Capteurs optiques 1- Photométrie : rappels 2- Détection du rayonnement Définition des paramètres utiles pour la caractérisation des capteurs Capteurs qui convertissent l’énergie lumineuse en énergie électrique Deux grandes familles 3- Détecteurs thermiques rayonnement Élévation de température Modification des propriétés électriques du matériau 5- Détecteurs pour l’imagerie Œil, Emulsion photographique 4- Détecteurs photoniques Photon Création d’une charge électrique 1- Photométrie : rappels Que mesure un photodétecteur ? Ondes électromagnétiques Mêmes phénomènes physiques : interférences, diffraction, polarisation… Mais 2 modes de détection Domaine radio : Mesure de l’amplitude E du champ électromagnétique Détecteurs suffisamment rapides Domaine optique : Mesure de la valeur efficace du champ <E²(t)> moyennée sur le temps de réponse du détecteur Frontière technologique : IR lointain, ondes millimétriques Le photodétecteur mesure une énergie 1- Photométrie : rappels Angle solide (sr) ’ dS cos d r2 dS’ r O dS’cos’ Etendue géométrique (m²sr) dAS dAS cos SdA R cos R r2 d 2 G dA R cos R d R dAR S r R d2G d 2 G dAS cos SdS Source Récepteur dS dR 1- Photométrie : rappels Grandeurs énergétiques Flux Flux énergétique : débit d’énergie par unité de temps ou puissance transportée par le faisceau Flux photonique : débit de photons par unité de temps Intensité Luminance Densité spatiale de flux Energie Flux émis dans une direction par unité d’angle solide Intensité par unité d’aire apparente La luminance se conserve lors de la propagation (en l’absence de pertes) Eclairement : Densité spatiale de flux reçu Emittance : Densité spatiale de flux émis Intégrale du flux sur une durée t Flux du vecteur de Poynting 1 Fe S E H E0 2 Watt 2 Fp = Fe / h I(u, v) dFS u, v,dS W.sr-1 dS dI(x, y, z, u, v) L(x, y, z, u, v) dAS cos S L(x, y, z, u, v) s-1 W.sr-1.m-2 d 2 FS x, y, z, u, v,dS d2G dF x, y E x, y R dA R M x, y W.m-2 dFS x, y dAS Q Fe dt W.s Joule 1- Photométrie : rappels Photométrie visuelle Impression visuelle sur un observateur moyen Sensibilité relative de l’œil Pondération des grandeurs énergétiques par un facteur KV() En vision photopique 2 FV K V 1 En vision scotopique dFe d d K=683 lm/W pour la vision diurne max de sensibilité de l’œil à =555 nm K’=1703 lm/W pour la vision nocturne max de sensibilité de l’œil à =507 nm K et K’ sont définis par rapport à la valeur de la candela 1 candela = intensité lumineuse émise dans une direction donnée, d’une source qui émet un rayonnement monochromatique à =555 nm et dont l’intensité énergétique dans cette direction est de 1683 W.sr-1 1- Photométrie : rappels Unités photométriques Grandeur Unités Energétiques Photoniques Visuelles Flux W s-1 Lumen (lm) Intenisté W.sr-1 s-1 .sr-1 Candela (cd) Luminance W.sr-1.m-2 s-1 .sr-1.m-2 cd.m-2 Eclairement W.m-2 s-1.m-2 lm.m-2 Energie W.s Nombre de photons lm.s Ordres de grandeur Eclairement Lux W.m-2 Lumière du jour (plein soleil) 105 1.5 à 555 nm (=1 nm) Ciel étoilé 10-3 Pleine lune 0.2 2.3 10-6 à 507 nm (=1 nm) Laser HeNe (1mW, waist 2 mm) 1.2 105 103 à 633 nm Dynamique de l’œil > 108 ! 1- Photométrie : Exercices 1- Montrer que dans le cas d’une source lambertienne (luminance indépendante de la direction du rayonnement) l’émittance M est reliée à la luminance L par la relation : M = L 2- La terre est éclairée par le soleil qui peut être considéré comme une source lambertienne, et dont l’émittance M est reliée à la température de sa surface T=5800 K par la loi de Stefan : M = T4 Montrer que l’éclairement reçu par un écran placé perpendiculairement à la direction du rayonnement solaire est de l’ordre de 1kW/m². On admettra pour cela que l’atmosphère absorbe environ le quart de l’énergie incidente et que le diamètre apparent du soleil est = 31’. On donne la constante de Stefan : = 5,67 10-8 W/m².K 3- Un laser HeNe émet un flux lumineux de puissance 3mW. Le diamètre du faisceau à la sortie du tube laser est de 1 mm et la divergence du faisceau est de 1 mrd. Montrer qu’il est plus dangereux pour l’œil de regarder ce faisceau à 1 mètre dans l’axe du tube que de regarder le soleil en face (bien que ceci soit fortement déconseillé!). On admettra que le diamètre minimal de la pupille de l’œil est de 2 mm et que la longueur focale image du cristallin est de 2 cm. 4- On reçoit le faisceau laser sur un écran. A quelle distance faudrait-il placer cet écran pour obtenir le même éclairement que celui produit par le soleil. Quelle serait alors la surface éclairée. (On considèrera la luminance totale du soleil). En déduire pourquoi un laser est peu adapté comme source d’éclairage. 2- La détection du rayonnement L’oeil 2- La détection du rayonnement L’oeil 1- Photométrie : rappels 2- Détection du rayonnement Définition des paramètres utiles pour la caractérisation des capteurs Capteurs qui convertissent l’énergie lumineuse en énergie électrique Deux grandes familles 3- Détecteurs thermiques rayonnement Élévation de température Modification des propriétés électriques du matériau 5- Détecteurs pour l’imagerie Œil, Emulsion photographique 4- Détecteurs photoniques Photon Création d’une charge électrique 2- La détection du rayonnement Réception d’un rayonnement Détecteur création d’un signal le plus souvent électrique Détecteurs thermiques Détecteurs quantiques ou photoniques Interaction rayonnement-matière Interaction photon – électron ou atome Élévation de la température du matériau Effet interne ou externe selon que la particule photoexcitée est ou non extraite du matériau Modification de ses propriétés électriques Phénomène thermique : lent, intégration de l’énergie Temps de réponse plutôt lents Réponse spectrale étendue Bon détecteur : facteur d’absorption spectral neutre, signal fourni % au Fe incident Bruit de photons plus élevé Effets internes Photoconduction (intrinsèque ou extrinsèque dans les SC,…) Effet photovoltaïque (jonction PN, PIN, avalanche,…) Effet externe Photoémission (cellule à vide, photomultiplicateur,…) variation de résistance : bolomètre •Il existe une seuil, pour >seuil, le quantum d’énergie du photon est insuffisant pour effet thermoélectrique : provoquer une transition thermopile, thermocouple •La réponse énergétique dépend fortement de variation de capacité : •Temps de réponse plus rapide lié au temps de détecteur pyroélectrique vie ou de migration des porteurs de charges 2- La détection du rayonnement Caractéristiques métrologiques Paramètres de signal Paramètres de bruit Qui servent à calculer le signal délivré Qui imposent les limites de fonctionnement Paramètres de signal Réponse (ou sensibilité) spectrale : R() signal.délivré R Fe courant (photomultiplicateur, ...) ou tension (thermopile, ...) Détecteurs thermiques : signal délivré proportionnel au flux absorbé R() est uniforme dans le domaine spectral où le facteur d’absorption est constant Détecteurs photoniques : signal délivré proportionnel au nombre de photons incidents F 1 pour < seuil R() p Fe h hc R( ) = 0 pour > seuil h=E Avec seuil=hc/E, et E : différence d’énergie entre les niveaux permis du matériau 2- La détection du rayonnement Paramètres de signal Allure théorique des courbes de réponse spectrale R() dé te ct eu rp ho to ni qu e * détecteur thermique seuil * à rendement quantique () uniforme R()=()e/hc Il faut aussi tenir compte de la transmission de la fenêtre placée devant la surface sensible 2- La détection du rayonnement Paramètres de signal Réponse (ou sensibilité) globale : R 2 R signal.délivré Fe ,total dFe d d dFe d d R 1 2 1 • Valable pour un signal optique non monochromatique • Dépend de la sensibilité spectrale du capteur et de la répartition spectrale du flux incident • Pour un détecteur donné, dépend des conditions d’exploitation : surface du détecteur, amplification incorporée... • Permet souvent de choisir entre plusieurs détecteurs en fonction des possibilités d’association détecteur - appareil de mesure électrique Exemple : Mesurer le flux lumineux issu d ’un laser HeNe de 0,5 mW de puissance ? Avec une thermopile dont R = 0,1 V/W, le signal n ’excèdera pas 50 µV Réalisation d’un montage soigneusement blindé et utilisation d’un voltmètre sensible ! 2- La détection du rayonnement Paramètres de signal Bande passante et temps de réponse Ces grandeurs concernent : les variations de la réponse du détecteur (électronique associée comprise) en fonction de la fréquence de modulation du flux incident A Bande passante : limitée par la fréquence de coupure à -3 dB (f3dB) 1 1/ 2 f3dB f f3dB : fréquence pour laquelle l’amplitude de modulation = 1/ 2 fois l’amplitude maximale (obtenue à basse fréquence) t Temps de réponse : temps mis par le signal pour atteindre 75 % de sa valeur asymptotique lorsque le détecteur est soumis à une variation d’éclairement très rapide du type fonction escalier s 1 0,75 Relation bande passante, temps de réponse : 1 2f3 dB L’inertie des détecteurs est due à des phénomènes complexes liés en particulier dans les semi-conducteurs à la durée de vie des porteurs 2- La détection du rayonnement Paramètres de signal Autres paramètres Étendue de mesure : Ecart entre les valeurs extrêmes (appelées portées) pouvant être prises par la grandeur à mesurer Zone de linéarité : Gamme de flux incident dans laquelle le signal délivré est proportionnel au flux incident En général limitée par : - le FEB aux bas flux - Le seuil d’endommagement aux forts flux Précision : caractérise l’aptitude du capteur à fournir une indication proche de la valeur vraie de la grandeur à mesurer Etalonnage à l’aide de sources et de détecteurs étalons souvent fournis par le National Institute of Standard and Technology (NIST) Hystérésis : mesure l'écart d'indication du capteur lorsqu'on atteint une même valeur de la grandeur mesurée par variation croissante continue ou décroissante continue 2- La détection du rayonnement Paramètres de bruit Paramètres de bruit Signal électrique lié au flux lumineux souvent très faible problèmes : connaître les sources de bruit intrinsèques au détecteur extraire le signal recherché du bruit de fond Quel est le signal lumineux minimum que l’on puisse détecter ? Détecter : pouvoir décider d’après une mesure du signal électrique si le détecteur est dans l’obscurité ou non Signal d’obscurité Courant ou tension mesuré en l’absence de flux utile Il est généralement décrit par une fonction aléatoire stationnaire du second ordre ergodique On s’intéresse principalement à sa variance : i2o i2o io io 2 Il peut être dû à un bruit d’origine interne et/ou un bruit d’origine externe 2- La détection du rayonnement Paramètres de bruit Origine interne Cause fondamentale de bruit dans les circuits électriques : agitation thermique Soit une population de porteurs de charges à la température thermodynamique T kT Energie thermique : 2 hc Energie d’un photon : si l’on impose un rapport 10 entre les 2 énergies, un détecteur quantique à T ambiante 2hc (T = 300K) ne peut servir à mesurer un flux lumineux dont 9,6µm 10kT Dépasser cette limite Maintient du détecteur à basse température Origine externe Rayonnement d’origine thermique émis par l’environnement Comparons par exemple pour un rayonnement de proche de 8 µm le flux provenant de : un fond à T ambiante (FB) un corps noir à 3000 K (FS) 2- La détection du rayonnement Paramètres de bruit Sachant que la luminance spectrale du corps noir est donnée par la loi de Planck: L() FB c1 5 e 1 c1 5 e FS c2 TB c2 TB 1 c1 c2 5 TS e 1 Avec c1=2hc² et c2=hc/k .SD .B avec h=6,63.10-34 J.s constante de Planck k=1,38.10-23 J.K-1 constante de Boltzmann B TB = 300 K B = 2 sr SD .SD . S avec TS = 3000 K S = 2(1-cos S) c2 TB FS e 2S 1 c .1 cos S 490 2 FB 2 TS e 1 Il faut que FS 1 FB S >> 3° ou alors B << 2 sr S S 2- La détection du rayonnement Paramètres de bruit Il existe une limite inférieure au flux minimum détectable, imposée par l’environnement, particulièrement importante pour les mesures dans l’IR Enveloppe refroidie pour limiter l’angle solide sous lequel est vu l’environnement chaud Détecteurs dits PHILRA (PHotodétecteurs Infrarouges Limités par le Rayonnement Ambiant) BLIP (Backgroung Limited Infrared Photodetection) : détecteur limité par le rayonnement ambiant avant d’être limité par les sources de bruit internes Le courant d’obscurité présente : - une sensibilité à la température => dérives thermiques peuvent être confondues avec variations lentes du signal - des fluctuation de sa valeur moyenne =>fixe l’amplitude mini des signaux détectables 2- La détection du rayonnement Paramètres de bruit Les différentes sources de bruit à la détection 2 Se manifestent sous forme de courant ou de tension. On s’intéressera à leur variance iB ou à leur écart type iB2 Bruit shot ou bruit de grenaille Bruit présent dans tout circuit électrique où le transfert d’énergie est décrit par des phénomènes quantiques => grandeur observée : somme d’événements individuels (ex : nb de particules qui changent d’état) Exemples : courant dans une cellule à vide (photoémission) courant traversant une barrière de potentiel (jonction PN) flux lumineux (transitions entre niveaux) Courant dans une diode : - dû à l’émission aléatoire des électrons par effet thermoionique. Prend en particulier naissance dans la résistance de charge. - bruit blanc (indépendant de la fréquence de mesure) - iB2 Shot 2eiSB où iS est la valeur moyenne du courant dans la diode B est la bande passante du circuit 2- La détection du rayonnement Paramètres de bruit Bruit photonique ou bruit quantique : - dû à la nature corpusculaire du rayonnement électromagnétique - bruit extrinsèque, peut être dû au signal ou au flux de photons émis par l’environnement - même expression. iS : courant correspondant à la valeur moyenne des photons détectés Bruit de Johnson ou bruit thermique Dû au mouvements aléatoires des charges engendrés par la température. Se manifeste dans tout conducteur à l’équilibre iB2 Johnson 4kTB R0 où k est la constante de Boltzmann, R0 est la partie réelle de l’impédance complexe du conducteur Bruit blanc 2- La détection du rayonnement Paramètres de bruit Autres types de bruit Bruit de génération - recombinaison : Dû aux fluctuations des transitions de génération et de recombinaison des porteurs dans un SC. - Certains des porteurs libres créés par les photons incidents peuvent se recombiner avant d’être collectés. - L ’excitation thermique peut générer des porteurs additionnels fluctuation du nombre de porteurs de charges, expression du type bruit de grenaille proportionnelle au taux moyen d’évènements Bruit en 1/f Dû aux évolutions à basse fréquence des propriétés macroscopiques des éléments de la chaîne de détection (intensité émise par la source, valeur résistance charge, …). Origine pas toujours bien connue. Amplitude en général 1/fB, où 0,8 < B < 1,2 Ne prédomine qu’à basse fréquence Utilisation de techniques de modulation : transposition de la bande passante utile autour d’une porteuse haute fréquence 2- La détection du rayonnement Paramètres de bruit Bruit total Les variances s’ajoutent : iB sources.bruit iB2 Il existe généralement une source de bruit prépondérante : dépend du domaine spectral ou fréquentiel du détecteur - bruit en 1/f négligé dès qu’on travaille à f>qqes kHz - Détecteurs fonctionnant ds le visible, NIR et IR très lointain : le bruit de Johnson l’emporte souvent sur le bruit de Shot - Ds l’IR entre 3 et 30 µm à T ambiante, bruit de fond souvent très importants => PHILRA Toutes les sources de bruit ne sont pas nécessairement connues caractérisation globale en terme de bruit par le flux équivalent au bruit et la détectivité 2- La détection du rayonnement Paramètres de bruit Flux équivalent au bruit FEB ou NEP (Noise Equivalent Power) : Flux lumineux qui produit, par unité de bande passante, un photocourant égal au bruit intrinsèque du détecteur (bruit mesuré en l’absence de flux utile sur le détecteur) Puissance de bruit du détecteur 2 iB NEP R B Sensibilité du détecteur Il s’exprime en W.Hz-1/2 Estimation du plus petit signal lumineux mesurable avec un rapport signal à bruit = 1 Dépend des conditions de mesure : - fréquence de modulation - composition spectrale du rayonnement - conditions de fonctionnement électriques ou thermiques... Le constructeur fournit souvent la valeur minimale, obtenue au pic de réponse spectrale du détecteur (R maximum) et à une fréquence choisie ni trop petite (bruit en 1/f) ni trop grande (BP limitée, atténuation de la sensibilité) 2- La détection du rayonnement Paramètres de bruit Détectivité D 1 NEP Elle s’exprime en W-1.Hz1/2 Pour pouvoir comparer plus facilement les détecteurs entre eux, on ramène le NEP ou la détectivité à l’unité de surface. La puissance de bruit interne varie le plus souvent linéairement avec la surface A iB2 iS A NEP A et la détectivité spécifique : D* D’où le NEP spécifique : A D A NEP Indication des conditions de mesure pour la valeur de D*: D* pour rayonnement monochromatique T pour rayonnement de corps noir , fréquence, bande passante D*(500 K, 800, 1) signifie que la température de couleur de la source est 500 K, la fréquence de modulation est 800 Hz, la BP de 1 Hz D*(6,3 µm, 800, 1) signifie que la longueur d’onde mesure est 6,3 µm 2- La détection du rayonnement Paramètres de bruit Exemple : Photoconducteur au PbS, surface sensible 6x6 mm² : D*(2 µm, 800, 1)=6.1010 cm.Hz1/2.W-1 NEP = 10 pW.Hz-1/2 Sensibilité au rayonnement thermique d’autant plus grande et dc détectivité maximale d’autant plus réduite que la coupure est proche du domaine spectral où le rayonnement thermique est important Pour augmenter la détectivité max => boîtier basse température avec angle de vision limité => spécif en plus : température et angle de vision Efficacité quantique Pour certains types de détecteurs comme les photomultiplicateurs bruit interne << bruit photonique NEP (caractérise le bruit interne) inutile pour estimer le flux minimum décelable Rapport signal à bruit proportionnel à F Dans ce cas, la qualité du détecteur est caractérisée par son efficacité quantique : nombre moyen d' électrons émis nombre moyen de photons incidents 2- La détection du rayonnement Paramètres de bruit Détectivité spécifique D* (cm.Hz1/2.W-1) Longueur d’onde (µm) Capteurs optiques 1- Photométrie : rappels 2- Détection du rayonnement Définition des paramètres utiles pour la caractérisation des capteurs Capteurs qui convertissent l’énergie lumineuse en énergie électrique Deux grandes familles 3- Détecteurs thermiques Œil, Emulsion photographique 4- Détecteurs photoniques rayonnement Élévation de température Modification des propriétés électriques du matériau Photon Création d’une charge électrique 5- Détecteurs pour l’imagerie 6- Dispositifs de refroidissement des détecteurs 3- Détecteurs thermiques 3.0- Introduction Les photodétecteurs thermiques sont en fait des thermomètres soumis à un transfert de chaleur radiatif Herschel découvrit le rayonnement IR en 1800 en utilisant un thermomètre à dilatation de liquide Dans le monde animal certains serpents (crotale, serpent à sonnette, boa, …) sont dotés de récepteurs IR de nature thermique La grande majorité de systèmes de détection d’usage courant (alarme, allumage automatique, …) sont basés sur la détection du flux IR rayonné par le corps humain et utilisent un capteur pyroélectrique Dans les laboratoires, les détecteurs thermiques sont très utilisés en métrologie 3- Détecteurs thermiques 3.1- Notions générales T Signal électrique, mécanique ou optique Variations spectrales de R Variations spectrales de l’absorption Partie sensible recouverte d’une couche noire - à fort coefficient d’absorption - ayant une réponse uniforme sur la plus grande gamme spectrale possible Ex. : suie d’or, A 1 de l’UV à l’IR relativement lointain - dont l’épaisseur est contrôlée pour limiter la masse thermique (une grande masse thermique allonge le temps de réponse et augmente le NEP) Avantages : - grande uniformité spectrale, - domaine spectral de fonctionnement étendu, - fonctionnement à T ambiante Inconvénients : - faible détectivité par rapport aux détecteurs photoniques - temps de réponse relativement élevé ( 1 ms) sauf pyroélectrique 3- Détecteurs thermiques Les différents types de détecteurs thermiques Détecteurs pyroélectriques Variation de la polarisation électrique spontanée avec la température Surtout utilisés pour les flux modulés ou pulsés Détecteurs thermoélectriques Apparition d’une f.e.m. suite à l’élévation de température d’une jonction entre deux métaux Surtout utilisés pour les flux continus Bolomètres Variation de la résistivité électrique avec la température Usage plus restreint Détecteurs pneumatiques Dilatation d’un gaz déformation de membrane, mesure optique ou électrique Usage très limité 3- Détecteurs thermiques 3.2- relation entre échauffement et flux incident Modélisation du détecteur thermique : corps d’épreuve de - capacité calorifique K - conductance thermique (entre le corps d’épreuve et l’environnement extérieur) G on néglige les pertes par convection interne au capteur Le processus d’échauffement du capteur soumis au flux F répond à l’équation : K dT F G(T Ta ) dt où T : température du capteur, Ta : température extérieure : fraction du flux absorbé Cas d’un flux constant : F = F0 Echauffement : T- Ta = T = F0 G t 1 exp = K/G constante de temps thermique Cas d’un flux modulé : F = F1cost Echauffement en régime permanent sinusoïdal : T- Ta = T = F1 G 1 2f 2 3- Détecteurs thermiques Cas d’un flux constant : F = F0 F0 Echauffement : T- Ta = T = G t 1 exp où = K/G : constante de temps thermique Cas d’un flux modulé : F = F1cost Echauffement en régime permanent sinusoïdal : T- Ta = T = Capteur performant si : Conductance thermique G Capacité calorifique K car échauffement car temps de réponse F1 G 1 2f 2 3- Détecteurs thermiques 3.3- Détecteurs pyroélectriques 3.3- Détecteurs pyroélectriques Principe Effet pyroélectique : Dans les matériaux cristallins dont la maille n’a pas de centre de symétrie une polarisation spontanée qui varie fortement avec la température déplacement global des électrons de liaison par rapport au réseau cristallin couche absorbante A d électrodes P matériau pyroélectrique Flux F déplacement de charges création d’un courant entre les électrodes On peut mesurer la variation de charges : dQ = A dP variation de la polarisation 3- Détecteurs thermiques 3.3- Détecteurs pyroélectriques Coefficient pyroélectrique : variation thermique de la polarisation autour d’une température donnée p dP dT en C.m-2.K-1 Caractéristiques : Sensibilité uniquement aux variations de charges détection des flux modulés ou pulsés, pas des flux continus Insensible au rayonnement ambiant continu pas de système de refroidissement Réponse plus rapide que celle des thermocouples Matériau Coefficient pyroélectrique à 25°C (C.m-2.K-1) Température de Curie LiTaO3 1,8.10-4 650 °C BaTiO3 7.10-4 120 °C T au-delà de laquelle la polarisation s’annule 3- Détecteurs thermiques 3.3- Détecteurs pyroélectriques Courant engendré par la variation thermique de la polarisation Ip Ce courant a pour amplitude dQ dP dT dF A dt dT dF dt I1 A p2fF1 G 1 2f dans le cas d’un flux modulé 2 constante diélectrique Cp Ip Cp Rp A d résistivité Rp Schéma électrique équivalent d’un détecteur pyroélectrique d A 3- Détecteurs thermiques 3.3- Détecteurs pyroélectriques Sensibilité en courant Ri I1 p2f A 2 F1 G 1 2f Ri Ap G 0 1 2 f Mesure d’un flux : la fréquence de modulation doit être > la fréquence de coupure Mesure de Ip montage convertisseur courant-tension BP limitée de l’amplificateur La fréquence de modulation ne peut pas être trop grande 3- Détecteurs thermiques 3.3- Détecteurs pyroélectriques Sensibilité en tension Ip Cp V1 A Avec Rp Cm p2fF1 R Vm R G 1 2f e RC Rm 2 1 2fe R mR p Rm Rp 2 C Cp Cm En général 1/2e > 1/2 et la BP correspond aux fréquences comprises entre ces deux valeurs RV V1 p2f A 2 F1 G 1 2f R 1 2fe Sensibilité maximale pour Rm >> Rp 2 3- Détecteurs thermiques 3.3- Détecteurs pyroélectriques Détectivité Bruit interne prédominant : Bruit de Johnson de Rp Valeur efficace du courant de bruit : iB 4kTB Rp NEP dans la bande passante du détecteur : I1 A d’où NEP p G pour f > 1/ 2 iB Ri B Et en posant c ' G Ap 4kT Rp K c' la chaleur volumique du matériau on a : NEP Ad pe Détectivité spécifique : D* A pe NEP c ' 4kTd 4kTAd 3- Détecteurs thermiques 3.3- Détecteurs pyroélectriques Ordres de grandeur des caractéristiques métrologiques Sensibilité en courant : de 0,1 à qqes µA/W Sensibilité en tension : dépend du montage peut atteindre 105 V/W Rapidité : dépend du montage Temps de montée : de 0,1 ms à 1 ns Bande passante : de 1 kHz à 100 MHz Détectivité spécifique D*(1000 K, 10Hz, 1) = de 108 à 109 cm Hz1/2W-1 3- Détecteurs thermiques 3.4- Détecteurs thermoélectriques 3.4- Détecteurs thermoélectriques Principe du thermocouple de base Jonction noircie éclairée Métal 1 voltmètre Jonction protégée du rayonnement incident Métal 2 Flux F f.e.m. E (effet Seebeck) Associations de métaux à fort coefficient thermoélectrique : cuivre – constantan bismuth – antimoine Jonction protégée compensation des variations de température ambiante 3- Détecteurs thermiques 3.4- Détecteurs thermoélectriques Thermopile Association de thermocouples en série (20-120) Soudures chaudes Soudures froides Augmentation de la tension mesurée 3- Détecteurs thermiques 3.4- Détecteurs thermoélectriques Réponse E = s T Pouvoir thermoélectrique du couple de métaux supposé constant dans la gamme de mesures D’où dans le cas d’un flux modulé : linéarité du détecteur et R E sF1 G 1 2f 2 E s 2 F1 G 1 2f R s G 0 f3dB 1 2 f 3- Détecteurs thermiques 3.4- Détecteurs thermoélectriques Détectivité Bruit interne prédominant : Bruit de Johnson de la résistance RT du thermocouple Valeur efficace de la tension de bruit : EB 4kTBR T Flux équivalent au bruit dans la BP du détecteur : NEP G 4k TR T EB s R B Détectivité spécifique : D* A s A NEP G 4k TR T G faible détectivité et réponse élevées mais BP réduite G dépend des échanges thermiques par la surface A des échanges thermiques le long des fils Lorsqu’on réduit G pour les fils leur résistance RT augmente D* diminue Augmenter D* et R dans dégrader la BP associer de nombreux thermocouples en série 3- Détecteurs thermiques 3.4- Détecteurs thermoélectriques Exemples et ordres de grandeur Couples de matériaux à fort pouvoir thermoélectrique Thermocouple de Horning : (Bi 95 %, Sn 5 %)/(Bi 97 %, Sb 3 %) s 100 µV/°C Thermocouple de Schwartz : (Te 33 %, Ag 32 %, Cu 27 %, Se 7 %, S 1 %) /(Ag2Se 50 %, Ag2S 50 %) s 1000 µV/°C Sensibilité dans la BP : de 0,1 à 100 V/W < sensibilité des détecteurs pyroélectriques Rapidité : de 1 à 100 ms >> temps de réponse des détecteurs pyroélectriques Détectivité spécifique à 300 K dans la BP : de 108 à 1010 cm Hz1/2W-1 3- Détecteurs thermiques 3.5- Bolomètres 3.5- Bolomètres Principe Capteur résistif de température Elément sensible : ruban ou couche mince ou plaque de métal ou de semi-conducteur recouvert d’une couche mince noire absorbante Mesure de la variation de résistance par montage potentiométrique ou pont de Wheatstone Réponse Variation de résistance du bolomètre Résistance d’obscurité du bolomètre R b RR 0 T Echauffement du bolomètre (faible) Sensibilité thermique de la résistance supposée constante dans le domaine d’échauffement R b R 0 3- Détecteurs thermiques 3.5- Bolomètres Pont de Wheatstone R1 Rs id Es R2 Rd Vm Rb R3 Tension de déséquilibre du pont (cas où R1 = R2 = R3) Vm E s R b E s R T 4 R0 4 Vm Es F1 R 2 4 G 1 2f Cas d’un flux modulé 3- Détecteurs thermiques 3.5- Bolomètres Fonctionnement linéaire La sensibilité vaut : R Vm E s R 2 F1 4 G 1 2f R E s R 4G 0 f3dB 1 2 f Augmentation de Es augmenation de R mais augmentation de T effet Joule Bruit R dans les SC On se fixe en général un échauffement maximal par effet Joule TJM … 3- Détecteurs thermiques 3.5- Bolomètres TJM 1 E2SM G 4R 0 Valeur maximale de la sensibilité RM R R 0 TJM 2 2 G 1 2f RM R R 0 .TJM 2 G Soit dans la BP Réponse élevée R0 grande avec R important G faible ( détecteur lent) 3- Détecteurs thermiques 3.5- Bolomètres Détectivité Bruit interne prédominant : Bruit de Johnson de la résistance Rb du bolomètre Valeur efficace de la tension de bruit : EB 4kTBR 0 Flux équivalent au bruit dans la BP du détecteur : NEP Détectivité spécifique : EB RM D* 4 GkT 1 2f TJM B R 2 A ATJM R 2 NEP 4 GkT 1 2f Indépendante de R0 ! Ordres de grandeur Sensibilité dans la BP : de 1 à 100 V/W Rapidité : de 1 à 10 ms Détectivité spécifique à 300 K dans la BP : de 108 à 109 cm Hz1/2W-1 3- Détecteurs thermiques 3.6- Détecteurs pneumatiques 3.6- Détecteurs pneumatiques La cellule de Golay Grille Cavité remplie de gaz Source Couche absorbante Rayonnement Détecteur Miroir flexible Principe de fonctionnement 3- Détecteurs thermiques Exercices Bolomètre et pont de Wheatstone C R Rs A id Es R Rd B Vm Rb Un bolomètre, caractérisé par sa résistance électrique Rb = R0 + Rb (Rb << R) est inséré dans le pont de Wheatstone schématisé ci-contre, où Rd est la résistance du dispositif de détection de l ’équilibre du pont, Es et Rs caractérisent la source. R D En utilisant les équations de Kirchhoff, donner l’expression du courant id indiqué sur le schéma en fonction de Es et des résistances du circuit. Le pont est dit équilibré lorsque VA = VB, en supposant que le pont est équilibré lorsque le bolomètre n’est soumis à aucun rayonnement, quelle condition satisfait R0 ? En supposant de plus que la résistance de la source est faible (Rs<<R, Rd) et que le dispositif de mesure est à grande impédance d ’entrée (Rd>>R), exprimez la tension de déséquilibre Vm en fonction de Rb puis en fonction de T. 3- Détecteurs thermiques Exercices Calcul des caractéristiques métrologiques Un bolomètre composite au Ge est utilisé pour voir Jupiter à 25 µm. Sa capacité calorifique K est de 2,6.10-12 J/K, sa conductance thermique G vaut 2,4.10-10 W/K, sa résistance d’obscurité R0 est de 3 M et sa sensibilité thermique R de 21 K-1 à Ta = 0,3 K (la température “ambiante” du détecteur). Si on fixe = 0,5, la surface absorbante A = 4 mm2 et un échauffement maximal par effet Joule TJM= 0,1 K, quelle est la valeur maximale de la sensibilité RM, la puissance équivalente de bruit et de la détectivité spécifique D* ? Trouver la tension d’alimentation maximale ESM et la constante de temps thermique . constante de Boltzmann : 1,381.10-23 J/K 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.0- Historique de l’effet photoélectrique 1887 Hertz : découverte expérimentale de l’effet photoélectrique => remise en cause de la théorie électromagnétique de Maxwell 1- Energie transportée par l’onde l’intensité => l’émission d’électrons ne doit dépendre que de l’intensité de l’onde pas de sa fréquence Pb : il existe un seuil photoélectrique (<0) 2- Si l’énergie lumineuse est faible, il suffit d’attendre que l’électron accumule suffisamment d’énergie pour être extrait Pb : si <0, premier électron observé dès 10-9 s, même si l’intensité est faible 3- Les électrons recevant une plus grande quantité d’énergie devrait être émis avec une vitesse plus grande Pb : La vitesse des électrons ne varie pas avec l’énergie mais leur nombre si 4- l’énergie de l’onde ne varie pas avec sa longueur d’onde Pb : la vitesse maxi des photoélectrons augmente quand diminue 1900 Planck : théorie des quanta l’énergie des ondes électromagnétique est émise et absorbée en portions discontinues et indivisibles : les quanta 1905 Einstein : la lumière n’est pas simplement émise ou absorbée sous forme de quanta, elle est constituée de quanta (qu’on appellera photons dès 1920) dont l’énergie est donnée par : E=h Energie cinétique de l’électron s’échappant du métal :E=h-W W travail d’extraction 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.0- Historique de l’effet photoélectrique => La théorie d’Eisntein explique des phénomènes inexpliqués par la théorie classique - Existence d’un seuil photoélectrique : h > W Effet immédiat : l’absorption d’un photon suffit à créer un électron La vitesse max ne varie pas avec le nombre de photons incidents mais avec la fréquence 1/2mv²= h - W 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.1- Les deux grandes classes Détecteurs quantiques : libération de charges au sein du matériau par absorption des photons incidents Seuil photoélectrique : déterminé par l’énergie d’excitation des électrons du matériau Effet photoélectrique externe Effet photoélectrique interne L’électron photo-excité L’électron photo-excité est éjecté du matériau est libéré au sein du matériau Détecteurs Détecteurs photoémissifs photoconducteurs ou photovoltaïques Variation de conductivité électrique Variation de ddp aux bornes de jonctions entre zones homogènes 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2- Les détecteurs photoémissifs 4.2.1- Principe Effet photoélectrique --> métaux, semi-conducteurs, isolants Energie minimale requise : # entre dernier niveau occupé par les e- et niv. du vide Photon d ’énergie sup => énergie cinétique pour l ’e- photoexcité Observation des électrons émis e- Anode polarisée > 0 Mesure du courant Circuit anode-cathode Cathode Matériau photoémissif Pour un flux incident donné le courant croît avec la tension de polarisation jusqu’à une limite dite de saturation Tous les e- émis sont collectés Cellule photoémissive à vide Cellule photoémissive à gaz Photomultiplicateur Anode et cathode sont dans le vide Amplification par ionisation des atomes du gaz (chocs atomes / photoélectrons) Anodes auxiliaires : dynodes à fort coefficient d’émission secondaire, potentiel croissant Amplification +grande, +fidèle 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.2- Mécanisme de la photo-émission Trois étapes Libération d’un epar absorption d’un photon h > Eg h BC Déplacement et collisions au sein du matériau Perte d’énergie Extraction de l’e- s’il peut franchir la barrière de potentiel entre le SC et l’extérieur Niveau du vide h Ea :affinité électronique : (énergie de l’e- au repos dans le vide) – (énergie moyenne des e- dans le solide) Eg : largeur de bande interdite BV Surface du solide Rendement quantique : nombre moyen d’électrons émis par photon incident < 30 % (souvent < 10 %) C’est la valeur de dans le domaine spectral d’utilisation qui est le critère d’utilisation des matériaux employés 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.3- Matériaux de la photocathode Photocathode métallique Affinité électronique de qqes eV ( 5 eV) Pas d’émission d’électrons par agitation thermique à T ambiante Pb du métal : l’e- photo-excité transfert rapidement son surplus d’énergie à ses voisins (phénomène régi par la distance de thermalisation : qqes mailles cristallines) Déplacement limité dans le matériau Zone photo-active = couche de très faible épaisseur (qqes nm) sur la surface Composés de métaux alcalins -AgOCs sensible dès l'infrarouge ; - Cs3Sb, (Cs)Na2KSb, K2CsSb sensibles dans le visible et aux longueurs d'ondes inférieures -Cs2Te, Rb2Te, CsI dont le seuil de sensibilité est dans l'ultraviolet Les rendements quantiques varient, selon la composition exacte, de 1% à 20%. 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.3- Matériaux de la photocathode Matériaux semi-conducteurs Apport d’énergie > largeur de bande interdite Durée de vie de la paire électron-trou grande longueur de diffusion (qqes µm) Alliages ternaires III – V : Eléments des 3ème et 5ème colonnes de la classification périodique : GaAsxSb1-x, Ga1-xInxAs, InAsxP1-x, seuil dans l’IR (vers 1 µm) + traitement de surface par métaux alcalins Ea très faible voire négative Tout e- promus dans la BC et à portée de la surface peut facilement sortir rendement quantique (30 %) Ea métal alcalin Ea SC dopé P EF BC BV Couche alcaline de faible épaisseur sur un SC Ea 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.4- Courant de la photocathode Deux techniques de réalisation de la cathode Emission par la face éclairée e- enveloppe matériau photoémissif déposé sur support métallique Emission par la face opposée Configuration la plus utilisée car usage plus aisé e- Enveloppe Cathode, matériau photo-émetteur Couche mince 10 nm 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.4- Courant de la photocathode Courant d’obscurité de la photocathode : Iko Source : émission thermoionique 2 Ws kT Loi de Richardson Dushman : Iko ACT exp A : surface de la photocathode C = 1,2.106 MKSA Ws : travail de sortie (Evide – EF) Iko croît avec T Iko quand Ws c-à-d quand seuil : on est + sensible au rayonnement IR Matériau AgOCs Na2KSb(Cs) Cs3Sb K3Sb Courant d'obscurité à 20ºC en A/cm2 10-12 10-15 10-15 10-16 - 10-17 Longueur d'onde de seuil (nm) 1200 870 670 550 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs Sensibilité de la photocathode : Rk enveloppe Aux grandes seuil de sensibilité nature photocathode Aux courtes seuil de sensibilité absorption de l’enveloppe cathode T 0 aux courtes 0 aux grandes L’ensemble définit la réponse spectrale Nb de photons incidents : ni Fp h Fp hc Nb de photons transmis par l’enveloppe : nt T ni Nb d’e- primaires émis par seconde : ne nt Courant cathodique : Ik ene Réponse spectrale : R k e T Ik Fp Fp hc e T hc Il existe un courant max autorisé Endommagement cathode par échauffement Indépendante du flux incident réponse linéaire Fp 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.5- Cellule à vide enveloppe Forme et disposition des électrodes =>flux maximal sur la cathode =>collecte du max d’e- par l’anode Vide de l’ordre de 10-4 à 10-6 Pa cathode Relation courant tension anodique K A Rm - + E Ia Montage de base de la cellule Droite de charge : Ia E s Vak Rm 1 dIa Résistance interne de la cellule : dVak F Zone de saturation Zone de charge Ts les e émis sont collectés par l’anode d’espace La cellule se comporte comme une source de courant dont la valeur ne dépend que du flux incident est très grand ( 1010 ) 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.5- Cellule à vide Courant d’obscurité Source : émission thermoionique de la cathode courant de fuite entre électrodes (peut être minimisé par construction) Sensibilité Dans la zone de saturation Ia Ik R a R k comportement linéaire q T Ik Fp hc Rapidité Temps de transit des e- entre cathode et anode quand Vak : peut être < 10-9 s ne limite pas la rapidité Rapidité limitée par la constante de temps électrique de la cellule et des circuits associés Schéma équivalent du montage de base Ia C p Fréquence de coupure : fc Rm 1 2R mCp Constante de temps : = RmCp Temps de montée : tm= 2,2 Car >> Rm 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.5- Cellule à vide Bruit de fond Sources de bruit internes à la cellule : bruit de Schottky du courant d’obscurité : ibS 2eBIao bruit de Johnson de la résistance interne : ib Courant de bruit total : iB 2 4kTB 2 ib S ib Bruit de Johnson de la résistance de charge Rm : ibR 4kTB Rm Sources de bruit internes prépondérantes si : R m 4kTB 2 2 ib S ib Soit pour Iao = 10 pA , B = 1 Hz et = 1010 , Rm > 3.109 ! Or habituellement Rm < 100 M pour ne pas trop réduire la rapidité du dispositif Le bruit de Johnson de la résistance de charge Rm est la principale source de bruit 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.5- Cellule à vide Ordres de grandeur Courant d’obscurité : 10-8 à 10-13 A Sensibilité : 10 à 100 mA/W Rapidité : pour la mesure des faibles flux Rm élevée (1 à 100 M ) de 10 µs à 1 ms pour la mesure des flux impulsionnels Rm reduite (50 ) de qqes ns (possibilité de délivrer des courants de crête très intenses) Applications Choix du type de photocathode adapté au domaine spectral reçu Linéarité Très faible sensibilité thermique Possibilité de délivrer des courants de crête très intenses Photométrie Mesure de flux impulsionnels : lampes flash, lasers 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.6- Cellule à gaz enveloppe Gaz rare (argon) à faible pression : 1 à 10 Pa cathode Ionisation des atomes de gaz par choc avec les électrons émis par la cathode Amplification par 5 ou 10 du courant cathodique Relation courant tension anodique Amplification d’autant plus importante que Vak est grande Vak faible Accélération faible pas d’ionisation idem cellule à vide Limiter Vak pour éviter destruction photocathode (souvent < 90 V) 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.6- Cellule à gaz Propriétés Sensibilité : - 5 à 10 fois celle de la cellule à vide - augmente avec le flux incident comportement non linéaire - se détériore avec le temps (bombardement ionique de la cathode) mauvaise stabilité Rapidité : - accroissement du temps de transit cathode – anode (chocs et faible mobilité des ions) limite la rapidité - de l’ordre de la ms Type de détecteur photoémissif très peu utilisé 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Principe Potentiel croissant Recouverte d’un matériau à fort coefficient d’émission secondaire 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Autres configurations Anode Photocathode Flux lumineux Dynodes Choix de la forme des dynodes, de leur répartition spatiale, du système de focalisation pour - Maximiser l’efficacité de collecte et de transfert des électrons - Egaliser les temps de transit des électrons entre dynodes car dispersion des temps de la rapidité 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Gain M Tous les électrons émis par la cathode n’atteignent pas la première dynode Efficacité de collection : nc Tous les électrons issus d’une dynode n’atteignent pas la dynode suivante Efficacité de transfert : nt Chaque électron frappant une dynode libère plusieurs électrons secondaires Coefficient d’émission secondaire : M= courant anodique = nc (nt )n photocourant cathodique Si le photomultiplicateur compte n dynodes Ordres de grandeur n : de 5 à 15 : de 5 à 10 varie avec la ddp appliquée nt et nc > 90 % M : de 106 à 108 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Coefficient d’émission secondaire Emission secondaire : libération d’électrons au sein du matériau puis vers l’extérieur Phénomène similaire à la photoémission mais l’énergie est apportée par un électron mêmes matériaux à fort coefficient d’émission secondaire et à fort rendement quantique e- d nx px dx e- 0 e- d x Nombre d’électrons secondaires libérés par un électron primaire à la profondeur x Probabilité de sortie d’un électron libéré à la profondeur x Calcul théorique => hypothèses n(x) diminution par unité de longueur de l’énergie de l’e- primaire avec dWp (x) dx p bW (x) et p(x) p 0 e x c n(x) a dWp (x) dx avec constantes qui dépendent du matériau loi (Wp) calculée conforme à l’expérience 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Résultats de l’expérience : varie avec l’énergie de l’électron incident, il passe par un maximum pour une énergie 100 eV on choisit la d.d.p. V entre dynodes pour, au plus, atteindre cette énergie Pour V < Vmax, croît avec V selon une fonction qui dépend du matériau de l’expérience on tire par exemple: = 0,2 V0,7 pour Cs3Sb ou = 0,025 V pour AgOMg 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Montage électrique de base HT continue D1 Rm D2 photocathode anode signal Alimentation des dynodes : pont diviseur résistif sous HT Gain VHTn nécessité grande stabilité de l’alimentation VHT de l’ordre de 0,5 à 3 kV, d.d.p. de 50 à 100 V entre dynodes Courant anodique mesuré aux bornes de Rm : Vm=RmIa Couches superficielles des dynodes fragiles limitation du bombardement électronique limitation du courant anodique limitation de la tension d’alimentation et du flux incident! Ne supporte pas la lumière ambiante 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Courant anodique d’obscurité Ia0 Sources : émission thermoionique de la cathode (source du courant acthodique d’obscurité) courant de fuite entre les diverses électrodes (peut être minimisé par construction) Ia0 M Ik0 Loi de Richardson Dushman : augmente avec la température souvent un système de refroidissement associé valeur de 10 à 100 fois si T de Tambiante à -20 °C Augmente avec la tension d’alimentation et avec sa répartition entre dynodes Dépend du matériau utilisé, du nombre de dynodes et de leur répartition Ordre de grandeur : 1 à 100 nA à Tambiante 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Sensibilité I a = M Ik q T Comme on l’a vu Ik qne Donc Ia M VHT hc F q T hc F M est indépendant de Ia dans les conditions d’utilisation normales réponse linéaire R a MVHT q T MVHT R k hc Ordre de grandeur : Rk : de 10 à 100 mA/W Ra : de 103 à 107 A/W au maximum de sensibilité spectrale Mesure possible de très faibles flux R peut varier avec T : de ±0,1 % à 1 % par °C selon de matériau enceinte à T stabilisée 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Rapidité Limitée par la dispersion des temps de transit photocathode - dynodes - anode Temps de transit moyen : tr const VHT (typ. 10 à 100 ns) Origine de la dispersion : - distribution des vitesses initiales des électrons émis - différences de longueur des trajectoires des e- entre cathode et anode tr de 1 à 10-2 ns Variation brusque du signal tc ou tm du même ordre de grandeur que tr Signal modulé fréquence de coupure 1/ tr soit période du signal de l ’ordre de tr Peut aussi être limitée par la constante de temps électrique (uniquement si Rm pas assez faible)… 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Rapidité (suite) Ia Montage de base Rd C p Fréquence de coupure : fc Rm 1 2R mCp Constante de temps : = RmCp Temps de montée : tm= 2,2 Photomultiplicateur détecteur très sensible et très rapide Car Rd >> Rm 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Bruit de fond Sources de bruit principales : - Le courant d’obscurité cathodique Ik0 : Fluctuations de Ik0 bruit de Schottky Ibk 2qIk 0B d’où sur l’anode Iba = M Ibk - Les fluctuations de l’émission secondaire des dynodes facteur multiplicatif m sur le bruit d ’origine cathodique Iba = m M Ibk avec m 1 1 1 Réduction du bruit : - Maximiser 1 - Réduire Ik0 en refroidissant 1 coefficient d ’émission de la 1ère dynode pour les autres 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Bruit de fond Le bruit de Johnson de la résistance de charge Rm n’est pas prédominant : IbR Et IbR < Ia si Rm 2kT mM qIkO 2 4kTB Rm Cette condition est presque toujours réalisée Et contrairement au cas de la cellule à vide le choix d’une grande Rm ne limite pas la rapidité 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Flux équivalent au bruit NEP Iba Ra B m 2qIk 0 Rk Pour Sk = 10 mA/V, m = 1,2 et Iko = 10-16 A, on a : NEP = 6,7 10-16 W.Hz-1/2 En réduisant Iko par refroidissement de la cathode, des valeurs de NEP de l'ordre de 1017 W.Hz-1/2 peuvent être atteintes. Les notions de détectivité et de NEP n’ont plus d’utilité pour ce type de détecteur, qui peut détecter l’arrivée d’un photon unique. On parle alors de technique de comptage de photons et la grandeur primordiale devient le rendement quantique de la photocathode 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Applications Intérêts : Grande sensibilité Bruit de fond minimal Détection de signaux optiques très faibles continus ou pulsés Rapidité élevée radiométrie astronomique spectrophotométrie télémétrie laser Choix des matériaux photocathode et fenêtre adaptation de la réponse spectrale au rayonnement étudié Limitations : Encombrement important, fragilité, prix élévé, HT stabilisée 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Exercice Le photomultiplicateur THORN EMI type 9427B a pour = 0,8 µm les caractéristiques suivantes : - Sensibilité cathodique 6 µA/W ; - Gain global M = 107 ; - Courant d’obscurité cathodique Iko = 2.10-15 A. En prenant pour le facteur cathodique m = 1,2, trouvez la puissance équivalente de bruit. Quelle doit être la résistance de charge pour que le bruit de Johnson ne soit pas prédominant à 25°C? Données : Constante de Boltzmann : 1,381.10-23 J/K q = 1,602.10-19 C 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3- Les détecteurs à effet photoélectrique interne 4.3.0- Principe Création de porteurs de charges libres énergie du photon > gap du matériau BC électron soit >hc/W ou (µm) > 1,24 / W (eV) BC W=Eg=hc/ Niveau donneur EF BV trou électron BC W=hc/ Niveau accepteur électron W=hc/ Photon BV BV trou Semi-conducteur intrinsèque Semi-conducteur dopé N Semi-conducteur extrinsèque création d’une paire e--trou création d’une paire e--trou lié création d’une paire e--trou W < Eg 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.0- Principe Récupération des charges : les drainer vers l’extérieur de la zone d’interaction pour éviter la recombinaison des paires Deux modes de fonctionnement Mode photoconducteur : Porteurs de charges séparés par un champ électrique externe (photorésistance ou photodiode polarisée en inverse) Mode photovoltaïque : Séparation produite par l ’existence du ddp interne au dispositif, créée par une jonction (jonction PN ou PIN) pas de polarisation externe Matériaux : Si : domaine visible et proche IR (seuil < 1,13 µm, E=1,1 eV) Ge : proche IR (seuil < 1,91 µm, E=0,65 eV) HgCdTe IR moyen et lointain Exemple d’utilisation : Transmission par FO 3 fenêtres de transmission I = 850 nm photodiodes en Si II = 1300 nm et II = 1550 nm Ge et InGaAs (moins de bruit que Ge) 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.0- Principe Absorption des matériaux semi-conducteur Les photons sont absorbés dans le matériau suivant une loi exponentielle avec la profondeur : F(x)= F0 exp(-x) coefficient d ’absorption (en cm-1) qui dépend du matériau (de l ’énergie de la BI) et de la longueur d’onde F0 est le flux incident, F(x) le flux à une distance x de la surface du matériau Détection efficace épaisseur de matériau > longueur d’absorption La = -1 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance Variation de résistance et donc de conductivité sous l’effet du rayonnement L A V Système étudié : échantillon de semi-conducteur dopé N (Nd : densité de sites donneurs d’e-) de volume A x L Conduction principalement de nature extrinsèque : transport du courant assuré essentiellement par les e- libres de la BC (porteurs majoritaires) Densité moyenne des porteurs majoritaires : n Mobilité des porteurs majoritaires : 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance Courant d’obscurité Densité de porteurs dans l’obscurité no ? Taux de création volumique d’électrons libres par agitation thermique : c = a (Nd - no) avec a e qWd kT Nb de porteurs non ionisés Taux de recombinaison : r = r no² Taux de recombinaison Densité de porteurs libres x densité d’atomes ionisés A l ’équilibre (régime stationnaire) : r = c a a2 aNd no 2 2r r 4r Courant d ’obscurité Io ? I0 V V0 A Vq An0 Rc L L 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance Photocourant - réponse Densité d’électrons à l’équilibre sous éclairement : n ? Taux volumique de création d’électrons libres par les photons en présence du flux F : F 1 1 R F AL hc Coeff de réflexion en intensité Rendement quantique A l ’équilibre (régime stationnaire) : r = c + F Flux augmente le nombre de porteurs libres diminue la résistance du matériau Si éclairement suffisamment important contribution de l’agitation thermique négligeable c (avec flux) < c (obscurité) << F bilan à l ’équilibre : r = F et donc : n 1 1 R F rAL hc 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance D ’où le photocourant Ip : Ip Vqn 1 A Vq 2 L L AL 1 R F r hc Courant F1/2 réponse non linéaire Le modèle simplifié utilisé ne prend pas en compte tous les phénomènes dans la pratique Ip F avec 1/2 < < 1 Gain Rapport du nombre d ’e- collectés dans le circuit extérieur à l’échantillon au nombre de porteurs photo-excités à l’intérieur Ip qF AL V n L2 F n n n : durée de vie d’un électron photo-excité r F L2 L2 L2 V LE L v Champ électrique dans le SC L tr : Temps moyen de transit des e- à travers le semi-conducteur v Vitesse moyenne des porteurs majoritaires 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance D ’où l ’expression du gain : n tr Augmenter la durée de vie des porteurs a l’inconvénient d’augmenter le temps de réponse du détecteur On recherchera donc à raccourcir le temps de transit : - Diminution de L (forme de ruban) - Champ électrique élevé (limité par le claquage du matériau) Cellule photoconductrice en ruban 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance Résistance de la cellule Rc Rc Rc0 (résistance d’obscurité) // Rcp (due à l’effet photoélectrique) R cp constante Rc Cas habituel : Rcp << Rc0 R c0R cp R c0 R cp V F Ip R c0 cF R c0 cF Rc = cF- Rc ne varie pas linéairement avec le flux incident, mais linéarisation possible dans une plage de flux limitée ! ajout d’une résistance fixe en parallèle sur la cellule Rc dépend de la température : sensibilité thermique d’autant plus faible que F est fort 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance Sensibilié de la cellule R() I = I0 + Ip Conditions habituelles d’utilisation : I0 << Ip Rapport de transfert statique : I V Sensibilité : F 1 F c I V 1 F F c I = Ip = VF/c Même ordre de grandeur 0 < <1 V doit rester modéré pour ne pas trop élever la température par effet Joule 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance Détectivité spécifique D* Sources du bruit interne : - Agitation thermique (bruit de Johnson) - Fluctuations de création et recombinaison des porteurs Sources du bruit externe : - Rayonnement thermique de l’environnement (d’autant plus important que la longueur d’onde de seuil est grande) Ordre de grandeur : de 108 à 1011 cm Hz1/2 W-1 à la longueur d’onde de pic p D* décroît rapidement - lorsqu’on s’écarte de p - lorsque le température augmente Variations de D* avec la fréquence de modulation : passe par un maximum diminue aux basses fréquences à cause du bruit en 1/f diminue aux hautes fréquence à cause de la diminution de la sensibilité après la fréquence de courpure 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance Applications Avantages : rapport de transfert statique et sensibilité élevés Inconvénients : non linéarité de la réponse en fonction du flux temps de réponse assez élevé ( 0,1 µs à 100 ms) et bande passante limitée instabilité des caractéristiques dans le temps (vieillissement en particulier dû aux échauffements) sensibilité thermique refroidissement nécessaire dans certains cas Type d’utilisation : discrimination de niveaux de flux différents (connaissance de la valeur précise du flux non nécessaire) commutation d’un dispositif à deux états conversion d’impulsions optiques en impulsions électriques Modes d’utilisation : montages électriques de mesure de résistance 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance Exercices Détectivité d’un détecteur photoconducteur thermique IR Soit un détecteur fonctionnant dans l’IR constitué d’un photoconducteur en HgCdTe, permettant de détecter des signaux optiques IR jusqu’à une longueur d’onde c=10 µm. Le photoconducteur possède plusieurs sources de bruit et se trouve dans un environnement à la température T. 1- Ecrire le courant généré par un signal optique incident de puissance optique Fs à c en fonction du gain du photoconducteur, de son rendement quantique et du flux incident. On supposera un coefficient de transmission en intensité égal à 1. 2- Ecrire l’expression du bruit de grenaille total en tenant compte des contributions du signal, du rayonnement environnant et du bruit d’obscurité I0=V/Rc0. Pour un photoconducteur le bruit de grenaille est dû au phénomène de génération – recombinaison des porteurs et possède deux contributions équivalentes, celle due à la détection de photons et celle due à l’émission aléatoire des électrons par agitation thermique. Par conséquent, on multipliera son expression par deux. Ecrire l’expression du bruit d’amplificateur de résistance équivalente RA (bruit thermique) 3- On rappelle que le flux équivalent au bruit est le flux lumineux qui produit, par racine de bande passante, un photocourant égal au bruit intrinsèque du détecteur. En utilisant les expressions des questions 1 et 2 donner les puissances optiques équivalentes de bruit, NEP, pour les différents contributions. 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance Exercices 4- Le photoconducteur possède les propriétés suivantes : longueur W=0,1 mm, surface W², temps de vie des porteurs 10-6 s, mobilité 104 cm².V-1.s-1 et rendement égal à 1. Calculer D*obs pour une détection limitée par le bruit d’obscurité du détecteur. On donne Rc0=100 à T=300 K et à c=10 µm, constante de Boltzmann : 1,381.10-23 J/K, charge de l’électron : 1,602.10-19 C, constante de Planck : 6,626.10-34 J.s, vitesse de la lumière dans le vide : 2.998.108 m/s. 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance Exercices Utilisation d’une photorésistance RTC 61 SV Les caractéristiques de cette photorésistance au sulfure de plomb, sensible dans le proche infrarouge sont les suivantes : Vm Domaine spectral : 0.3 - 3 µm max = 2.2 µm Rc Rm Rc0 = 1,5 M Sensibilité à 2 µm : 8.104 V.W-1 D*(2, 800, 1) = 4.1010 cm.Hz1/2.W-1 E Surface photosensible : 6 mm x 6 mm Schéma électrique du Temps de réponse : 100 µs montage de base Valeurs limites : tension = 250 V, Intensité = 0,5 mA 1- On utilise le montage électrique schématisé ci-dessus, où Rc est la résistance de la cellule photoconductrice et Rm la résistance de charge. Exprimer Vm la tension mesurée aux bornes de la résistance de charge en fonction de Rc et de Rm. Sachant qu’une variation de flux lumineux induit une variation Rc de la résistance du détecteur, donner l’expression de la variation de tension résultante. Que doit-on choisir comme résistance de charge pour rendre cette tension maximale ? 2- Donner la valeur de la bande passante du détecteur et du flux équivalent au bruit au maximum de réponse spectrale. En supposant que les appareils de mesure n’introduisent pas de filtrage supplémentaire et en fixant le seuil de mesure à 6 fois le NEP, quel est le plus petit signal électrique que l’on pourra mesurer ? Caractéristiques de l’appareil de mesure ? 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode Principe BC BC Niveau donneur EF EF Niveau accepteur BV Équilibre thermodynamique Énergies de Fermi égales Abaissement des BV et BC dans le SC dopé N et élévation dans le SC dopé P BV Semi-conducteur dopé N N P EF N Apparition d’une barrière de potentiel à la jonction Semi-conducteur dopé P P Diagramme énergétique pour une jonction P-N E V Vb Champ et potentiel de jonction Diffusion des porteurs majoritaires d’un échantillon vers l’autre N Zone de déplétion Il apparaît une zone appauvrie en porteurs majoritaires autour P de la jonction p n Densité de porteurs majoritaires 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode En l’absence de champ extérieur le courant à travers la jonction est nul : 2 courants qui s’opposent E N P t porteurs Créés par ionisation Par agitation thermique majoritaires des dopants eePar le champ électrique t porteurs minoriitaires Application d’une tension inverse Vd augmentation de la barrière de potentiel moins de porteurs majoritaires peuvent la franchir Ej P Créés par activation thermique + Ir N courant à travers la jonction : e- qV I I0 exp d I0 kT porteurs majoritaires + Vd Si Vd porteurs minoritaires kT = -26 mV à T = 300 K q -I = I0 = Ir courant inverse de la diode 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode Flux incident création de paires électrons – trous (effet photoélectrique) séparation de ces porteurs par le champ E dans la zone de déplétion (ailleurs pas de champ donc recombinaison) déplacement dans même sens que porteurs minoritaires augmentation du courant inverse Ir h Ej P e- + t Ir + N e- 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3.2- photodiode Réalisation et composants 4.3- A effet photoélectrique interne 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode Fonctionnement en mode photoconducteur Le montage comporte une source de tension qui polarise la photodiode en inverse N Es P Vd Ir augmente linéairement avec F0 Ir I=-Ir Vseuil V Rm Droite de charge RmIr=Vd+Es Flux croissant qv d I 0 Ip kT Courant inverse qui traverse la diode (Vd < 0) : Ir I0 exp Avec courant photoélectrique : Ip q 1 R hc F0 e x Pour Vd suffisamment petit et pour des éclairements pas trop petits : Ir = Ip F0 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode Montage électrique équivalent de la photodiode rs Ir rd Cd rd //: résistance dynamique de la jonction, valeur élevée en mode photoconducteur 1010 rs série: résistance des contacts ohmiques, qqes dizaines d’ohms Cd //: capacité de la jonction, dépend de la surface, de la largeur de la ZCE, dizaine de pF en l’absence de polarisation, décroît lorsqu’on applique Vd (augmentation de ZCE) Si on utilise une résistance de charge Rc pour visualiser le photocourant, l ’ensemble du montage est comparable à un filtre RcCd du 1er ordre: bande passante à la fréquence de coupure fc = 1/(2 RcCd) Produit Gain. BP = constante 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode Fonctionnement en mode photovoltaïque Photodiode non polarisée fonctionne en générateur I Vco ou I=-Ir Vseuil Rm V Point de fonctionnement Résistance de charge Rm (celle de l’appareil de mesure) Droite de charge RmIr=Vd Flux croissant Diode générateur de courant ou de tension 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode Mesure de la tension en circuit ouvert Vco (Rm >> rd) Flux augmentation de Ip : courant des porteurs minoritaires diminution de Vb de la hauteur de la barrière de potentiel accroissement du courant des porteurs majoritaires Ir = 0 soit on en déduit : qVb Ir I0 exp I 0 Ip 0 kT Ip kT log 1 Vb q I0 avec Ip Vb est mesurable en circuit ouvert : Vco = Vb -aux faibles éclairements : Ip << I0 donc - aux forts flux : I0 << Ip donc Vco Vco q 1 R hc F0 e x kT Ip F0 (réponse linéaire mais q I0 tension faible) Ip kT log 1 q I0 (tension plus importante 0,1 – 1 V mais réponse non linéiare) 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode Montage électrique équivalent de la photodiode rs Ir rd Cd En mode photovoltaïque Cd //: capacité de la jonction 5 à 10 fois + grande que Cd en mode photoconducteur Mesure du courant de court-circuit Icc (ampèremètre Rm << rd) rs Rm Ir rd Cd I Rm << rd I Ir Rm Vd 0 et Ir Ip soit Icc = Ip F0 Absence de courant d’obscurité réduction du bruit de grenaille mesure de très faibles flux 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode Courant d’obscurité I0 de l ’ordre du nA en mode photoconducteur Grande sensibilité à la température : I0 et donc Vc0 augmentent avec T 1 dVc 0 0.8% / C Vc 0 dT Sensibilité Ip q 1 R hc F0 e x Ip F0 sur une très large plage de flux (5 à 6 décades) q1 R e x R hc Le rendement quantique, le coefficient de réflexion et le coefficient d’absorption dépendent de la longueur d’onde A flux élevé, Ir = Ip dans le mode photoconducteur et Icc = Ip dans le mode photovoltaïque même courbe de réponse spectrale dans les deux modes de fonctionnement Faible variation de la sensibilité spectrale avec T 1 dIp 0.1% / C Ip dT 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode Temps de réponse Apparition très rapide du courant photoélectrique sous flux : 10-12 s Temps de réponse limité par le circuit électrique rs Ir Schéma équivalent : rd Cd Rm Photodiode Cp capacité parasite (câblage) circuit de mesure Si on néglige rs (qqes dizaines d’ohms), la constante de temps du circuit s’écrit : C d C p rdR m rd R m Soit pour Rm << rd 1010 : C d C p R m dépend : - du mode d’utilisation de la photodiode qui détermine la valeur de Cd (mode photoconducteur, Cd faible donc temps de réponse faible mesure de flux impulsionnels) - de la valeur de la résistance de charge 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode Réponse en fréquence En négligeant rs et en prenant Rm << rd, on montre que, pour un flux modulé d ’amplitude F1, l ’amplitude de la tension aux bornes de Rm est donnée par : V1 RF1R m 1 f / fc 2 où R est la sensibilité du détecteur et où fc 1 2 1 2C d C d R m 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode Bruit de fond - Détectivité Sources de bruit internes à la photodiode : 2 bruit de Schottky : IbS 2q I0 Ipm B , I0 : courant d’obscurité Ipm : courant dû au flux moyen 2 bruit de Johnson de la résistance interne rd : IbR 4kTB rd Courant de bruit total : IbD IbS IbR 2 2 2 Exemple de calcul : Diode au Si FTP 102 (Fairchild) à 25°C, polarisation inverse 10 V Surface photosensible A : 7,75.10-3 cm² Sensibilité R(0,8 µm) : 0,6 µA/µW Détectivité spécifique D*(0,8 µm, 1000, 1) : 8,8.1012 cm.Hz1/2.W-1c Courant d’obscurité I0 : 0,1 nA 2 2 IbD R A Densité spectrale de bruit total : = 36.10-30 A²Hz-1 B D* 2 IbS DS du bruit de Schottky du courant d’obscurité : 2qI0 = 31.10-30 A²Hz-1 B Source de bruit prépondérante : courant d’obscurité Suppression du courant d’obscurité en mode photovoltaïque si mesure de Icc 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode Bruit de fond - Détectivité Bruit lié à la détection : bruit de Johnson de la résistance de charge Rm : 2 Rm en série avec rs IbR 4kTB rs R m Dans le cas classique où Rm >> rs : 2 IbR 4kTB Rm Rem : on peut négliger les capacités aux fréquences < fc Pour que le bruit dû à la résistance de charge soit inférieur au bruit propre de la photodiode, il faut que : 2 R m 4kT2 D * AR Rm grande diminution du bruit thermique réduction de la bande passante, donc réponse plus lente compromis nécessaire 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode Exercice Bruit dans une photodiode UDT PIN 10 On donne les données constructeur suivantes : Sensibilité : 0,4 A.W-1 Courant d’obscurité (à 23 °C) : 0,5 µA NEP (pour 1 Hz de BP) : 10-12 W Surface : 1 cm² 1- Calculer la densité spectrale du bruit de grenaille associé au courant d’obscurité. Calculer le NEP correspondant pour une BP de 1 Hz et comparer-le au NEP donné par le constructeur. Conclusion. 2- Déterminer la valeur de la résistance de charge Rm qui fournit un bruit thermique (à 300 K) de même densité spectrale que le bruit de grenaille. Quelle condition faut-il imposer pour que le bruit thermique ne limite pas la détectivité du capteur ? Quelle autre caractéristique de la photodiode cette condition met-elle à mal ? 3- Calculer l’écart type de la tension de bruit mesurée aux bornes de la résistance Rm avec un voltmètre de BP 20 kHz (Phillips PM2525 par exemple). Données : constante de Boltzmann : 1,381.10-23 J/K, charge de l’électron : 1,602.10-19 C 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.3- photodiode à avalanche Principe Application d’une tension inverse inférieure de qqes dixièmes de volts à la tension de claquage VB Les porteurs créés par effet photoélectrique acquièrent une énergie suffisante pour ioniser les atomes de la zone de transition et créer une nouvelle paire électron – trou. Réaction en chaîne. Multiplication des porteurs : phénomène d’avalanche (linéaire) Ia = M.Ip Courant d’origine photoélectrique Gain Avec M K 1 Vr VB 1 Tension inverse = - Vd Constante qui dépend de la réalisation de la diode VB et M dépendent de la température 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.3- photodiode à avalanche Courant d’obscurité I0 = I0S + M. I0V Courant d’obscurité volumique Courant d’obscurité surfacique Exemple : diode TIED 59 (Texas Instrument) I0 = 8 nA pour M = 100 À 25°C : I0S = 2 nA, I0V = 60 pA I0 augmente avec la température Sensibilité Ia = M.Ip la sensibilité est multipliée par M M dépend de la fréquence de modulation du flux incident donc la sensibilité aussi Temps de réponse Comme pour la photodiode : C d C p R m Avec Cd capacité de la jonction, Cp capacité parasite, Rm résistance de charge Cd diminue lorsque la tension inverse appliquée augmente. Ici fortes tensions inverses grande rapidité 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.3- photodiode à avalanche Réponse en fréquence Fixée par le circuit électrique : fc 1 2 1 2C d C d R m Sensibilité élevée emploi d’une Rm plus faible Tension inverse élevée Cd faible Plus grande BP Et par la diminution du gain M aux fréquences élevées (Gain x BP = constante) Bruit de fond - Détectivité Pour une valeur M du gain : Puissance du signal multipliée par M2 Puissance du bruit multipliée par Mp avec p 2,3 Bruit prépondérant : souvent bruit de Johnson de Rm multiplication par Mp du bruit de la diode est sans effet sur le bruit total amélioration du rapport signal à bruit Détectivité du même ordre de grandeur que photodiode : 109 à 1013 cm.Hz1/2.W-1 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices Caractéristiques de la photodiode Hamamatsu G1738 1- Lire les données constructeurs données ci-après et relever les valeurs suivantes à 25°C: surface photosensible A sensibilité maximale R détectivité spécifique D* courant d'obscurité I0 pour une polarisation inverse de 1V résistance de la jonction rd capacité de la jonction Cd 2- En déduire la densité spectrale du bruit de Schottky du courant d’obscurité et la fréquence de coupure, en considérant que la photodiode débite dans une résistance de charge de 50 . 3- Dans le mode photovoltaïque, quelle doit être la valeur de la résistance de charge pour que la détectivité de la diode soit meilleure ? 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices Détermination du point de fonctionnement d’une photodiode Une photodiode de sensibilité spectrale R(), de courant d’obscurité inverse I0, reçoit sur sa surface active un flux Fi = 0,2 mW et débite dans une résistance R. On appelle Ir le courant inverse émis par la diode et Vd la tension à ses bornes. 1- Donner le schéma du montage, l’équation de la caractéristique Ir=f(Vd, Fi) ainsi que l’équation de la droite de charge. 2- Traduire les équations précédentes dans le plan (Vd, Ir). Quel est le mode de fonctionnement de la photodiode? 3- Déterminer les coordonnées du point de fonctionnement dans les trois cas suivants : R=0, R et R=100 . 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices Montages associés au conditionnement des photodiodes R1 R R 1 + + E R2 2 R Vs Vs Montage 1 Montage 2 R2 + Vs Montage 3 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices Pour chacun des montages : 1- Donner le mode de fonctionnement de la photodiode et l’allure de la droite de charge sur la caractéristique courant – tension. 2- Exprimer la tension de sortie Vs. 3- Cette tension varie-t-elle linéairement avec le flux incident ? 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices Photodiode PIN et PDA pour transmission sur fibre optique On compare deux structures de photodiodes en InGaAs, une photodiode PIN et une photodiode à avalanche PDA de gain M et de facteur de bruit d’avalanche F(M)=M1/2. On définit le bruit de grenaille pour une photodiode PIN par l’expression 2qIB et pour une photodiode à avalanche par l’expression 2qIM²F(M)B, I étant le courant créé par effet photoélectrique. Un signal optique arrive sur la photodiode en sortie d’une fibre optique. Sa puissance optique moyenne est Fs et sa fréquence maximale est 1GHz. 1- Pour un rendement quantique du détecteur de 80%, exprimer la sensibilité de la photodiode PIN et calculer sa valeur dans la troisième fenêtre spectrale d’une fibre optique en silice à III=1550 nm. On supposera que toute la lumière incidente est transmise au détecteur et absorbée dans la zone de charge d’espace. 2- Exprimer le courant moyen Is dû au signal optique Fs pour les deux photodiodes. 3- Le circuit permettant de détecter le courant est de type préamplificateur transimpédance (fig. 1) de gain A=1000 et de résistance de réaction RF=100 k. La température est T=300 K. En supposant la résistance dynamique de la photodiode infinie et sa résistance série nulle, déterminer l’expression de l’amplitude de la tension Vs aux bornes du circuit en fonction de Is et de la fréquence f, celle de sa bande passante et l’expression de Vsmax dans la bande passante. Sachant que A>>1, à quoi se réduisent les expressions de Vsmax et de la BP ? Calculer B pour une capacité de photodiode Cd=1 pF. 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices Vr RF Is A Vs Figure 1 4- On négligera le bruit d’obscurité, donner l’expression du bruit quantique et du bruit thermique pour les deux types de photodiodes. On va chercher à déterminer le meilleur détecteur en se basant sur le rapport signal à bruit (S/B) pour différentes puissantes optiques moyennes comprises entre 100 nW et 10 µW. Pour les questions suivantes on fera les calculs pour 3 valeurs de puissance optique correspondant aux décades de puissance. 5- Donner l’expression du gain d’avalanche Mopt qui rend maximal le rapport signal à bruit. Calculer Mopt pour les 3 valeurs de la puissance. 6- Calculer le courant de signal pour les 2 photodiodes et les 3 puissances demandées. 7- Calculer la contribution du bruit thermique. 8- Calculer le bruit quantique dans tous les cas. 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices 9- Calculer le rapport S/B en décibels pour les deux photodiodes et les 3 valeurs. 10- Choisir le meilleur détecteur pour chaque valeur de puissance en sachant que pour une bonne transmission on exige S/B > 22 dB. Données : constante de Boltzmann : 1,381.10-23 J/K charge de l’électron : 1,602.10-19 C constante de Planck : 6,626.10-34 J.s vitesse de la lumière dans le vide : 2.998.108 m/s 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices Comparaison de photodétecteurs Soient trois photodétecteurs différents couplés à une résistance de charge R=50 à la température de l’azote liquide (77 K) utilisés dans un système optique de longueur d’onde 1 µm et de bande passante 1 GHz. - Détecteur 1 : une photodiode (mode photoconducteur) ayant un rendement quantique de 0,9. - Détecteur 2 : une photodiode à avalanche ayant un rendement quantique de 0,6, un gain moyen M=100 et un facteur de bruit d’avalanche F(M)=2. - Détecteur 3 : un photomultiplicateur à 10 étages ayant un rendement quantique cathodique de 0,3, un coefficient d’émission secondaire de 4 et un facteur de bruit multiplicatif m=1+1/3(/(-1)). Les efficacités de collection de toutes les dynodes sont supposées égales à 1. 1- Pour chaque détecteur, calculer le photocourant pour un flux photonique incident F=1010 photons/s. On supposera que toute la lumière incidente est transmise au détecteur et absorbée dans la zone utile. 2- Calculer le bruit thermique lié à la résistance de charge R. 3- Calculer le bruit de grenaille associé à chacun des détecteurs. 4- Evaluer le rapport signal à bruit (S/B) pour chaque détecteur. Quel est le meilleur détecteur pour mesurer le flux incident ? 5- Capteurs d’images CCD 5.1- Standards d’analyse 5.1.1- Généralités Analyse séquentielle : -Image analysée point par point -Le point balaie l’image en lignes horizontales de la gauche vers la droite -Le capteur transforme l’info lumineuse en info électrique transmise à un récepteur -Le récepteur la transforme en info lumineuse à un endroit qui doit correspondre à la position du point analysé dans l’image -Il faut synchroniser le balayage de l’image analysée et celui de l’image restituée Signal vidéo composite : Signal transmis de la caméra au récepteur, il comprend -Une info de luminosité : composante « vision » 70 % -Une info de synchronisation : composante « synchro » 30% 5- Capteurs d’images CCD 5.1.2- Standards d’analyse Liés aux caractéristiques de la vision humaine : - réponse temporelle de l’œil, phénomène de papillottement => fréquence de rafraichissement - vision binoculaire => format et distance d’observation - résolution de l’œil => nombre de lignes Fréquence de rafraichissement Le paillotetement apparaît d’autant plus facilement que la luminance est forte On a aussi : Influence du rayonnement magnétique des transfo d’alimentation sur le tube cathodique du TV (important par le passé) =>fréquence de rafraichissement multiple ou ss-multiple de la fréquence secteur 25 images/sec -> papillottement trop visible =>Entrelacement de 2 demiimages à 50Hz 5- Capteurs d’images CCD Phénomène de papillottement 5- Capteurs d’images CCD 1 trame lignes paires 1 trame lignes impaires Fréquence trame 50 Hz Fréquence image 25 Hz Standard d’analyse TV 5- Capteurs d’images CCD Format et distance d’observation Vision binoculaire => image rectangulaire horizontale Technologie des tubes cathodiques et fabrication de leurs ampoules de verre => rapport 4/3 max (à l’époque) entre longueur et hauteur Vision confortable => distance d’observation d’au moins 4 fois la hauteur de l’image Nombre de lignes Résolution de l’œil : 1’ d’arc Dans ces conditions d’observation => 1/800 de la hauteur de l’image Mais l’expérience montre que 500 lignes suffisent : la structure lignée est visible mais pas gênante 5- Capteurs d’images CCD Le standard européen CCIR 625 lignes, entrelacées d’ordre 2 à 50 demi-images/sec 1 Image (frame) = 2 trames (field) Nb de lignes utiles = 575 Nb de lignes attribuées au retour de chaque trame (synchro, canal+, teletexte…) = 25 une image : 40 ms une trame : 20 ms « supression trame » : 1.6 ms Durée totale ligne : 40/625 = 64 µs Durée utile ligne : 52 µs => 12 µs pour « suppression ligne » Le standard Etats-Unis Japon 525 lignes, entrelacées d’ordre 2 à 60 demi-images/sec - norme EIA : RS 170 une image : 33.33 ms une trame : 16.66 ms Durée totale ligne : 63.5 µs - 10.2 à 11.4 µs pour « suppression ligne » 5- Capteurs d’images CCD 5.2- Les dispositifs à transfert de charges (DTC) 5.2.1- Historique On trouve depuis longtemps des matrices de photodiodes => mesures Pour l’imagerie : au moins 500x500 pixels => 250 000 photodiodes => impossible d’envisager autant de sorties et d’amplificateurs La matrice photosensible doit comporter son propre dispo de lecture et de sérialisation Apparition des dispo à transfert de charges 1969-1970 : 1er imageurs solides performants Sangster, Laboratoires Philips à Eindhoven : BBD (bucket brigade devices) Boyle et Smith, Bell Laboratory à Murray Hill : CCD (charge coupled devices) 1974 : 1er imageur commercialisé 100x100 1983 : 500x380 avec performances raisonnables 5- Capteurs d’images CCD 5.2.2- Registres à décalages horloge E S Ligne à retard horloge E Démultiplexeur S1 S2 Converion série /parallèle Sn horloge S E1 E2 En Multiplexeur Converion parallèle/ série Structures de registre plus complexes => filtres transversaux, … 5- Capteurs d’images CCD 5.2.3- structure et mode de fonctionnenement des CCD Capacité MOS (Métal Oxyde Semi-conducteur) VG électrode isolant - - - - Semi-conducteur La quantité max de charge pouvant être stockée dépend de la taille de la zone de déplétion donc : -du niveau de dopage du substrat -de la taille del ’électrode -de la tension de polarisation + + + + + 5- Capteurs d’images CCD 5.2.3- structure et mode de fonctionnenement des CCD Principe de transfert 5- Capteurs d’images CCD 5.2.3- structure et mode de fonctionnenement des CCD Registre à trois phases 5- Capteurs d’images CCD 5.2.3- structure et mode de fonctionnenement des CCD Registre à deux phases introduction une dissymétrie dans chaque capacité ici variation de l’épaisseur d’oxyde => électrodes à 2 niveaux différents 5- Capteurs d’images CCD 5.2.3- structure et mode de fonctionnenement des CCD Registre à deux phases Dissymétrie dans chaque capacité : Surdopage d’une petite zone au bord de la capacité 5- Capteurs d’images CCD 5.3- Organisation des imageurs Chaque fabricant a sa propre technologie => principes différents, absence de standardisation On peut malgré tout dégager trois grandes familles - les dispo à transfert de trame - les dispo à transfert interligne - les dispo à transfert d’image interligne 5.3.1- Les dispositifs à transfert de trame ou de d’image (CCD FT) Desciption de la matrice de ce type de capteur On suppose ici que tous les registres sont à 2 phases 5- Capteurs d’images CCD Principe de fonctionnement Temps d’intégration : le potentiel de commande est appliqué à s1. création de charges dans la zone sensible stockage dans les puits de potentiel Temps d’intégration = durée d’une trame (20 ms). En fin de trame : transfert des charges stockées vers la zone mémoire Les photocapteurs assurent eux même le transfert vertical Une fois vidée : la zone sensible est remise en intégration puits de potentiel sous la phase s2 pour réaliser l’entrelacé pendant ce temps la zone mémoire est lue au rythme du balayage TV Lecture de chaque ligne via le registre horizontal Données dirigées vers l’étage de sortie par action sur h1 et h2 Applications professionnelles : utilisation d’un obturateur mécanique pour éviter les défaut de pollution de transfert vertical (smearing) 5- Capteurs d’images CCD 5.3.2- Les dispositifs à transfert interligne (CCD IT) 5- Capteurs d’images CCD 5.3.3- Les dispositifs à transfert d’image interligne (CCD FIT) 5- Capteurs d’images CCD 5.4- Les défauts de diaphotie Diaphotie : phénomène d’influence d’une cellule sensible sur ses voisines => les cellules voisines contiennent des infos qui ne les concernent pas 5.4.1- L’éblouissement ou « blooming » Apparaît lorsqu’une partie du capteur reçoit un éclairement supérieur à l’éclairement de saturation Les cellules concernées créent plus de chages qu’elles ne peuvent en stocker => débordement de charges et saturation des cellules voisines (préférentiellement dans le sens vertical) Dans ’image vidéo, saturation = portée au blanc L’étendue de cette zone est d’autant plus grande que le sur-éclairement est important Pour y remédier : introduction d’une fonction « d’évacuation » des charges en excès => drain anti-éblouissement 5- Capteurs d’images CCD Drain anti-éblouissement latéral 5- Capteurs d’images CCD Drain anti-éblouissement vertical ou enterré Le drain est réalisé par une couche enterrée disposée sour les photosites Avantage : meilleure résolution car on ne perd pas la surface occupée par le drain latéral Inconvénient : il collecte également les charges créées en profondeur dans le silicium -> photons de grande longueur d ’onde => modifie la sensibilité spectrale du CCD (elle diminue dans la bande proche IR) 5.4.2- La pollution de transfert ou « smear » ou « smearing » Quand une zone image est très contrastée par rapport à celles situées au dessus et au dessous, elle peut dégrader le contraste de toute la colonne verticale où elle se trouve. Cette pollution se produit pendant les transferts verticaux mais le processus diffère selon le type d’architecture du capteur 5- Capteurs d’images CCD Dans une architecture de type transfert de trame Cellules MOS : cellules sensibles et cellules de transfert du registre vertical Temps d ’intégration Ti >> Temps de transfert vers la zone mémoire Tt Soit 1 cellule recevant un éclairement E voisin de Esat elle accumule pdt la phase d’intégration .E.Ti charges électriques Pendant le temps de transfert cette cellule continue à recevoir des photons =>Charges supplémentaires parasites .E.Tt/N (N nb de cellules sur 1 verticale) La réduction du contraste est donc .Tt/Ti.N Pour réduire ce défaut : accélérer la vitesse de transfert des charges vers la zone mémoire (vitesse limitée car sinon diminution de l’efficacité de transfert) Dans une architecture de type interligne Zones sensible et mémoire imbriquées Pas de pollution liée au transfert mais à la longueur de pénétration des photons Les charges créées plus profondément peuvent diffuser à des distances plus grandes => accumulation de charges dans des cellules voisines du registre vertical (crosstalk) Ce défaut est beaucoup plus gênant en proche IR qu’en visible 5- Capteurs d’images CCD Crosstalk entre pixels 5- Capteurs d’images CCD 5.5- Notion de dynamique du signal Pour un CCD, Dynamique = (signal de saturation)/(bruit temporel rms) Matériau photosensible : Si -> de l’UV au proche IR Dynamique de l’ordre de 100 à 1000 : très faible par rapport aux dynamiques de scènes rencontrées dans le visible (souvent > 10 000 entre une zone élcairée par le soleil et une zone d’ombre) Le courant d’obscurité s’ajoute au signal utile et diminue la dynamique (ce courant double tous les 8 à 10°) Dispo d’asservissement de diaphragme pour adapter la dynamique du capteur aux dynamiques de scènes 5- Capteurs d’images CCD 5.6- Origine des bruits dans les CCD Les différents bruits générés sont très faibles On distingue : -le bruit temporel dû aux fluctuations des charges au cours du temps -le bruit spatial lié à la variation de signal d’un pixel à l’autre (indépendant du temps) 5.6.1- Bruit temporel Bruit de génération de charges -> bruit de grenaille - associé au signal utile : bruit photonique - associé au signal d’obscurité Bruit de transfert des charges Il est dû à l’innefficacité de transfert On estime la valeur efficace du bruit égal à l’écart type du nombre de charges non transferrées En raison de la fréquence des transferts, seul le registre horizontal est à prendre en compte Il peut être associé au signal utile et au signal d’obscurité 5- Capteurs d’images CCD Bruit de lecture - bruit de reset : bruit thermique généré par le transistor MOS de reset de la capacité de lecture (il peut être supprimé) - bruit de l’amplificateur de sortie : il inclut le bruit thermique et le bruit en 1/f du transistor MOS de sortie Il est donné par le constructeur à T ambiante et varie en T0,5 Rapport signal à bruit sur un pixel en dB : I2SignalUtile ISignalUtile S 10 log 2 20 log B IBruitTotal IBruitTotal 5.6.2- Bruit spatial Bruit dit DSNU (Dark Signal Non-Uniformity) Dû aux inhomogénéités du substrats Donné par le fabricant : mesuré en l’absence d’éclairement à T fixe pour des temps d’intégration et de lecture spécifiés Une correcion de ce bruit s’apparente à une correction d’offset 5- Capteurs d’images CCD Bruit dit PRNU (Phot-Response Non-Uniformity) Dû aux dispersions de sensibilité des pixels liées aux défauts de surface Donné par le fabricant : mesuré sous éclairement, à un niveau de signal donné Une correcion de ce bruit s’apparente à une correction de gain 5.6.3- Bruits dus à l ’électronique Les bruits précédents sont des bruits propres au CCD. On tient compte ici des bruits apportés par l’électronique de commande du CCD Bruit temporel Dû aux fluctuations dans le temps des phases des horloges, aux interférences des alimentations non synchrones et aux autres sources de bruit fluctuant dans le temps Bruit spatial Dû aux défauts de forme des horloges, aux interférences des alimentations synchrones et aux autres sources externes ne fluctuant pas temporellement 3- Détecteurs thermiques Exercices Bolomètre et pont de Wheatstone C R Rs A id Es R Rd B Vm Rb Un bolomètre, caractérisé par sa résistance électrique Rb = R0 + Rb (Rb << R) est inséré dans le pont de Wheatstone schématisé ci-contre, où Rd est la résistance du dispositif de détection de l ’équilibre du pont, Es et Rs caractérisent la source. R D En utilisant les équations de Kirchhoff, donner l’expression du courant id indiqué sur le schéma en fonction de Es et des résistances du circuit. Le pont est dit équilibré lorsque VA = VB, en supposant que le pont est équilibré lorsque le bolomètre n’est soumis à aucun rayonnement, quelle condition satisfait R0 ? En supposant de plus que la résistance de la source est faible (Rs<<R, Rd) et que le dispositif de mesure est à grande impédance d ’entrée (Rd>>R), exprimez la tension de déséquilibre Vm en fonction de Rb puis en fonction de T. 3- Détecteurs thermiques Exercices Calcul des caractéristiques métrologiques Un bolomètre composite au Ge est utilisé pour voir Jupiter à 25 µm. Sa capacité calorifique K est de 2,6.10-12 J/K, sa conductance thermique G vaut 2,4.10-10 W/K, sa résistance d’obscurité R0 est de 3 M et sa sensibilité thermique R de 21 K-1 à Ta = 0,3 K (la température “ambiante” du détecteur). Si on fixe = 0,5, la surface absorbante A = 4 mm2 et un échauffement maximal par effet Joule TJM= 0,1 K, quelle est la valeur maximale de la sensibilité RM, la puissance équivalente de bruit et de la détectivité spécifique D* ? Trouver la tension d’alimentation maximale ESM et la constante de temps thermique . constante de Boltzmann : 1,381.10-23 J/K 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.2- Détecteurs photoémissifs 4.2.7- Photomultiplicateur Exercice Le photomultiplicateur THORN EMI type 9427B a pour = 0,8 µm les caractéristiques suivantes : - Sensibilité cathodique 6 µA/W ; - Gain global M = 107 ; - Courant d’obscurité cathodique Iko = 2.10-15 A. En prenant pour le facteur cathodique m = 1,2, trouvez la puissance équivalente de bruit. Quelle doit être la résistance de charge pour que le bruit de Johnson ne soit pas prédominant à 25°C? Données : Constante de Boltzmann : 1,381.10-23 J/K q = 1,602.10-19 C 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance Exercices Détectivité d’un détecteur photoconducteur thermique IR Soit un détecteur fonctionnant dans l’IR constitué d’un photoconducteur en HgCdTe, permettant de détecter des signaux optiques IR jusqu’à une longueur d’onde c=10 µm. Le photoconducteur possède plusieurs sources de bruit et se trouve dans un environnement à la température T. 1- Ecrire le courant généré par un signal optique incident de puissance optique Fs à c en fonction du gain du photoconducteur, de son rendement quantique et du flux incident. On supposera un coefficient de transmission en intensité égal à 1. 2- Ecrire l’expression du bruit de grenaille total en tenant compte des contributions du signal, du rayonnement environnant et du bruit d’obscurité I0=V/Rc0. Pour un photoconducteur le bruit de grenaille est dû au phénomène de génération – recombinaison des porteurs et possède deux contributions équivalentes, celle due à la détection de photons et celle due à l’émission aléatoire des électrons par agitation thermique. Par conséquent, on multipliera son expression par deux. Ecrire l’expression du bruit d’amplificateur de résistance équivalente RA (bruit thermique) 3- On rappelle que le flux équivalent au bruit est le flux lumineux qui produit, par racine de bande passante, un photocourant égal au bruit intrinsèque du détecteur. En utilisant les expressions des questions 1 et 2 donner les puissances optiques équivalentes de bruit, NEP, pour les différents contributions. 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance Exercices 4- Le photoconducteur possède les propriétés suivantes : longueur W=0,1 mm, surface W², temps de vie des porteurs 10-6 s, mobilité 104 cm².V-1.s-1 et rendement égal à 1. Calculer D*obs pour une détection limitée par le bruit d’obscurité du détecteur. On donne Rc0=100 à T=300 K et à c=10 µm, constante de Boltzmann : 1,381.10-23 J/K, charge de l’électron : 1,602.10-19 C, constante de Planck : 6,626.10-34 J.s, vitesse de la lumière dans le vide : 2.998.108 m/s. 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.1- Cellule photoconductrice ou photorésistance Exercices Utilisation d’une photorésistance RTC 61 SV Les caractéristiques de cette photorésistance au sulfure de plomb, sensible dans le proche infrarouge sont les suivantes : Vm Domaine spectral : 0.3 - 3 µm max = 2.2 µm Rc Rm Rc0 = 1,5 M Sensibilité à 2 µm : 8.104 V.W-1 D*(2, 800, 1) = 4.1010 cm.Hz1/2.W-1 E Surface photosensible : 6 mm x 6 mm Schéma électrique du Temps de réponse : 100 µs montage de base Valeurs limites : tension = 250 V, Intensité = 0,5 mA 1- On utilise le montage électrique schématisé ci-dessus, où Rc est la résistance de la cellule photoconductrice et Rm la résistance de charge. Exprimer Vm la tension mesurée aux bornes de la résistance de charge en fonction de Rc et de Rm. Sachant qu’une variation de flux lumineux induit une variation Rc de la résistance du détecteur, donner l’expression de la variation de tension résultante. Que doit-on choisir comme résistance de charge pour rendre cette tension maximale ? 2- Donner la valeur de la bande passante du détecteur et du flux équivalent au bruit au maximum de réponse spectrale. En supposant que les appareils de mesure n’introduisent pas de filtrage supplémentaire et en fixant le seuil de mesure à 6 fois le NEP, quel est le plus petit signal électrique que l’on pourra mesurer ? Caractéristiques de l’appareil de mesure ? 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne 4.3.2- photodiode Exercice Bruit dans une photodiode UDT PIN 10 On donne les données constructeur suivantes : Sensibilité : 0,4 A.W-1 Courant d’obscurité (à 23 °C) : 0,5 µA NEP (pour 1 Hz de BP) : 10-12 W Surface : 1 cm² 1- Calculer la densité spectrale du bruit de grenaille associé au courant d’obscurité. Calculer le NEP correspondant pour une BP de 1 Hz et comparer-le au NEP donné par le constructeur. Conclusion. 2- Déterminer la valeur de la résistance de charge Rm qui fournit un bruit thermique (à 300 K) de même densité spectrale que le bruit de grenaille. Quelle condition faut-il imposer pour que le bruit thermique ne limite pas la détectivité du capteur ? Quelle autre caractéristique de la photodiode cette condition met-elle à mal ? 3- Calculer l’écart type de la tension de bruit mesurée aux bornes de la résistance Rm avec un voltmètre de BP 20 kHz (Phillips PM2525 par exemple). Données : constante de Boltzmann : 1,381.10-23 J/K, charge de l’électron : 1,602.10-19 C 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices Caractéristiques de la photodiode Hamamatsu G1738 1- Lire les données constructeurs données ci-après et relever les valeurs suivantes à 25°C: surface photosensible A sensibilité maximale R détectivité spécifique D* courant d'obscurité I0 pour une polarisation inverse de 1V résistance de la jonction rd capacité de la jonction Cd 2- En déduire la densité spectrale du bruit de Schottky du courant d’obscurité et la fréquence de coupure, en considérant que la photodiode débite dans une résistance de charge de 50 . 3- Dans le mode photovoltaïque, quelle doit être la valeur de la résistance de charge pour que la détectivité de la diode soit meilleure ? 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices Détermination du point de fonctionnement d’une photodiode Une photodiode de sensibilité spectrale R(), de courant d’obscurité inverse I0, reçoit sur sa surface active un flux Fi = 0,2 mW et débite dans une résistance R. On appelle Ir le courant inverse émis par la diode et Vd la tension à ses bornes. 1- Donner le schéma du montage, l’équation de la caractéristique Ir=f(Vd, Fi) ainsi que l’équation de la droite de charge. 2- Traduire les équations précédentes dans le plan (Vd, Ir). Quel est le mode de fonctionnement de la photodiode? 3- Déterminer les coordonnées du point de fonctionnement dans les trois cas suivants : R=0, R et R=100 . 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices Montages associés au conditionnement des photodiodes R1 R R 1 + + E R2 2 R Vs Vs Montage 1 Montage 2 R2 + Vs Montage 3 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices Pour chacun des montages : 1- Donner le mode de fonctionnement de la photodiode et l’allure de la droite de charge sur la caractéristique courant – tension. 2- Exprimer la tension de sortie Vs. 3- Cette tension varie-t-elle linéairement avec le flux incident ? 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices Photodiode PIN et PDA pour transmission sur fibre optique On compare deux structures de photodiodes en InGaAs, une photodiode PIN et une photodiode à avalanche PDA de gain M et de facteur de bruit d’avalanche F(M)=M1/2. On définit le bruit de grenaille pour une photodiode PIN par l’expression 2qIB et pour une photodiode à avalanche par l’expression 2qIM²F(M)B, I étant le courant créé par effet photoélectrique. Un signal optique arrive sur la photodiode en sortie d’une fibre optique. Sa puissance optique moyenne est Fs et sa fréquence maximale est 1GHz. 1- Pour un rendement quantique du détecteur de 80%, exprimer la sensibilité de la photodiode PIN et calculer sa valeur dans la troisième fenêtre spectrale d’une fibre optique en silice à III=1550 nm. On supposera que toute la lumière incidente est transmise au détecteur et absorbée dans la zone de charge d’espace. 2- Exprimer le courant moyen Is dû au signal optique Fs pour les deux photodiodes. 3- Le circuit permettant de détecter le courant est de type préamplificateur transimpédance (fig. 1) de gain A=1000 et de résistance de réaction RF=100 k. La température est T=300 K. En supposant la résistance dynamique de la photodiode infinie et sa résistance série nulle, déterminer l’expression de l’amplitude de la tension Vs aux bornes du circuit en fonction de Is et de la fréquence f, celle de sa bande passante et l’expression de Vsmax dans la bande passante. Sachant que A>>1, à quoi se réduisent les expressions de Vsmax et de la BP ? Calculer B pour une capacité de photodiode Cd=1 pF. 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices Vr RF Is A Vs Figure 1 4- On négligera le bruit d’obscurité, donner l’expression du bruit quantique et du bruit thermique pour les deux types de photodiodes. On va chercher à déterminer le meilleur détecteur en se basant sur le rapport signal à bruit (S/B) pour différentes puissantes optiques moyennes comprises entre 100 nW et 10 µW. Pour les questions suivantes on fera les calculs pour 3 valeurs de puissance optique correspondant aux décades de puissance. 5- Donner l’expression du gain d’avalanche Mopt qui rend maximal le rapport signal à bruit. Calculer Mopt pour les 3 valeurs de la puissance. 6- Calculer le courant de signal pour les 2 photodiodes et les 3 puissances demandées. 7- Calculer la contribution du bruit thermique. 8- Calculer le bruit quantique dans tous les cas. 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices 9- Calculer le rapport S/B en décibels pour les deux photodiodes et les 3 valeurs. 10- Choisir le meilleur détecteur pour chaque valeur de puissance en sachant que pour une bonne transmission on exige S/B > 22 dB. Données : constante de Boltzmann : 1,381.10-23 J/K charge de l’électron : 1,602.10-19 C constante de Planck : 6,626.10-34 J.s vitesse de la lumière dans le vide : 2.998.108 m/s 4- Détecteurs quantiques ou photoniques 4.3- A effet photoélectrique interne Exercices Comparaison de photodétecteurs Soient trois photodétecteurs différents couplés à une résistance de charge R=50 à la température de l’azote liquide (77 K) utilisés dans un système optique de longueur d’onde 1 µm et de bande passante 1 GHz. - Détecteur 1 : une photodiode (mode photoconducteur) ayant un rendement quantique de 0,9. - Détecteur 2 : une photodiode à avalanche ayant un rendement quantique de 0,6, un gain moyen M=100 et un facteur de bruit d’avalanche F(M)=2. - Détecteur 3 : un photomultiplicateur à 10 étages ayant un rendement quantique cathodique de 0,3, un coefficient d’émission secondaire de 4 et un facteur de bruit multiplicatif m=1+1/3(/(-1)). Les efficacités de collection de toutes les dynodes sont supposées égales à 1. 1- Pour chaque détecteur, calculer le photocourant pour un flux photonique incident F=1010 photons/s. On supposera que toute la lumière incidente est transmise au détecteur et absorbée dans la zone utile. 2- Calculer le bruit thermique lié à la résistance de charge R. 3- Calculer le bruit de grenaille associé à chacun des détecteurs. 4- Evaluer le rapport signal à bruit (S/B) pour chaque détecteur. Quel est le meilleur détecteur pour mesurer le flux incident ?