SFL v1.01

Gamme des testeurs SFL
1500/2500/3000
Test par analyse V/I
de cartes et composants électroniques
Document non contractuel. Les caractéristiques des produits, logiciels et services sont indicatives et susceptibles de modifications sans préavis.
ZI Toul Europe secteur B
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54200 TOUL
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France
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Mail : [e-mail]
www.deltest.com
Les nouveaux testeurs SFL sont destinés à tous ceux qui testent et/ou réparent les cartes électroniques, en
maintenance ou en fabrication de petites séries et prototypes. Ils forment une gamme de solutions
simples et économiques pour les tests fondés sur l'analyse V/I (analyse de signature).
PRINCIPE DU TEST
Le test V/I est une excellente technique pour dépanner des
cartes électroniques. Il est d’autant plus probant lorsque la
documentation et les schémas sont inexistants. Lors de tests V/I,
la carte doit être libre de potentiel, non alimentée. L'efficacité du
test est maximale lorsque deux cartes sont disponibles (une carte
étalon et une carte douteuse).
Un signal alternatif est appliqué entre chaque point de test et la
masse du composant à tester. Le testeur affiche alors une
caractéristique de l’impédance où l’axe X représente la tension,
l’axe Y le courant.
Jaune : diode Zener correcte
Rouge : diode Zener défectueuse
Le générateur d’impulsions permet d'injecter un signal sur la
broche de commande d'un composant tel qu'un transistor,
thyristor, optocoupleur, etc... et de tracer une caractéristique
permettant de visualiser l'effet de l'impulsion sur le composant
sous test.
Une impulsion est générée sur la base
d’un transistor. La visualisation de cette
courbe caractérise le bon
fonctionnement du transistor
TYPES DE TEST
En direct : l'appareil compare deux composants identiques.
Le résultat du test apparaît directement à l'écran du PC pour une
comparaison visuelle.
En mode test rapide : l'appareil teste des composants
multibroches (en général des connecteurs ou des CI). Il met en
oeuvre un multiplexeur de 128 canaux, chaque canal est soumis à
un test V/I. Le résultat apparaît directement à l'écran du PC avec
indication des différences.
En mode programmation : l'appareil enregistre les analyses V/I et
les séquences de test de façon à pouvoir les comparer
ultérieurement sur une carte à tester.
SPÉCIFICATIONS
Gamme de test : 1V/500µA, 10V/5mA, 10V/150mA, 20V/1mA,
40V/1mA
Fréquences de test : 50Hz, 100Hz, 500Hz, 1KHz, 2KHz
Générateur d'impulsions : 1 – 7,5V ajustable, largeur et amplitude
de l'impulsion ajustables.
Mode test rapide Mode programmation
SFL 1500 2500 3000
Type de test
Direct Oui Oui Oui
Test rapide Oui Non Oui
Programmation Oui Non Oui
Interface de commande
Par PC Oui Non Oui
Par les boutons et écran du SFL Non Oui Oui
Mémoire de stockage
Disque dur d’un PC Oui Non Oui
Mémoire flash Non Oui Non
Multiplexeur supporté Oui Non Oui
Les testeurs SFL trouveront leur place dans les environnements
les plus divers : atelier de réparation, test de cartes en
fabrication petite et moyenne série, test de prototypes.
Multiplexeur 128 voies (Mux128)