Applications des couches minces en optique

Applications des couches minces en optique - (Expos´e
d’ensemble)
P. Giacomo
To cite this version:
P. Giacomo. Applications des couches minces en optique - (Expos´e d’ensemble). Jour-
nal de Physique, 1964, 25 (1-2), pp.237-244. <10.1051/jphys:01964002501-2023701>.<jpa-
00205746>
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715.
APPLICATIONS
DES
COUCHES
MINCES EN
OPTIQUE
(EXPOSÉ D’ENSEMBLE)
Par
P.
GIACOMO,
Faculté des Sciences de Caen.
Résumé.
-
On
essaye
de
dégager
les
difficultés
générales (calcul,
contrôle,
uniformité, stabilité,
matériaux),
comment
elles
guident
le
choix des
solutions
adoptées
et
comment
elles limitent
la
qualité
des résultats.
Anti-reflets,
miroirs
semi-transparents
et
opaques,
filtres
colorés,
polariseurs,
filtres
d’amplitude
sont
analysés
de
ce
point
de
vue.
Abstract.
2014
An
attempt
is made
to
disentangle
the
general
difficulties
(calculation,
control,
uniformity,
durability,
materials),
how
they guide
the
choice
of the methods
adopted,
and
how
they
limit the
performance.
Anti-reflection
coatings, semi-reflecting
and
opaque
mirrors,
color
filters,
polarizers, amplitude
filters
are
reviewed
in
this
respect.
LE JOURNAL
DE
PHYSIQUE
TOME
25,
JANVIER-FÉVRIER
1964,
Il
a
été
souvent
question,
dans
les
communi-
cations
précédentes
de mesures
précises
des
pro-
prietes
optiques
des
couches minces :
pouvoir
re-
flecteur R
(ou
R’)
transmission
T,
d6phasages
cor-
.
respondants
Ar{ (ou
A,,), At,
auxquels
il
no.us
sera
utile
d’ajouter
l’absorption
A
= 1
-
R - T
(ou
A’ =
1
-
R’
-
T).
Ces
mesures visaient
a
obtenir des
renseignements
sur
les
proprietes
des
matériaux constituant les
couches
et
sur leur
structure.
Pour
Ie
physicien
paresseux,
il est
tentant
d’uti-
liser toute
cette
doumentation dans
un
autre
but :
on
a
souvent
besoin
de modifier les
propri6t6s
optiques
d’une
surface,
par
exemple
d’augmenter
son
pouvoir
r6flecteur,
ou,
au
contraire,
de
le dimi-
nuer,
sans
modifier
ses
propriétés géométriques ;
en
cherchant
bien
dans
les
nombreux
exemples déjà
6tudi6s,
on
a
quelque
chance
de
trouver
une
couche
mince
susceptible
de rendre
le
service
attendu.
Comme
la chose
semble
facile,
on
pourra
meme
empiler
les
unes sur les
autres
plusieurs
couches et
obtenir
ainsi
des
propri6t6s
int6ressantes
ou amu-
santes.
Cette
demiere
idee
61argit
effectivement
beau-
Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphys:01964002501-2023701

238
coup
le
champ
d’application
des couches minces
en
optique,
mais
cela
ne va
pas
sans
quelques
diffi-
cult6s.
Nous
essaierons
d’abord
de donner ane
vue
d’en-
semble
de
ces
difficultés.
Cela
nous
permettra,
sur
quelques
exemple
d’applications,
de
mieux
d6gager
les
probl6mes
resolus
ou a r6soudre.
I.
Problèmes
gdn6raux.
-
1-1.
PROBLÈMES
DE
CALCUL.
-
On
sait calculer
les
proprietes
optiques
d’une
couche
mince
(a
faces
planes
et
paralleles, .
homog6ne,
isotrope)
dont
on
connait
1’epaisseur e
et
l’indice
de
refraction
n,
d6pos6e
sur un
support
massif
dont on
connait
6galement
l’indice,
pour
diverses
longueurs
d’ondes
X.
Ceci
reste valable
lorsque
les
indices
sont
complexes.
Pour un
empilement
de
couches
minces di6lec-
triques,
le
calcul
des
propri6t6s
optiques,
a
partir
des
valeurs
de n et
e
pour
chaque
couche,
n’est
simple
que
dans
quelques
cas
particuliers.
Dans
le
cas
general,
on
peut
faire
appel
a
des
proc6d6s
graphiques
ou
analogiques ;
malgr6
leur
precision
modeste,
ils ont
l’avantage
de donner
rapidement
une vue
d’ensemble.
On
peut
aussi utiliser
des
machines
digitales
[1] :
un
programme,
6tabli
une
fois
pour
toutes,
permet
de
faire tous les
calculs
avec
precision ;
encore
faut-il
qu’il
fournisse,
a
la
sortie,
des
r6sultats
rapidement
utilisables. ,
Le
calcul
est
sensiblement
plus
compliqu6
si
les
couches sont absorbantes.
11
risque
d’ailleurs d’6tre
un
peu
illusoire,
au
moins dans
le cas
des
m6taux,
1 es « constantes
optiques »
apparentes
ayant
fàcheu-
sement
tendance
a
varier.
11
vaut mieux alors
partir
des
propri6t6s
optiques
nlesurées
pour
chaque
couche
métallique.
En
vue des
applications,
le
problème
se
pose
différemment.
On
a
besoin,
par
exemple,
d’un
reve-
Lement donnant
it R
des
valeurs
d6termin6es
pour
plusieurs
longueurs
d’ondes
X,
imposées.
lj’id8al
serait
cie
pouvoir
déàuire
des valeurs
de
R
et À
lc
nombre
de
couches,
les
indices et
les
6paisseurs
necessaires
pour
obtenir ce
r6sultat.
Meme dans
le
cas
de
couches
diélectriques parfaites,
ceci
est
beau-
coup
plus
difficile.
II
semble
que
tres
peu
d’auteurs
soient arrives a une
solution
alg6brique
formelle du
problème
[.2].
Plus
souvent,
on
a cherche
des solu-
tions
par approximations
successives :
partant
d’un
empilement
connu,
ayant
des
propr]6t6s
voisines
tlu
but
cherche,
on
essaie de
s’en
approcher par
variation
des
epaisseurs
ou des
indices. Les calculs
sont
generalement
effectués a
la machine
[3],
[4].
La
principale
difficulté
est
de trouver une m6thode
rapidement
convergente.
1-2. PROBLEMES
DE
REALISATION.
-
Le calcul
conduit
a
des valeurs d6termin6es des
indices,
et
des
6paisseurs.
1-2.1.
Epaisseurs.
-
Pour
les
épaisseurs,
cela
se traduit
par
trois
conditions
distinctes.
a)
Uniformité:
L’epaisseur
doit avoir
la
même
valeur sur toute
la
surface
considérée :
la couche
doit
etre
« uniforme ».
Les
consequences
des
d6fauts
d’uniformité
sont
variables suivant leur (,
longueur
d’onde
spatiale »
A
[5,6].
Si
A
«
x,
ils
se
traduisent
par
1’existence
de
couches
de
passage apparentes ;
les
couches
de
passage, apparentes
ou
r6elles,
sont
heureusement
peu
g6nantes,
tout au
moins
pour
les
angles
d’inci-
dence
faibles.
Si
A
» x
les
d6fauts d’uniformit6
se
traduisent
par
des
différences
de
propri6t6s
optiques
entre
les
differentes
regions
de
la
surface
consideree ;
on
peut
les
appeler
alors
aberrations
g6om6triques,
quoiqu’il s’agisse
aussi
bien de
variations
d’ampli-
tude
que
de
variations
de
phase ;
on
pourra
traiter
leurs effets
par
les lois
de
l’optique
geometrique.
l,e
cas intermediaire
est
couvert
par
le
terme
assez
vague
de
((
diffusion ».
11
n’y
a
pas,
en
fait,
de limite
nette entre la
diffusion
et les aberrations
g6om6triques,
cette
limite
dependant
essentiellement
des
conditions
d’utilisation.
Une
discussion
complete
serait
trop
longue,
mats
on
peut
en
indiquer
les
grandes lignes.
Le
param6tre
important
est
la
resolution
utills6e
apr6s
travers6e
de
la couche
mince.
On
peut
carac.
t6riser
cette resolution
par
l’ouverture
Ao
du
« dia-
phragme juste
r6solvant)),
i.e.
le
diaphragme,
situc
dans
le
plan
diffusant,
donnant une
tache
de
dif-
fraction de
largeur
égale
4
la limite
de
resolution
titills6e.
Seuls
les
d6fatits
d’uniformité
de
periode
spatiale
A
Ao
se
traduiront
par
unc
«
diffusion
»
plus
ou
moins
genante,
la
lum]6re
qu’ils
diffractent
se
dispersant
abusivement
apr6s
travers6e de
la
couche
non uniforme.
Si
Ao correspond
a
l’existence,
apres
la
couche
mince,
d’un
diaphragme
limitant
1’ouverture
nile
des
faisceaux,
ces defauts se
traduiront
par
une
perte
de
luminosite ;
si
Ao
correspond
au besoin de
r6soudre
des
détails de
l’image
d’un
objet
etendu,
les
def auts
de
A
A0
se
traduiront
par
une
perte
de
resolution
et
de
contraste.
Ces deux
effets
coexistent en
general.
Enfin,
les
d6fauts
d’uniformite des
couches
se
repercutent
sur les
propriétés optiques par
1’inter-
m6diaire
des
deformations des
surfaces
d’ondes :
l’amplitude
des
defauts des
surfaces
d’ondes
corres-
pondant
a un
def aut
d’unif oi-m it6 donne
sera
multi-
pli6e par
un facteur
complexe
dont le
module
peut
etre
bien
supérieur
a
1
si r
ou t
(complexes)
varient
tres
rapidement
en
fonction
des
6pa*sseur .
-
b)
recision :
Le
calcul
pr6voit’une
epaisseur
(g6n6ralement
une
epaisseur
optique)
bien
deter-
min6e
pour
chaque
couche.
La
tolerance
sur
cette
epaisseur
est souvent faible.
On doit
donc
pouvoir
controler
avec
precision
l’épaisseur
des
couches
d6pos6es.
Les
proc6d6s
les
plus
sur
sont
ceux
utili-
sant
les
proprietes
optiques
elles-memes
de
1’empi-

239
lement
en
cours de
preparation.
Mais les
propri6t6s
de
l’ ensemble.
ne sont
pas toujours
fonction
simple
de celles
de
chaque
couche : les
empilements
de
couches
p.
X/4
(p
entier)
seront
relativement
f at;iles
a
controler,
parce
que
1’6paisseur
optique
p.
X/4
correspond
a
des
propri6t6s
optiques
remarquables;
il n’en sera
pas
de
meme
pour
des
couches
d’épais-
seur
optique
quelconque.
c)
Procédés de
préparation :
Parmi
les
procédés
de
préparation, l’évaporation
sous
vide
pousse
est
le
seul
qui permette
a
la fois
d’obtenir des couches
uniformes
sur
de
grandes
surfaces,
d’en
controler
l’épaisseur
avec
precision
et
de
travailler avec
des
substances tres
vari6es. Encore faut-il
que
ces
substances
supportent
1’evaporation
sans decom-
position
(thermique
ou
par
reaction avec le
creuset).
1-2.2.
Indices
de
réjraction.
-
L’indice
(com-
plexe)
est lie
a
la
nature
chimique
de la
couche.
Si
l’on
veut
obtenir
un indice
defini,
bien
repro-
ductible,
il
est n6cessaire
que
le
procédé
de
prepa-.
ration
soit
« chimiquement
propre » l’évaporation
sous vide et
meme
sous ultravide est a cet
6gard,
le
plus
sur.
Mais
les
substances
susceptibles
d’être
6vapor6es
sous
vide
sans
decomposition
et
donnant
des
couches
bien
uniformes sont en
nombre
limite ;
par
voie de
consequence,
le choix des
indices de
refraction
utilisables
1’est
6galement.
Deux
m6-
thodes
permettraient
d’échapper
a
cette
limitation.
La
premiere
consiste
a
utiliser des couches
for-
mcees
de
melanges,
en
proportions
variables,
de
deux
substances
d’indices
nettement
differents
[7,
8].
Si
l’on
veut
obtenir une
valeur
d6termin6e de
l’indice,
il
faut
pouvoir
controler la
proportion
des
deux substances.
La
complexité
du
controle simul-
tané,
sur
une
meme
couche,
de
l’indice
et
de
1’epaisseur optique,
limite
I’application
de
ce
pro-
cede
a des cas
Oll
1’un au moins de
ces
controles
n’a
pas
besoin
d’être
precis.
La
seconde
[9]
résulte
de
la
remarque
suivante :
11 n
empilement
de
couches
d’indices
n,
et
n2
a
dis-
tribution
synlétrique
des
indices
et
des
6paisseurs,
est
equivalent
a une
couche
unique
d’indice n
(nl
rz
n2).
Le
choix
de
la
distribution
des
llpaisseurs
et
de
1’epaisseur
totale
permet
de
simuler
une
couche
unique
d’indice
arbitraire,
compris.
entre
n,
et
n2
et
d’6paisseur quelconque.
Pour
que
i’indice et
1’epaisseur equivalents
restent
constants
dans
un domaine
de
longueurs
d’onde
appréciable.
i
1 sufnt
que
chacune
des couches
ait une
epaisseur
petite
devant
la
longueur
d’onde.
Ce
procédé,
outre
des
difficult6s
de
controle,
a
l’inconv6nient
d’aug-
menter fortement le
nombre
de
couches.
Si
elles
présentent
des
def auts
d’uniformité,
on
peut
craindre
que
leur
accumulation
entraine une
dif-
fusion
importante.
1-2.3.
Fragilité.
-
Si
toutes
les
conditions
pr6c6-
dentes sont
remplies,
il taut
encore
que
les couches
obtenues
conservent
leurs
propri6t6s
pour
une duree
suffisante,
et
ceci
malgr6
les mauvais
traitements
qu’on
est
oblige
de
leur
infliger :
mise en
contact
avec
1’atmosphere,
parfois
humide
ou
corrosive,
nettoyage,
etc...
Ceci
interdit,
ou limite
a
des
appli-
cations
délicates
a
mettre en
0153uvre,
l’emploi
de
certains
mat6riaux,
m6taux ou
halogenures
alca-
lins
par
exemple,
dont
les
propri6t6s
optiques
seraient
pourtant
tres
int,eressantes.
Toutes
ces difficulties ’ont
des
importances
va-
riables suivant
les
applications
envisages.
II.
Exemples
d’applieations.
--
II 1.
COUCHES
ANTI-REFLET.
--
11
est tres
profitable
de
supprimer
les
reflexions sur
les
faces des
lentilles des
qu’une
optique comprend
un
nombre
élevé
de
dioptres :
on
augmente
la
transmission,
qui peut
passer
de
(0,96)16 ~ 0,5
a
(0,995)
cr
0,9,
mais
surtout
on
supprime
la
lumi6re
parasite qui,
par
reflexions
multiples,
vient se
superposer
a
l’image
definitive,
diminuant
le
contraste.
On
peut
aussi
etre amene
a
supprimer
une
reflexion
m6tallique
au
profit
de
l’absorption,
par
exemple pour
ameliorer
1’efficaeit6 d’un
r6cepteur
photoélectrique
[10]
ou
d’un
r6cepteur
ther-
mique
[11],
dans ce
dernier
cas,
on a
interet,
simul-
tan6ment,
a
augmenter
l’absorption
du
rayon-
nement
incident
et
a
diminuer
le
rayonnement
propre,
il
s’agit
donc
plutot
d’un
probl6me
de
filtrage.
11-1.1.
Anti-reflet
simple.
-
Pour
un
support
d’indice
n3 reel,
en
contact avec un milieu
d’in-
dice
ni
r6e],
on
peut
supprimer
la
reflexion sous
incidence normale
a
la
longueur
d’onde
Xo
avec
une
couche
di6lectrique
appropri6e.
Le
principe
et
Ie
calcul sont
simples :
en
premiere
approximation,
il
suflit
que
les
amplitudes
r 1
et
r2
des
deux
pre-
mieres ondes réfléchies
par
les deux faces
de
la
couche mince soient
6gales
en
module
et
oppos6es
en
phase,
les
reflexions
multiples
6tant
n6g]l-
geables.
Le calcul
complet,
gu6re
plus
difficile,
con-
duit aux
memes
conditions :
n2 -
n,
n3
et
n2 e
==
XO/4
(ou
(2p
+
1)
À/4).
Pour l’incidence
oblique
(en
s6parant
les
deux
polarisations princi-
pales)
ou
pour
un
support
d’indice
n2
complexe,
le
calcul
conduit
facilement
a
des
r6sultats
analogues :
indice et
epaisseur
determines.
L’application
pr6sente
quelque
f acilite
puisqu’il
suf’it
de
controler
1’6paisseur pendant
la
prépa-
ration,
par
la
propriété
désirée elle-meme :
s’il
s’agit
d’un
anti-reflet
pour
le
vert,
la
surface,
6clair6e
en
lumiere
blanche,
sous
l’incidence d’utili-
sation,
donnera
par
reflexion une
teinte
sensible ;
le
controle
est
a
la fois
simple
et
precis.
On
trou-
vera dans
la
literature
divers
proc6d6s
photo-
m6triques
de
controle,
adaptables
a
toutes
les
longueurs
d’onde,
parfois
tres
precis
6galement.
La
valeur
de
l’indice n6eessaire est
fondamentale,
l’utilisation
de
couches
fragiles
pratiquement
exclue.
La
probabilite
pour qu’une
meme
sub-
stance
remplisse
simultanernent
ces deux
condi-

240
tions
est faible.
Heureuseinent,
on
dispose,
sur
l’in-
dice,
d’une
certaine latitude : si
n2
s’écarte
de
la
valeur
id6ale,
R,augmente
progressivement
mais
reste
inf6rieur a celui
du
support
tant
que n2
reste
compris
entre
nl
et
n3.
11
faut
chercher le meilleur
compromis
entre 1’efficacit6
et
la
solidite.
Ainsi,
pour
les
anti-reflets
sur verre
d’indice
n3
=
1,52,
en contact
avec 1’air
(nl
=
1),
on
a
besoin
d’une
substance
d’indice
n2
=
1,23. F2Ca,
evapore
dans
certaines
conditions,
donne bien cet
indice,
mais des
couches
tres
fragiles.
Na3AlFs,
FLi,
F3Al,
F2Ig
ont des
indices
de
plus
en
plus
6loign6s
de
la
valeur
optimale.
F2Mg,
a
un indice
sensiblement
trop
élevé
(1,38),
laissant subsister
un
pouvoir
r6flecteur de
1
%,
mais
il
donne,
par
des
traitements
thermiques
appropri6s,
des
couches
remarquablement
resistantes.
Le
compromis
le
plus
couramment
utilise
est
F2Mg : pour
les
appli-
cations
courantes,
la
solitité
1’emporte
sur
1’effl-
cacité.
11-1.2.
Antireflets 4
couches
multiples.
-
Si
F2lVIg
a
un indice
trop
élevé,
Irli
est
superieur
a
Ir21.
On
peut
y
remedier,
comme
l’a
propose
J.
Strong,
en
augmentant
lr2l
a
1’aide d’une couche
mince
supplémentaire.
La
solution
proposee
consiste a
d6poser préalablement,
sur le
verre,
une couche
de
transition
dont
l’indice
varie
progressivement
depuis
n3 =
1,52
jusqu’a
n’
=
(1,38)2
~
1,9.
On
utilise
pour
cela une couche form6e
d’un
m6lange
de
Si02
et
Ti02
dont
les
proportions
varient
lente-
ment
lorsqu’on
s’éloigne
du
verre.
SiO2
et
TiO2
donnant des
couches
tres
resistantes,
cette solution
am6liore refticacite sans
nuire
a la
solidite ;
on
perd
un
peu
de
la
simplicite
de
preparation
et de
controle.
Les
deux
solutions
pr6c6dentes
conservent
une
faiblesse :
l’antireflet
n’est
tres efficace
qu’au
voisi-
nage
de
Ào.
Or l’utilisation
de
deux
couches
permet
le
choix
arbitraire
de
quatre
parametres :
deux
indices
et
deux
épaisseurs ;
l’annulation
de
R
cor-
respondant
a
deux conditions
(une
pour
la
partie
r6elle de
r,
une
pour
sa
partie
imaginaire),
on
doit
pouvoir
la
r6aliser
pour
deux
longueurs
d’ondes
À1,
À2.
On
pourra
de
m6me
annuler R
pour
trois lon-
gueurs
d’ondes
avec
trois
couches,
p
longueur
d’ondes
avec
p
couches.
On
peut
esp6rer qu’entre
ces
longueurs
d’ondes, R
restera
faible. Le calcul
conduit a
des
empilements
de
couches
p
X
XO/4
pour
une
longueur
d’onde
m6diane ;
la commodite
de
controle
subsiste.
De
plus,
les
longueurs
d’ondes
Xi,
X2,
...,
li6es aux
indices des
couches,
ne sont
pas
fix6es
de
façon
imperative.
Le
choix
des
indices utilisables
est
donc
plus
large.
Toutefois,
l’intérêt
de
ces couches
anti-reflet
6tant
de
diminuer R
dans
un
domaine 6tendu
de
longueurs
d’ondes,
le
visible
par
exemple,
on
peut
se demander
s’il
y
a
int6r6t
a
choisir
À1
?2
...
proches
ou
6loign6s
et
si,
dans
les
meilleures
condi-
tions,
un
tel
anti-retlet est
plus
efficace
que
les
precedents.
De
tels
calculs relèvellt
des
machines
digitales.
On
peut
meme
les
agr6menter
en
tenant
compte
de l’ouverture
angulaire
des
faisceaux
[4]
et
thercher
ainsi le
meilleur
compromis
entre
1’efficacit6
pour
un
spectre
6tendu et
un
faisceau
ouvert,
et la
solidite
des
couches.
En
augmentant
le
nombre
de
couches,
donc
le
nombre de zeros
de
R(À)
on
peut
esp6rer
r6aliser
des
anti-reflets
durables et d’efficacité
remarquable,
sans
que
les
difficultés
de
preparation
et
de
con-
tr6le
(couches
p
x
Ào/4)
deviennent
importantes.
On
verra,
a
propos
des miroirs
semi-réfléchissants,
que
de tels
empilements
sont
couramment
utilis6s ;
mais
on
atteint
alors
facilement,
du
fait
de
la
diffusion
par
les
irrégularités
superficielles,
des
absorptions
apparentes
de
l’ordre de 1
%.
Une
diffusion
de cet
ordre de
grandeur,
r6p6t6e
sur
de
nombreux
dioptres, peut
devenir
plus
nui-
sible
qu’un
fond
continu :
schématiquement,
il
vaut
mieux
observer
la
lune
en
plein
jour
que
la
nuit
par
temps
de brouillard.
C’est
d’ailleurs
parce
qu’ils
deviennent
diffusants
que
les
anti-reflets
fragiles
ne sont
gu6re
utilisables.
Le
probl6me
des
anti-reflets
sur
support
m6tal-
lique
n’est
pas
sensiblement
different.
Comme
il ne
s’agit
plus
de former une
image
apr6s
traversee
de
la
couche
anti-reflet,
mais
seulement de diminuer
1’energie
r6fi6chie
au
profit
de
1’energie absorbee,
une diffusion
beaucoup plus
importante
peut
etre
tol6r6e.
Les
solutions a
nombre de
couches
6lev6,
permettant
d’étendre l’efficacité
a
un
domaine
spectral
tres
large,
s’appliquent.
Par
contre,
pour
les
r6cepteurs
photoelectrique,
la
presence
de
couches minces sur
le
support photosensible
risque,
par
diffusion
d’impuretés,
de diminuer
la
sensi-
bilit6.
C’est
une
limitation
suppl6mentaire
impor-
tante au choix
des
substances
utilisables.
11-2.
MIROIRS SEMI-TRANSPARENTS
A
HAUT
POU-
VOIR RÉFLECTEUR.
-
Ils sont
couramment utilises
dans les
systèmes
interférentiels
a ondes
multiples:
interféromètre
de
Fabry-Perot,
syst6mes
a
franges
localis6es
pour
1’examen
des
surfaces,
plus
r6cem-
ment laser.
Ces
applications
demandent des
surfaces
de
pouvoir
r6flecteur
eleve,
donnant
des
franges
fines
(ou,
en
langage
de
radioelectricien,
des
surtensions
importantes),
mais
aussi
de transmission
non
petite
par rapport
a
l’absorption
puisque
la lumiere
non
r6fl6chie
a l’int6rieur
du
systeme
doit
en sortir
pour
etre
utilisee :
1
-
R
=
T
+
A
doit etre
petit,
sans
que
T /A
le
soit.
Les
argentures
pour
le
visible,
les aluminiures
pour
l’ultraviolet
ont
longtemps
ete les seuls
reve-
tements
utilisables
a cet
egard.
Les
couches
di6lectriques multiples
permettent,
au
prix
d’une
complexite
de
preparation
sup6-
rieure,
d’obtenir
des
absorptions
plus
faibles
donc
des
pouvoirs
eflecteurs
utiles
plus
élevés.
11-2.1.
Principe.
-
Ici
encore,
le
principe
est