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I. chahine 4
Prénom : Imad Nom : CHAHINE
Titre de la thèse :
Caractérisation et modélisation de la susceptibilité conduite des circuits intégrés aux
perturbations électromagnétiques
Thèse préparée au sein de l’Institut de Recherche en Systèmes Electroniques EMbarqués (IRSEEM)
de l’ESIGELEC. Technopole du Madrillet, Avenue Galilée. Saint Etienne du Rouvray – France.
Résumé :
Le travail présenté dans ce mémoire porte sur l’étude de la susceptibilité conduite des
circuits intégrés. La première partie du travail concerne la mise en place de deux bancs de
mesure basés notamment sur les techniques de caractérisation usuelles adoptées par les
standards d’immunité. Dans un premier temps, le document propose un nouveau système
d’injection qui constitue une solution alternative et originale aux systèmes d’injections
classiques recommandés par la norme IEC 62132-4 connue également sous l’appellation
courante DPI (méthode d’injection directe de puissance). Par la suite, le document présente
une nouvelle technique d’injection pour caractériser la susceptibilité des circuits intégrés vis-
à-vis des décharges électrostatiques. La deuxième partie du travail consiste à établir un
modèle de susceptibilité facilement exploitable et qui permet de reproduire fidèlement les
mesures. Ce modèle a été construit à partir d’une approche mathématique basée sur les
réseaux de neurones. L’expression mathématique résultante de la simulation du réseau de
neurone exprime la susceptibilité du circuit et elle est facilement intégrable dans des logiciels
de simulation électrique de type ADS ou Pspice pour alimenter les plateformes de
simulation.
Mots clés :
Immunité conduite, IEC 62132-4, té de polarisation, décharges électrostatiques, réseaux de
neurones, simulation électrique, CMOS.