
II. 4.6 Méthode par réseau de neurones artificiels (RNA) : .............................................................. 56
III. 4.7 Méthode d’ECM (Earth Capacitance Measurement): ............................................................ 57
III. 4.8 Méthode de Réflectométrie TDR (time domain réflectométry) : ......................................... 58
III. 4.9 Analyse de la caractéristique I(V) ........................................................................................... 59
III. 4.10 méthodes de placement de capteurs de courant et de tension I(V) ................................... 60
III. 4.10.1 Connexion CTCT des cellules PV ................................................................................ 60
III. 4.10.2 méthodes de placement de capteurs pour la connexion parallèle-série (P/S) ............... 62
II. 5 Conclusion : .................................................................................................................................... 64
CHAPITRE IV : Diagnostic des défauts d’ombrage et de la résistance série ................. 65
IV.1 Introduction ................................................................................................................................... 65
IV.2 méthode de diagnostic proposée : ............................................................................................... 65
IV.2.1 Méthode de détection et de localisation : .............................................................................. 66
IV.2.2 Méthode d’identification des défauts .................................................................................... 67
IV.2.3 Résultats de simulation et discussions .................................................................................... 69
IV.2.3.1 Défaut d’ombrage partiel de 75% sur une cellule du groupe G2 ................................... 69
IV.2.3.2 Défaut d’ombrage partiel de 100% sur une cellule dans le groupe G1 et un autre de
50% sur le groupe 2 ....................................................................................................................... 71
IV.2.3.3 Défaut de type résistance série dans le groupe G3 ....................................................... 73
IV.3 Validation expérimentale ............................................................................................................... 75
IV.3 .1 Traceur de caractéristiques I(V)/P(V) ..................................................................................... 75
IV.3 .1.1 Mesure des caractéristiques photovoltaïques : .............................................................. 75
IV.3 .1.2 Traceurs à base de Charge électronique ....................................................................... 75
IV.3 .1.3 Traceurs à base d’Amplificateur De Puissance Bipolaire : ........................................... 76
IV.3 .1.4 Traceurs à base d’Alimentation à quatre quadrants : .................................................... 77
IV.3 .1.5 Traceurs à base de Résistance variable : ....................................................................... 78
IV.3 .1.6 Traceur à base des convertisseurs DC/DC: .................................................................... 79
IV.3 .1.7 Traceurs à base de charge capacitive ............................................................................ 80
IV.3.2. Conception du Traceur à base de condensateur ................................................................... 81
IV.3.2.1 Circuit de puissance : ...................................................................................................... 81
IV.3.2.2 Circuits de commande : ................................................................................................... 82
IV.3.3 Résultats expérimentaux ........................................................................................................ 84
IV.3.3.1 1Effet de l’ombrage partiel sur un GVP avec connexion série-parallèle avec une charge
résistive:......................................................................................................................................... 85
IV.3.3.2 Application de la méthode de diagnostic ........................................................................ 89
IV.3.3.1 Mode Automatique ......................................................................................................... 96