Système de mesure de la puissance optique X-Cite

Conçu pour la microscopie par fluorescence
Compatible avec les lampes à arc, les lasers et les DEL
Intègre une large plage dynamique dans un seul détecteur
Capture facile de paramètres et de données via l’interface PC
Maximisez la répétabilité pour l’intégrité
des données : mesurez la puissance là
où c’est le plus important !
Système de mesure de la
puissance optique X-Cite®

La capacité de mesure de la puissance optique est la première étape du maintien
de la cohérence de données. L’appareil de mesure de puissance X-Cite® XR2100 et le
capteur de puissance plan pour objectif X-Cite® XP750 sont spéciquement conçus
pour mesurer la puissance au niveau du spécimen dans des applications de microscopie
par uorescence. En intégrant des fonctions essentielles à cette application, nous avons
rendu l’obtention de ces informations critiques plus facile que jamais.
CONÇU POUR LA MICROSCOPIE
Construit pour tenir dans des pinces de microscope standards,
le profil mince du capteur de puissance plan pour objectif X-Cite®
XP750 est idéal pour une utilisation dans l’espace limité entre les
objectifs et les plateaux sur les microscopes droits. Sur les
microscopes droits, centrez simplement la lumière de transmission
d’en haut sur la cible imprimée pour centrer la zone de détection
sur la lentille de l’objectif. Vous travaillez avec un éclairage diffus ?
L’affichage rétroéclairé de l’appareil de mesure de puissance X-Cite®
XR2100 assure que la lisibilité des lectures est toujours possible.
LARGE PLAGE DYNAMIQUE
Calibré pour une utilisation à n’importe quelle longueur d’onde
entre 320 nm et 750 nm, le X-Cite® XP750 est compatible avec une
large gamme de filtres. Avec une sensibilité à des niveaux de
puissance de 5 µW à 500 mW, il est approprié dans des applications
avec des éclairages de faible et forte intensité. Il est adapté pour
une utilisation avec des dispositifs de transmission numériques et
autres configurations de microscope standards et confocaux.
POLYVALENT ET PRATIQUE
Du fait que le X-Cite® XP750 mesure directement la lumière sur le
plateau, il peut être utilisé avec n’importe quelle source de lumière
épifluorescente comme : des lampes à oxygène hyperbare / au
mercure, aux halogénures métalliques ou au xénon, des lasers et
des DEL. Avec des centaines de choix de longueurs d’ondes, le
X-Cite® XR2100 vous permet de définir des « longueurs d’ondes
favorites » pour correspondre à vos sources et vos filtres les plus
fréquemment utilisés.
CERTIFIÉ ET TRAÇABLE
Les X-Cite® XR2100 et X-Cite® XP750 sont calibrés selon un
protocole strict en utilisant les normes de transfert NIST* et NRC**.
Pour vos enregistrements, des certificats de calibration
accompagnent chaque unité.
RÉPÉTABLE : SOYEZ EN CONTRÔLE !
La cohérence est essentielle pour l’intégrité des données. En
mesurant et en enregistrant la puissance de sortie en unités
absolues (watts) grâce au X-Cite®, vous vous assurez que les niveaux
d’éclairage utilisés dans une expérience puissent toujours être
répétés, quels que soient les changements qui se produisent au fil
du temps par rapport aux sources de lumière, aux guides de
lumière, aux filtres et aux autres éléments optiques. Cette
fonctionnalité unique est critique pour réduire le temps de
traitement d’image post-expérience ; assurer la précision de
comparaison d’imagerie quantitative ; et rassembler des
documentations complètes d’expériences.
X-Cite® XP750 en utilisation avec des microscopes droits et inversés
La majorité de notre recherche dépend de l’analyse microscopique de fluorescence quantitative sur de longues périodes de temps.®
La conception du X-Cite XP750 simplifie les mesures routinières de la quantité exacte de lumière d’excitation délivrée au spécimen
à n’importe quel moment.
Damir Sudar, Lawrence Berkeley National Laboratory
La cohérence d’éclairage est-elle importante pour vos données d’images ?
Mesurez votre puissance.

*NIST – National Institute of Standards and Technology **NRC – National Research Council
La majorité de notre recherche dépend de l’analyse microscopique de fluorescence quantitative sur de longues périodes de temps.®
La conception du X-Cite XP750 simplifie les mesures routinières de la quantité exacte de lumière d’excitation délivrée au spécimen
à n’importe quel moment.
Damir Sudar, Lawrence Berkeley National Laboratory
X-CITE® : UNE FAMILLE DE PRODUITS FIABLE
X-Cite® est une famille de produits d’éclairage et de
mesure conçus spécialement pour la microscopie par
fluorescence. Que vous observiez des cellules fixes ou
vivantes, X-Cite® propose une gamme complète de
lampes et de produits LED qui optimisent l’imagerie
et assurent une plus grande fiabilité des données.
De notre modèle standard X-Cite® 120Q, utilisé pour
les essais de routine, à notre système le plus avancé
X-Cite® XLED1, équipé d’options d’automatisation et
de commande sophistiquées pour l’imagerie
automatisée à grande vitesse de cellules vivantes,
X-Cite® a la solution d’éclairage par fluorescence
adaptée à votre application.
Pour plus d’informations sur la gamme complète des
produits X-Cite®, consultez notre site Web à l’adresse :
www.LDGI-XCite.com.
COMMUNICATION PC
Profitez de l’option d’archivage
d’enregistrements sans support papier.
Avec le X-Cite® XR2100, vous pouvez
stocker des mesures de puissance pour les
télécharger ou les consigner directement
dans l’interface PC X-Cite®. Spécialement
conçu pour le X-Cite® XP750, l’outil « power
snapshot » vous permet de collecter et
d’enregistrer les données par longueur
d’onde, objectif et intensité. Cela permet
un enregistrement complet de la puissance d’éclairage pour n’importe
quelle combinaison de paramètres utilisés lors de l’optimisation et de
l’acquisition d’images.
OUTIL DE DIAGNOSTIC ESSENTIEL POUR LES
INSTALLATIONS D’IMAGERIE
Le système de mesure de puissance optique X-Cite® peut être utilisé pour
plusieurs microscopes et leurs sources de lumière. En sus de la
standardisation des niveaux d’éclairage pour les expériences, le X-Cite®
XR2100 est un outil de diagnostic vital pour les installations d’imagerie, les
technico-commerciaux et les centres de service, fournissant des données de
sortie optiques pour :
• paramétrer les systèmes d’imagerie, déterminer les performances de
référence
• dépanner des systèmes d’imagerie en quantifiant les effets d’ajustement
des paramètres et de réparation d’éléments individuels
• maintenance préventive : contrôler la sortie optique au fil du temps afin
de déterminer quand les éléments, comme les lampes et les guides de
lumière, doivent être remplacés
COMPATIBILITÉ AVEC D’AUTRES SYSTÈMES X-CITE®
Vous avez un illuminateur X-Cite ? Mesurez la
puissance de sortie sur le plateau avec le X-Cite®
XP750, ou via le port de guide de lumière sur le X-Cite®
XR2100, compatible avec tous les guides de lumière
X-Cite®. Calibrez le X-Cite® exacte en utilisant les
données de puissance mesurées soit au niveau du
guide de lumière soit au plan de l’objectif. Associer
le X-Cite XP750 à la fonctionnalité de calibrage du
X-Cite® exacte vous offre en plus les avantages de
pouvoir ajuster le niveau d’intensité lors de l’imagerie
et d’obtenir la puissance en watts sans avoir à vous
arrêter pour prendre une nouvelle mesure.
Le X-Cite XP750® va devenir un élément
important de la boîte à outils de tout
enquêteur effectuant un travail quantitatif
exigeant une répétabilité absolue en
termes d’excitation de sortie.
Michael W. Davidson, The Florida State University
Mesurez votre puissance.

Lumen Dynamics Group Inc. est certifiée dans le cadre du système
de gestion de la qualité ISO 9000. Nos clients internationaux
peuvent compter sur Lumen Dynamics comme étant le fournisseur
le plus fiable possible dans tous les aspects de nos activités.
X-Cite® et Intelli-Lamp® sont des marques déposées de
Lumen Dynamics Group Inc.Tous droits réservés
Image d’arrière-plan fournie par Ludwig Eckl, Liebmann
Optical Company Inc.
Lumen Dynamics a fait tout son possible pour que les informations contenues dans cette feuille
de spécification soient exactes. Cependant, nous déclinons toute responsabilité pour toute erreur
ou omission, et nous nous réservons le droit de modifier, à tout moment et sans obligation, la
conception, les caractéristiques et les produits. Contactez Lumen Dynamics pour les prix et la
disponibilité ou pour obtenir le numéro de téléphone de votre représentant Lumen Dynamics local.
FONCTIONS AVANTAGES
X-Cite® XP750
Dimensions de lame de microscope à profil mince Tient dans une pince de microscope standard pour une mesure pratique de la lumière directement depuis l’objectif, sans retirer ou
recongurer l’équipement
Compatible avec les lampes et les sources de lumière laser
et DEL Utilisation économique d’un système pour plusieurs microscopes, quelle que soit la technologie d’éclairage
Grande surface de détection : 10 mm Approprié pour une utilisation avec des objectifs de faible et fort grossissement
Aucune focalisation requise Obtention rapide de mesures précises
Large plage de longueurs d’ondes et de puissances Approprié pour une large gamme d’applications et de congurations de microscope
X-Cite® XP750 et XR2100
Éclairage LCD rétroéclairé Achage clair des données, même dans des conditions d’imagerie microscopique avec éclairage dius
Deux ports d’entrée pour la mesure de puissance via un
capteur pour objectif plan ou un guide de lumière Choix de contrôle de performance de la source de lumière de l’ensemble du système du microscope ou des éléments individuels
Calibrage traçable aux normes NIST* / NRC** Obtention d’assurance qualité et de conance dans la précision des résultats
Collecte, stockage et exportation des données en un clic /
avec un bouton Maintien organisé des données avec archivage précis des enregistrements sans support papier
Interface PC Gestion aisée des paramètres et des données sur PC; automatisation pratique pour une utilisation OEM
Compatibilité avec la fonction de calibrage X-Cite® exacte Calibrage facile de X-Cite® exacte avec guide de lumière ou capteur d’objectif plan pour acher et paramétrer la puissance en watts
SPÉCIFICITÉS X-Cite® XR2100 X-Cite® XP750
Inclut Appareil de mesure de puissance portable, adaptateur de guide de
lumière de 3mm, CD avec logiciel, câbles, manuel de l’utilisateur
Capteur de puissance plan pour objectif avec câble/connecteur pour X-Cite®
XR2100
Amplitude de puissance 50 mW à 10 W 5 µW à 500 mW
Résolution des mesures 0,1 mW à 0,01 W 0,01 µW à 1 mW
Plage d’exactitude*** ± 5% ± 6%
Temps de réponse 1s 600ms (initial), 3s (pour permettre une lecture stable)
Calibrage Traçable en NIST* Traçable en NRC*
Plage de longueurs d’onde 340 nm à 675 nm 320 nm à 750 nm
Compatibilité Type de lampe / Source d’éclairage X-Cite®
exacte, X-Cite® 120 Series
(avec utilisation d’un port d’entrée de guide de lumière de 3mm)
X-Cite® exacte, X-Cite® 120 Series, lampes à oxygène hyperbare / au mercure,
aux halogénures métalliques, au xénon, lasers et DEL
Compatibilité de l’objectif Ne s’applique pas 4X-63X; accouplement à air, avec des diamètres de champs de vision
inférieurs à 10mm
Affichage LCD à 3 chires, rétroéclairé Via X-Cite® XR2100
Sélection de longueurs d’onde Ne s’applique pas Incréments d’1nm à l’aide des boutons haut/bas sur le X-Cite® XR2100 ou
l’interface PC
Capacité de données Stockage de 100+ lectures dans l’unité portable, ou enregistrement direct dans l’interface PC; exportation au format compatible avec
feuille de données
Via X-Cite® XR2100
Commandes PC Achage/modication des paramètres, téléchargement/exportation
des données stockées
Achage/changement des paramètres, dénition des longueurs d’ondes
favorites, enregistrement des données pour plusieurs paramètres d’objectifs/
de ltres /de paramètres d’intensité, téléchargement/exportation des
données stockées
Protocole de commandes RS232 via port COM virtuel USB Via X-Cite® XR2100
Alimentation 2 piles de 3,6 V au lithium Via X-Cite® XR2100
Poids 450 g 82 g
Dimensions (sans le couvercle) 19 cm x 11,5 cm x 5 cm 75 mm x 25 mm x 9 mm
Certifications mondiales Marque CE Via X-Cite® XR2100
Garantie 1 an 1 an
Brevets Le système de mesure de puissance optique X-Cite® intègre une technologie protégée par les brevets suivants:US#6,437,861; US#7,335,901
*NIST – National Institute of Standards and Technology **NRC – National Research Council
***Il est recommandé de calibrer le X-Cite® XR2100 et le X-Cite® XP750 tous les douze mois. Veuillez contacter la Division des sciences de la vie et de l'industrie (Life Sciences & Industrial Division) de EXFO pour d’autres renseignements.
2260 Argentia Road,
Mississauga, Ontario,
L5N 6H7 CANADA
www.LDGI-XCite.com
Téléphone : [phone]
Numéro vert (États-Unis et Canada) : [phone]
Télécopie : [phone]
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