X Physique 2 PC 2007 — Énoncé 1/7
ÉCOLEPOLYTECHNIQUE
ÉCOLESUPÉRIEUREDEPHYSIQUE ETDECHIMIEINDUSTRIELLES
CONCOURSDADMISSION2007 FILIÈREPC
DEUXIÈMECOMPOSITIONDEPHYSIQUE
(Durée :4heures)
Lutilisation descalculatricesestautorisée pourcette épreuve.
⋆ ⋆
Équilibresthermodynamiquesen situationsinhomogènes
Dansles systèmesinnisetenl’absence deforcesextérieures, l’équilibrethermodynamique
correspond,auxuctuationsprès,àdesphasesuniformes.Ilnenvapasdemêmepourdes
systèmesprésentantdesfrontièresou pourdes systèmes soumisàdesforcesextérieures.
Dansdetels systèmes, l’équilibrethermodynamiquerésultedelacompensationexactede
diverscourantsantagonistesdeparticules.Cettesituationestexaminée danslapartieIoù
l’onétudiel’équilibredemacromoléculesensolution dansun champ depesanteur.Lapartie
II estconsacrée àune étudesimpliée dunestructureMétal-Oxyde-Semiconducteuret,plus
particulièrement,àladistribution déquilibredesélectronsetdestrousen présence dun champ
électrostatique,auvoisinagedel’interface oxyde-semiconducteur.
Charge élémentaire:e=1,6×1019 C
ConstantedePlanck:h=6,6×1034 J·s
ConstantedeBoltzmann :kB=1,38 ×1023 J·K1
Constantedesgazparfaits:R=8,31 J.K1·mol1
Permittivitédu vide:ε0=(µ0c2)1=8,85 ×1012 F·m1
I.Équilibrethermodynamique etdiusion
Cettepartieviseàmontrerqueladiusion desparticulesestune composante essentiellede
l’équilibrethermodynamique.
I.1.Onconsidèreun uidegazeuxdansun champ depesanteuruniforme~g=g~ezoù~ezestle
vecteurunitairedel’axezorientésuivantlaverticaleascendante.Àl’équilibrethermodynamique,
satempératureTestuniforme etsamassevolumiqueρnedépend quedel’altitudez.Ilsera
considéré commeparfait.
a)Écrirel’équilibremécaniquedunetranchedépaisseurdzetdesurface Scomprise entre
lesaltitudeszetz+dz.
b)En déduirequelapression du gazP(z)vérielaloi : P(z)
P(z0)=expÇMg(zz0)
RTåoù
Mestlamassemolairedu uide etRlaconstantedesgazparfaits.
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c)Leuide estconstituédeparticulesindépendantesdemassem.Déduiredelarelation
précédentequeladensitévolumique(nombreparunitédevolume)departiculesdu uiden(z)
àl’altitudezvérie:
n(z)=n(0)expÅmgz
kBTã
oùkB=R/NAestlaconstantedeBoltzmann,NAétantlenombredAvogadro.
d)En utilisantl’expression du potentielchimiqueµ(P,T)dun gazparfait,montrerquela
relationcaractérisantl’équilibredansle champ depesanteur,àlatempératureT,setraduitpar
lefaitquelaquantitéµ(P,T)+Mgzpossèdelamêmevaleurentoutpointdu uide.
I.2.Soitunesolution diluée demacromoléculesdansun solvant,solutionconsidérée comme
idéale.Lesmacromolécules sontsupposéesdeformesphérique,derayona,demassem;soitn(z)
leurdensitévolumiquesupposée nedépendrequedel’altitudez.Aucoursdesonmouvement
danslesolvant,unemacromolécule estsoumiseàdiverstypesdeforces:son poidsetlesforces
d’interactionavec lesmoléculesdu solvant (lesmacromolécules sontsusammentdiluéespour
quel’on puissenégligerleursinteractionsmutuelles).Onadmettraquelesinnombrableschocs
entreunemacromolécule enmouvementetlesmoléculesdu solvantdonnentlieu,outrelapoussée
dArchimède,àuneforce defrottementvisqueuxsexerçantsurlamacromolécule:~
F=α~v.
On désigneraparmlamassedeuidepossédantlemêmevolumequunemacromolécule.
a)Montrerqu’il enrésultepourlesmacromoléculesunevitessede chutelimite~vd.
b)En déduireladensitéde courantdemacromolécules~
jgassociéauxforcesdepesanteuret
aufrottementvisqueux(courantdit« dedérive»).
I.3.Àl’inhomogénéitéspatialedelaconcentrationn(z)demacromoléculesestassociéun
courantdediusion;soitDle coecientcorrespondant.Àl’équilibrethermodynamique, il est
nécessairequ’il nyaitglobalementaucun courantdemacromolécules.
Écrirel’équation diérentiellequedoitvériern(z)etlarésoudre.
I.4.a)Commentfaut-il modierlerésultatdelaquestion1.cpourprendre encomptela
poussée dArchimède?
b)Paridenticationavec laloin(z)déterminée en3,obtenirlarelationentrelescoecients
Detα.
I.5.Pourunesphèrederayonasedéplaçantdansun liquidedeviscositéη, le coecientde
frottementvisqueuxαestdonnépar:α=6πηa.
Lesguresci-dessousprésententenéchellelog log lerésultatdesmesuresdu coecient
dediusionDpourdiversesmacromolécules,porté enfonction deleur rayon dunepart et
deleurpoidsmoléculairedautrepart.Lamodélisation précédenterend-ellebiencomptedes
résultatsexpérimentaux?Onadopteralamêmemassevolumiquepour touteslesmacromolécules
organiques.
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Figure1.Coecientdediusiondediversesmacromolécules
I.6.Dansunesolutionidéale, lepotentielchimiquemolairedun solutéStrèsdiluéde concen-
trationCSestdelaformeµS(T)=µ0
S(T)+RTln(CS/C0
S),oùµ0
S(T)estlepotentielàla
concentration deréférence C0
S.
Montrerque cette expressionestcohérenteavec la généralisation delapropriétéobtenue en1.d.
II.StructureMétal-Oxyde-Semiconducteur
UnestructureMOS(Métal-Oxyde-Semiconducteur) estcomposée dun substratsemiconduc-
teur,parexempledu silicium.Dansun semiconduceur, laconductionélectrique estassurée par
desélectronsde charge(e),avec e>0,etpardes«trous» de charge(+e).Dansce quisuivra,
lesdensitésvolumiquesdélectronsetdetrous,notéesrespectivementnetp,sont reliéesparla
relation:
np=n2
iavec ni=1,0×1016 m3
oùniestune constante caractéristiquedu silicium(densitéintrinsèque).
Àlasurface du silicium,onfaitcroîtreparoxydation del’oxydedesilicium(silice SiO2).
Lépaisseurddelacouchedoxyde estdel’ordredequelquesnanomètres.Onsupposequel’oxyde
estun isolantparfait; l’oxyde estdoncunebarrièreimpénétrablepourlesélectronsetlestrous.
Enn,on déposesurl’oxydeune couchemétallique, la«grille»G.
Danstoutce quisuivra,onassimileral’interface Si-SiO2au planxOyetl’onorienteral’axe
zOzdanslesensSiO2-Si(voirgure2).Loriginedespotentielsélectrostatiquesφ(z)seraprise
danslesilicium, loin del’interface,enB,soitφ(B)=0.Lesdiérencesdepotentielde contact
desélectrodesmétalliquesavec lesdiversmatériauxserontignorées;ellesn’introduisentquedes
décalagesconstantsquel’on prendranuls.On noteVGB=φ(G)=Vox +φ(0);pourle champ
électrique,on pose~
E(z)=E(z)~ez.
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Figure2.StructureMétal-Oxyde-Semiconducteur
Soientεox etεSilespermittivitésdiélectriquesrespectivesdel’oxyde etdu silicium.Pourles
applicationsnumériques,on prendra:εox/ε0=4etεSi/ε0=12.
Lesiliciumestdopéuniformément:desatomes«accepteurs»introduitslorsdesonélabo-
ration,dedensitévolumiqueNa,piègentlesélectrons,constituantalorsdescharges(e)xes
demêmedensitéNaetcréantautantdetrousmobiles(+e).
II.1.Distribution dechargesdanslesiliciumloin del’oxyde.
II.1.1OnsupposeNa=1,0×1023 m3.Écrirelaneutralité électriqueauvoisinagedu point
B.En déduirequep(B)Na.
II.1.2En déduireladensitédélectronsn(B); lacompareràNa.Quelle conclusionentirez-
vous?
II.2.Distribution dechargesdanslesiliciumpourVGB<0.Accumulation.
Onseplace àl’équilibrethermodynamique etélectrostatique,etl’onsupposequel’ona
polariséla grillenégativementpar rapport ausiliciumàl’aidedun circuitextérieur.
II.2.1Expliquerpourquoideschargesmobiles+e(lestrous)sontattiréesauvoisinagede
l’interface Si-SiO2.
II.2.2Onsupposele champélectriqueuniformedansl’oxydeSiO2sousla grille en négligeant
leseetsdebord.Donnerl’expressionCox delacapacitéparunitédesurface delacouchedoxyde
enfonction dedetεox.
II.2.3Unemodélisationsimple consisteàconsidérerqueleschargesdéplacéesformentune
couchesurfaciqueàl’interface z=0etquelesiliciumresteneutrepourz>0.Quelle estalors
lacharge électriqueQGportée parla grille enfonction deVox puisdeVGB?
Onabandonne cettemodélisation poureectuerune étudeplusne.Soitp(z)ladensité
volumiquedetrousetφ(z)lepotentielélectrostatiquedanslesilicium.
II.2.4Exprimerladensitévolumiquede chargesρ(z)enfonction dep(z),Naete.
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II.2.5Ladensitédetrousestdonnée par:
p(z)=p(B)expÇeφ(z)
kBTå=NaexpÇφ(z)
VTåavec VT=kBT
e.
Àlalumièredel’étude eectuée en partieI,commentercette expression.Préciserlesignealgé-
briquedeφ(z).
Dansun milieumatériel, l’équation dePoissonà 1 dimension,reliantpotentieletdensitéde
charges,sécrit:
φ′′(z)=ρ(z)/ε
oùεdésignelapermittivitédiélectriquedu matériau.
II.2.6Écrirel’équation diérentiellesatisfaiteparφ(z).Bétantsusammentloin del’inter-
face,onadmettraqueφ(B)=0.Compte-tenu desconditionsauxlimites,montrerque
φ2=2eNaVT
εSiïexpÅφ
VTã+φ
VT
1ò.
II.2.7Relierlachargetotaleparunitédesurface QS,accumulée danslesiliciumauvoisinage
del’interface,àφ(0).On poseu=φ(0)
VT
etL2=εSiVT
eNa
;exprimeralorsQSenfonction deεSi,
VT,Letu.Quelle estlachargetotaleQGsurl’électrodeG?
II.2.8Onsuppose|φ(0)|VT;préciseralorslelienentreQGetφ(0);en déduirelacapacité
apparenteCSi,parunitédesurface,delapartiesiliciumdelastructureMOS.Quelle estalors
lacapacité équivalentedel’ensembledelastructureMOS.
II.2.9Application numérique.On donneVT=26 mV,Na=1,0×1023 m3,d=40 nm.
CalculerCox,LetCSi.CalculerVGBpouru=1,puis3et5.
II.3.Distribution dechargesdanslesiliciumpourVGB>0.Déplétion.
La grille estmaintenantpolarisée positivement, leschargesmobiles(trous)sontalorsrepous-
séesparle champetéloignéesdel’interface.Dansce quisuitonsupposequauvoisinagede
l’interface, il nyaplusaucune chargemobilejusquàlacotez=zD; il nyrestequelescharges
négativesxes(e)(cellesquiontdonnénaissance auxtrousmobiles).Au-delà,pourz>zD,
lesiliciumestneutre.
II.3.1Montrerquelepotentielélectrostatiqueφ(z)danslesiliciumestdonnépar:
φ(z)=eNa
2εSi
(zzD)2si06z6zDetφ(z)=0sizD6z.
II.3.2Exprimerenfonction dezDlachargetotaleparunitédesurface danslesilicium;en
déduirelachargeQportée parla grilleGpuisladdp Voxenfonction dezD.
II.3.3ExprimeralorsVGBenfonction dezD.En déduirequezDestdonnépar:
zD=dεSi
εox 1+VGB
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