur de bobinages LB , 37mm. 4.2.4 Asservissement du convertisseur De manière générale, les convertisseurs de puissance ont besoin d’asservir les variables internes pour garantir un fonctionnement équilibré et robuste vis-à-vis de perturbations internes ou externes. Ces topologies nécessitent donc une boucle d’équilibrage des courants dans le but de répartir équitablement les dissipations thermiques entre les cellules de commutation du convertisseur. Nous considérons uniquement dans notre cas un asservissement des courants de phases, par conséquent du courant de sortie. Le principe de régulation est basé sur l’asservissement d’un mode commun identique par principe des p phases, représentant physiquement la contribution de chaque phase au courant de sortie, et des (p − 1) modes différentiels [Bolloch, 2010]. Le système à contrôler est donc d’ordre "p". Identification des fonctions de transfert des modes commun et différentiel En reprenant les relations matricielles obtenues lors du chapitre 2, nous pouvons réécrire la matrice reliant les six tensions de cellules aux inductances et en considérant les résistances de bobinages Rb et la résistance de charge Rs . Nous nous plaçons dans le cas où les six phases sont magnétiquement couplées. [v] = [L] . v 1(t) v2(t) .. . v p(t) = (p − 1).M + L f d [i] + [R] . [i] dt −M ··· −M .. . (p − 1).M + L f .. . −M −M + Rb + Rs Rs Rs .. . Rb + Rs .. . Rs Rs (4.2) ··· −M i 1(t) d i2(t) ··· −M × dt .. . .. .. . . · · · (p − 1).M + L f i p(t) Rs i 1(t) ··· Rs i2(t) × .. .. .. . . . · · · Rb + Rs i p(t) La diagonalisation de (4.2) favorise l’étude et la mise en équation entre les grandeurs électriques et les variables de commande, par l’intermédiaire d’une matrice de passage contenant les vecteurs propres. Nous pouvons donc réécrire (4.2) pour un système à six cellules de commutation de la manière suivante [Saenz, 2014] : -131- 4.2. BANC D’ESSAI : PROTOTYPES DE COUPLEURS MAGNÉTIQUES ROBUSTES d dt imc(t) i2(t) − imc(t) i3(t) − imc(t) i4(t) − imc(t) i5(t) − imc(t) i6(t) − imc(t) +Ve = − 1 L − 5M 0 Rb + 6.Rs L − 5M 0 0 0 Rb L+M 0 0 0 0 Rb L+M 0 0 0 0 0 Rb L+M 0 0 0 0 0 0 0 1 L+M 0 0 0 0 0 0 1 L+M 0 0 0 0 0 1 L+M 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 Rb L+M 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 L+M 0 0 0 1 L+M 0 Rb L+M × imc(t) i2(t) − imc(t) i3(t) − imc(t) i4(t) − imc(t) i5(t) − imc(t) i6(t) − imc(t) (4.3) × αmc α2 − αmc α3 − αmc α4 − αmc α5 − αmc α6 − αmc Le courant de mode commun imc représente donc la contribution de tous les courants de 1 phases sur le courant de sortie (imc(t) = (i1(t) + i2(t) + ... + i p(t) )) [Park et Kim, 1997b]. p Les courants de mode différentiel sont définis quant à eux comme la différence entre les courants de phases et le courant de mode commun (imd(t) = ix(t) − imc(t) avec x = 1, ..., p − 1). La figure 4.6 présente sous forme de schéma bloc la structure d’asservissement du mode commum et des six modes différentiels retenue pour notre étude. Nous utilisons des correcteurs Proportionnel-Intégral (PI) avec anti-emballement de l’intégrale (anti windup) et initialisation des paramètres initiaux au démarrage [Ghoshal et John, 2010], pour garantir une erreur statique nulle et une robustesse des asservissements. Le passage dans le domaine de Laplace nous permet d’extraire les fonctions de transfert de ces deux modes. Il en ressort plusieurs propriétés telles que : → La dynamique du mode commun est régie par l’inductance de fuite homopolaire du coupleur et par la résistance de bobinage Rb . Sa constante de temps est égale à L f /Rb , avec L f étant l’inductance de fuite homopolaire par phase. Par conséquent, comme nous avons pu le voir dans le chapitre 3, l’arrêt d’une ou plusieurs cellules de commutation provoque un accroissement non négligeable de l’inductance de fuite dans le cas où les noyaux déconnectés sont passifs mais non saturés. Cette variation de flux de fuite impacte donc de -132- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES Mode Commun (MC) IMC* +- PIMC ( p) = K p + αMAX PIMC αCM Ki p α1 αMIN I1 Paramètres adaptatifs Mode différentiel (MD) α2 α3 ++ PIMD ++ αMAX +- ++ IMD* α6 αMIN IMD_12 = i2-iMC IMD* αMAX +- PIMD .... IMD* .... .... IMD_13 = i3-iMC αMIN αMAX +- PIMD αMIN IMD_16 = i6-iMC Figure 4.6 – Schéma bloc du principe d’asservissement basé sur un mode commun et plusieurs modes différentiels. manière significative les paramètres du correcteur du mode commun, comme le montre la figure 4.7. Des paramètres adaptatifs sur le correcteur du mode commun sont donc implémentés dans la stratégie de commande en fonction du nombre de cellules actives, permettant de garantir une rapidité et stabilité indépendante du nombre de phases en jeu. La présence d’un condensateur de sortie dans une application de type hacheur permet de filtrer les composantes HF du courant de sortie et de fixer la tension de sortie. La résistance de charge Rs est donc considérée comme une perturbation. → Le mode différentiel dépend quant à lui de l’inductance cyclique magnétisante LM et des résistances de bobinages. La fonction de transfert du mode différentiel du type 1er ordre présente une constante de temps égale à LM /Rb et un gain de Ve /Rb . Cette boucle de régulation est bien plus lente que celle du mode commun. A entrefer donné, l’inductance cyclique magnétisante varie peu lorsque une ou plusieurs phases sont déconnectées comme cela a été montré au chapitre 3 (§3.9.3). Il n’y a donc pas lieu de prévoir à ce niveau une adaptation des paramètres des correcteurs pour les correcteurs PI des modes différentiels. Nous traiterons cet aspect un peu plus loin dans ce chapitre lors d’un essai à vide. Les paramètres du correcteur du mode commun et des correcteurs modes différentiels sont déterminés pour une fréquence de bande passante de fdec /10 et fdec /100 respectivement. La marge de phase désirée est de 60◦ . Les informations sur les courants sont données par l’intermédiaire de six capteurs de cou-133- 4.2. BANC D’ESSAI : PROTOTYPES DE COUPLEURS MAGNÉTIQUES ROBUSTES 50 Kp 0.0045 0.004 45 40 0.0035 35 0.003 30 0.0025 25 0.002 20 0.0015 15 0.001 10 0.0005 5 0 0 1 2 3 Terme Intégral [Ki] constant Proportional Terme proportionnel [KK p]p Ki K PI MC ( p) = K p + i p Integral constant ki 0.005 0 4 Numberdeofphases phases déconnectées disconnected (k) Nombre [k] Figure 4.7 – Variation des paramètres du correcteur du mode commun en fonction du nombre de phases déconnectées. rant à effet hall. Un capteur d’un calibre de 100A est positionné sur la phase 1, mesurant ainsi le courant du mode commun. Les cinq autres capteurs sont de calibre inférieur (25A) et utilisés pour la mesure des courants différentiels des phases 2 à 6 respectivement par rapport au courant de la phase 1. Nous mesurons la valeur moyenne des courants et non la valeur instantanée. Cette méthode de mesure est intéressante en régime nominal car elle nécessite uniquement un capteur de fort calibre, i.e. celui chargé de mesurer le courant de mode commun. La mesure des courants différentiels par des capteurs de plus faible calibre, donc moins onéreux, améliore également la précision des mesures pour notre prototype. Dans notre cas, pour les tests de déconnexion de phase, la phase 1 restera la phase de référence et ne sera jamais déconnectée. Les déconnexions porteront sur les phases 2 à 6. Cette configuration correspond donc à une application où un arrêt volontaire est ordonné par exemple pour optimiser le rendement. Dans le cas d’une gestion de défaut, l’origine et la localisation du défaut sont aléatoires. Dans ce cas, toutes les phases doivent être équipées d’un capteur calibré pour le courant nominal ce qui représente un surcoût. Architecture de commande L’architecture de commande numérique est basée sur une carte de développement DE2 115 d’Altera, intégrant un FPGA Cylcone II, et permettant de réaliser le modulateur MLI 6 phases et la gestion des séquences rapides de protection, de démarrage et de reconfiguration. Un microprocesseur, appelé NIOS II, est émulé dans cette carte de développement. Il s’agit d’un coeur processeur logiciel de 32 bits et sera dédié à la partie asservissement. Plusieurs cartes de conditionnement analogiques permettant l’adaptation des niveaux de tension entre la sortie des capteurs (courants) et les entrées des CAN 12 bits sont ensuite utilisés. Les signaux de commande des cellules de commutation et le calcul des rapports cycliques proviennent de la carte d’évaluation FPGA DE2. L’implémentation des correcteurs et -134- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES de la stratégie d’asservissement sur le dispositif numérique exige la discrétisation des lois de commande. De ce fait, nous nous appuyons sur une approximation bilinéaire ou trapézoidale (transformation de Tustin) de manière a établir plusieurs équations de récurrence. Au niveau de la MLI, le signal d’échantillonnage utilisé est obtenu à partir de l’horloge interne de 50MHz du FPGA. L’instant d’échantillonnage des valeurs des capteurs de courant et le rafraichissement des valeurs des rapports cycliques est synchronisé sur le sommet de la porteuse de référence à fdec ( porteuse de la phase 1 dans notre cas). Concernant l’envoi des ordres de commande, nous utilisons des fibres optiques pour une transmission des signaux et permettant de remplir la fonction d’un isolement galvanique entre la partie commande et la partie puissance. Reconfiguration des porteuses La mise en place des nouvelles valeurs de déphasages au moment de la déconnexion est un point intéressant à analyser. En effet, l’arrêt de cellules de commutation de manière volontaire ou suite à l’apparition d’un défaut nécessite la reconfiguration du déphasage des porteuses associée à chaque cellule de commutation active. De manière générale, les convertisseurs multicellulaires parallèles utilisent une modulation à porteuses décalées dite Phase-Shifted (PS) où les p porteuses sont régulièrement déphasées de 2.π/p au niveau de leur onde fondamentale. Par ailleurs, il existe une autre alimentation des cellules, de type permuté, qui consiste à réorganiser les porteuses de manière à obtenir une déphasage différentiel entre deux bobines adjacentes le plus proche possible de π. (2π)/6 (2π)/5 (2π)/5 6 6 5 5 4 1 2 4 3 3 2 1 Mode nominal Mode déséquilibré Durée de la reconfiguration du déphasage des porteuses (2π)/6 (a) Synchronisation sur un extrema de chaque porteuse Rafraichissement des nouvelles valeurs de déphasages Défaut phase 2 (b) Synchronisation instantanée sur un extrema d’une porteuse de référence. Figure 4.8 – Représentation des différentes solutions poour réorganiser les porteuses suite à la déconnexion d’une cellule de commutation. Plusieurs solutions peuvent être mises en place pour réorganiser les porteuses après la déconnexion des cellules. La première consiste à synchroniser le changement de déphasage sur un extrême de chaque porteuse, comme le montre la figure 4.8.(a). L’inconvénient de cette solution est que la reconfiguration complète nécessite une période de découpage complète, créant ainsi des écarts de rapports cycliques différentiels. Ces différences de rapports cycliques amène une perturbation sur les flux circulant dans le coupleur. La deuxième proposition consiste à synchroniser toutes les valeurs des déphasages sur un extrema d’une porteuse de référence, comme le montre les figures 4.8.(b) et 4.9.(b). Nous observons bien que les sauts de porteuses se produisent en dehors des bandes de modulation -135- 4.2. BANC D’ESSAI : PROTOTYPES DE COUPLEURS MAGNÉTIQUES ROBUSTES initiale, évitant ainsi toute recommutation intempestive dans le sens d’un fonctionnement nominal vers un fonctionnement à nombre de phases réduit. La reconfiguration s’effectue de manière rapide et sans perturbation sur les commutations sur l’ensemble des bandes de modulation. Rafraichissement des nouvelles valeurs de déphasages 1 1 Ref. 60 6 2 72 2 2' 3 3' 4 4' 5 5' 6 Cas 1 2' Cas 2 5' 3 5 3' 4' Cas bande modulation 2 4 (a) Passage de 6 à 5 phases actives : Déphasages. (b) Synchronisation instantanée sur un extrema d’une porteuse de référence. Bande de modulation 2. Figure 4.9 – Mise en évidence de l’absence de recommutation lors du changement de valeur de déphasage dans le cas d’une synchronisation sur un extrema d’une porteuse de référence. 4.2.5 Méthode de mesures du champ magnétique Afin d’analyser et de valider les différents comportements des flux magnétiques présents dans les coupleurs lors d’un régime déséquilibré, il devient intéressant d’instrumenter ces derniers par des capteurs dédiés. Cette instrumentation a pour but d’effectuer, en quelque sorte, un diagnostic d’une grandeur difficilement mesurable vue des bornes du coupleur. Les composantes continues et alternatives des champs magnétiques sont mesurées de la manière suivante : → Champ magnétique DC : nous utilisons des capteurs à effet hall linéaire unidirectionnel (TLE4990 de chez Infineon) donnant une tension image du champ magnétique B ( fBP =1.6kHz, épaisseur de 1mm, section 5.3 mm x 3.7 mm) . Pour garantir une meilleure précision, nous avons au préalable calibré le gain de chaque capteur avec un Gausmètre à effet hall. La zone d’entrefer située entre les noyaux verticaux et la culasse supérieure est utilisée pour loger ces capteurs. Pour ce faire, une carte PCB d’une épaisseur minimale d’1mm (identique à celle des capteurs) a été réalisée pour bien positionner les capteurs dans la zone d’entrefer, comme l’illustre la figure 4.10. La position du capteur dans la section effective de l’entrefer influe peu sur les résultats de la mesure, tant que le centre du boîtier du capteur ne se rapproche pas trop du bord du noyau. L’épaisseur du capteur élimine et contraint en revanche les mesures pour des entrefers "fins". La figure 4.11 montre des résultats expérimentaux obtenus à partir des capteurs à effet hall sur le coupleur monolithique à échelle fermée présenté auparavant. Les entrefers horizontaux sont donc fixés par l’épaisseur de la carte PCB où sont placés les capteurs, -136- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES Capteur effet Hall TLE4990 (Epaisseur 1mm, 5.3mm x 3.7mm) Figure 4.10 – 6 capteurs à effet Hall (TLE4990) placés sur une carte PCB d’épaisseur d’1mm. et ont pour valeur 1mm. Les bobines 1 à 5 sont connectées en série et sont alimentées en courant par une alimentation continue réglable. La bobine 6 est donc déconnectée, simulant ainsi un mode de fonctionnement statique à nombre réduit de phases (5 phases actives). Tout d’abord, nous distinguons graphiquement les deux états magnétiques du noyau par le changement de pente sur la caractéristique que nous avons appelé respectivement Mode 1 et Mode 2 au chapitre 3 (§3.9.3) correspondant respectivement à un courant inférieur au courant critique et à un courant supérieur au courant critique. Nous relevons que ce changement est obtenu pour un courant de 22A, valeur cohérente comparée à celle issue de la modélisation théorique (23,2A). Cette caractéristique nous permet de valider d’un point de vue expérimental la modélisation proposée au chapitre 3. L’histogramme présent sur la figure 4.11.(b) met en évidence la répartition quasi-homogène du champ magnétique venant de la colonne 6. A noter que les noyaux les plus éloignés de la colonne 6, à savoir les noyaux 3 et 4, subissent moins de report puisque leur chemin de réluctance est plus important. Nous remarquons que les résultats obtenus à partir des capteurs à effet hall sont bien conformes aux résultats obtenus sur les simulations par éléments finis en 3D dans le chapitre 3 (Cf. figure3.26). → Champ magnétique AC : Six spires sont positionnées autour des noyaux verticaux et six autres autour des régions de culasses pour mesurer la composante alternative du champ magnétique. Les mesures des tensions induites par les spires nous permettent ensuite de déterminer cette composante de champ magnétique. En guise d’intégrateurs, des filtres passe-bas de type RC (en utilisant des composants de précision à 1% max de tolérance) sont positionnés en sortie pour garantir un signal quasi intégré et non bruité. La figure 4.12 présente les valeurs expérimentales et théoriques de la composante AC du champ magnétique mesurée sur un noyau vertical du coupleur monolithique. Premièrement, nous observons que cette composante AC est maximale à α=1/2. Graphiquement, il est également clairement visible que les résultats expérimentaux sont semblables au calcul théorique, permettant ainsi de valider la méthode de mesure. -137- 4.3. RÉSULTATS EXPÉRIMENTAUX 400 400 B1 B2 B3 B4 B5 B6 Bthéorique 300 Mode 1 : Colonne 6 passive et non saturée 250 200 150 6 100 1 Colonne déconnectée AGh =1mm 350 Champ magnétique [mT] Champ magnétique zone entrefer [mT] AGh =1mm 350 2 3 I=20A I=50A 300 I=30A I=70A 250 200 150 100 50 50 Mode 2 : Colonne 6 passive saturée 0 0 0 10 20 30 40 50 60 1 70 2 Courant [A] (a) Champ magnétique DC en fonction du courant de phases (Mesures à partir des capteurs à effet hall). AGh =1mm 3 4 Numéro de la colonne 5 6 (b) Analyse de la répartition du champ magnétique DC par colonne : noyau 6 déconnectée. AGh =1mm Figure 4.11 – Relevé expérimental du champ magnétique dans la zone d’entrefer lorsque la colonne 6 est déconnectée. Utilisation des capteurs à effet Hall pour la mesure. Densite de champ magnétique [mT] 400 350 300 250 200 150 100 Expérimental Théorique 50 0 0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1,0 Rapport cyclique Figure 4.12 – Mesure de la composante de champ magnétique alternative à partir d’une spire (Ve =400V, Nt =18, fdec =20kHz). 4.3 4.3.1 Résultats expérimentaux Caractérisation des inductances du coupleur Coupleur monolithique La méthode de mesure des inductances propres et leurs mutuelles, des deux prototypes est la suivante : un amplificateur Krohn-Hite 7500 est placé en sortie d’un générateur basse -138- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES fréquence (GBF) délivrant un signal sinusoïdal fixé à une fréquence de 20kHz. Ce signal est appliqué successivement sur 6 bobines. Nous utilisons ensuite un analyseur de puissance YOKOGAWA WT3000 (bande passante 1MHz, précision de mesure de +- 0.02% ) pour mesurer le courant AC délivré par l’amplificateur et la tension induite par les autres bobines. Un calcul de module nous permet de déterminer les inductances. La mise en série des six bobinages a permis de mesurer les inductances fuites. Nous réitérons ces protocoles de mesures pour trois valeurs d’entrefers (résiduels, 250µm et 1mm). Le tableau 4.2 dresse les valeurs des inductances propres (L f +5.M) des 6 bobinages pour différentes épaisseurs d’entrefers. AGh [µm] L1 L2 L3 L4 L5 L6 Résiduel 2258 3923 2702 2860 4195 2743 250 807,5 906,2 802,4 796,2 901,3 803,5 1000 293,6 307,5 305,2 296,5 308,9 310 Tableau 4.2 – Valeur des inductances propres des six bobines en [µH] pour différentes épaisseurs d’entrefers. D’après les valeurs présentes dans le tableau 4.2, nous notons une dissymétrie importante sur la structure à faible entrefer. Cet écart est dû à une planéité imparfaite à la jonction entre les six noyaux verticaux et la culasse supérieure, créant ainsi des entrefers apparents inégaux. Par conséquent, les noyaux centraux (2 et 5) se retrouvent plus hauts que les autres. Ainsi, ils possèdent un entrefer résiduel et apparent plus faible, par conséquent une inductance plus importante. Les noyaux 3 et 4 situés sur les extrémités voient quant à eux un entrefer résiduel plus important, mais dans une moindre mesure pour les noyaux 1 et 6. Le rapport entre L2 et L3 donne une valeur de 1,7. Cet écart s’avère moins prononcé lorsque l’entrefer devient "large" puisque le rapport AGh /AG(residuel) est important (supérieur à 20 pour un entrefer "large" d’1mm). La mesure des inductances de fuite mises en jeu est donc effectuée par la mise en série des 6 bobinages. La valeur mesurée est de 198µH, correspondant à 6.L f (L f étant l’inductance de fuite par phase), soit une inductance de fuite vue par la charge égale à 5,5µH. La valeur théorique pour un taux d’ondulation de 5% était estimée à 6,2µH. En s’appuyant les cotes géométriques et appliquant la relation (2.44) (Cf. chapitre 2), nous obtenons une valeur d’inductance de fuite par phase de 40µH, soit 6,6µH vue par la charge. L’écart entre le résultat de l’équation (2.44) et la valeur mesurée montre bien qu’il est très difficile de déterminer théoriquement le flux de fuite de nature tridimensionnel. Nous avons également effectué différentes mesures de l’inductance de fuite homopolaire pour des épaisseurs d’entrefers. Ces données sont présentées dans le tableau 4.3. Nous constatons que ces valeurs varient peu lorsque des entrefers "fins" ou "larges" sont logés dans le coupleur. Cette grandeur est en revanche plus sensible à l’arrêt d’une ou plusieurs cellules de commutation comme nous l’avons démontré dans le chapitre 3. Nous reviendrons sur cette variation de l’inductance de fuite lors de la déconnexion de phases dans la suite du -139- 4.3. RÉSULTATS EXPÉRIMENTAUX chapitre. AGh [mm] 0 0,38 0,76 1,02 2,2 L f s [µH] 5,52 5,37 5,25 5,1 4,92 Tableau 4.3 – Valeur de inductance de fuite homopolaire expérimentale pour différentes épaisseurs d’entrefers. Les résultats sur les inductances propres de chaque bobine et leurs inductances mutuelles sont donnés dans les matrices suivantes pour un entrefer résiduel et pour une épaisseur de 1mm : 2558 984, 5 200, 5 154, 8 540, 2 621, 3 962 3923 1019 565, 3 758, 2 548, 3 205, 1 1073 2702 682, 2 550, 7 158, 1 [µH] (4.4) L(AGresiduel) = 164, 2 567, 6 689, 1 2860 1201 208, 3 582, 6 779, 4 572, 8 1125 4195 1091 629, 4 543, 3 157, 5 205, 8 1171 2743 293, 6 58, 4 48, 5 47, 2 53 57, 6 58, 5 307, 5 58, 6 53 54 53, 6 48, 7 58, 9 305, 2 57, 7 53, 2 47, 9 [µH] L(AG=1mm) = (4.5) 47, 2 53, 2 57, 2 296, 5 58, 8 49, 4 53 54, 3 52, 9 59, 1 308, 9 59, 7 57, 2 53, 3 57, 2 48, 5 58, 6 310 Nous observons bien que l’insertion d’un entrefer de 1mm permet d’équilibrer les mutuelles vues par chaque bobine. La réluctance d’un entrefer de 1mm devient prédominant par rapport à la réluctance du noyau. En se basant sur les matrices (4.4) et (4.5), il est aussi possible d’extraire les valeurs des inductances cycliques magnétisantes et des inductances de fuite par phase. Cette méthode de détermination indirecte des inductances de fuite reste cependant moins précise que la mesure directe en mettant les six bobines en série (un écart de 10% est relevé entre les deux méthodes). Transformateurs séparés mono-bobines à entrefers "fins" La même méthode est appliqué au coupleur utilisant des transformateurs séparés en configuration mono-bobine. Les résultats sur les inductances propres et les mutuelles sont donnés dans la matrice (4.7). -140- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES [L] = L1 M21 M12 M13 M14 M15 M16 L2 M23 M24 M25 M26 M31 M32 L3 M34 M35 M36 M41 M42 M43 L4 M45 M46 M51 M52 M53 M54 L5 M61 M62 M63 M64 M65 754, 9 293, 9 21, 8 5, 05 310, 5 777, 4 339, 9 22 338, 3 798, 8 = 5, 2 28, 7 346, 9 29, 2 12, 3 31, 2 351, 6 30, 8 6 29, 5 M56 L6 351, 9 28, 63 12, 6 30, 8 346, 1 30, 7 5, 8 776, 7 323, 5 22, 35 324, 7 777, 9 336, 3 23, 2 341, 5 804, 3 (4.6) [µH] Nous observons une légère dissymétrie sur les inductances propres due à la légère dispersion sur les entrefers "fins" insérés de manière horizontale. Du fait de la présence d’un entrefer vertical entre les transformateurs séparés, les mutuelles sont d’autant plus faibles que l’on s’éloigne de la bobine de référence. Les six bobinages sont ensuite reliés en série pour mesurer l’inductance de fuite. Cette méthode de mesure directe nous donne 309µH, soit 51,5µH pour l’inductance de fuite par phase. La valeur extraite de la matrice mutuelle, en retranchant les valeurs de mutuelles à la valeur de l’inductance propre révèle une valeur de 51,55µH. Ainsi, nous pouvons valider notre principe de mesure des mutuelles inductances. L’application numérique de la relation théorique s’appuyant sur les cotes géométriques (2.44) nous donne une valeur de 52,3µH, donc cohérente avec la valeur mesurée expérimentalement. AGh [µm] L1 [µH] L2 [µH] L3 [µH] L4 [µH] L5 [µH] L6 [µH] Résiduel 3092 2881 2863 3129 2976 2933 120 1081 1055 1020,5 1000 1076 1049 250 750,8 736,9 762,2 743,2 750,9 764,1 Tableau 4.4 – Valeurs expérimentales des inductances propres des bobinages pour différentes épaisseurs d’entrefers. Nous remarquons également avec ce coupleur, qu’à entrefer nul ( uniquement entrefer résiduel), des écarts entre les valeurs d’inductances propres persistent. Cet écart s’estompe lorsque l’on vient insérer des entrefers, même "fins", à la jonction entre les ferrites en forme de U et de I. -141- 4.3. RÉSULTATS EXPÉRIMENTAUX Les inductances propres de chaque bobine et leurs mutuelles inductances sont données dans la matrice suivante pour un entrefer horizontal de 250 µm : 750, 8 329, 5 22, 2 6, 36 28, 3 356, 5 331, 1 736, 9 350, 5 27, 7 12, 4 29, 8 22, 7 345, 9 764, 2 349, 1 30, 1 7, 23 [µH] [L] = (4.7) 6, 36 26, 4 351, 7 743, 2 327, 2 21, 6 30 13, 1 31, 7 323, 1 750, 9 340, 6 352, 4 28, 9 6, 65 21, 6 341 764 Nous observons sur la matrice 4.7 que certains coefficients de mutuelle ne sont pas nuls, comme cela est le cas dans les structures séparées en association cyclique cascade. Par exemple, la mutuelle inductance entre la phase 1 et 3 est 10 fois plus importante que la mutuelle entre 1 et 2, donc nous pouvons négliger cette valeur. 4.3.2 Déconnexions de cellule(s) de commutation Essai à vide Un des premiers essai à vide a consisté à observer la variation de l’ondulation des courants magnétisants, directement liée à l’inductance cyclique magnétisante, lorsque le nombre de cellules de commutation actives est variable. Nous nous plaçons en boucle ouverte, où l’utilisateur peut modifier la valeur du rapport cyclique de manière dynamique. Le convertisseur est alimentée sous 400V. Un entrefer de 1,7mm est placé à la jonction entre le haut des noyaux et la culasse supérieure. Nous visualisons sur la figure 4.13 les six courants de phases déphasés régulièrement de (2.π)/6 en fonctionnement nominal, sans déconnexion. Premièrement, nous observons que les courants des phases 2 et 5 possèdent une ondulation légèrement plus faible que les autres phases, notamment lorsqu’un entrefer "fin" est inséré, comme représenté sur la figure 4.13.(b), où un entrefer "fins" de 250µm est présent. Cet écart provient de la différence de hauteur entre les noyaux verticaux. En effet, les noyaux 2 et 5 sont plus hauts que les autres, entraînant ainsi un entrefer résiduel plus faible. Cet écart est évidemment plus notable lors d’un essai à entrefers "fins" ou uniquement pour des entrefers résiduels. L’ondulation du courant de phase sur la figure 4.13.(a) , égale à Ve /(4.Lm . fdec ) pour un rapport cyclique de 1/2, est mesurée à 20A. En s’appuyant sur la relation 3.49 (Cf. Chapitre 2) sur l’inductance cyclique magnétisante (Lm = 257µH pour un entrefer de 1,7mm), l’application numérique de l’ondulation de courant nous donne 19,5A. Nous considérons dans ce calcul l’effet de frange dans la zone d’entrefer en prenant un rapport 0,7 sur la réluctance d’entrefer. (Cf. figure 3.32). Avec cette valeur d’entrefer, le fonctionnement en ZVS pourrait être assuré jusqu’à une valeur légèrement inférieure à δI/2=10A ce qui représente 15% du courant nominal. La cohérence des résultats sur l’ondulation de courant nous permet de valider les relations théoriques -142- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES α =½, k=0 Courant de phases [A] I1 I2 I3 I4 I5 I6 I1 ΔI=20A I2 I3 I 4 α =½, k=0, AGh=250μm I5 I6 ΔI1=6A ΔI2=5,5A (a) Ve =400V, AGh =1.7mm ΔI5=4,8A (b) Ve =400V, AGh =250µm, Figure 4.13 – Courant de phases en mode nominal lors d’un essai à vide pour deux valeurs d’entrefers, 250µm et 1,7mm (Ve =400V, fdec =20kHz, α=0,5, k=0). sur l’inductance magnétisante (§3.9.3) et l’abaque donnant l’élargissement de la section effective de l’entrefer (§3.9.5) . Nous effectuons le même essai en déconnectant de manière volontaire la phase 1. Le noyau est dans un état passif mais pas saturé (Mode 1) puisque la composante DC est nulle. Les courants sont maintenant déphasés de (2.π)/5 et possèdent une ondulation égale à 21,5A. Cette valeur est cohérente avec la relation (3.49) (§3.9.3), donnant une ondulation du courant magnétisant de 22,6A. A α=1/2 et 5 phases actives (Cf. figure 4.14.a), nous nous situons cette fois dans le cas où la somme des flux AC n’est plus nulle. Elle provoque une FMM à (p1). fdec vue par les bobines actives et donnant lieu à une ondulation homopolaire à (p-1). fdec , superposée à la composante du courant magnétisant à fdec . A α=2/5, cette composante HF disparaît puisque l’on se situe sur un minimum du rapport de taux d’ondulation. α =½, k=1 I2 I3 I4 I5 I 6 α =2/5, k=1 ΔI=21,5A 6 1 2 3 6 I2 I3 I4 I5 I 6 (a) α = 1/2 1 2 3 (b) α = 2/5 Figure 4.14 – Courant de phases en mode déséquilibré lors d’un essai à vide. Déconnexion de la phase 1 (Ve =400V, AGh =1.7mm, fdec =20kHz). Les relevés présents sur la figure 4.15 montrent les courants des phases actives lorsque 2 phases, puis 4 phases sont déconnectées. Nous visualisons bien que, à entrefer donné, l’ondulation de courant n’est que peu modifiée quel que soit le nombre de phases actives, comme nous avons pu le montrer dans le chapitre 3. Cette observation nous permet de valider d’un -143- 4.3. RÉSULTATS EXPÉRIMENTAUX point de vue expérimental que l’inductance magnétisante ne subit pas de variation significative lors de la déconnexion de phases. D’un point de vue expérimental, l’adaptation des correcteurs des modes différentiels, directement liées à LM , n’est donc pas à prendre en compte. α =1/2, k=4 α =1/2, k=2 I3 I4 I5 I6 ΔI=20A 6 1 2 3 (a) α = 1/2, 2 phases déconnectées (Phase 1 et 2). ΔI=20A I6 I5 1 2 3 4 (b) α = 1/2, 4 phases déconnectées (Phase 1 à 4). Figure 4.15 – Courant de phases en mode déséquilibré lors d’un essai à vide. Déconnexion de 2 et 4 phases (Ve =400V, AGh =1.7mm, fdec =20kHz). Intéressons-nous maintenant, d’un point de vue expérimental, aux bénéfices d’une alimentation permutée des porteuses dans cet essai à vide. Les six noyaux et les six culasses sont entourés d’une spire permettant de visualiser le champ magnétique AC, en mesurant la tension induite aux bornes de la spire. Le tableau 4.5 dresse les valeurs de déphasages dans le cas d’une alimentation permutée à 6 et 5 phases : p BAC1 6 0 5 0 BAC2 2.π 3 4.π 5 BAC3 4.π 3 8.π 5 BAC4 π 3 2.π 5 BAC5 5.π 3 6.π 5 BAC6 π 0/ Tableau 4.5 – Déphasage d’une alimentation permuté pour un convertisseur entrelacé à 6 et 5 phases. La permutation optimale des phases dépend du nombre de phases. Dans notre cas, i.e. 6 phases en fonctionnement nominal (nombre pair et non multiple de 4), le déphasage entre les tensions appliquées à deux bobinages appartenant au même couple doit être égal à [Costan, 2007] : → (π − 2.π/p) pour les (p/2-1) couples de bobinages, → π pour le p/2-ième couple de bobinages, → −(π − 2.π/p) pour les autres couples de bobinages. La figure 4.16 présente l’allure du BAC dans le noyau 1 et dans les deux culasses adjacentes. Nous multiplions par 2 la composante AC du champ magnétique pour se placer de manière fictive dans une configuration nominale de culasses dites "taille basses", i.e. que la section des noyaux est double par rapport à celles des culasses. -144- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES α =1/2, k=0 α =4/12, k=0 Alim. régulière BAC1 BACt16 BACt12 Alim. permutée BAC1 BACt16 BACt12 Kmag=0,8 (a) Nominal - Alimentation régulière (AR). Kmag=0,57 (b) Nominal - Alimentation permutée (AP). Figure 4.16 – Composante AC du champ magnétique le noyau 1 et dans les 2 culasses adjacentes en mode nominal Nous constatons sur ces relevés que l’alimentation permutée permet de réduire l’amplitude crête-à-crête des champs magnétiques dans les culasses. Le ratio culasse/noyau passe de 0,8 à 0,57. Le graphique représenté sur la figure 4.17 compare les valeurs expérimentales et théoriques de ce ratio culasse/noyau pour les deux types d’alimentation et pour différentes valeurs de rapport cyclique. Quelle que soit la valeur de α, nous observons bien l’intérêt de l’utilisation de l’alimentation permutée sur le champ magnétique circulant dans les culasses. Les résultats expérimentaux sont cohérents avec la théorie. 1,0 AR. Expérimental AR. Théorique 0,9 0,8 0,7 kmag 0,6 0,5 AP. Expérimental AP. Théorique 0,4 0,3 0,2 0,1 0,0 0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1,0 Rapport cyclique Figure 4.17 – Évolution du KMAG =max φ̃i(culasse) /φ̃i(AC) en fonction du rapport cyclique. Dans le cas où le nombre de phases actives est réduit, nous validons bien que le ratio culasse/noyau diminue bien lorsque l’on vient déconnecter des cellules de commutation (Cf.figure 2.9 chapitre 2) comme le montre la figure 4.18). -145- 4.3. RÉSULTATS EXPÉRIMENTAUX α =1/2, k=1 (5 phases actives) BAC1 BACt16 BACt12 α =1/2, k=1 (5 phases actives) Alim. régulière BAC1 BACt16 BACt12 Kmag=0,63 (a) k=1 - Alimentation régulière (AR). Alim. permutée Kmag=0,56 (b) k=1 - Alimentation permutée (AP). Figure 4.18 – Composante AC du champ magnétique le noyau 1 et dans les 2 culasses adjacentes lorsque la phase 6 est déconnectée. Essai en charge Les essais en charge sont réalisés sur le coupleur monolithique en échelle fermée à 6 phases. En pratique et dans le cadre de notre étude, l’arrêt des cellules de commutation s’effectue par le blocage volontaire et complet des bras de commutation, en inhibant la commande des interrupteurs associés, comme cela serait le cas pour un mode à rendement optimisé. Les diodes du bras assurent alors la démagnétisation du noyau associé. Le convertisseur est asservi en boucle fermée par la stratégie de régulation présentée dans le paragraphe précédent. L’adaptation des paramètres du correcteur sur le mode commun, lors de la déconnexion de cellules, est prise en compte dans la régulation à l’instant d’échantillonnage (sommet de la porteuse de référence, phase 1) suivant l’ordre d’arrêt du bras. La carte PCB d’épaisseur d’1mm, sur laquelle sont placés les capteurs à effet hall, fait office d’entrefer. Les conditions de test sont les suivantes : - Tension d’alimentation Ve , 250 V ; - Courant de sortie Is , 50A ; - Fréquence de découpage fdec , 20kHz ; - Condensateur de sortie Cs , 150µF ; - Entrefers horizontaux AGh , 1mm ; - Charge résistive fixe, 1,5Ω ; - Temps morts, 1µs ; - Alimentation régulière des porteuses ; - Déconnexion de la phase 2. La figure 4.19 illustre les tensions des six cellules de commutation avant puis après la déconnexion de la cellule 2. Nous observons que le changement de déphasage des cinq cellules actives, passant de 2.π/6 à 2.π/5, s’effectue rapidement et de manière correcte. La tension aux bornes de la cellule déconnectée, i.e la cellule 2, voit des tensions induites à chaque commutation des bras actifs (pics de tension) des cinq bobines actives. Après la démagnétisation de l’enroulement concerné par les diodes de l’interrupteur lowside, plusieurs phénomènes sont visibles sur la tension de cellule déconnectée. Premièrement, -146- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES Fonctionnement nominal 6 phases actives Déphasage régulier 60° Fonctionnement dégradé 5 phases actives Déphasage 72° Tension cellules t= 8.5µs è 2π/6 t= 10 µs è 2π/5 VCELL1 VCELL2 V V CELL3 CELL4 VCELL5 V 125V/div Phase 2 arrêté CELL6 25µs/div Figure 4.19 – Tension aux bornes des six cellules de commutation lors de la déconnexion de la phase 2. des pics de tension apparaissent à chaque front de commutation des (p − 1) cellules actives. Ensuite, un régime oscillatoire autour de la tension de sortie apparaît entre les capacités parasites des composants (Coss pour l’IGBT et CT pour les Diodes) et l’inductance magnétisante de l’enroulement. La figure 4.20 illustre donc les relevés expérimentaux des six courants de phases (IL1 ,...,IL6 ) et du courant de sortie avant et après l’arrêt volontaire de la phase 2. Les courants de phases sont régulés à leurs valeurs nominales avant et après déconnexion, i.e à Is /p (8,3A). Une décroissance de 5/6 de la valeur est donc subie par le courant de sortie. Nous observons sur la figure 4.20.(b) un zoom sur les courants de phases en mode nominal, sans déconnexion. Premièrement, nous remarquons que les signaux sont régulièrement déphasés de 2π/6. Le rapport cyclique est de 0,582 (7/12), soit égal à un maximum du rapport ∆I ph /∆Is pour p=6, d’où la présence de la composante d’ondulation à 6. fdec . Nous mesurons une ondulation du courant magnétisant égal à 11A. Cette ondulation de courant nous donne une inductance cyclique magnétisante LM de 284µH. L’application numérique de l’expression théorique de LM issue de la modélisation (3.49) est égale à 313µH, soit 10% d’erreur. A l’arrêt volontaire de la phase 2, le courant dans cette même phase s’annule. Les courants des cinq autres phases actives, correctement rephasés à 2.π/5, sont bien maintenus à Is /p. Intéressons-nous maintenant de plus près aux différents phénomènes électriques et magnétiques situés après l’arrêt de la phase 2. Nous avons mentionné dans le chapitre 3 que, dans le cas où les noyaux déconnectés sont passifs mais non saturés, l’inductance de fuite vue par la charge augmente de manière non négligeable lors d’un fonctionnement à nombre de phases réduit. En effectuant l’application -147- 4.3. RÉSULTATS EXPÉRIMENTAUX t = 2.π . L f ( S ) .Cs = 342μs Courant de sortie Is [ 25A/div] Fonctionnement dégradé / 5 phases actives Déphasage 72° Courant de phases (IL1,…,IL6) [ 5A/div] 400µs/div phase 2 arrêtée (a) Arrêt volontaire de la phase 2 -Courant de phases et courant de sortie. Courant de sortie Is Courant de sortie Is α =58,2% α =49,5% t=8,3μs è 60° t=10μs è 72° Courant de phases (IL1,…,IL6) Courant de phases (IL1,…,IL6) ΔImag =11A è LM =284μH 5A/div 5µs/div 5A/div (b) Zoom courants de phases et de sortie avant la déconnexion. 5µs/div (c) Zoom courants de phases et de sortie après la déconnexion. Figure 4.20 – Représentation des courants de phases et du courant de sortie lors de la déconnexion de la phase 2. numérique dans nos conditions d’essai, nous obtenons une valeur d’inductance de fuite après déconnexion égale à 21,05µH. Nous retrouvons cette variation du flux de fuite sur le régime transitoire des courants des phases actives. Le régime oscillant amorti, observable sur les courants de phases actives et sur le courant de sortie, est de plus basse fréquence que celle visible sur la tension de cellule. Ces oscillations, naissant de la variation de l’inductance de fuite homopolaire et de la capacité de sortie Cs , correspondent à un filtre LC du second ordre. La fréquence de résonance est mesurée à 2,93kHz, correspondant à une inductance de fuite de 19,8µH, soit une erreur relative de 6,3%. Nous avons également constaté sur l’ensemble des simulations et des expérimentations une décroissance "rapide", à l’échelle de la période de découpage, des courants des phases actives. L’hypothèse que nous proposons d’avancer est basée sur la continuité de l’énergie stockée dans le coupleur, en particulier l’énergie transportée par le flux de fuite. Considérant la -148- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES forte augmentation de l’inductance de fuite homopolaire au moment de la déconnexion d’une cellule, la continuité de l’énergie impliquerait par voie de conséquence une forte diminution des courants de phases. Ceci justifie sur la figure 4.21.(b) le passage d’une condition initiale du point à Is vers une valeur nettement inférieure. Un deuxième transitoire lent est légèrement visible sur le courant de sortie, à savoir la décroissance de type premier ordre, causée par la résistance de charge et le condensateur de sortie. Ces q régimes transitoires sont illustrés sur la figure 4.21 par deux plans de phases f (Vcs ) = Is . L f s(p−k) /Cs . Transitoire rapide Transitoire lent α 1 × Ve Lfs(p-k) CS RS Transitoire rapide: Continuité du flux à Lfs variable Continuité du flux à Lfs variable CI α 1 × Ve VC (a) Transitoire lent VC (b) Régime oscillant rapide entre L f s(p−k) et Cs . Figure 4.21 – Représentation sur des plans de phase des régimes transitoires sur le courant lors de la déconnexion d’une cellule de commutation. Les champs magnétiques DC et AC sont représentés quant à eux sur la figure 4.22. Nous séparons l’analyse en deux parties, l’une concerne les noyaux actifs et l’autre le noyau déconnecté : → le noyau déconnecté, le n◦ 2 dans notre cas d’étude, est dans un état magnétique passif mais non saturé. Sa valeur de champ DC est de 0,1T. La composante de densité de champ AC est de très faible valeur par rapport à celle présente dans les phases et ceci pour deux raisons : la première est que la somme des champs AC est sur un maxima d’ondulation (nombre impair de phases) mais d’amplitude 1/5 de la valeur sur une phase. Ensuite, la réluctance de ce noyau passif se trouve en parallèle avec la réluctance équivalente au trajet du flux de fuite dans l’air. Puisque la réluctance de ce noyau en ferrite est de valeur plus faible (rapport de 4) que celle de la réluctance équivalente du trajet d’air, le champ AC mesuré dans ce noyau représente néanmoins l’essentiel du champ AC homopolaire à la fréquence de 5. fdec . → Concernant les noyaux actifs, nous visualisons une composante de densité de flux AC due à la magnétisation par les cellules de commutation, superposée à une composante basse fréquence oscillatoire, formant une enveloppe BF, traduisant ainsi les variations du mode DC sur chaque phase active. Ce régime transitoire basse fréquence, mettant en jeu un échange d’énergie entre la capacité de sortie Cs et l’inductance de fuite des bobinages vue par la charge, a été analysé dans le paragraphe précédent sur l’analyse des courants de phases. La valeur -149- 4.3. RÉSULTATS EXPÉRIMENTAUX Fonctionnement dégradé / 5 phases actives Déphasage 72° Champ magnétique total dans le noyau 2 Densité de champ magnétique [T] 0.2 0.15 (Noyau passif non saturé) 0.1 0.05 B1 B2 0 B3 B4 -0.05 B5 B6 -0.1 δBDC -0.15 phase 2 arrêtée -0.2 Champ magnétique total dans les noyaux actifs 1ms/div (a) Champ magnétique total (DC+AC) dans les six noyaux 0.2 Champ magnétique [T] 0.15 Fonctionnement dégradé / 5 phases actives Déphasage 72° Champ magnétique 5.Fdec total dans le noyau 2 (Noyaux passifs non saturés) 0.1 B2DC 0.05 B1 B2 0 B3 B(1,3,…,6)DC -0.05 B4 B5 -0.1 B6 -0.15 Champ magnétique total dans les noyaux actifs -0.2 25µs/div (b) Zoom des champs magnétiques après la déconnexion de la phase 2. Figure 4.22 – Représentation des champs magnétiques (DC+AC) issus des capteurs à effet hall et des spires de mesures, lors de la déconnexion de la phase 2. asymptotique de cette enveloppe BF correspondant à la valeur de report de champ entre le noyau passif et les (p − 1) autres noyaux actifs comme présenté au chapitre 3 sur le modèle DC. Le tableau dresse les valeurs des champs DC obtenus par les capteurs à effet Hall avant et après la déconnexion de la phase 2. En mode de fonctionnement nominal (sans déconnexion), les noyaux 2 et 5 correspondant aux noyaux les plus hauts donc avec moins d’entrefers résiduels, ont un champ magnétique DC plus important que les autres. A la suite de la déconnexion de la phase 2, nous notons que les deux noyaux adjacents à la phase 2 supportent un report de contrainte plus important. Cet écart traduit une quasi équi-répartition du champ DC circulant dans le noyau 2. Le tableau donne également les valeurs théoriques du champ DC en mode nominal et fonctionnement déséquilibré (k = 1). Nous remarquons bien que les données expérimentales sont cohérentes avec les relations analytiques issues de la modélisation du chapitre 3. -150- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES Mode BDC(theorique) BDC1 BDC2 BDC3 BDC4 BDC5 BDC6 Nominal [mT ] 15,2 13,1 14,2 13,5 12,9 14,5 12,9 Dégradé (k=1) [mT ] 44,3 39,5 100 40,2 36,3 35,4 36,8 Tableau 4.6 – Valeurs expérimentales en mT de la composante continue de champ magnétique dans les six noyaux en mode nominal et après l’arrêt de la phase 2 (régime déséquilibré). 4.3.3 Remise en conduction de cellules de commutation Une optimisation du rendement énergétique global, à faible puissance de sortie, est possible sur les structures de convertisseur parallèle utilisant des inductances non couplées ou couplées, en ajustant le nombre de phases actives en fonction du niveau du courant de sortie (§1.2.4). Dans ce sens, il devient donc obligatoire d’étudier et d’analyser la remise en conduction d’une phase préalablement mise à l’arrêt, notamment lorsque nous utilisons un coupleur magnétique. La figure 4.23 illustre cette situation sur une premiere simulation réalisée sous PSIM d’un convertisseur parallèle à 6 phases magnétiquement couplées par un coupleur monolithique, identique au prototype. Fonctionnement nominal 6 phases déphasées de 60° Fonctionnement dégradé / 5 phases déphasées de 72° IL1 IL2 IL3 IL4 IL5 100 Courant de phases [A] 80 60 40 20 0 IL6 Iph1 Iph2 Iph3 Iph4 Iph5 Iph6 40 20 0 S1.B1 S1.B2 S1.B4 Bt1 Champ magnétiques [T] 0.6 S1.B3 0.4 0.2 0 S1.B5 Bt2 S1.B6 Bt3 Bt4 Bt5 Bt6 Noyau 2 passif saturé 0 -0.25 -0.2 -0.4 -0.6 BSAT -0.6 Phase 2 arrêtée -0.8 ALPHA_MD3 Rapport cyclique MD ALPHA_MD2 0.04 0.02 0 -0.02 -0.04 -0.06 -0.08 -0.1 -0.12 -0.14 0 ALPHA_MD4 αMD2 ALPHA_MD5 αMD3 αMD4 Remise en conduction phase 2 ALPHA_MD6 αMD5 αMD6 0 αMD2 en butée de rapport cyclique -0,1 5ms 0.005 Temps [ms] 10ms 0.01 Time (s) 15ms 0.015 Figure 4.23 – Simulation 1 : convertisseur parallèle à 6 phases avec un coupleur monolithique en échelle fermée. Arrêt et remise en conduction de la phase 2 - Sans anti-windup (Ve =250V, Is =200A, fdec =20kHz, AGh =1mm, BSAT =0,5T) -151- 4.3. RÉSULTATS EXPÉRIMENTAUX Les conditions initiales sont identiques sur les deux simulations (Ve =250V, Is =200A, fdec =20kHz, AGh =1mm, BSAT =0,5T). Nous remarquons qu’un fort transitoire apparaît sur le courant de la cellule remise en conduction. La non présence d’un anti wind-up, permettant de geler la partie intégrale lorsque le rapport cyclique atteint une butée (haute ou basse), provoque une reprise du correcteur du mode différentiel non maîtrisée. Ceci implique un déplacement du point de fonctionnement magnétique proche du champ de saturation, et par voie de conséquence, l’apparition de fortes ondulations de courant pouvant endommager les semi-conducteurs. Fonctionnement dégradé / 5 phases déphasées de 72° IL1 IL2 IL3 IL4 IL5 IL6 Iph1 Iph2 Iph3 Iph4 Iph5 Fonctionnement nominal 6 phases déphasées de 60° Iph6 Courant de phases [A] 80 60 40 20 0 40 20 0 S1.B1 S1.B2 S1.B3 S1.B4 S1.B5 Bt1 Champ magnétiques [T] 0.6 0.4 0.2 0 -0.2 S1.B6 Bt2 Bt3 Bt4 Bt5 Bt6 Noyau 2 passif saturé 0.25 0 -0.25 Phase 2 arrêtée BSAT -0.4 ALPHA_MD3 Rapport cyclique MD 0.04 ALPHA_MD4 0.02 0 -0.02 -0.04 -0.06 -0.08 -0.1 0 0.002 ALPHA_MD5 αMD2 ALPHA_MD6 αMD3 0 ALPHA_MD2 αMD4 αMD5 Remise en conduction phase 2 αMD6 Arrêt de la partie intégrale -0,05 -0,1 0.004 5ms 4 0.006 Temps [ms] Time (s) 0.008 8 0.01 10 0.012 12 0.014 Figure 4.24 – Simulation 2 : convertisseur parallèle à 6 phases avec un coupleur monolithique en échelle fermée. Arrêt et remise en conduction de la phase 2 - Avec anti-windup (Ve =250V, Is =200A, fdec =20kHz, AGh =1mm, BSAT =0,5T) Une deuxième simulation est réalisée dont les résultats sont présents sur la figure 4.24. La seule différence entre ces deux simulations vient de la présence d’un anti-windup sur les correcteurs des modes différentiels dans la simulation n◦ 2. A noter que la bande passante et la marge de phase des correcteurs sont identiques pour les deux simulations ( fBPMD = fdec /100, Mφ=60◦ ). Nous observons sur ces simulations que la présence de l’anti windup permet d’améliorer la dynamique du système lorsque la phase 2 est remise en conduction, par l’arrêt du terme intégrateur. Il est également envisageable de mettre en place un "so f tstart" à la remise en conduction d’une phase déconnectée. Cette proposition consiste à créer une rampe sur la référence des correcteurs du mode différentiel (IMDre f ) allant de IMC à 0 dans un temps défini. Lors du redémarrage du correcteur, l’erreur à la sortie du comparateur (ε = (IMDre f − IMD1i ) est progressive. La figure 4.25 illustre ce cas d’étude sur un essai expérimental, lors du passage de 5 à 6 -152- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES phases actives avec le coupleur monolithique six phases présenté dans §4.2.2. Rappelons que le déphasage des porteuses est également pris en compte même lors de la remise en conduction d’une cellule de commutation, passant de 2π/5 à 2π/6 dans ce cas. L’utilisation d’un correcteur PI avec anti-windup pour les modes différentiels nous permet donc d’arrêter le calcul de la partie intégrale de notre régulateur au moment de la déconnexion de phase. Ainsi, à la remise en conduction de la phase déconnectée, le redémarrage de la partie intégrale se veut plus souple, comme il est visible sur la figure 4.25. Cette gestion de la partie intégrale associée avec un démarrage "so f t − start" est donc capitale puisque le régime transitoire lors de la déconnexion est de forte amplitude (inversion du signe du champ dans le noyau passif) en partant d’un état initial qui peut être proche de la saturation pour le noyau passif avec donc un fort courant magnétisant et un dépassement pouvant être dangereux comme le montre la figure 4.25. Courant de sortie Is Courant de phases (IL1,…,IL6) remise en conduction de la phase 2 5A/div 500µs/div Figure 4.25 – Passage de 5 à 6 phases actives. Remise en conduction de la phase 2. 4.3.4 Mesure de rendement La mesure du rendement est réalisée au moyen d’un analyseur de puissance Y OKOGAWA WT3000 disposant de 4 voies flottantes (deux voies tension allant jusqu’à 1000V et deux voies courant de calibre 30Amax). Partant du même banc d’essai, nous effectuons une série de mesures des grandeurs électriques d’entrée et de sortie du convertisseur (Ve , Ie , Vs et Is ) pour différentes valeurs de courant de sortie (de 0 à 50A), dans l’optique de déterminer le rendement global de ce dernier. Les différents relevés sont réalisés pour un nombre variable de cellules de commutation active à charge fixe. Le rapport cyclique évolue en fonction du niveau de courant en sortie. Les résultats obtenus sont tracés sur la figure 4.26. Premièrement, quel que soit le nombre de phases actives, un faible rendement à très faible puissance de sortie est à souligner. Ceci est principalement dû aux pertes à vide du convertisseur et du coupleur, indépendantes de la puissance de sortie. Cette source de pertes a été -153- 4.3. RÉSULTATS EXPÉRIMENTAUX 100 99 p=6 98 Limite saturation pour p=2 97 p=3 p=2 96 Rendement [%] Rendement [%] p=5 95 94 93 92 91 On remarque bien sur ce graphe q rendement, de travailler à 2 phase de sortie. 90 89 Il manque, en revanche, la décrois phases actives (courbes en pointil fonctionnement à nombre de pha rendement global du convertisseu 88 87 Valeurs expérimentales 86 Extrapolations des valeurs expérimentales 85 0 20 40 60 80 100 Courant de de sortie sortie[A] Is [A] Courant Figure 4.26 – Mesure de rendement du convertisseur en fonction du nombre de cellules de commutation actives (Ve =400V, fdec =20kHz, AGh =1mm) mesurée à 40W. Les pertes par commutation à vide, les pertes fer dans le coupleur et les pertes joules HF dans le condensateur de sortie sont à l’origine de cette source de pertes, dépendante uniquement de la tension d’entrée. Deuxièmement, nous observons que les réseaux de courbes sont décalés en fonction du courant de sortie. A faible courant de sortie, par exemple 10A, nous obtenons un meilleur rendement lorsque seulement deux bras sont actifs. A Is =25A, nous obtenons un point d’intersection entre les courbes de rendement de 2 et 3 phases actives. A noter qu’à ce point de fonctionnement, nous sommes en limite de fonctionnement pour 2 phases actives. La valeur d’entrefer de 1 mm ne permet pas de maintenir le courant par phase nominal. Par conséquent, des effets de saturation apparaissaient à 25A lorsque seulement deux bras sont actifs, représentant à peine 20% du point de fonctionnement nominal par phase. Le dimensionnement de l’entrefer doit être ré-adapté à ce point de fonctionnement pour éviter la saturation. Un choix intéressant est donc d’effectuer le changement du nombre de phases actives à l’intersection des courbes de rendement des cellules de commutation, pour se situer au maximum du rendement. Cependant, sur cet essai, le croisement est difficile car le banc d’essai (alimentation d’entrée et charges) ne permet pas de délivrer la puissance de sortie nominale lorsque six cellules de commutation sont actives. Une méthode d’opposition 2x3 bras et 2x2 bras serait à prévoir dans le futur. Ainsi, nous traçons sur la figure 4.26 une extrapolation des valeurs expérimentales à partir de la fonction rationnelle sur le rendement (§1.2.4). Cette extrapolation est cependant à prendre avec prudence car, à entrefer donné (valeur d’entrefer déterminée pour maintenir un fonctionnement à p − k phases actives), le réseau de courbes ne peut pas toujours atteindre le courant nominal par phase. Il est donc nécessaire de connaître, toujours à entrefer donné, la valeur du courant par phase amenant à la saturation des noyaux -154- CHAPITRE 4. EXPÉRIMENTATION ET PROTOTYPES COUPLEURS ROBUSTES actifs (§3.9.3). La solution optimale en présence d’un coupleur monolithique serait d’effectuer le changement dynamique du nombre de phases à l’intersection des courbes de rendement ou a minima au passage du courant limite de saturation des noyaux actifs. 4.4 Conclusion du chapitre Ce dernier chapitre s’est attaché à explorer de manière expérimentale mais de manière encore partielle deux prototypes de coupleurs robustes au sein d’un convertisseur multicellulaire parallèle à 6 phases. Le premier correspond à un coupleur monolithique à échelle fermée avec des entrefers "larges". Ces zones d’air permettent de symétriser la structure et rendre robuste ce coupleur lors de régime déséquilibré. Le deuxième prototype concerne des transformateurs séparés utilisant une seule bobine par phase. Cette structure permet de confiner le flux de saturation dans les transformateurs reliés à la phase défectueuse. Cet aspect rend cette structure très intéressante en régime déséquilibré, et reste compétitive, d’un point de vue volume, à faible nombre de phases face à un coupleur monolithique. Nous avons ensuite présenté la démarche qui nous a permis de dimensionner ces coupleurs à partir de noyaux standards, et de déterminer le cahier des charges électriques adapté à ces prototypes. Une méthode de régulation des courants de phases, basée sur l’asservissement d’un mode commun et de plusieurs modes différentiels, a été détaillée. Elle est capable de s’adapter au changement dynamique du nombre de phases actives, par l’adaptation notamment des paramètres du correcteur du mode commun. Une instrumentation complète du coupleur, par l’intermédiaire notamment de capteur à effet Hall, nous a permis d’effectuer un diagnostic sur les champs magnétiques circulant dans le coupleur. Nous avons pu valider, à partir des données issues de ces capteurs, les différents modes magnétiques présents dans les noyaux actifs et passifs lors d’une déconnexion de phase, en présence d’entrefers "larges". Des essais, à vide dans un premier temps, ont été menés sur le coupleur monolithique. Nous avons pu mettre en évidence la faible variation de l’inductance magnétisante lors de la déconnexion de cellules de commutation. Ensuite, des essais en charge ont permis d’effectuer des déconnexions de phases de manière volontaire par arrêt de la commande et cela de façon dynamique. Les résultats obtenus montrent que l’insertion d’un entrefer "large" permet de maintenir le fonctionnement lors de l’arrêt d’un bras. Nous nous sommes appuyés sur les relevés des courants de phase et des champs magnétiques (DC+AC) pour valider les phénomènes magnétiques identifiés lors de la modélisation du coupleur dans le chapitre 3. Des mesures de rendement à nombre de phases réduit ont été également conduits. Nous avons pu apercevoir qu’il était intéressant en terme de rendement global de modifier le nombre de phases actives en fonction du taux de charge. -155- Conclusion Générale Depuis plusieurs années, deux axes importants des recherches dans le domaine de l’électronique de puissance menées au laboratoire Laplace portent sur l’intégration de puissance, et sur la sûreté de fonctionnement (topologies, composants passifs et circuits de contrôle). Les industriels de différents domaines d’activités sont demandeurs de convertisseurs caractérisés par une puissance volumique et massique de plus en plus élevée, un haut-rendement et une haute disponibilité de l’organe de conversion dans son ensemble. C’est pourquoi les concepteurs intègrent, et prennent en considération dès la phase de conception, l’ensemble de ces caractéristiques. De nouvelles architectures de conversion innovantes et performantes ont vu le jour depuis une quinzaine d’années. Elles consistent en l’association de plusieurs cellules de commutation associées en série et/ou en parallèle. Ces structures ont permis de franchir une étape importante pour des applications exigeantes demandant de fortes tensions (association série de cellules), ou de forts courants (associations parallèles) à fréquence de découpage apparente élevée. En plus basse tension et pour de forts courants, les structures multicellulaires parallèles à commandes entrelacées ont connu un effort de recherche important, motivé par les besoins croissants en intégration et en modularité. Certains de ces travaux ont montré un intérêt fort pour la réalisation d’un couplage magnétique des inductances de liaison afin de réduire les pertes, obtenir des filtres compacts, et par conséquent, améliorer le compromis entre densité de puissance traitée et rendement de conversion. En revanche, ces avantages sont contrebalancés par une forte sensibilité de ces composants magnétiques couplés vis-à-vis des régimes déséquilibrés, pouvant survenir lors d’un déséquilibre de courant différentiel, ou encore lors de l’arrêt sécurisé d’une cellule de commutation en situation de défaillance, ou de manière volontaire pour garantir un rendement du convertisseur élevé à faible puissance de sortie. La forte sensibilité intrinsèque des coupleurs magnétiques et l’absence de mode dégradé "naturel" ont constitué le point de départ de ces travaux de thèse, visant à étudier, analyser et concevoir des éléments de couplage robuste permettant ainsi de tirer profit de la redondance parallèle naturelle du convertisseur qui lui est associé. Dans ce sens, une méthode générale de pré-dimensionnement analytique des coupleurs magnétiques a été présentée dans le chapitre 2, laquelle peut très facilement être adaptée et appliquée à toutes variantes de coupleurs. Cette approche à la fois simple et directe est basée sur la méthode du produit des aires, généralement utilisée pour le dimensionnement des transformateurs. Pour cela, une décomposition des modes de fonctionnement en densité de flux DC et AC circulant dans les noyaux et culasses, a été proposée et détaillée, permettant de bien ana157 CONCLUSION GÉNÉRALE lyser le comportement du flux dans les différentes régions du circuit magnétique. Partant d’un cahier des charges "électrique" et d’un choix préalable de matériaux, cette approche a permis de formaliser le pré-dimensionnement de la géométrie complète du composant magnétique, par l’intermédiaire de facteurs de formes et tenant compte des limites d’utilisation des matériaux (saturation et effet de fréquence). Toutefois, il devient souvent difficile de concevoir un coupleur magnétique à partir des cotes géométriques issues d’un pré-dimensionnement théorique, ou d’une routine d’optimisation. Le faible choix de la forme des éléments standards disponibles dans le commerce, ne permet pas de garantir la géométrie finale désirée, ou alors en passant par plusieurs phases d’usinages, de collages et de polissages. Dans ce sens, en considérant maintenant une approche inverse, nous avons proposé une méthode de détermination du cahier des charges électrique, à partir d’une géométrie de coupleur imposée. En se basant notamment sur les relations du produit des aires, utilisées pour le prédimensionnement, une comparaison théorique sur la masse des différentes structures a été présentée pour un fonctionnement nominal. Nous avons pu souligner que la structure monolithique est la plus avantageuse en termes de masse, par rapport aux structures à selfs séparées et à transformateurs séparés. Néanmoins cette structure est peu modulaire et de fabrication plus complexe que ses concurrentes. Le principe du couplage est en lui-même fondamentalement un obstacle à la gestion d’un régime déséquilibré dans la mesure où s’ajoute au couplage électrique classique, par la charge ou le filtre, un couplage magnétique "fort" par des zones communes de circuit. Néanmoins, la structure présentée par ces coupleurs repose fondamentalement sur un ensemble de branches identiques ou d’éléments modulaires. L’idée étant de tirer parti de ces topologies magnétiques multiphasées pour faire apparaître des propriétés de redondance : c’est le cas du coupleur monolithique par la mise en parallèle de ses noyaux et c’est le cas de la mise en série-parallèle des transformateurs-coupleurs séparés. Selon cette vision, il devient intéressant à nos yeux d’adapter la démarche de modélisation analytique pour traiter des cas de régimes déséquilibrés ou d’arrêt de phases exploitant bien entendu les propriétés "structurelles" des différentes familles de coupleurs. Cette démarche a été menée principalement en parallèle sur deux structures de coupleurs, à savoir les structures monolithiques et celles composées de transformateurs séparés en configuration bi-bobine et mono-bobine. Nous avons ainsi pu faire émerger des propriétés simples mais intrinsèques à chaque structure de coupleurs lors d’un fonctionnement déséquilibré ou sur l’arrêt d’une ou plusieurs phases. Le coupleur monolithique est pénalisé par le report des flux de saturation, des phases déconnectées sur les phases actives. Sans entrefer dans les noyaux, ce report de contrainte se divise de manière non-homogène, entraînant la saturation plus rapide des noyaux adjacents. A l’inverse, les transformateurs séparés subissent quant à eux aucune contrainte sur la composante continue, puisque le flux de saturation est confiné dans les transformateurs connectés aux phases en défaut. Cette solution de couplage modulaire subit en revanche un doublement de la composante alternative du flux, lors de l’arrêt d’une cellule de commutation. De la même manière qu’au chapitre 2, une comparaison "théorique" de la masse sous forme d’abaques, correspondant à un ou plusieurs arrêts de cellules de commutation, a été ensuite établie. Plusieurs propriétés ont pu être tirées de cette comparaison massique des coupleurs. La première est qu’à faible nombre de phases, les structures à transformateurs séparés, notamment -158- CONCLUSION GÉNÉRALE la structure mono-bobine, devient plus intéressante que le coupleur monolithique, en raison de l’absence du report de contrainte en champ DC. A l’inverse, lorsqu’un fort nombre de phases est utilisé, l’augmentation relative du flux AC dans un coupleur monolithique, est inférieure à celle présentée par les coupleurs séparés. Cependant, quel que soit le nombre de phases, il en ressort que l’augmentation du volume et de la masse à prévoir pour tenir un fonctionnement déséquilibré, devient vite rédhibitoire, et donc contradictoire à l’objectif d’une forte intégration des composants passifs environnant le convertisseur. Pour pallier au surdimensionnement inévitable lors de fonctionnements dégradés, deux solutions ont été apportées. La première a concerné la mise en place d’un derating sur le courant de sortie. Cette solution, parfaitement valable et efficace, est difficilement utilisable dans les applications nécessitant le maintien de la puissance nominale, même lors d’un régime déséquilibré. La deuxième solution a consisté à insérer des entrefers dans les noyaux des coupleurs, offrant de nombreux avantages. Dans le cas d’un coupleur monolithique, ces zones entrefers permettent, entres autres, d’équi-répartir le report de contrainte des noyaux déconnectés vers les noyaux actifs permettant ainsi de tirer parti de cette effet de redondance recherchée. La deuxième partie du chapitre 3 détaille donc les différents modes de fonctionnement du coupleur d’un point de vue magnétique, en présence d’entrefers. Des simulations par éléments finis en 2D et 3D, et des simulations de circuits électriques équivalents ont permis de valider les propriétés avancées dans la modélisation analytique d’un coupleur à entrefers « larges ». Il ressort également de cette modélisation que l’insertion d’entrefers larges permet de garantir le maintien du fonctionnement nominal du convertisseur, lorsque le nombre de phases est réduit. Des expressions analytiques ont été établies, permettant de déterminer la valeur de l’entrefer à insérer pour maintenir le fonctionnement suite à l’arrêt de phases et/ou en présence de déséquilibre de courants différentiels. Ainsi, les structures monolithiques à entrefer "large" et les transformateurs séparés en configuration mono-bobine avec un entrefer "fin", permettant de contenir des déséquilibres de courant, sont donc de bons candidats pour remplir la fonction recherchée de coupleur magnétique robuste. Le chapitre 4 est dédié quant à lui, à l’expérimentation préliminaire et exploratoire de deux prototypes de coupleurs robustes sur un banc d’essai complet, comportant un convertisseur multicellulaire parallèle à 6 phases. Le premier prototype correspond à un coupleur monolithique dimensionné au point de fonctionnement nominal, conçus de manière à pouvoir recevoir des zones d’entrefers réglables pour tenir les fonctionnements déséquilibrés. Le deuxième correspond à des transformateurs séparés en configuration mono-bobine. Une instrumentation du coupleur monolithique a été mise en place, permettant de reconstruire le champ magnétique total (DC+AC), circulant dans l’ensemble des régions du circuit magnétique. Ces informations ont été utilisées pour analyser et diagnostiquer les différents phénomènes magnétiques statiques et dynamiques qui apparaissent, par exemple, lors de la déconnexion d’une cellule de commutation, et au moment de sa remise en conduction. Une stratégie d’asservissement du convertisseur parallèle a été proposée en s’appuyant sur une régulation d’un mode commun à paramètres adaptatifs en fonction du nombre de phases arrêtées, et de plusieurs modes différentiels. Cet asservissement prend en considération de -159- CONCLUSION GÉNÉRALE manière rapide, et sans perturbation sur le système, le changement dynamique du nombre de phases, en réorganisant les phases des porteuses actives. Des essais à vide et en charge ont ensuite été conduits sur le coupleur monolithique. Nous avons pu mettre en évidence et valider, certaines propriétés avancées dans le chapitre 3. Les essais en charge ont notamment permis d’effectuer des déconnexions de phases, de manière volontaire par l’arrêt de la commande, et cela de façon dynamique. Des mesures de rendement à nombre de phases réduit ont été également menées. Nous avons pu mettre en évidence qu’il était intéressant en terme de rendement global, de modifier le nombre de phases actives en fonction du taux de charge. Le banc de charge et l’alimentation continue, non adaptés à la puissance que le coupleur peut supporter, ne nous a malheureusement pas permis de visualiser de manière expérimentale les résultats attendus, à savoir le croisement des courbes de rendement, pour différents nombres de phases actives. Ce point pourra donc être une première étude pour la suite de ces travaux de recherche sous la forme d’une méthode d’opposition entre autres. Les perspectives principales envisagées à ce travail sont exposées ici en plusieurs parties : a) Tout d’abord sur le plan expérimental, le coupleur monolithique à entrefers doit pouvoir être caractérisé jusqu’à son point nominal, sur la base d’une méthode d’opposition, et plus précisément par la recherche du courant maximum admissible par phase active en fonction du nombre de phases arrêtées, à entrefer donné. Le coupleur à circuits séparés en configuration mono-bobine devra aussi être analysé lors d’essais en charge. Ces essais devront permettre de montrer la robustesse de cette structure, lors de l’arrêt d’une ou plusieurs cellules de commutation sans faire appel à l’insertion d’entrefers "larges". b) En terme de pilotage, l’instrumentation des coupleurs pour observer et reconstruire les densités de flux par l’intermédiaire de capteurs à effet Hall et de spires de mesure, ont montré des résultats précis, non bruité et conforme à la théorie. Il serait donc intéressant d’exploiter ces informations pour mettre en place une stratégie d’asservissement, non plus basée indirectement sur les courants de phases, mais basée directement sur une régulation des densités de flux circulant dans le coupleur. Moyennant une bande-passante (mode différentiel), une précision et une miniaturisation suffisantes sur les capteurs à effet Hall, cette technique permettrait, à très faible coût, d’équilibrer magnétiquement le coupleur dans tous les cas de fonctionnement en agissant directement sur les rapports cycliques différentiels des phases. Cette idée permettrait de n’utiliser qu’un seul capteur de courant (celui assurant la régulation rapide du mode commun) complété par des capteurs à effet Hall "amincis" insérés dans des zones d’entrefers résiduels (entrefers "fins" dans ce cas). c) Sur le principe, l’insertion d’entrefers "larges" pour les structures monolithiques est à l’origine d’un taux d’ondulation élevé sur le courant magnétisant des phases. Cette forte ondulation peut être mise à profit pour réduire les pertes par commutation sur certains types de semi-conducteurs de puissance comme cela a été montré en annexe B. Le passage en mode de commutation douce semble être une suite assez logique et intéressante à examiner et à formaliser dans les modèles de pré-dimensionnement, mixé éventuellement à une loi de derating sur les courants de phases si un fonctionnement à nombre très réduit de phases actives est néces-160- CONCLUSION GÉNÉRALE saire. d) D’une manière plus générale, pour des coupleurs à nombre de phases réduit ou intermédiaire, la robustesse se traduit par l’insertion d’entrefers de valeur pouvant être prohibitive et surtout par une baisse significative de la puissance admissible. Une voie alternative serait donc d’étudier la connexion d’une cellule de commutation « passive » en secours parallèle, permettant de suppléer une cellule défaillante et d’établir une gestion normal / secours rapide de cet ensemble minimisant les régimes transitoires mis en avant dans l’annexe C et profitant éventuellement des résultats sur la régulation magnétique envisagée au paragraphe précédent. -161- Annexe A Détermination des relations sur le volume des composants magnétiques A.1 Introduction Cette annexe a pour but de détailler les expressions analytiques du volume et de la masse des coupleurs magnétiques, en s’appuyant sur les relations du produit des aires. Sachant que ce produit est indirectement représentatif du volume qu’occupera la partie magnétique du coupleur, cette démarche de pré-dimensionnement nous permet donc de bénéficier d’une première géométrie des coupleurs magnétiques en s’appuyant sur des facteurs de formes préalablement choisis. Rappelons avant tout, sur la figure A.1, les différents facteurs de formes (b, c et d) qui nous permettront d’établir les relations sur le volume et la masse des coupleurs. Matériaux magnétiques Bobinages HN HN/2 LN LN LB1 LEIB LB LB LB2 (a) Vue 2D d’une fenêtre de bobinage d’un coupleur monolithique (b) Coupe d’une demi-fenêtre de bobinage Figure A.1 – Représentation des facteurs de formes géométriques. Ces facteurs de formes géométriques sont définis comme suit : b= LN HN /2 c= HN /2 LB 163 d= LN PN (A.1) A.2. COUPLEUR MONOLITHIQUE Culasses Ae 2 Noyaux HN Ae 2 Noyaux Bobinages LB Ae 2 Ae LB 2 Culasses (a) Vue de face d’un coupleur monolithique en configuration "taille basse" (b) Vue de haut d’un bobinage Figure A.2 – Représentation 1D de la partie magnétique d’un coupleur monolithique. Illustration des facteurs de formes. Avec HN étant la hauteur du noyau vertical, LN sa largeur, PN sa profondeur et LB la largeur de bobinage. Pour la suite des calculs de cette annexe, nous considérons une section carrée des noyaux (d=1). Nous rappelons que ces facteurs de formes géométriques nous permettent d’établir une première relation sur la section Ae(min) en relation avec le produit local des aires ((Ae .Sb )local ) : s b2 .c .(Ae .Sb )local (A.2) Ae(min) = 2.d A.2 Coupleur monolithique Commençons par déterminer le volume occupé par un coupleur monolithique (indice "mono") en échelle fermée en configuration "taille basse", i.e que la section des culasses est de valeur moitié par rapport aux noyaux verticaux. Cette hypothèse nécessite l’utilisation d’une alimentation optimale (permutée) des tensions des p cellules permettant de garantir une réduction de moitié du flux magnétique AC circulant dans la région des culasses. Partant des facteurs de formes et se référant sur la figure, le volume des p noyaux verticaux est exprimé tel que : 2 2.p b2 .c Vnoyau(mono) = (Ae .Sb )local b 2 (A.3) Les culasses en configuration "taille basse" sont quant à elles calculées de la manière suivante : 2 2 b .c 1 Vculasses(mono) = p. 1 + (Ae .Sb )local b.c 2 (A.4) Les bobinages sont considérés en angle droit. La courbure des spires n’est donc prise en -164- ANNEXE A. DÉTERMINATION VOLUME COUPLEURS considération. Nous introduisons tout de même un coefficient de foisonnement k f , correspondant à l’espace perdu lors de la réalisation des bobinages. 2 2 4.p b .c 1 Vbobines(mono) = × 1+ (Ae .Sb )local (A.5) k f .b2 .c 2.b.c 2 Le volume total correspond bien à la somme des p noyaux verticaux, des culasses et des p bobines : Vtotal(mono) = Vnoyau +Vculasses +Vbobines Vtotal(mono) = p × (A.6) 2 2 4 1 b .c 2 1 1+ + (Ae .Sb )local + 1+ × b bc k f .b2 .c 2bc 2 La relation A.6 est facilement transposable au calcul de la masse du circuit magnétique en tenant compte des différentes densités massiques des éléments mis en jeu (ex : ferrites, cuivres ou aluminium pour les bobinages). Il est nécessaire de prendre la valeur du produit des aires local (Ae .Sb )local issue de la méthode de pré-dimensionnement présentée dans le chapitre 2 pour le fonctionnement nominal et dans le chapitre 3 pour le fonctionnement déséquilibré. A.3 Transformateurs séparés La démarche de calcul est identique pour les transformateurs séparés. Elle s’appuie sur les facteurs de formes géométriques et sur le produit des aires obtenus lors du dimensionnement. Une illustration de la partie magnétique d’un transformateur élémentaire ( noyau U+I) est représentée sur la figure A.3. Nous faisons apparaitre les différentes cotes utilisées par la détermination du volume. Tout d’abord, nous pouvons dire que, du fait de son aspect modulaire, les transformateurs séparés mettent un volume plus important de noyaux magnétiques et de bobinages. En s’appuyant sur les facteurs de formes et sur la figure A.3, il vient la relation suivante sur le volume de la partie magnétique (noyau + culasses) de p transformateurs séparés : 2 2 1 b .c 1 (Ae .Sb )local (A.7) Vnoyau(3C) = 4.p. 1 + + b 2.b.c 2 Le volume occupé par les bobinages des p transformateurs séparés s’exprime par : 2 2 8.Q 1 b .c Vbobines(3C) = × 1+ (Ae .Sb )local k f .b2 .c 2.b.c 2 Q = 1 pour p = 2 et Q = p pour p > 2. La somme de la partie magnétique et des bobinages nous donne : 2 2 1 1 2.Q 1 b .c Vtotal(3C) = 4 × p. 1 + + + 1+ × (Ae .Sb )local b 2.b.c k f .b2 .c 2bc 2 -165- (A.8) A.4. COUPLEUR MONO-BOBINE LB + 2. Ae HN Ae LB Ae Figure A.3 – Représentation de la partie magnétique en 2D d’un transformateur séparé composé de noyaux en formes de U et I. LB /2 AGv LB /2 Noyau T(i,i+1) Noyau T(i+1,i) Ae 2 Ae Bobinage Phase i Figure A.4 – Vue en coupe d’un bobinage élémentaire dans un coupleur séparé mono-bobine. A.4 Coupleur mono-bobine Le coupleur appelé "mono-bobine", présenté dans le chapitre 3 (§3.4), consiste à rapprocher les p transformateurs séparés et à utiliser uniquement une seule bobine par phase. Les transformateurs restent tout de même magnétiquement séparés au moyen d’un entrefer vertical "large". Le volume magnétique du coupleur "mono-bobine" est identique à celui des transformateurs séparés. En revanche, celui occupé par les bobinages est différent. La figure A.4 représente une coupe d’un bobinage dans le cas d’un coupleur mono-bobine. Le volume des p bobines a pour relation : 2 2 6.p 1 b .c Vbobines(MB) = × 1+ (Ae .Sb )local k f .b2 .c 3.b.c 2 -166- (A.9) ANNEXE A. DÉTERMINATION VOLUME COUPLEURS Ainsi, le volume global d’un coupleur mono-bobine à p phases est : 2 2 1 1 3 1 b .c Vtotal(MB) = 2.p × 2. 1 + + (Ae .Sb )local + 1+ × b 2.b.c k f .b2 .c 3bc 2 A.5 Inductances séparées Concernant les inductances séparées, le démarche de calcul est proche de celle des transformateurs séparés. Nous obtenons une relation sur le volume global (bobinages + noyaux magnétiques) égal à : 2 2 b .c 1 4 1 1 + 1+ × (Ae .Sb )local Vtotal(Sel f s) = 2.p × 2. 1 + + b 2.b.c k f .b2 .c bc 2 -167- Annexe B Influence de l’insertion d’entrefers "larges" sur les pertes dans un convertisseur. B.1 Introduction Le chapitre 3 a permis de mettre en évidence que l’insertion d’entrefers "larges" permettait de maintenir le fonctionnement viable lors d’un déséquilibre de courant différentiel ou bien lors de l’arrêt d’une ou plusieurs cellules de commutation. Cependant, nous avons également souligné que la présence d’entrefers, parfois de forte épaisseur, diminuait considérablement l’inductance cyclique magnétisante, et par voie de conséquence entraînait un accroissement du taux d’ondulation du courant magnétisant. Cette augmentation de l’ondulation de courant magnétisant à la fréquence de découpage va directement avoir un effet sur les pertes du convertisseur. Essayons donc d’analyser dans cette annexe les conséquences de fortes ondulations de courant magnétisant sur les pertes dans les semi-conducteurs et les pertes joules HF dans les bobinages. B.2 Pertes dans les semi-conducteurs de puissance et dans les bobinages De manière à illustrer les effets de l’ondulation de courant sur les pertes, nous proposons de considérer le cas d’un convertisseur Buck en configuration monocellulaire comme il est illustré sur la figure B.1.(a). Nous représentons également sur la figure B.1.(b) le courant circulant dans l’inductance à plusieurs taux d’ondulation. Nous considérons que la cellule de commutation est composée d’un module IGBT intégrant une diode en parallèle. De manière générale, les pertes dans un composant IGBT sont de plusieurs natures : les pertes statiques (conduction), les pertes dynamiques (conmmutation) et les pertes associées à la commande du composant. Nous considérons cette dernière source de pertes comme négligeable devant les autres pertes (commutation et conduction). 169 B.2. PERTES DANS SEMI-CONDUCTEURS ET BOBINAGES I(A) ΔI1 K1 Ve V1 K2 ΔI2 D1 I1 L1 Is I3 I2 Vs Cs Rs D2 IDC ΔI3 t I1 (a) Schéma d’un Buck réversible. (b) Courant dans l’inductance pour différentes ondulations de courant. Figure B.1 – Schéma d’un convertisseur Buck monocellulaire et représentation de différents courants circulant dans l’inductance. Mise en évidence de fortes ondulations à fdec de courant. Les pertes par conduction dans un module IGBT+diode peuvent être écrites de la manière suivante : ki2 ki2 Pcond(IBGT +diode) = α.IDC . VCE0 + RCE .IDC .(1 + ) +(1−α).IDC . VD0 + RD .IDC .(1 + ) 12 12 (B.1) La relation B.1 est identique pour le fonctionnement à large ondulation (ZVS). Les paramètres VCE0 ,VD0 , RCE et RD sont directement déduits des courbes des datasheets du composant de puissance utilisé [D. Graovac, 2009]. Les pertes par commutation sont quant à elles déterminées en considérant les énergies de commutation à l’amorcage et au blocage du composant. Généralement, les datasheets des composants nous indiquent les énergies de commutation à un point de fonctionnement donné. Il est possible de décrire à partir des datasheets les énergies de commutation sous forme deux fonctions polynomiales du second ordre en fonction du courant commuté. En connaissant les coefficients des deux fonctions polynomiales, il est donc possible d’exprimer les pertes par commutation dans un IGBT et dans une diode. Nous distinguons deux cas différents en fonction de la valeur de km (taux d’ondulation du courant magnétisant à la fréquence de découpage). Rappelons que k est égal à ∆I/IDC . →Cas 1, km <2 : Psw(IBGT ) = fdec . Ve VCE(test) fdec . . [(AON + AOFF ) + (BON .IMIN + BOFF .IMAX )] + Ve VCE(test) Psw(diode)(CAS1) = fdec . 2 2 . CON .IMIN +COFF .IMAX Ve VD(test) 2 . Arec + Brec .IMIN +Crec .IMIN -170- (B.2) (B.3) ANNEXE B. INFLUENCE ENTREFERS "LARGES" SUR LES PERTES. Avec IMAX = IDC + ∆I/2 et IMIN = IDC − ∆I/2. →Cas 2, km >2 : Psw(IBGT )(CAS2) = fdec . fdec . Ve VCE(test) Ve VCE(test) . [2.AOFF + BOFF .IMAX + BOFF .(IMAX − 2.IDC )] + 2 . COFF .IMAX +COFF .(IMAX − 2.IDC )2 Psw(diode)(CAS2) = 0 (B.4) (B.5) A noter que ces relations font apparaître un facteur correctif entre la tension commutée et tension utilisée par le constructeur lors la détermination des énergies de commutation. Les pertes totales de la cellule de commutation correspondent donc à la somme des pertes par conduction (B.1) et des pertes par commutation ( B.2 et B.3), en considérant les 2 cas de valeur sur km . Directement liées à la variation du taux d’ondulation du courant magnétisant, les pertes joules HF dans une inductance sont exprimées par la relation (B.6). Nous nous appuyons sur la formule de Dowell pour calculer le ratio FR entre rAC /rDC à la fréquence de découpage et à p fois la fréquence de découpage, à taux d’ondulation du courant homopolaire ki constant. En théorie, il faudrait, à chaque harmonique de fréquence (k. fdec ), déterminer la valeur du ratio rAC(k) /rDC et également l’amplitude du courant (dépendant de α). Les pertes joules des bobinages peuvent donc être calculées à partir de la relation suivante : 2 ki2 km 2 (B.6) Pcuivre = RDC .IDC . 1 + FR( fdec ) . + +FR(p. fdec ) . 12 12 Sur cette base et en considérant les données constructeurs du module IGBT 600V/100A ( IXXN100N60B3H1 IXYS à 25◦ C) pour le calcul des pertes, nous traçons sur la figure B.2 l’évolution des pertes dans une cellule de commutation (conduction + commutation) et sur la figure B.3 les pertes joules dans un bobinage, en fonction du taux d’ondulation du courant circulant dans l’inductance. Nous remarquons que les pertes par commutation, prédominantes par rapport aux pertes par conduction, décroissent lorsque l’ondulation de courant augmente. Cette particularité vient de la différence des pentes sur les énergies de commutation à l’amorçage et au blocage. En effet, pour ce module de puissance IBGT, les variations d’énergies de commutation au blocage sont plus faibles qu’à l’amorçage. Il devient donc intéressant de commuter à l’état OFF un courant instantané plus élevé qu’à la mise en conduction [Cougo et al., 2014]. Le saut sur les pertes que l’on observe est dû au changement du modèle de pertes au passage en ZVS (effet lié en partie à la queue de courant au blocage). Ce changement est bien représenté dans ce cas malgré un courant commuté de faible valeur par rapport au courant nominal admissible par le module IGBT (23A comparé à 100A), car à faible courant, les paramètres issus de la datasheet sont à prendre avec précaution. -171- B.2. PERTES DANS SEMI-CONDUCTEURS ET BOBINAGES 500 140 Mesures [W][W] Pertes totales Pertes totales 120 Ptot(théorique) 400 Ptot(théorique) Psw(théorique) [W] totales [W] Pertestotales Pertes 100 80 I=100A 450 Ptot(expérimantal) Choix du modèle (AON,AOFF,AREC ) 60 ZVS 40 350 Choix du modèle (AON,AOFF,AREC ) 300 Pcond(théorique) 250 200 Psw(théorique) 150 100 Pcond(théorique) 20 ZVS 50 0 0 0 0,5 1 1,5 2 kKi m=ΔI/I DC = DI/Imoy 2,5 0 3 (a) IDC = 23A 0,5 1 1,5 km==ΔI/I Ki DI/Imoy DC 2 2,5 3 (b) IDC = 100A (courant nominal de l’IGBT) Figure B.2 – Pertes (commutation + conduction) dans une cellule de commutation (IGBT+diode) (Ve =400V, fdec =20kHz, α=0.5). 20 18 Pertes joules [W] Pertes totales [W] 16 14 12 10 8 6 ZVS 4 2 0 0 0,5 1 1,5 2 2,5 3 = DI/Imoy kmKi=ΔI/I DC Figure B.3 – Pertes joules dans l’inductance pour différentes ondulations de courant. Les pertes joules augmentent quant à elles de manière quadratique à l’ondulation de courant. Néanmoins, la pénalité sur l’augmentation des pertes cuivres est inférieure à la diminution des pertes par commutation de la cellule de commutation. Pour valider ces courbes, nous effectuons un essai expérimental sur une cellule de commutation composée des deux modules IGBT 600V/100A (IXXN100N60B3H1 IXYS), d’une inductance et de six condensateurs de 25µF en configuration parallèle, dont la valeur équivalente est de 150µF. Nous nous plaçons sur le même point de fonctionnement que sur la figure B.2 pour avoir une comparaison valable (Ve =400V, IDC=23A, fdec =20kHz, α=0.5). Les résultats des mesures des pertes des IGBT sont tracés sur la figure B.2.(a) en trait plein orange. Nous jouons sur l’entrefer et sur le nombre de spires pour faire croitre ou décroitre la valeur de l’inductance, et par conséquent l’ondulation de courant. Nous observons la même tendance que la courbe théorique (trait plein noir), à savoir une légère diminution des pertes lorsque l’on augmente le taux d’ondulation. L’écart entre le relevé théorique et expérimental peut venir de plusieurs raisons. -172- ANNEXE B. INFLUENCE ENTREFERS "LARGES" SUR LES PERTES. 1 blocage partiel + 1 amorcage partiel 2 1 amorcage 1 blocage 3 1 (a) 1200V SiC MOSFET CMF20120D (270V et 540V) à 25◦ C [Cougo et al., 2014] (b) GaN 100V EPC1001 et EPC2001 [Videau, 2014] Figure B.4 – Mesures expérimentales des énergies de commutation pour deux composants Grand-Gap (Sic et GaN). Les tracées théoriques sont réalisés à partir des données issues de la datasheet du composant. Ces paramètres sont fortement dépendants des conditions d’essais permettant de tracer les courbes des énergies de commutation (configuration du driver, valeur de résistance de grille). Elles sont peu précises lorsqu’on s’éloigne du courant nominal. Depuis plusieurs années, de nouveaux composants à large bande interdite ( Grand Gap), offrant de nouvelles perspectives et possédant un fort potentiel sont mis sur le marché. Nous pouvons citer par exemple les deux technologies déjà disponibles dans le commerce, à savoir les transistors à base de matériaux SiC (Carbure de Silicium) et GaN (Nitrure de Gallium). Néanmoins, les composants disponibles sont encore loin d’atteindre leurs limites théoriques. Ces composants grand-gap se caractérisent par des énergies de commutation très avantageuses en présence de fortes ondulations. En effet, leurs énergies de commutation au blocage sont bien plus faibles qu’à l’amorçage. Pour illustrer ces propos, nous illustrons les résultats expérimentaux des énergies de commutation (amorcage et blocage) pour un MOSFET à base de SiC (figure B.4.(a)) et un autre à base de GaN (figure B.4.(b)). Ces mesures ont été menées par J. Brandelero et B. Cougo [Brandelero et al., 2013] [Brandelero et al., 2014]. Ils se sont appuyés sur une méthode non intrusive de mesure de pertes, à savoir la méthode d’opposition [Forest et al., 2006]. Cette méthode est généralement utilisée pour tester les convertisseurs au point de fonctionnement nominal, car l’alimentation continue ne délivre que les pertes du convertisseur. Des travaux récents ont utilisé cette méthode pour mesurer, entres autres, les pertes de commutation (ON et OFF) sur une application ferroviaire forte puissance en présence de composant SiC [Fabre et al., 2014]. Typiquement, nous constatons sur la figure B.4.(a) que pour un courant de 8A sous 270V, l’énergie de commutation à l’amorçage est trois fois plus importante que l’énergie au blocage. Sous 540V, cet écart passe à 7,5. La principale différence est due aux pertes causées par la commutation des capacités parasites. Le réglage du driver associé au composant (résistance de -173- B.2. PERTES DANS SEMI-CONDUCTEURS ET BOBINAGES grille, temps morts,...) va impacter sur l’écart entre ces deux énergies de commutation. En conclusion, nous pouvons dire que l’utilisation de ces nouveaux composants va permettre de réduire les pertes, i.e augmenter le rendement en présence de fortes ondulations de courant. L’insertion d’entrefers, permettant de robustifier la structure d’un coupleur magnétique en régime déséquilibré, permettra donc l’amélioration du rendement du convertisseur. -174- Annexe C Analyse par simulation d’une déconnexion de phase sur un convertisseur parallèle 4 phases avec un coupleur monolithique isolement de la cellule - reconfiguration par cellule secours C.1 Introduction L’objectif de cette annexe et de simuler les régimes transitoires électriques et magnétiques entre un hacheur parallèle à 4 phases et un coupleur monolithique sans entrefer, en présence d’un défaut interne de commande sur le hacheur, suivi de l’isolement de la cellule de commutation et du démarrage d’un bras de secours selon la structure brevetée [Dou, 2011]. La finalité de cette étude est de voir si un coupleur standard dimensionné en nominal est capable de maintenir le régime nominal pour ce type de fonctionnement "secours", sans aucune déconnexion de phase de manière à maintenir 100% de la puissance de sortie. Il s’agit donc d’évaluer la dynamique des régimes transitoires et également l’impact d’un tel régime transitoire tant sur le coupleur que sur les semi-conducteurs. Cette étude, non exhaustive, permet d’imaginer des poursuites de recherche sur ces travaux de thèse. C.2 Présentation des simulations Nous effectuons donc des simulations sous PSIM d’un hacheur parallèle à 4 phases associé à un coupleur monolithique à échelle ouverte, dont le flux de fuite est concentré dans une colonne de retour de flux ( exemple montré sur la figure 1.11.(b)). Ce coupleur est dimensionné au point de fonctionnement nominal et n’intègre pas d’entrefer "large". Les réluctances de culasse ne sont pas modélisées mais cela n’a aucun impact dans cette étude car le coupleur ne sera pas utilisé avec un nombre réduit de phases. Les conditions électriques et magnétiques de la simulation sont : 175 C.3. COURT-CIRCUIT D’UN INTERRUPTEUR - DUAL-FUSE CROWBAR- SANS BRAS SECOURS → Tension d’entrée Ve , 100V, → Courant de sortie Is , 100A, → Fréquence de découpage fdec , 20kHz, → Champ de saturation BSAT , 0,4T, → Section des noyaux Ae , 2, 63.10−4 m2 , → Nombre de spires Nt , 10 Nous représentons sur la figure C.1 le schéma électrique complet de la simulation. Les semi-conducteurs (MOSFET dans notre cas) du bras défaillant sont modélisés par un modèle de circuit statique et dynamique linéaire incluant un calcul d’énergie dissipée, d’une surveillance de cette valeur permettant de forcer le modèle dans un état "défaillant" sous la forme d’un état ohmique de faible valeur (mode de défaillance de la puce). Fusible (Rfuse, i2Tp, Energie) Dispositif passif ou actif d’isolement (Fusible ou interrupteur) Diode T1 Coupleur monolithique échelle ouverte Is Ve Cs Rs Vs T2 MOS (sans diode de corps) è IXYS 600V/60A RG(ON/OFF)=5Ω Dispositif passif ou actif d’isolement (Fusible ou interrupteur) Mode de défaut RSC (3 Joules) Surveillance des commutation (Ts=5us) Cellule Secours Cellule Défaillante en CC Figure C.1 – Schéma d’un convertisseur parallèle en configuration "4+1" avec bras secours en parallèle. C.3 Court-circuit sur un interrupteur - Isolement par dualfuse en mode CROWBAR- sans bras secours Nous réalisons une simulation du convertisseur représenté sur la figure C.1 en considérant un court-circuit sur l’interupteur T 1 ( cellule 1). Un isolement par dual-fuse en mode CROWBAR est utilisé pour l’isolement de la cellule défaillante. Nous ne considérons pas dans cette simulation l’activation d’un bras secours. Les résultats de la simulation sont donnés sur la figure C.2. -176- ANNEXE C. SIMULATION RECONFIGURATION PAR CELLULE SECOURS Fonct. Normal / application défaut Passage en conduction discontinue (oscillant COSS /Lfuite ) du bras 1 VCellule1 2 Effet de la saturation T1 sur la dégradation de tension et de courant IL1 , IL2, IL3, IL4 [A] 3 4 Retour à l’équilibre pour les phases actives Passage en pleine onde et saturation de la colonne 1 B1 , B2, B3, B4 [T] 1 3 4 Surcharge magnétique sur la colonne 1 - Inversion du champ magnétique et sous charge pour les autres colonnes (a) Fonct. Normal / application défaut Courant T1 et T2 – Bras 1 3 4 Energies Saturation T1 / Régime ohmique T2 Destruction T1 et passage en Rcc è Saturation de T2 2 3 4 Destruction T2 et mise en CC de la maille – Isolement par le dual-fuse Détection sat. T1et Quasi-sat sur T2 I2T fusibles Risque de dissymétrie dans l’isolement en raison du fort courant magnétisant venant dissymétriser les contraintes I2T (b) Zoom au moment du défaut. Figure C.2 – Simulation 1 : Court-circuit sur un interrupteur - Isolement par dual-fuse en mode CROWBAR - sans bras secours. -177- C.4. COURT-CIRCUIT INTERRUPTEUR T1 - ISOLEMENT DUAL-FUSE THYRISTOR (CROWBAR EXTERNE)- AVEC BRAS SECOURS Le défaut est représenté par la conduction permanente du transistor T 1, le transistor T 2 est toujours piloté en MLI en boucle fermée (non détaillée dans cette annexe). Aucune protection n’est associée aux transistors, seuls les fusibles sont chargés d’isoler la cellule. Le bras secours n’est pas activé. Tant que les deux transistors sont fonctionnels, les résultats montrent une première séquence de dégradation de la tension de la phase en défaut qui amène une surcharge magnétique dans le noyau et une modification du point de fonctionnement magnétique pour les autres phases mais en sens inverse. La phase en défaut est en limite de saturation pour ce point de fonctionnement dont la valeur du courant est inférieure au courant nominal (étiquette 1). La destruction du transistor T 1 amène une tension en forme de palier pendant tout le temps où le transistor T 2 reste fonctionnel (étiquette 2). Cet état amène la saturation du noyau de la phase en défaut et l’apparition d’un très fort courant dans le composant T 2 détruit et l’alimentation du convertisseur (étiquette 3). La destruction du second transistor T 2 amène le court-circuit complet de la cellule et l’isolement par les deux fusibles (étiquette 4). En conclusion, le mode CROWBAR sans protection sur les transistors avec les seuls fusibles, engendre un régime transitoire de courant très élevé dans les composants du bras et l’alimentation, de par la saturation du noyau. La durée de ce régime est égale à la somme des durées de tenue au court-circuit de chaque puce. Elle dépend de l’énergie critique de chaque puce et du rapport cyclique allant de 2x10µs à plusieurs centaines de µs. Une protection par surveillance du VCESAT permettant de bloquer au premier défaut est donc indispensable si le coupleur ne possède pas d’entrefer large. C.4 Court-circuit de l’interrupteur T1 - Isolement par dualfuse en mode THYRISTOR (CROWBAR externe)- avec bras secours Une deuxième simulation présente un défaut de court-circuit sur le transistor T 1 de la cellule 1 (défaut phase 1), et isolement de ce dernier par dual-fuse en mode THYRISTOR (CROWBAR externe) et enclenchement d’une cellule de commutation secours. Les résultats de cette simulation sont illustrés sur la figure C.3 . Toutes les phases seront actives en régime établi avant et après le défaut du convertisseur pour maintenir 100% de la puissance. Les transistors sont maintenant associés à des protections actives par surveillance VCESAT . En moins d’une période de découpage, le défaut est détecté et un thyristor externe permet l’isolement par les deux fusibles en moins de deux périodes de découpage. Le bras secours peut ainsi démarrer après quelques périodes de découpage (temps mort entre l’isolement des fusibles et le démarrage permettant de laisser le temps aux fusibles de recouvrir une haute résistance) . Dans cette simulation, ce temps mort est nul donnant le meilleur cas. Néanmoins, cette protection très rapide ne permet pas d’éviter la saturation du noyau associé à la phase défectueuse. Le démarrage du bras secours s’effectue avec un noyau saturé et une forte surcharge pouvant amener la disjonction du bras secours. -178- ANNEXE C. SIMULATION RECONFIGURATION PAR CELLULE SECOURS Fonct. Normal / application défaut IL1 , IL2, IL3, IL4 [A] Démarrage du bras secours sur une colonne quasi-saturée B1 , B2, B3, B4 [T] Courant T1-T2 / bras 1 VCellule1 Détection et mémorisation du défaut Allumage du thyristor I2T fusibles Isolement du dual-fuse et démarrage du bras secours Figure C.3 – Simulation 2 : Court-circuit sur un interrupteur - Isolement par dual-fuse en mode THYRISTOR (CROWBAR externe) - avec bras secour. Face à ce constat, les solutions potentiellement envisageables seraient : → de rendre le coupleur moins sensible aux perturbations de tension et éviter une saturation trop rapide et trop nette par notamment, l’insertion d’un entrefer résiduel ou "fin". → le démarrage du bras secours en "mode courant" à rapport cyclique limité de manière à désaturer rapidement le noyau. Les solutions ultimes consisteraient en : → bloquer l’ensemble des phases et attendre l’annulation des régimes transitoires à la détection du défaut. Ensuite, le redémarrage de l’ensemble des bras est mis en place en incluant le bras secours. Cette solution correspondrait à une reconfiguration de type "OFF-LINE". → dimensionner d’un coupleur avec entrefer "large" pour bénéficier d’un maximum de robustesse. Dans ce cas, le bras secours permet d’atteindre 100% de la puissance, justifiable pour un coupleur à faible nombre de phases. -179- Bibliographie [Balakrishnan et al., 1997] BALAKRISHNAN, A., J OINES, W. et W ILSON, T. (1997). Airgap reluctance and inductance calculations for magnetic circuits using a schwarz-christoffel transformation. Power Electronics, IEEE Transactions on, 12(4):654–663. [Baudesson, 2000] BAUDESSON, P. (2000). Sûreté de fonctionnement, reconfiguration et marches dégradées des onduleurs multiniveaux à IGBT. Thèse de doctorat, Institut National Polytechnique de Toulouse. [Ben Abdelghani et al., 2014] B EN A BDELGHANI, H., B ENNANI B EN A BDELGHANI, A., R ICHARDEAU, F., B LAQUIERE, J.-M. et M OSSER, F. (2014). Post-fault reconfiguration for a versatile and hybrid 4 leg npc-flying capacitor topology. In Industrial Electronics (ISIE), 2014 IEEE 23rd International Symposium on, pages 1502–1507. [Bernstein et al., 2006] B ERNSTEIN, J. B., G URFINKEL, M., L I, X., WALTERS, J., S HAPIRA, Y. et TALMOR, M. (2006). Electronic circuit reliability modeling. Microelectronics Reliability, 46(12):1957 – 1979. [Bolloch, 2010] B OLLOCH, M. L. (2010). Commandes adaptées pour les convertisseurs statiques multiphases à inductances couplées. Thèse de doctorat, Institut National Polytechnique de Toulouse. [Bouhalli, 2009] B OUHALLI, N. (2009). Etude et integration de convertisseurs multicellulaires paralleles entrelaces et magnetiquement couples. Thèse de doctorat, Institut National Polytechnique de Toulouse. [Brandelero et al., 2013] B RANDELERO, J., C OUGO, B., M EYNARD, T. et V IDEAU, N. (2013). A non-intrusive method for measuring switching losses of gan power transistors. In Industrial Electronics Society, IECON 2013 - 39th Annual Conference of the IEEE, pages 246–251. [Brandelero et al., 2014] B RANDELERO, J., C OUGO, B., V IDEAU, N., B ONNIN, X., M EYNARD , T. et G OUALARD , O. (2014). Evaluation des pertes par commutation pour la conception des convertisseurs et applications des composants grand gap evaluation des pertes par commutation pour la conception des convertisseurs et applications des composants grand gap evalutation des pertes par commutation pour la conception des convertisseurs et applications des composants grand gap. In Symposium de Génie Electrique-Electronique de Puissance du Futur (SGE). [Ceballos et al., 2006] C EBALLOS, S., P OU, J., G ABIOLA, I., V ILLATE, J., Z ARAGOZA, J. et B OROYEVICH, D. (2006). Fault-tolerant multilevel converter topology. In Industrial Electronics, 2006 IEEE International Symposium on, volume 2, pages 1577–1582. 181 BIBLIOGRAPHIE [Chen et al., 2004] C HEN, G., B URGOS, R., L IANG, Z., L ACAUX, F., WANG, F., van W YK, J., O DENDAAL, W. et B OROYEVICH, D. (2004). Reliability-oriented design considerations for high-power converter modules. In Power Electronics Specialists Conference, 2004. PESC 04. 2004 IEEE 35th Annual, volume 1, pages 419–425 Vol.1. [Choi et al., 1991] C HOI, N., C HO, J. et C HO, G. H. (1991). A general circuit topology of multilevel inverter. In Power Electronics Specialists Conference, 1991. PESC ’91 Record., 22nd Annual IEEE, pages 96–103. [Ciappa, 2002] C IAPPA, M. (2002). Selected failure mechanisms of modern power modules. Microelectronics Reliability, 42(4–5):653 – 667. [Costan, 2007] C OSTAN, V. (2007). Convertisseurs Paralleles Entrelaces : Etude des Pertes Fer dans les Transformateurs Inter-cellules. Thèse de doctorat, Institut National Polytechnique de Toulouse. [Costan et Meynard, 2007] C OSTAN, V. et M EYNARD, T. (2007). Topologies circulaires de transformateurs inter-cellules pour des convertisseurs paralleles entrelaces. In Electronique du futur. [Cougo, 2007] C OUGO, B. (2007). Design and optimization of Inter Cell Transformers for paralllel multicell converters. Thèse de doctorat, Institut National Polytechnique de Toulouse. [Cougo et al., 2009] C OUGO, B., M EYNARD, T., F OREST, F. et L ABOURE, E. (2009). Calculation of inductances in intercell transformers by 2d fem simulation. In IEEE Conference COMPUMAG. [Cougo et al., 2014] C OUGO, B., S CHNEIDER, H. et M EYNARD, T. (2014). High current ripple for power density and efficiency improvement in wide bandgap transistor-based buck converters. Power Electronics, IEEE Transactions on, PP(99):1–1. [D. Graovac, 2009] D. G RAOVAC, M. P. (2009). IGBT Pwer losses Calculation Using the Data-Sheet Paramters. Infineon - Application Note. [Davancens, 1997] DAVANCENS, P. (1997). Etude de l’equilibrage naturel des courants dans les convertisseurs multicellulaire parallele. Validation experimentale sur une structure a MCT. Thèse de doctorat, Institut National Polytechnique de Toulouse. [Dou, 2011] D OU, Z. (2011). Surete de fonctionnent des convertisseurs : Nouvelles structures de redondances pour onduleurs securises a tolerance de pannes. Thèse de doctorat, Institut National Polytechnique de Toulouse. [Fabre et al., 2014] FABRE, J., L ADOUX, P. et P ITON, M. (2014). Characterization and implementation of dual-sic mosfet modules for future use in traction converters. Power Electronics, IEEE Transactions on, PP(99):1–1. [Flury et al., 2009] F LURY, G., G OLLENTZ, B. et C ONILH, C. (2009). Fault-tolerant inverter for subsea applications. In Power Electronics and Applications, 2009. EPE ’09. 13th European Conference on, pages 1–10. [Forest et al., 2006] F OREST, F., H USELSTEIN, J.-J., FAUCHER, S., E LGHAZOUANI, M., L A DOUX , P., M EYNARD , T., R ICHARDEAU , F. et T URPIN , C. (2006). Use of opposition method in the test of high-power electronic converters. Industrial Electronics, IEEE Transactions on, 53(2):530–541. -182- BIBLIOGRAPHIE [Forest et al., 2007a] F OREST, F., M EYNARD, T., L ABOURÉ, E., C OSTAN, V., S ARRAUTE, E., C UNIERE, A. et M ARTIRE, T. (2007a). Optimization of the supply voltage system in interleaved converters using intercell transformers. Power Electronics, IEEE Transactions on, 22(3):934–942. [Forest et al., 2007b] F OREST, F., M EYNARD, T. A., L ABOURE, E., C OSTAN, V., S ARRAUTE, E., C UNIERE, A. et M ARTIRE, T. (2007b). Optimization of the supply voltage system in interleaved converters using intercell transformers. IEEE Transactions on Power Electronics on Power Electronics, 22(3):934–942. [Ghoshal et John, 2010] G HOSHAL, A. et J OHN, V. (2010). Anti-windup schemes for proportional integral and proportional resonant controller. In National Power Electronics Conference. [Grinberg et al., 2013] G RINBERG, R., R IEDEL, G., KORN, A., S TEIMER, P. et B JORNSTAD, E. (2013). On reliability of medium voltage multilevel converters. In Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE), 2013 IEEE, pages 4047–4052. [Gu et Liu, 1993] G U, W.-J. et L IU, R. (1993). A study of volume and weight vs. frequency for high-frequency transformers. In Power Electronics Specialists Conference, 1993. PESC ’93 Record., 24th Annual IEEE, pages 1123–1129. [Guepratte et al., 2010] G UEPRATTE, K., F REY, D., J EANNIN, P.-O., S TEPHAN, H. et F ER RIEUX , J.-P. (2010). Fault tolerance on interleaved inverter with magnetic couplers. In Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC), 2010 Twenty-Fifth Annual IEEE, pages 1817–1824. [Gunturi et Schneider, 2006] G UNTURI, S. et S CHNEIDER, D. (2006). On the operation of a press pack igbt module under short circuit conditions. Advanced Packaging, IEEE Transactions on, 29(3):433–440. [Hanna et Prabhu, 1997a] H ANNA, R. et P RABHU, S. (1997a). Medium-voltage adjustablespeed drives-users’ and manufacturers’ experiences. Industry Applications, IEEE Transactions on, 33(6):1407–1415. [Hanna et Prabhu, 1997b] H ANNA, R. et P RABHU, S. (1997b). Medium-voltage adjustablespeed drives-users’ and manufacturers’ experiences. Industry Applications, IEEE Transactions on, 33(6):1407–1415. [Hartnett et al., 2013] H ARTNETT, K., H AYES, J., E GAN, M. et RYLKO, M. (2013). Ccttcore split-winding integrated magnetic for high-power dc-dc converters. Power Electronics, IEEE Transactions on, 28(11):4970–4984. [Kolar et al., 2012] KOLAR, J., K RISMER, F., L OBSIGER, Y., M UHLETHALER, J., N USSBAU MER , T. et M INIBOCK , J. (2012). Extreme efficiency power electronics. In Integrated Power Electronics Systems (CIPS), 2012 7th International Conference on, pages 1–22. [Kou et al., 2004] KOU, X., C ORZINE, K. et FAMILIANT, Y. (2004). A unique fault-tolerant design for flying capacitor multilevel inverter. Power Electronics, IEEE Transactions on, 19(4):979–987. [Lezana et al., 2010] L EZANA, P., P OU, J., M EYNARD, T., RODRIGUEZ, J., C EBALLOS, S. et R ICHARDEAU, F. (2010). Survey on fault operation on multilevel inverters. Industrial Electronics, IEEE Transactions on, 57(7):2207–2218. -183- BIBLIOGRAPHIE [McLyman, 1988] M C LYMAN, W. T. (1988). Transformer and inductor design handbook Second Edition. Marcel Dekker Inc. [McLyman, 2004] M C LYMAN, W. T. (2004). Transformer and inductor design handbook Third Edition. Marcel Dekker Inc., third edition édition. [Meynard et Foch, 1992] M EYNARD, T. et F OCH, H. (1992). Multi-level conversion : high voltage choppers and voltage-source inverters. In Power Electronics Specialists Conference, 1992. PESC ’92 Record., 23rd Annual IEEE, pages 397–403 vol.1. [Meynard et al., 2002] M EYNARD, T., F OCH, H., T HOMAS, P., C OURAULT, J., JAKOB, R. et NAHRSTAEDT, M. (2002). Multicell converters : basic concepts and industry applications. Industrial Electronics, IEEE Transactions on, 49(5):955–964. [Mirafzal, 2014] M IRAFZAL, B. (2014). Survey of fault-tolerance techniques for three-phase voltage source inverters. Industrial Electronics, IEEE Transactions on, 61(10):5192–5202. [Muhlethaler et al., 2011] M UHLETHALER, J., KOLAR, J. et E CKLEBE, A. (2011). A novel approach for 3d air gap reluctance calculations. In Power Electronics and ECCE Asia (ICPE ECCE), 2011 IEEE 8th International Conference on, pages 446–452. [N. Mohan et Robbins, 2002] N. M OHAN, T. M. U. et ROBBINS, W. P. (2002). Power Electronics : Converter, Applications and Design - Third Edition. John Wiley and Sons. [Nabae et al., 1981] NABAE, A., TAKAHASHI, I. et A KAGI, H. (1981). A new neutral-pointclamped pwm inverter. Industry Applications, IEEE Transactions on, IA-17(5):518–523. [Park et Kim, 1997a] PARK, I. G. et K IM, S. I. (1997a). Modeling and analysis of multiinterphase transformers for connecting power converters in parallel. In Power Electronics Specialists Conference, 1997. PESC ’97 Record., 28th Annual IEEE, volume 2, pages 1164– 1170. [Park et Kim, 1997b] PARK, I. G. et K IM, S. I. (1997b). Modeling and analysis of multiinterphase transformers for connecting power converters in parallel. In Power Electronics Specialists Conference, 1997. PESC ’97 Record., 28th Annual IEEE, volume 2, pages 1164– 1170 vol.2. [Pham, 2011] P HAM, T. L. (2011). Contribution à l’étude de nouveaux convertisseurs sécurisés à tolérance de panne pour systèmes critiques à haute performance. Application à un PFC Double- Boost 5 Niveaux. Thèse de doctorat, Institut National Polytechnique de Toulouse. [Richardeau et al., 2002] R ICHARDEAU, F., BAUDESSON, P. et M EYNARD, T. (2002). Failures-tolerance and remedial strategies of a pwm multicell inverter. Power Electronics, IEEE Transactions on, 17(6):905–912. [Richardeau et al., 2011] R ICHARDEAU, F., D OU, Z., B LAQUIERE, J.-M., S ARRAUTE, E., F LUMIAN, D. et M OSSER, F. (2011). Complete short-circuit failure mode properties and comparison based on igbt standard packaging. application to new fault-tolerant inverter and interleaved chopper with reduced parts count. In Power Electronics and Applications (EPE 2011), Proceedings of the 2011-14th European Conference on, pages 1–9. [Saenz, 2014] S AENZ, E. S. (2014). Etude des convertisseurs multicellulaires série-parallèle et de leurs stratégies de commande, approches linéaire et prédictive. Thèse de doctorat, Institut National Polytechnique de Toulouse. -184- BIBLIOGRAPHIE [Shakweh et Lewis, 1999] S HAKWEH, Y. et L EWIS, E. (1999). Assessment of medium voltage pwm vsi topologies for multi-megawatt variable speed drive applications. In Power Electronics Specialists Conference, 1999. PESC 99. 30th Annual IEEE, volume 2, pages 965–971 vol.2. [Smet et al., 2013] S MET, V., F OREST, F., H USELSTEIN, J., R ASHED, A. et R ICHARDEAU, F. (2013). Evaluation of vce monitoring as a real-time method to estimate aging of bond wire-igbt modules stressed by power cycling. Industrial Electronics, IEEE Transactions on, 60(7):2760–2770. [Valon, 2003] VALON, J. (2003). Introduction à l etude de la fiabilite des cellules de commutation a IGBT sous fortes contraintes. Thèse de doctorat, Institut National Polytechnique de Toulouse. [Videau, 2014] V IDEAU, N. (2014). Convertisseurs continu-continu non isolés à haut rapport de conversion pour Piles á Combustible et Electrolyseurs - Apport des composants GaN. Thèse de doctorat, Institut National Polytechnique de Toulouse. [Welchko et al., 2003] W ELCHKO, B., L IPO, T., JAHNS, T. et S CHULZ, S. (2003). Fault tolerant three-phase ac motor drive topologies ; a comparison of features, cost, and limitations. In Electric Machines and Drives Conference, 2003. IEMDC’03. IEEE International, volume 1, pages 539–546 vol.1. [Wong et al., 2001] W ONG, P.-L., X U, P., YANG, B. et L EE, F. (2001). Performance improvements of interleaving vrms with coupling inductors. Power Electronics, IEEE Transactions on, 16(4):499–507. [Yang et al., 2009] YANG, S., B RYANT, A., M AWBY, P., X IANG, D., R AN, L. et TAVNER, P. (2009). An industry-based survey of reliability in power electronic converters. In Energy Conversion Congress and Exposition, 2009. ECCE 2009. IEEE, pages 3151–3157. [Zumel et al., 2006] Z UMEL, P., F ERNNNDEZ, C., de C ASTRO, A. et G ARCIA, O. (2006). Efficiency improvement in multiphase converter by changing dynamically the number of phases. In Power Electronics Specialists Conference, 2006. PESC ’06. 37th IEEE, pages 1–6. [Zumel et al., 2003] Z UMEL, P., G ARCIA, O., C OBOS, J. et U CEDA, J. (2003). Magnetic integration for interleaved converters. In Applied Power Electronics Conference and Exposition, 2003. APEC ’03. Eighteenth Annual IEEE, volume 2, pages 1143–1149 vol.2. -185- BIBLIOGRAPHIE -187-