Résumé de projet de fin d’études Conception et réalisation d’un module d’évaluation de transistors de puissance PFE présenté par : Julien Mosca Spécialité : GE - Energie Société d’accueil : Bruker Biospin Maître de stage : Joseph ILIEV Tuteur INSA : Jean-Michel HUBE Résumé condensé Le développement d’alimentations à découpage tel qu’il est effectué chez Bruker Biospin voit des caractéristiques comme les fréquences de fonctionnement ou les puissances augmenter de façon significative. Tout ceci dans le but de rester compétitif, et améliorer les performances des systèmes. De plus, les progrès effectués dans le domaine des transistors de puissance ainsi que l’émergence de nouvelles technologies de fabrication, comme le Carbure de Silicium par exemple, offre de nombreuses possibilités de conception de modules de puissance. C’est pourquoi le développement de telles alimentations, nécessite une maîtrise la plus complète des ces composants. Mon projet est né de ce besoin et a pour but de développer un module permettant l’évaluation et l’observation des comportements en commutation de transistors de puissance, de différentes technologies. Abstract Design and implementation of a power transistor evaluation test system Switch mode power supplies (SMPS) development as it is performed at Bruker Biospin see features such as operating frequency or output power increasing significantly. This is necessary for staying competitive and improving system performances. In addition, advances in the power transistor field such as new technologies rising (Silicon Carbide or Gallium Nitride) provide many power modules design possibilities. That is why the development of these power supplies requires a perfect control of these components. My project was born of this need in particular and it is intended to develop an evaluation module. It has to allow observation and analyze of some power transistors behaviors in switching mode. PFE 2014 CONCEPTION ET REALISATION D’UN MODULE D’EVALUATION DE TRANSISTORS DE PUISSANCE Figure 1 : Exemple de produit commercialisé par Bruker Contexte général P résent dans le monde entier, et leader sur ses marchés, le groupe Bruker conçoit, fabrique et commercialise des instruments et des solutions analytiques pour la recherche scientifique. Les systèmes Bruker couvrent un large éventail d’applications comme par exemple la résonnance magnétique nucléaire (RMN) permettant entre autre la réalisation d’imagerie par résonnance magnétique (IRM) en une, deux ou 3 dimensions, dans un domaine préclinique. Ces systèmes sont composés de plusieurs éléments mais mon projet concerne l’un d’eux en particulier : les alimentations électriques. Ces alimentations tendent de plus en plus vers des convertisseurs à découpage, afin de pouvoir atteindre des caractéristiques de puissance, de performances et de précision optimales, tout en garantissant un coût et une taille de produit raisonnable. Cependant, l’exigence de ces besoins en performance, ainsi que les progrès effectués continuellement dans le PFE 2014 domaine des semi-conducteurs amènent à reconsidérer de façon régulière le choix des composants ou des structures utilisées. C’est pour répondre à une partie de ces besoins que mon projet a vu le jour, initié par l’ingénieur en Recherche et Développement en électronique de puissance de la division Bruker Biospin. Ce projet a pour but de concevoir un module d’évaluation de transistors ainsi que de diodes de puissance. Ce module devra permettre d’observer les caractéristiques en découpage des semi-conducteurs mis à dispositions. Ceux-ci sont principalement des transistors MOSFET et IGBT, ainsi que des diodes rapides, le tout en Silicium ou Carbure de Silicium, qui est une technologie émergente. Les domaines de tensions et courants de ces composants sont compris respectivement entre 650V à 1200V et entre 80A et 100A par puce. Julien Mosca 2/4 PFE 2014 CONCEPTION ET REALISATION D’UN MODULE D’EVALUATION DE TRANSISTORS DE PUISSANCE influences que peuvent avoir les composants les uns sur les autres par exemple. C’est pourquoi des configurations de puissance en « bras de pont » et en « bras de pont découplé », ou avec des transistors en parallèles ont notamment été développées, dans le but d’étendre au maximum les possibilités d’évaluation. D Id CC C L IL Vds Vgs Figure 2 : Schéma simplifié d'un convertisseur permettant d'effectuer le test du "double pulse" Etude et réalisation L es exigences pour la conception de ce module étaient, au départ, très nombreuses. Cependant, le cahier des charges a évolué de façon non négligeable au cours du projet. Il en est ressortit que la procédure de tests sera basée sur la procédure utilisée par les fabricants de composants pour réaliser les documentations techniques. Il s’agit du test appelé communément « test du double pulse ». Celui-ci s’appuie sur un convertisseur élévateur. Le composant à évaluer est le transistor, c’est pourquoi une première phase vise à le commander à la fermeture afin de faire croitre le courant dans le montage, et la deuxième phase consiste à l’ouvrir et le fermer de façon très rapide afin que ce blocage et cette mise en conduction se fassent à un courant identique. Grâce à cela, et à des moyens de mesure adaptés, il est possible d’observer et d’analyser les caractéristiques en commutation des semi-conducteurs. Cependant, il a été jugé nécessaire de pouvoir évaluer les composants dans d’autres configurations que celle-ci, afin de pouvoir comparer les effets et les PFE 2014 En outre, il a également été jugé nécessaire de pouvoir réaliser des comparaisons sur différentes méthodes de commande. Dans la mesure où le comportement d’un transistor est également dicté par celle-ci, il paraissait évident d’inclure différentes cartes permettant d’évaluer et de comparer des solutions de commande. Ces cartes ont été réalisées suivant la même structure : un étage de conversion, d’isolation et d’adaptation de tension d’alimentation, un étage d’isolation de signal, et un étage de commande rapprochée. Tout ceci a dû être réalisé en essayant de ne pas compliquer l’intégration, ni l’interchangeabilité de toutes les configurations. Cette interchangeabilité et la facilité de réalisation de la procédure de test était également un vrai challenge dans ce projet. Etant donné que ce module vise à évaluer un grand nombre de composant, dans des configurations de puissances, de commande, de tension, de courant, ou même de température très variées, la facilité de mise en œuvre de chacune de ces configuration est importante, de façon à limiter les complications et le temps d’évaluation d’un composant. Au final, 4 cartes de puissance avec des configurations différentes, ainsi que 5 types de commande ont été conçues et réalisées, offrant un panel de test conséquent, pour un seul et même composant. Julien Mosca 3/4 PFE 2014 CONCEPTION ET REALISATION D’UN MODULE D’EVALUATION DE TRANSISTORS DE PUISSANCE Figure 3 : Comparaison de 3 méthodes de mesure de tension. Une sonde passive et deux sondes différentielles. Figure 4 : Blocage et mise en conduction d'un IGBT (Silicium), sous 390V - 80 A. Mesures D ans ce projet, les signaux à mesurer étant des signaux de valeurs élevées, jusqu’à 400V pour le bus continu et 80A par transistor, et les durées de commutation étant faibles, quelques nanosecondes ou dizaines de nanoseconde, les moyens de mesure utilisés doivent être choisis avec soin. En effet, des études de performances, donc de pertes par exemple, demandent une grande précision de mesure, afin de ne pas fausser les résultats. Néanmoins, si les précisions des appareils ne sont pas optimales, il est nécessaire de savoir à quel point, et de pouvoir quantifier l’erreur de mesure, pour la prendre en compte dans les résultats. C’est pourquoi une campagne de comparaison des moyens de mesure mis à ma disposition était nécessaire, afin de pouvoir choisir celui combine à la fois précision et fidélité, mais également facilité de mise en œuvre dans le système. Un « shunt » coaxial pour la mesure de courant, et une sonde d’oscilloscope de type passive pour la tension, considérés tous deux comme étant des références de mesure ont permis d’effectuer ces comparaisons. PFE 2014 Les résultats ont permis de choisir des appareils de mesure adaptés, et dont l’erreur est maîtrisée. Essais D e nombreux tests ont pu être effectués après réalisation des cartes. Ils n’ont été réalisés que sur une configuration de puissance, car comme dit précédemment, une seule configuration amène à de nombreux tests. Des essais ont permis de montrer l’influence des différentes méthodes de commande. D’autres se sont concentrés sur les effets de l’éloignement de ces commandes par rapport aux transistors. Des dispositifs tels que le « Miller Clamp » ont également pu être ajoutés au système afin d’étudier ses éventuels bénéfices. Des essais sous différentes températures (30°, 80°, 150°), ont montrés l’influence de celle-ci sur le comportement en commutation des transistors. Bien entendu de très nombreux essais peuvent être encore réalisés, et c’est tout l’intérêt de ce module. Ceuxci seront exécutés au gré des besoins ponctuels lors des développements d’alimentations à découpage. Julien Mosca 4/4