Les Echos du réseau n°37 – 19 février 2013 page 3/8
Directeur de la publication : Sébastien Magnaval – Rédactrice en chef : Anne-Laure AURELLE
Siltene, ScientiStar 2012 - Catégorie Sciences de l’ingénieur
11 février 2013
Parmi les 120 entreprises financées en 2012 par Scientipôle Initiative, 12 issues d’une première
sélection ont « pitché » devant le public, avant un vote des 300 participants qui ont élu 4 «
ScientiStars » 2012.
Siltene a été élue ScientiStar 2012 dans la catégorie Sciences de l’ingénieur.
En partenariat avec l’université Paris Sud et le CNRS, l’entreprise a développé une technologie de
rupture pour décupler les densités des dispositifs de stockage numérique de masse (disques durs et
mémoires magnétiques MRAM). Cette avancée permet de résoudre deux problématiques dans le
domaine du stockage numérique : l’explosion de la quantité de données numériques générées dans
le monde (contexte du big data), et la consommation énergétique des dispositifs de stockage. Siltene
propose aux fabricants de disques durs et de mémoires magnétiques des solutions complètes pour
intégrer cette technologie et établir un nouveau standard de production.
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INNOVATIONS & NOUVEAUX PRODUITS
France Télécom-Orange et Alcatel-Lucent mettent en service un lien optique à 400 Gbit/s
par longueur d’onde
06 février 2013
France Télécom-Orange et Alcatel-Lucent ont annoncé aujourd'hui la mise en service, entre Paris et
Lyon, de la première liaison optique au monde permettant une capacité de 400 Gigabits par seconde
(Gbit/s) par longueur d’onde dans les conditions du réel. La capacité du lien optique est multipliée
par quatre par rapport au débit maximum actuellement disponible et permet d’acheminer jusqu'à
17,6 Terabits par seconde (Tbit/s) au total grâce à l'utilisation de 44 longueurs d'ondes en présence.
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HORIBA Scientific propose l’UVISEL 2, un nouvel ellipsomètre spectroscopique
08 février 2013
L’UVISEL 2 est une nouvelle génération d’ellipsomètre spectroscopique, véritable plateforme pour la
métrologie des couches minces.
L’UVISEL 2 intègre de nombreuses fonctions d’automatisation (porte échantillon XYZ, angle variable,
auto alignement, auto calibration et auto diagnostique) permettant de répondre à tous les besoins
d’analyse ellipsométrique appliquées aux couches minces. Le dispositif inclut également un système
breveté de visualisation de l’échantillon, couplé à une sélection automatisée de huit tailles de spot.
Ce système d’imagerie permet de visualiser tous les types de surface (transparente, rugueuse, plane,
réfléchissante) pour un positionnement précis du spot dans la zone de mesure. Parmi les huit tailles
de spot, un microspot achromatique de 35 µm est capable de mesurer une large gamme spectrale du
FUV au NIR.
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