MEEP_FR - Ivea Solution
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L’instrument MEEP d’IVEA a été développé pour vous offrir un outil d’analyse élémentaire sous microscope optique. Il vous permet d’expertiser visuellement le matériau, de choisir précisément la zone d’intérêt et d’effectuer d’un simple clic l’analyse élémentaire. La technologie utilisée est la spectroscopie d’émission de plasma induit par laser : LIBS (Laser Induced Breakdown Spectroscopy). Couplée à un microscope optique classique, la MEEP d’IVEA permet d’atteindre des résolutions spatiales analytiques inférieures à 8 µm. Propriétés et avantages Complètement intégré : un système MicroLIBS clé en main Rapide : mesure instantanée, pas de préparation d'échantillon Adaptable sur microscope optique: l’analyse élémentaire en complément de votre expertise optique Ablation par laser UV 266 nm : l'analyse de tout échantillon solide, y compris les matériaux transparents Optique de mise en forme du faisceau avec atténuateur intégré : la maîtrise totale de l’interaction laser-matière Thermalisation du système de détection : la reproductibilité garantie de vos résultats AnaLibs : un logiciel dédié d’acquisition et de traitements automatiques Applications Le système MEEP permet d’analyser chimiquement tous types de solides observables au microscope sans aucune opération supplémentaire : métaux, polymères, céramiques, couches minces, roches, réfractaires, vitrocéramiques, verres, échantillons biologiques, conducteurs, isolants… MEEP La MEEP pour l’analyse à l’échelle micrométrique Spécifications Source Type de laser Longueur d’onde d’excitation Fréquence du laser Énergie du laser sur l’échantillon Stabilité en énergie Nd:YAG pulsé 266 nm 20 Hz contrôlable de 0.2 mJ à 1 mJ +/- 5% RMS jusqu’à 1mJ (mesure sur 100 tirs) Spectromètre d'analyse Bande spectrale couverte Pouvoir de résolution Type de détecteur 180 à 950 nm selon spectromètre supérieur ou égal à 4000 typiques ICCD ou PM Paramètres d'analyse Diamètre du cratère Limites de détections Dynamique de mesure 15 µm ou 8 µm, plus petit sur demande de quelques ppm à quelques milliers de ppm selon les éléments et les configurations du ppm à 100% Temps d'analyse inférieur à une seconde PC dédiée à l'analyse LIBS contrôle des paramètres temporels d’acquisition: énergie du laser, nombre de pré-tirs et de tirs, retard et fenêtre d’acquisition Logiciel utilisateur logiciel AnaLIBS développé par IVEA sous environnement Windows pilotage des séquences d’analyse en X, Y, Z automatisation des traitements : reconnaissance des raies, tracé des courbes de calibration, analyses quantitatives et semi-quantitatives, reconnaissance des matériaux avec module PCA et arborescences Exemple de micro cartographie Résolution 10µm Photos CEA à gauche : Argile de Bure à droite : Béton chargé au Ti particules de 100 à 300nm Service Commercial +33 (0)1 69 35 88 20 [email protected] www.ivea-solution.com
