UNIVERSITE DE ROUEN
ECOLE DOCTORALE
Sciences Physique, Mathématique et de l’Information pour l’Ingénieur (SPMII)
Doctorat
Champ disciplinaire : Electronique
AUTEUR
Imad CHAHINE
TITRE:
CARACTERISATION ET MODELISATION DE LA SUSCEPTIBILITE CONDUITE
DES CIRCUITS INTEGRES AUX PERTURBATIONS ELECTROMAGNETIQUES
Thèse dirigée par Bélahcène Mazari
Soutenue le 07/12/2007
Jury :
M. Fabien NDAGIJIMANA Professeur à l'Université Joseph Fourier – Grenoble Rapporteur
M. Philippe DESCAMPS Professeur à l’Université de Caen Basse-Normandie Rapporteur
M. Jean-Claude BOUDENOT Senior expert en CEM - Thales Research & Technology Examinateur
M. Aziz BENLARBI – DELAI Professeur à l’université Pierre et Marie Curie – Paris. Examinateur
M. Bélahcène MAZARI Professeur – ESIGELEC Directeur de thèse
M. Moncef KADI Enseignant/ Chercheur – ESIGELEC Encadrant
M. Philippe EUDELINE Directeur Technique - Thales Air Systems Invité
I. chahine 2
I. chahine 3
A mes parents
A mes ami(e)s
A mes collègues
I. chahine 4
Prénom : Imad Nom : CHAHINE
Titre de la thèse :
Caractérisation et modélisation de la susceptibilité conduite des circuits intégrés aux
perturbations électromagnétiques
Thèse préparée au sein de l’Institut de Recherche en Systèmes Electroniques EMbarqués (IRSEEM)
de l’ESIGELEC. Technopole du Madrillet, Avenue Galilée. Saint Etienne du Rouvray – France.
Résumé :
Le travail présenté dans ce mémoire porte sur l’étude de la susceptibilité conduite des
circuits intégrés. La première partie du travail concerne la mise en place de deux bancs de
mesure basés notamment sur les techniques de caractérisation usuelles adoptées par les
standards d’immunité. Dans un premier temps, le document propose un nouveau système
d’injection qui constitue une solution alternative et originale aux systèmes d’injections
classiques recommandés par la norme IEC 62132-4 connue également sous l’appellation
courante DPI (méthode d’injection directe de puissance). Par la suite, le document présente
une nouvelle technique d’injection pour caractériser la susceptibilité des circuits intégrés vis-
à-vis des décharges électrostatiques. La deuxième partie du travail consiste à établir un
modèle de susceptibilité facilement exploitable et qui permet de reproduire fidèlement les
mesures. Ce modèle a été construit à partir d’une approche mathématique basée sur les
réseaux de neurones. L’expression mathématique résultante de la simulation du réseau de
neurone exprime la susceptibilité du circuit et elle est facilement intégrable dans des logiciels
de simulation électrique de type ADS ou Pspice pour alimenter les plateformes de
simulation.
Mots clés :
Immunité conduite, IEC 62132-4, de polarisation, décharges électrostatiques, réseaux de
neurones, simulation électrique, CMOS.
I. chahine 5
First name: Imad Last name: Chahine
Thesis :
Characterization and Modelling of the integrated circuit susceptibility to conducted
electromagnetic disturbances.
Abstract:
The aim of this work is the characterization and modelling of integrated circuits
susceptibility to conducted electromagnetic disturbances.
The work has been carried out into main parts: the first part dealt with the re-use of
immunity standards in order to characterize the integrated circuits susceptibility to
continuous wave or electrostatic discharge disturbances. In this part, we present an
alternative solution for typical injection setups usually recommended by the IEC 62132-4
standard. This solution aims to couple a radiofrequency disturbance to a DC or a low
frequency signal. Also in this part, we introduce a new methodology for better characterizing
the immunity of complex digital circuits to electrostatic discharge.
The second part discussed a new methodology for modelling the susceptibility of integrated
circuits to continuous wave disturbance such as a sinewave by using a neural network
approach. The model is extracted as a mathematical expression and can be implemented in
software tools such as ADS or Pspice.
Index terms:
Conducted susceptibility, IEC 62132-4, bias tee; electrostatic discharge, neural network,
simulation tools, CMOS.
1 / 163 100%
La catégorie de ce document est-elle correcte?
Merci pour votre participation!

Faire une suggestion

Avez-vous trouvé des erreurs dans linterface ou les textes ? Ou savez-vous comment améliorer linterface utilisateur de StudyLib ? Nhésitez pas à envoyer vos suggestions. Cest très important pour nous !