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Résumé
Le transistor IGBT, associant les avantages en conduction du transis-
tor bipolaire et les avantages en commutation du transistor MOSFET, est
largement utilisé pour les applications de moyenne et forte puissance avec
des tensions d’alimentation comprises entre 600V et 4.5kV. De nouvelles
topologies, permettant une diminution des pertes dans les éléments se-
miconducteurs, sont régulièrement proposées et doivent être validées par
simulation. Les simulateurs par éléments finis (FEM) permettent une ana-
lyse précise et fiable des pertes dans un composant, mais nécessitent un
temps de calcul trop important pour pouvoir être utilisés par les électro-
niciens de puissance lors de la validation de circuits complexes.
Un macromodèle équivalent du transistor prédisant de manière correcte
les courants et tensions à ses bornes pour un temps de calcul réduit est
alors nécessaire. On propose dans ce travail de thèse un modèle complet
d’IGBT, entièrement basé sur une analyse de physique des semiconduc-
teurs et validé par une comparaison avec des résultats de simulation par
éléments finis. Ce modèle donne de très bons résultats quel que soit le
type de sollicitation imposée au transistor et le point de fonctionnement
étudié.
La conduction de la base est modélisée par une approche de charge équi-
valente novatrice, permettant une représentation précise des phénomènes
statiques et dynamiques avec un macromodèle équivalent relativement
simple. La méthode de résolution des équations de Poisson a été revue
pour mieux correspondre aux évolutions récentes de la structure interne
des IGBTs. Toutes les approximations et hypothèses ont été validées par
une série appropriée de simulation par éléments finis.