Chapitre 2 Du siliciure au transistor à grille TOSI________________________________________61
1.1 Formation des siliciures ______________________________________________________65
1.1.1 Réaction limitée par la nucléation___________________________________________67
1.1.1.1 Théorie classique de la nucléation ____________________________________68
1.1.1.2 Formation contrôlée par la nucléation _________________________________69
1.1.2 Réaction limitée par la diffusion____________________________________________70
1.1.2.1 La croissance linéaire parabolique (Loi de Deal & Grove): Exemple de la
croissance d’une unique phase MxSiy________________________________________70
1.1.2.2 Cas de la croissance simultanée de deux phases (ou plus)__________________72
1.1.2.3 Principaux paramètres et caractéristiques ______________________________73
1.1.3 Croissance séquentielle et absence de certaines phases __________________________74
1.2 Vers le siliciure de nickel pour les technologies CMOS_____________________________75
1.2.1 Limitations du CoSi2_____________________________________________________76
1.2.1.1 Augmentation de la résistance dans les petites dimensions_________________76
1.2.1.2 Consommation de silicium problématique pour les jonctions fines et les substrats
SOI__________ ________________________________________________________77
1.2.1.3 Incompatibilité du siliciure de cobalt avec les substrats SiGe _______________77
1.2.2 Avantages du NiSi ______________________________________________________78
1.2.2.1 Réduction du budget thermique______________________________________78
1.2.2.2 Une résistivité faible pour une consommation réduite de silicium ___________79
1.2.2.3 Réduction du bridging et de la formation de voids _______________________79
1.2.2.4 Formation d’une phase peu résistive possible sur substrat SiGe _____________80
1.2.3 Challenges du NiSi ______________________________________________________81
1.2.3.1 Formation des phases du système Ni-Si _______________________________81
1.2.3.2 Découvertes récentes sur la séquence de phase du système Ni-Si____________83
1.2.3.3 Diffusion du nickel________________________________________________85
1.2.3.4 Dégradation du NiSi à haute température: NiSi et NiSi2___________________86
1.2.3.5 Contraintes induites par le siliciure de nickel ___________________________88
1.3 Module de siliciuration nickel standard _________________________________________89
1.3.1 Nettoyage de la surface à siliciurer __________________________________________89
1.3.2 Le dépôt de nickel et d’une couche d’encapsulation_____________________________89
1.3.3 Premier recuit de siliciuration (RTA1)_______________________________________90
1.3.4 Le retrait sélectif du métal n’ayant pas réagi __________________________________91
1.3.5 Deuxième recuit de siliciuration (RTA2)______________________________________91
1.4 La grille métallique totalement siliciurée ________________________________________91
1.4.1 Principaux siliciures pour les applications TOSI _______________________________92
1.4.2 Intégration de la grille TOSI _______________________________________________93
1.4.3 Ajustement du travail de sortie effectif_______________________________________93
1.4.3.1 Modulation par ségrégation de dopants ________________________________94
1.4.3.2 Modulation par formation d’alliages à base de nickel _____________________95
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