MEEP_FR - Ivea Solution

MEEP La MEEP pour l’analyse
à l’échelle micrométrique
L’instrument MEEP d’IVEA a été
développé pour vous offrir un outil
d’analyse élémentaire sous microscope
optique.
Il vous permet d’expertiser visuellement
le matériau, de choisir précisément la
zone d’intérêt et d’effectuer d’un simple
clic l’analyse élémentaire.
La technologie utilisée est la spectroscopie d’émission de plasma induit par laser :
LIBS (Laser Induced Breakdown Spectroscopy).
Couplée à un microscope optique classique, la MEEP d’IVEA permet d’atteindre des résolutions
spatiales analytiques inférieures à 8 µm.
Propriétés et avantages
Complètement intégré : un système MicroLIBS clé en main
Rapide : mesure instantanée, pas de préparation d'échantillon
Adaptable sur microscope optique: l’analyse élémentaire en complément de votre
expertise optique
Ablation par laser UV 266 nm : l'analyse de tout échantillon solide, y compris les matériaux
transparents
Optique de mise en forme du faisceau avec atténuateur intégré : la maîtrise totale de
l’interaction laser-matière
Thermalisation du système de détection : la reproductibilité garantie de vos résultats
AnaLibs : un logiciel dédié d’acquisition et de traitements automatiques
Applications
Le système MEEP permet d’analyser chimiquement tous
types de solides observables au microscope sans aucune
opération supplémentaire : métaux, polymères, céramiques,
couches minces, roches, réfractaires, vitrocéramiques,
verres, échantillons biologiques, conducteurs, isolants…

Spécifications
Source
Type de laser
Longueur d’onde d’excitation
Fréquence du laser
Énergie du laser sur l’échantillon
Stabilité en énergie
Spectromètre d'analyse
Bande spectrale couverte
Pouvoir de résolution
Type de détecteur
Paramètres d'analyse
Diamètre du cratère
Limites de détections
Dynamique de mesure
Temps d'analyse
PC dédiée à l'analyse LIBS
Logiciel utilisateur
Nd:YAG pulsé
266 nm
20 Hz
contrôlable de 0.2 mJ à 1 mJ
+/- 5% RMS jusqu’à 1mJ (mesure sur 100 tirs)
180 à 950 nm selon spectromètre
supérieur ou égal à 4000 typiques
ICCD ou PM
15 µm ou 8 µm, plus petit sur demande
de quelques ppm à quelques milliers de ppm selon les
éléments et les configurations
du ppm à 100%
inférieur à une seconde
contrôle des paramètres temporels d’acquisition:
énergie du laser, nombre de pré-tirs et de tirs, retard
et fenêtre d’acquisition
logiciel AnaLIBS développé par IVEA
sous environnement Windows
pilotage des séquences d’analyse en X, Y, Z
automatisation des traitements : reconnaissance des
raies, tracé des courbes de calibration, analyses
quantitatives et semi-quantitatives, reconnaissance
des matériaux avec module PCA et arborescences
Service Commercial
[phone]
[email protected]
www.ivea-solution.com
Exemple de micro
cartographie
Résolution 10µm
à gauche : Argile de Bure
à droite : Béton chargé au Ti
particules de 100 à 300nm
Photos CEA