NNT : 2015 EMSE 0795
THÈSE
présentée par
Hasna BARKIA Ep YAHYAOUI
pour obtenir le grade de
Docteur de l’École Nationale Supérieure des Mines de Saint-Étienne
Spécialité : Informatique
Méthode d'analyse de données pour le diagnostic a posteriori de défauts de
production
Application au secteur de la microélectronique
soutenue à Saint-Étienne, le 21 Octobre 2015
Membres du jury
Président :
D. A. ZIGHED
Professeur, Université Lyon II, Lyon
Rapporteurs :
P. LENCA
E. BONJOUR
Professeur, Telecom Bretagne, Brest
Professeur, Université de Lorraine, Nancy
Examinateur(s) :
H. ELGHAZEL
Maître de conférences, Université Lyon 1, Lyon
Directeur(s) de thèse :
X. BOUCHER
R. LE RICHE
P. BEAUNE
H.DUVERNEUIL
Professeur, Ecole des Mines de St-Etienne, St-Etienne
Directeur de Recherche, CNRS, St-Etienne
Maitre-Assistant, Ecole des Mines de St-Etienne, St-Etienne
Encadrant industriel, STMicroelectronics, Crolles
Invité(s) éventuel(s):
M.A.GIRARD
D. ROZIER
Maître-Assistant, Ecole des Mines de St-Etienne, St-Etienne
Xerox Research Centre Europe, Meylan
i
à mes parents, Abderrazak et Nawel
à mon frère Aziz et ma sœur Rahma
à mon Cœur Wael
à tous ceux qui me sont chers
ii
iii
« Le savoir acquis en exil est une patrie et l’ignorance en patrie est un exil »
Ibn Rushd, Averroés 1126-1198
"Tous peuvent entendre mais seuls les êtres sensibles comprennent "
khalil Gibran
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