Systèmes optiques pour la définition du faisceau X

Systèmes optiques pour la définition du faisceau X
Stéphan Rouzière
Laboratoire de Physique des Solides
CNRS-UMR8502
Bat. 510, Université Paris-Sud
91405 Orsay Cedex
Rayons X et Matière 2006 - Limoges

Schéma d’une expérience rayons X
source X optique X échantillon Détecteur
RX
système optique
Le choix du système optique dépend des caractéristiques :
• de l’échantillon : ses dimensions, son pouvoir diffusant des rayons X
• du mode de détection : détecteur ponctuel,bi-dimensionel, résolution en énergie
• de la technique expérimentale mise en place

Rayonnement d’une source de laboratoire
Rayonnement polychromatique et très divergent
anodes de laboratoire :
E(CrKα)=5.41 keV
E(CoKα)=6.92 keV
E(CuKα)=8.04 keV
E(MoKα)=17.4 keV
E(AgKα)=22.1 keV

Rôle du système optique
Contrôle de 3 paramètres fondamentaux pour définir le faisceau X :
•Pureté spectrale
•Flux
•Définition spatiale (dimensions et divergence)

Optiques RX de laboratoire
1. Monochromateurs cristallins
2. Miroirs spéculaires
3. Optiques multicouches
4. Optiques capillaires
5. Lentilles réfractives à bulles
Performances de ces optiques en termes de :
pureté spectrale, intensité (flux/unité de surface) et contrôle de la divergence
du faisceau
et qui dépendent aussi de la source X