
Résumé
IV
Résumé
Dans cette thèse, un nouvel algorithme pour la smart surveillance de défauts dans un champ PV a
été développé. Ce nouvel algorithme est basé sur le développement dun modèle pour le comportement
dun champ PV en fonctionnement normal et défectueux. La nouvelle méthodologie utilisée pour le
développement de cet algorithme a pour objectif daugmenter le taux de disponibilité totale du champ PV,
avec un meilleur rendement.
développée, basée sur la modélisation mathématique de la caractéristique I-V des
composants défectueux et les regroupements dun champ PV
modélisation des champs PV. Elle a permis de quantifier le degré de linfluence des différents défauts sur
le fonctionnement de tout le champ PV. Aussi, ce modèle a facilité les mesures de tolérance et
dexpérimentation, et a réalisé également des économies substantielles en temps et en coût.
De plus, une amélioration des méthodes de la smart surveillance prédictive de
défauts affectant un champ PV a été développée. outils de régression
ce qui a permis . Elle est basée sur
loptimisation du SVR par les RdNs de type récurrent et la méthode classique k-PPV de régression. Aussi,
ce travail a conduit au développement de deux modèles SVR-PQ optimisée par RdNR et SVR-PL
optimisée par k-PPVR. Les résultats de cette étape utilisés dans lalgorithme proposé pour la prédiction, la
classification, la localisation prédictive, et lidentification prédictive des causes des défauts dun champ
PV, avec une précision de surveillance prédictive optimisée a donné des résultats plus homogènes et plus
fiables.
Enfin, une approche basée sur
améliorer les méthodes de la smart surveillance en temps réel des défauts affectant un champ PV, la
diminution du taux de surveillance avec laugmentation de son erreur a poussé dutiliser les outils de lIA
pour améliorer ses performances. Le choix est tombé sur loptimisation du SVM par les RdNs de type
perceptron multicouches, et la méthode classique k- PPV. Lhybridation de ces trois outils résulte les deux
modèles SVM-PQ optimisé par RdN-PM et SVM-PL optimisé par k-PPV, avec un taux de surveillance
élevé, un taux derreur faible, mais avec un temps de calcul lent.
une meilleure fonction de surveillance des défauts
pouvant entrainer une dégradation remarquable dans la productivité dun champ PV.